「test method」に関連した英語例文の一覧と使い方(33ページ目) - Weblio英語例文検索

ERROR PROCESS TEST SYSTEM OF SOFTWARE, TESTING METHOD, AND RECORDING MEDIUM FOR TEST PROGRAM例文帳に追加

ソフトウェアのエラー処理テストシステム、テスト方法及びテストプログラムの記録媒体 - 特許庁

METHOD FOR TESTING DISCHARGE OF PRETREATMENT LIQUID, TEST LIQUID APPLICATOR AND TEST SHEET例文帳に追加

前処理液の吐出検査方法並びに検査液塗布具及び検査シート - 特許庁

CARD KIT FOR OLFACTION TEST AND OLFACTION TEST METHOD USING THE CARD KIT例文帳に追加

嗅覚検査用カードキット及び該カードキットを使用する嗅覚検査方法 - 特許庁

DYNAMIC HORIZONTAL LOADING TEST METHOD, AND DYNAMIC HORIZONTAL LOADING TEST DEVICE FOR PILE例文帳に追加

杭の動的水平載荷試験方法及び動的水平載荷試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE AND TEST METHOD FOR PRINTER INPUT/OUTPUT CHARACTERISTICS例文帳に追加

プリンタ入出力特性試験具及びプリンタ入出力特性試験方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR ACCELERATING DETERIORATION OF ELECTROPHOTOGRAPHIC PHOTORECEPTOR AND TEST DEVICE FOR ACCELERATION例文帳に追加

電子写真用感光体劣化加速試験方法及び加速試験装置 - 特許庁

AUTOMATED METHOD FOR INSTALLING AND CONFIGURING TEST PACKAGE ON A UNIT UNDER TEST例文帳に追加

テスト中のユニットにテスト・パッケージを自動的にインストールし設定する方法 - 特許庁

WAFER BURN-IN TEST METHOD, WAFER BURN-IN TEST APPARATUS, AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

ウェハ・バーンイン・テスト方法、ウェハ・バーンイン・テスト装置及び半導体記憶装置 - 特許庁

MANAGEMENT DEVICE, MEASURING DEVICE, CONTAINER FOR TEST STRIPS, AND MANAGEMENT METHOD FOR TEST STRIPS例文帳に追加

管理装置、測定装置、検査紙用容器、および検査紙の管理方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF STRESS CORROSION CRACKING SAMPLE AND TEST PIECE FOR NON-DESTRUCTIVE TEST例文帳に追加

応力腐食割れサンプルの作製方法および非破壊試験用試験片 - 特許庁

WITHSTAND VOLTAGE TEST METHOD AND WITHSTAND VOLTAGE TEST DEVICE FOR HIGH AND LOW VOLTAGE DETECTOR例文帳に追加

高低圧用検電器の耐電圧試験方法および耐電圧試験装置 - 特許庁

TEST INFORMATION MANAGEMENT METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST INFORMATION MANAGEMENT SYSTEM例文帳に追加

半導体装置のテスト情報管理方法、およびテスト情報管理システム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND METHOD AND SIMULATION DEVICE FOR SEMICONDUCTOR TEST例文帳に追加

半導体試験装置及び方法並びに半導体試験シミュレーション装置 - 特許庁

CARRIER FOR TEST AND MOUNTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE TO CARRIER FOR TEST例文帳に追加

試験用キャリア、及び試験用キャリアへの半導体装置の取付方法 - 特許庁

ELUTION TEST METHOD OF MEDICAL DRUG, AND BAG MATERIAL FOR ELUTION TEST例文帳に追加

医薬品製剤の溶出試験方法および溶出試験用バッグ材料 - 特許庁

JIG AND TOOL FOR TESTING SEMICONDUCTOR, SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM, AND SEMICONDUCTOR TEST METHOD例文帳に追加

半導体試験治工具、半導体試験システム、及び半導体試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST SYSTEM AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路試験システム及び半導体集積回路試験方法 - 特許庁

CELL WITH SCAN FUNCTION, TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST METHOD例文帳に追加

スキャン機能付きセル、半導体集積回路のテスト回路及びテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCLUDING OPERATION TEST CIRCUIT, AND ITS OPERATION TEST METHOD例文帳に追加

動作テスト回路を含む半導体集積回路、および、その動作テスト方法 - 特許庁

TRANSMISSION LOSS TEST METHOD OF OPTICAL WAVEGUIDE, AND OPTICAL WAVEGUIDE TEST PIECE例文帳に追加

光導波路の伝送損失試験方法および光導波路テストピース - 特許庁

TEST APPARATUS FOR SLEEP APNEA AND TEST METHOD FOR SLEEP APNEA例文帳に追加

睡眠時無呼吸症検査装置および睡眠時無呼吸症検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH JITTER TEST CIRCUIT, AND THE JITTER TEST METHOD例文帳に追加

