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test toolの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 333件
MEASUREMENT TOOL FOR TEST PLUG例文帳に追加
テストプラグ用測定治具 - 特許庁
TEST TOOL FOR FIRE EXTINGUISHING FACILITIES例文帳に追加
消火設備の試験具 - 特許庁
PERFORMANCE TEST DATA CONSTRUCTION TOOL例文帳に追加
性能テストデータ構築ツール - 特許庁
TEST TOOL FOR IMMUNO-CHROMATOGRAPHY例文帳に追加
イムノクロマトグラフィー用試験具 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF BENDING TEST TOOL, BENDING TEST TOOL AND BENDING TEST DEVICE例文帳に追加
曲げ試験治具の製造方法、曲げ試験治具および曲げ試験装置 - 特許庁
SHORT-CIRCUIT TOOL AND TEST PLUG例文帳に追加
短絡治具、およびテストプラグ - 特許庁
IMMUNOCHROMATOGRAPHY TEST TOOL例文帳に追加
免疫クロマトグラフィー検査用具 - 特許庁
ELECTRONIC APPARATUS AND TEST TOOL例文帳に追加
電子機器およびテスト用治具 - 特許庁
TEST PALLET TOOL FOR GAME MACHINE TEST SYSTEM例文帳に追加
遊技機器検査設備の検査用パレット治具 - 特許庁
SPECIMEN INSPECTION TOOL AND TOOL FOR WIPE TEST例文帳に追加
検体検査用器具及び拭取検査用器具 - 特許庁
MULT-ITEM TEST TOOL, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND TEST TOOL MEASURING DEVICE例文帳に追加
多項目試験具その製造方法及び試験具測定装置 - 特許庁
TEST WIRING TOOL OF TERMINAL BLOCK例文帳に追加
端子台の試験用配線治具 - 特許庁
SEMICONDUCTOR CHIP ELEMENT TEST TOOL AND AUTOMATIC TEST EQUIPMENT例文帳に追加
半導体チップ素子試験治具及び自動試験装置 - 特許庁
SHORT-CIRCUIT TOOL FOR TEST PLUG AND SHORT-CIRCUIT STRUCTURE FOR TEST PLUG例文帳に追加
テストプラグ用短絡具及びテストプラグの短絡構造 - 特許庁
CONTINUITY TEST TOOL FOR STRAIGHT-TYPE TERMINAL例文帳に追加
ストレート型端子用の導通検査治具 - 特許庁
TOOL FOR WIPE TEST OF ENVIRONMENTAL MICROORGANISM例文帳に追加
環境微生物拭き取り検査用具 - 特許庁
STORAGE CONTAINER AND TEST TOOL PACKAGE例文帳に追加
収納容器および試験具包装体 - 特許庁
SPECIMEN EXTRACTING TOOL AND INSTRUMENT FOR SMEAR TEST例文帳に追加
検体採取具及び拭取検査用器具 - 特許庁
STORAGE CONTAINER AND TEST TOOL INDIVIDUAL PACKAGE例文帳に追加
収納容器および試験具個包装体 - 特許庁
LSI TESTER, AUTOMATIC CREATION TOOL OF TEST PROGRAM, AND TEST SYSTEM例文帳に追加
LSIテスタおよびテストプログラム自動作成ツール並びにテストシステム - 特許庁
GAME MACHINE AND TEST TOOL FOR GAME MACHINE UNIT例文帳に追加
遊技機及び遊技機ユニットの検査治具 - 特許庁
POSITION ADJUSTMENT TOOL OF SEMICONDUCTOR TEST PROBE例文帳に追加
半導体用テストプロ—ブの位置調整用具 - 特許庁
TEST TOOL USED FOR IMMUNE CHROMATOGRAPHY例文帳に追加
免疫クロマトグラフィー法に用いる検査用具 - 特許庁
FIXTURE FOR CONTINUITY TEST AND METHOD FOR CONTINUITY TEST USING THE CONTINUITY TEST TOOL例文帳に追加
導通検査用治具および該導通検査用治具を用いた導通検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION TOOL, AND TEST PATTERN DISPLAY TOOL例文帳に追加
半導体テスト方法、半導体テスト装置、テストパターン生成方法、テストパターン生成ツール、及びテストパターン表示ツール - 特許庁
TESTING TOOL AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のテスト用治具とテスト方法 - 特許庁
LEAK TEST METHOD FOR GAS SUPPLY INNER PIPE AND TOOL FOR LEAK TEST例文帳に追加
ガス供内管の漏洩試験方法および漏洩試験用工具 - 特許庁
TENSION TESTING METHOD AND HOLDING TOOL FOR TENSION TEST例文帳に追加
引張試験方法、及び引張試験用把持具 - 特許庁
METHOD OF EXAMINATION FOR MYCETE AND TEST TOOL FOR MYCETE例文帳に追加
真菌検査方法および真菌用検査具 - 特許庁
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