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testing, testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
PALETTE FEEDING METHOD OF ENVIRONMENTAL TESTING DEVICE例文帳に追加
環境試験装置のパレット搬送方法 - 特許庁
LIGHT SOURCE TESTING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
光源テストシステム及び光源のテスト方法 - 特許庁
MULTI-CHIP PACKAGE CAPABLE OF SHORTENING TESTING TIME例文帳に追加
テストタイムを短縮できるマルチチップパッケージ - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC TAG例文帳に追加
電子タグのテスト装置およびその方法 - 特許庁
DURABILITY TESTING METHOD FOR PNEUMATIC TIRE例文帳に追加
空気入りタイヤの耐久性試験方法 - 特許庁
DETERIORATION TESTER AND DETERIORATION TESTING METHOD例文帳に追加
劣化試験装置及び劣化試験方法 - 特許庁
ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE AND FIXING DEVICE例文帳に追加
電子部品試験装置および固定装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING MEMORY AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
メモリのテスト方法及び半導体装置 - 特許庁
ELECTRONIC DEVICE TESTING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
電子部品検査システムおよびその方法 - 特許庁
TESTING APPARATUS AND METHOD OF TRANSMITTER例文帳に追加
送信機の試験装置および試験方法 - 特許庁
POWER SUPPLY DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
電源装置及び半導体試験装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPTICAL DISK STAMPER例文帳に追加
光ディスクスタンパ検査方法及び装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING OUTER WALL CONTAMINATION例文帳に追加
外壁汚れ試験装置と、試験方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING HIGH-SPEED PRODUCT例文帳に追加
高速製品の試験方法及び装置 - 特許庁
TEST CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT, AND TESTING METHOD例文帳に追加
テスト回路、集積回路及びテスト方法 - 特許庁
VARIABLE SPEED THREE-POINT BENDING IMPACT TESTING DEVICE例文帳に追加
可変速三点曲げ衝撃試験装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS OF TESTING TRANSMISSION PROTOCOL例文帳に追加
伝送プロトコルテスト方法及びテスト装置 - 特許庁
LIGHT STABILITY TESTING METHOD FOR INTRAOCULAR LENS例文帳に追加
眼内レンズの光安定性試験方法 - 特許庁
FATIGUE TESTING DEVICE AND METHOD FOR THIN PLATE例文帳に追加
薄板の疲労試験装置および方法 - 特許庁
TESTING DEVICE OF PHOTOSENSITIVE BODY FOR ELECTRONIC PHOTOGRAPH例文帳に追加
電子写真用感光体試験装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING GENERATION OF GAS例文帳に追加
ガス発生試験装置及び試験方法 - 特許庁
LOAD CELL, AND PHYSICAL PROPERTY EVALUATION-TESTING DEVICE例文帳に追加
ロードセルおよび物性評価試験装置 - 特許庁
JIG FOR TESTING IN-PLANE SHEARING OF SHEETLIKE MATERIAL AND MACHINE FOR TESTING IN-PLANE SHEARING例文帳に追加
シート状材料の面内せん断試験用治具および面内せん断試験機 - 特許庁
AIR-CONDITIONING DEVICE AND ENVIRONMENT TESTING DEVICE例文帳に追加
空調装置、並びに、環境試験装置 - 特許庁
BENDING TESTING DEVICE AND BENDING TEST METHOD例文帳に追加
曲げ試験装置および曲げ試験方法 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING LARGE NUMBER OF SEMICONDUCTOR CHIPS例文帳に追加
多数の半導体チップをテストする装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING PROJECTION OPTICAL SYSTEM, TESTING DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME SYSTEM例文帳に追加
投影光学系の検査方法、検査装置、及び投影光学系の製造方法 - 特許庁
LOW FREQUENCY SOUND GENERATOR FOR FITTING TESTING例文帳に追加
建具試験用低周波音発生装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING COORDINATE INPUT-OUTPUT DEVICE例文帳に追加
座標入出力装置の試験方法 - 特許庁
APPARATUS FOR SCAN TESTING PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加
印刷回路板を走査検査する装置 - 特許庁
COMMUNICATION APPARATUS, COMMUNICATION APPARATUS TESTING SYSTEM, SIGNAL PROCESSOR, TESTING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
通信装置、通信装置試験システム、信号処理装置、試験方法、コンピュータプログラム - 特許庁
TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
テスト方法及び半導体集積回路 - 特許庁
ACCELERATION TESTING METHOD OF ELASTIC PAVING MATERIAL AND ACCELERATION TESTING MACHINE THEREFOR例文帳に追加
弾性舗装材の促進試験方法およびそれに用いられる促進試験装置 - 特許庁
TESTING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
半導体集積回路装置のテストシステム - 特許庁
AUTOMATIC POLISHING METHOD FOR BEDROCK TESTING SURFACE AND AUTOMATIC POLISHING DEVICE FOR BEDROCK TESTING SURFACE例文帳に追加
岩盤試験面の自動研磨方法および岩盤試験面の自動研磨装置 - 特許庁
To shorten a testing period in case of testing a plurality of semiconductor devices.例文帳に追加
複数の半導体デバイスの検査を行う場合に、検査時間の短縮を図る。 - 特許庁
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