ジッタ検査回路を搭載した半導体装置およびそのジッタ検査方法 - 特許庁

ROCK COMPRESSING TEST SIMULATING METHOD AND ROCK COMPRESSING TEST SIMULATOR例文帳に追加

岩石圧縮試験のシミュレーション方法および岩石圧縮試験シミュレータ - 特許庁

BOREHOLE LOADING TEST METHOD, AND FUNCTIONAL HOLE HOLDING PIPE TYPE BOREHOLE LOADING TEST APPARATUS例文帳に追加

孔内載荷試験方法と機能性保孔管式孔内載荷試験装置 - 特許庁

WIND TUNNEL TEST DEVICE AND OPTICAL MEASURING METHOD USING WIND TUNNEL TEST DEVICE例文帳に追加

風洞試験装置及び風洞試験装置を用いた光学計測方法 - 特許庁

CONNECTION TEST METHOD, CONNECTION TEST PROGRAM, RECORDING MEDIUM AND INFORMATION PROCESSOR例文帳に追加

接続テスト方法、接続テストプログラム、記録媒体および情報処理装置 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR ACCELERATING DETERIORATION OF ELECTROPHOTOGRAPHIC PHOTORECEPTOR例文帳に追加

電子写真用感光体劣化加速試験方法及び加速試験装置 - 特許庁

RANDOM NUMBER GENERATION TEST METHOD AND RANDOM NUMBER GENERATION TEST DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

乱数生成検定方法及びこれを用いた乱数生成検定装置 - 特許庁

TEST RESULT ADJUSTING SYSTEM FOR ADJUSTING TEST RESULT OF DEVICE IN GROUP AND TEST RESULT ADJUSTING METHOD例文帳に追加

グループ内のデバイスのテスト結果を調整するためのテスト結果調整システムおよびテスト結果調整方法 - 特許庁

To provide a flash memory test system shortening a test time and an electric test method using that.例文帳に追加

検査時間を短縮するフラッシュメモリテスタ及びこれを利用した電気的検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method that reduces a test pattern length, and to provide a test control program and a semiconductor device.例文帳に追加

テストパタン長を短縮できるテスト方法、テスト制御プログラム及び半導体装置を提供すること - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of shortening test time and reducing test cost, and to provide a test method therefor.例文帳に追加

テスト時間およびテストコストを低減できる半導体記憶装置およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

This test uses the JUnit assertTrue and assertFalse methods to test a variety of possible results.For the test of this method to pass, the assertTrue must all be true and assertFalse must all be false. 例文帳に追加

このメソッドのテストに合格するには、assertTrue がすべて true 、assertFalse がすべて false である必要があります。 - NetBeans

This test uses the JUnit assertTrue and assertFalse methods to test a variety of possilbe results.For the test of this method to pass, the assertTrue must all be true and assertFalse must all be false. 例文帳に追加

このメソッドのテストに合格するには、assertTrue がすべて true 、assertFalse がすべて false である必要があります。 - NetBeans

The method for testing the moving simulation of the test model comprises a step of deciding next testing position of the test model from test data at a present position (S1).例文帳に追加

現在の位置での試験データから試験模型の次の試験位置が決定される（Ｓ１）。 - 特許庁

To provide the method for an easy partial test of software which makes it easy to change test conditions and add a test case.例文帳に追加

テスト条件の変更やテストケースの追加が容易なソフトウェアの部分的テストの方法を提供する。 - 特許庁

TEST PROCEDURE GENERATING DEVICE, TEST PROCEDURE GENERATING METHOD, TEST PROCEDURE GENERATOR AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

試験手順生成装置及び試験手順生成方法及び試験手順生成プログラム及び記録媒体 - 特許庁

TEST PIECE HOLDING APPARATUS FOR TENSION/COMPRESSION TEST OF NON-PRINCIPAL AXIS COMBINED MATERIAL, AND TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

非主軸複合材の引張・圧縮試験用の試験片掴み装置及びそれを用いた試験方法 - 特許庁

MIGRATION TEST PROGRAM CREATION DEVICE, MIGRATION TEST PROGRAM CREATION METHOD, AND MIGRATION TEST PROGRAM CREATION PROGRAM例文帳に追加

移行検査プログラム作成装置、移行検査プログラム作成方法および移行検査プログラム作成プログラム - 特許庁

NETWORK TEST PLANNING DEVICE, NETWORK TEST PLANNING METHOD, NETWORK TEST PLANNING PROGRAM AND NETWORK MONITORING SYSTEM例文帳に追加

ネットワーク試験計画装置、ネットワーク試験計画方法、ネットワーク試験計画プログラム及びネットワーク監視システム - 特許庁

ENDURANCE TEST APPARATUS FOR GOLF CLUB HEAD, ENDURANCE TEST METHOD FOR GOLF CLUB HEAD, AND ENDURANCE TEST PROGRAM FOR GOLF CLUB HEAD例文帳に追加

ゴルフクラブヘッド耐久試験装置、ゴルフクラブヘッド耐久試験方法およびゴルフクラブヘッド耐久試験プログラム - 特許庁

TIRE DEGRADATION PROMOTION TREATMENT METHOD AND TIRE ENDURANCE TEST METHOD例文帳に追加

タイヤ劣化促進処理方法及びタイヤ耐久試験方法 - 特許庁

CBB TEST METHOD AND TESTING TOOL USED FOR METHOD例文帳に追加

ＣＢＢ試験方法及びこの方法に用いる試験治具 - 特許庁

TESTING DEVICE, TEST METHOD, ELECTRONIC DEVICE AND DEVICE PRODUCTION METHOD例文帳に追加

試験装置、試験方法、電子デバイス、及びデバイス生産方法 - 特許庁

TAPE CARRIER PACKAGE, ITS BURN-IN METHOD, AND TEST METHOD例文帳に追加

テープキャリアパッケージ及びそのバーンイン方法及び試験方法 - 特許庁