「test method」に関連した英語例文の一覧と使い方(26ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST METHOD FOR NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体不揮発性メモリの試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CONSTRUCTING TEST ENVIRONMENT OF WEB SERVICE REQUESTER AND METHOD AND SYSTEM FOR SUPPORTING TEST例文帳に追加

Ｗｅｂサービスリクエスタのテスト環境構築装置，方法及びテスト支援システム，方法 - 特許庁

DEVICE TEST APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

デバイス試験装置およびデバイス試験方法 - 特許庁

TEST PROGRAM GENERATING METHOD FOR LOGICAL INSPECTION例文帳に追加

論理検証用テストプログラム生成方法 - 特許庁

METHOD OF GENERATING TEST PROGRAM FOR COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

コンピュータプログラムのテストプログラム生成方法 - 特許庁

BIAXIAL TESTING DEVICE AND BIAXIAL TEST METHOD例文帳に追加

二軸試験装置及び二軸試験方法 - 特許庁

TEST METHOD OF COORDINATE INPUT/OUTPUT DEVICE例文帳に追加

座標入出力装置の試験方法 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR DELAY TEST例文帳に追加

遅延試験回路及び遅延試験方法 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION APPARATUS AND GENERATION METHOD例文帳に追加

テストパターン作成装置及び作成方法 - 特許庁

SCANNING TEST DEVICE AND ITS DESIGN METHOD例文帳に追加

スキャンテスト装置およびその設計方法 - 特許庁

TEST EQUIPMENT, CHECK SYSTEM AND EXAMINATION METHOD例文帳に追加

検査装置、検査システム及び検査方法 - 特許庁

LOAD TEST SYSTEM AND LOAD TESTING METHOD例文帳に追加

負荷試験システムおよび負荷試験方法 - 特許庁

WITHSTAND VOLTAGE TEST METHOD FOR SUPERCONDUCTIVE CABLE例文帳に追加

超電導ケーブルの耐電圧試験方法 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATING FACILITY AND ITS METHOD例文帳に追加

テストパターン生成設備およびその方法 - 特許庁

IMAGE READER AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

イメージ読取り装置及びその試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR REARING TEST FISH例文帳に追加

試験魚の飼育装置及び飼育方法 - 特許庁

PROGRAM TEST ASSIST SYSTEM, METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

プログラムテスト支援システム、方法及びプログラム - 特許庁

METHOD FOR GENERATING DRIFT CORRECTION FACTOR FOR LEAK TEST METHOD FOR CALCULATING DRIFT CORRECTION VALUE IN LEAK TEST AND LEAK TEST APPARATUS例文帳に追加

洩れ検査用ドリフト補正係数生成方法・洩れ検査におけるドリフト補正値算出方法・洩れ検査装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION TOOL, AND TEST PATTERN DISPLAY TOOL例文帳に追加

半導体テスト方法、半導体テスト装置、テストパターン生成方法、テストパターン生成ツール、及びテストパターン表示ツール - 特許庁

To provide a test device not depending on a size of a test sensor package provided with a test sensor, and to provide a method of loading the test sensor package in the test device.例文帳に追加

試験センサが配置された試験センサパッケージのサイズに依存しない試験装置及び試験装置に装填する方法を提供する。 - 特許庁

DETERMINATION MODEL PRODUCING SUPPORT DEVICE FOR TEST DEVICE AND TEST DEVICE, AND ENDURANCE TEST DEVICE AND ENDURANCE TEST METHOD例文帳に追加

検査装置用の判定モデル作成支援装置および検査装置ならびに耐久試験装置および耐久試験方法 - 特許庁

PRINTING SYSTEM, TEST CHART PRINTING METHOD, TEST CHART PRINTING PROGRAM, RECORDING MEDIUM WITH RECORDED TEST CHART PRINTING PROGRAM, AND TEST CHART例文帳に追加

印刷システム、テストチャート印刷方法、テストチャート印刷プログラム、テストチャート印刷プログラムを記録した記録媒体、テストチャート - 特許庁

TEST BOARD, TEST SYSTEM AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN CPU, SELF-TEST PROGRAM, AND READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テストボード、ＣＰＵ内蔵半導体集積回路のテストシステム、そのテスト方法、セルフテストプログラムおよび可読記録媒体 - 特許庁

CONTROL METHOD, PROGRAM PREPARING METHOD AND TEST DEVICE例文帳に追加

制御方法、プログラムの作成方法及び試験装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR FOAMING TEST, AND DEINKING METHOD例文帳に追加

発泡試験方法とその装置および脱墨方法 - 特許庁

TEST RESULT DISPLAY APPARATUS, TEST RESULT DISPLAY SYSTEM, TEST RESULT DISPLAY METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

