「test method」に関連した英語例文の一覧と使い方(34ページ目) - Weblio英語例文検索

MEMORY RELIEVING METHOD, MEMORY TEST METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

メモリ救済方法、メモリテスト装置、プログラム、及び、記録媒体 - 特許庁

When the IDE generates the names for the test methods, each method name is prepended with test because JUnit 3 uses naming conventions and reflection to identify tests.To identify test methods each test method is required to follow the syntax testNAME例文帳に追加

IDE がテストメソッドの名前を生成する場合、各メソッド名の先頭に「test」が付加されます。 これは、JUnit 3 ではテストを識別するために命名規則とリフレクションが使用されるためです。 - NetBeans

To obtain an optimum rate in a test rate for shortening a test time independently of a test environment in a test method for a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスのテスト方法において、テストレートをテスト環境に拘わらずテスト時間を短縮化するための最適なテストレートを得る。 - 特許庁

TEST METHOD FOR HIGH-OUTPUT SMD IC AND MANUFACTURING METHOD FOR MANUAL AND AUTOMATIC TEST BASE例文帳に追加

高出力ＳＭＤ型ＩＣのテスト方法ならびに手動および自動テスト・ベースの作製方法 - 特許庁

TEST PATTERN FORMING METHOD, TRANSFER ADJUSTING METHOD, IMAGE FORMING APPARATUS, AND TEST PATTERN FORMING PROGRAM例文帳に追加

テストパターン形成方法、搬送調整方法、画像形成装置およびテストパターン形成プログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, SCANNING CIRCUIT DESIGNING METHOD,TEST PATTERN CREATION METHODS AND SCAN TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路、スキャン回路設計方法、テストパターン生成方法、および、スキャンテスト方法 - 特許庁

TIMING CALIBRATION METHOD FOR IC TEST DEVICE AND IC TEST DEVICE USING THIS TIMING CALIBRATION METHOD例文帳に追加

ＩＣ試験装置のタイミング校正方法及びこのタイミング校正方法を用いたＩＣ試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置および半導体装置の試験方法、並びに半導体装置の製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, AND VERIFICATION METHOD OF SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND/OR TEST METHOD USING THE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、並びに、それを用いた半導体検査装置および／または方法の検証方法 - 特許庁

ORIGINAL FORM FOR CONTACT PIN FOR TEST AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE CONTACT PIN FOR TEST例文帳に追加

テスト用コンタクトピン原版及びその製造方法、並びにテスト用コンタクトピンの製造方法 - 特許庁

MINUTE TEST PIECE STRESS LOADING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

微小試験片応力負荷装置及び方法 - 特許庁

CABLE CONNECTOR AND METHOD OF WITHSTAND VOLTAGE TEST例文帳に追加

ケーブル接続装置および耐電圧試験方式 - 特許庁

EDDY CURRENT FLAW TEST EQUIPMENT, AND DETERMINATION METHOD THEREFOR例文帳に追加

渦流探傷装置およびその判定方法 - 特許庁

SLIP EVALUATION METHOD FOR HANDRAIL MATERIAL AND TEST DEVICE例文帳に追加

手摺材の滑り評価方法と試験装置 - 特許庁

WIRELESS DEVICE, TEST METHOD THEREFOR, AND WIRELESS SYSTEM例文帳に追加

無線装置およびその試験方法、無線システム - 特許庁

TEST SOLUTION MEASURING APPARATUS AND SENSITIVITY CALIBRATION METHOD例文帳に追加

被験液測定装置及び感度較正方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR RESTRICTION SATISFACTION AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

制約充足の試験方法及びその装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR AUTOMATIC POSITIONING OF TEST STATION例文帳に追加

テストステーションの自動位置合わせ方法と装置 - 特許庁

IRRADIATION TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の放射線照射試験方法 - 特許庁

WIND TUNNEL TEST METHOD AND WIND TUNNEL TESTING DEVICE例文帳に追加

風洞試験方法および風洞試験装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR PRODUCING TEST FISH ROE例文帳に追加

試験魚卵の生産装置及びその方法 - 特許庁

METHOD FOR STANDARDIZING BLOOD COAGULATION TEST例文帳に追加

血液凝固試験の標準化のための方法 - 特許庁

DISPLAY DEVICE TEST SYSTEM, METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

表示機器テストシステム及び方法並びにプログラム - 特許庁

PROBE FOR ENERGIZATION TEST, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

通電試験用プローブおよびその製造方法 - 特許庁

AIRTIGHTNESS TEST METHOD IN FUEL CELL SYSTEM例文帳に追加

燃料電池システムにおける気密試験方法 - 特許庁

WEIGHT LOADING METHOD OF TRUCK FOR COLLISION TEST例文帳に追加

衝突試験用台車のウエイト積載方法 - 特許庁

OFFICE WORK FOR TEST BUSINESS SUPPORTING METHOD AND SYSTEM THEREFOR例文帳に追加

試験事務処理支援方法及びそのシステム - 特許庁

OPERATION CONFIRMING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE FOR TEST例文帳に追加

テスト用半導体装置の動作確認方法 - 特許庁

INK-JET PRINTER AND METHOD FOR PRINTING TEST PATTERN例文帳に追加

インクジェットプリンタ及びテストパターンの印刷方法 - 特許庁

TEST DISK EVALUATION DEVICE AND EVALUATION METHOD THEREOF例文帳に追加

テストディスク評価装置及びその評価方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR RAM AND BUS, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

ＲＡＭ及びバスの検査方法、記憶媒体 - 特許庁

COMPRESSION/SHEAR TEST METHOD AND ITS TESTING DEVICE例文帳に追加

圧縮・剪断試験方法及びその試験装置 - 特許庁

ELECTRONIC CIRCUIT DEVICE AND ITS PERFORMANCE TEST METHOD例文帳に追加

電子回路装置およびその動作試験方法 - 特許庁

ELECTRONIC VOLUME AND TEST METHOD OF ELECTRONIC VOLUME例文帳に追加

電子ボリュームおよび電子ボリュームのテスト方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND TEST DEVICE OF LIQUID CRYSTAL PANEL例文帳に追加

液晶パネルの試験方法及び試験装置 - 特許庁

STRESS TEST METHOD FOR MEMORY CELL OXIDE FILM OF DRAM例文帳に追加

ＤＲＡＭのメモリセル酸化膜のストレステスト方法 - 特許庁

SCRATCHING TESTING DEVICE AND SCRATCHING TEST METHOD例文帳に追加

引っ掻き試験装置及び引っ掻き試験方法 - 特許庁

METHOD OF VISION TEST USING INFORMATION TERMINAL例文帳に追加

情報端末を利用した視力検査方法 - 特許庁

ELEVATOR DEVICE, AND EMERGENCY STOP TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

エレベータ装置及びその非常止め試験方法 - 特許庁

TENSION TESTING METHOD AND HOLDING TOOL FOR TENSION TEST例文帳に追加

引張試験方法、及び引張試験用把持具 - 特許庁

TEST MATERIAL ANALYZING APPARATUS AND ITS QUANTIFYING METHOD例文帳に追加

被検物質分析装置及び定量方法 - 特許庁

ADHESIVE PEELING TEST PIECE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

接着剤剥離試験片とその試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, TEST CIRCUIT, AND METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置とテスト回路及び方法 - 特許庁

PROGRAMMABLE LOGIC DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

プログラム可能論理デバイス及びその試験方法 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

テストパタン生成システム、及びテストパタン生成方法 - 特許庁