検査結果表示装置、検査結果表示システム、検査結果表示方法及びコンピュータプログラム - 特許庁

To provide a test carrier; a test device having it; and a test method of a semiconductor device.例文帳に追加

テストキャリア及びこれを有するテスト装置ならびに半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

TEST CASE RELATION EXTRACTING METHOD, TEST CASE RELATION EXTRACTING DEVICE AND TEST CASE RELATION EXTRACTING PROGRAM例文帳に追加

テストケース関係抽出方法、テストケース関係抽出装置及びテストケース関係抽出プログラム - 特許庁

TEST EXECUTION SYSTEM, TEST EXECUTION DEVICE, INFORMATION PROCESSOR, TEST EXECUTION METHOD, PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

テスト実行システム、テスト実行装置、情報処理装置、テスト実行方法、プログラム、及び記憶媒体 - 特許庁

AUTOMATIC TEST PROGRAM GENERATOR, AUTOMATIC TEST PROGRAM GENERATING METHOD, AND AUTOMATIC TEST PROGRAM GENERATION PROGRAM例文帳に追加

テストプログラム自動生成装置、テストプログラム自動生成方法及びテストプログラム自動生成プログラム - 特許庁

LOAD TEST PROGRAM, LOAD TEST METHOD, AND INFORMATION PROCESSOR EXECUTING THE LOAD TEST PROGRAM例文帳に追加

負荷試験プログラム、負荷試験方法および当該負荷試験プログラムを実行する情報処理装置 - 特許庁

TEST CASE EXTRACTION DEVICE, TEST CASE EXTRACTION PROGRAM, AND TEST CASE EXTRACTION METHOD FOR SOFTWARE SYSTEM例文帳に追加

ソフトウェアシステムのテストケース抽出装置、テストケース抽出プログラムおよびテストケース抽出方法 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION DEVICE, TEST PATTERN CORRECTION DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テストパターン生成装置、テストパターン修正装置、テストパターン生成方法、プログラム、及び、記録媒体 - 特許庁

ATTENTION DISTRIBUTION TEST METHOD, ATTENTION DISTRIBUTION TEST DEVICE AND ATTENTION DISTRIBUTION TEST PROGRAM RECODING MEDIUM例文帳に追加

注意配分検査方法、注意配分検査装置、及び注意配分検査プログラム記録媒体 - 特許庁

STATUS TRANSITION TEST SUPPORT DEVICE, STATUS TRANSITION TEST SUPPORT PROGRAM AND STATUS TRANSITION TEST SUPPORT METHOD例文帳に追加

状態遷移テスト支援装置、状態遷移テスト支援プログラム、および状態遷移テスト支援方法 - 特許庁

To provide a ROM test circuit in which a test time can be shortened, and a ROM test method.例文帳に追加

テスト時間を短縮することが可能なROMテスト回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test system and a test method which are simple and by which a test in high frequency is achieved.例文帳に追加

簡単で高周波数での試験を実現したテストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

MEMORY CARD AND MEMORY CARD TEST METHOD, CAPABLE OF SIMPLIFYING TEST PROCESS例文帳に追加

試験工程を簡略化できるメモリカード及びメモリカードの試験方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, OPERATION TEST METHOD THEREFOR AND OPERATION TEST PROGRAM例文帳に追加

集積回路、集積回路の動作試験方法および動作試験プログラム - 特許庁

RESIDUAL STRESS MEASURING TEST PIECE AND HEAT TREATMENT METHOD FOR THE TEST PIECE例文帳に追加

残留応力測定試験体および試験体の熱処理方法 - 特許庁

TEST RESULT DECIDING CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR DECIDING TEST RESULT例文帳に追加

半導体装置のテスト結果判定回路及びテスト結果判定方法 - 特許庁

COMMUNICATION EQUIPMENT, COMMUNICATION TEST METHOD AND PROGRAM, FOR PERFORMING COMMUNICATION TEST例文帳に追加

通信試験を実行する通信装置、通信試験方法及びプログラム - 特許庁

COMMUNICATION TEST CIRCUIT, COMMUNICATION INTERFACE CIRCUIT, AND COMMUNICATION TEST METHOD例文帳に追加

通信試験回路及び通信インタフェース回路並びに通信試験方法 - 特許庁

COATING FILM FATIGUE TEST APPARATUS AND COATING FILM FATIGUE TEST METHOD例文帳に追加

コーティング被膜疲労試験装置およびコーティング被膜疲労試験方法 - 特許庁

LIFETIME PREDICTION TEST METHOD OF POLYMER MEMBRANE, TESTING DEVICE, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

高分子膜の寿命予測試験方法、試験装置および試験プログラム - 特許庁