「testing circuit」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TESTING CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加

テスト回路及びテスト方法 - 特許庁

PLL TESTING CIRCUIT例文帳に追加

ＰＬＬテスト回路 - 特許庁

CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加

回路の試験装置 - 特許庁

ROM TESTING CIRCUIT例文帳に追加

ＲＯＭテスト回路 - 特許庁

LSI TESTING CIRCUIT例文帳に追加

ＬＳＩ試験回路 - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTING CIRCUIT例文帳に追加

試験方法および試験回路 - 特許庁

BREAKER TESTING CIRCUIT例文帳に追加

遮断器試験回路 - 特許庁

LAYER CORONA TESTING CIRCUIT例文帳に追加

レヤーコロナ試験回路 - 特許庁

VIDEO DATA TESTING CIRCUIT例文帳に追加

ビデオデータ検査回路 - 特許庁

MEMORY ARRAY-TESTING CIRCUIT例文帳に追加

メモリアレイ試験回路 - 特許庁

TESTING CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

テスト回路及びそのテスト方法 - 特許庁

CIRCUIT FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体テスト回路 - 特許庁

CLOCK INTERRUPT-TESTING CIRCUIT例文帳に追加

クロック断試験回路 - 特許庁

TRANSMISSION PATH TESTING CIRCUIT例文帳に追加

伝送路試験回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING CIRCUIT例文帳に追加

半導体試験回路 - 特許庁

CURRENT LIMITER TESTING CIRCUIT例文帳に追加

限流器試験回路 - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTING CIRCUIT FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路のテスト方法およびテスト回路 - 特許庁

TESTING CIRCUIT FOR ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電子機器テスト回路 - 特許庁

CIRCUIT BOARD TESTING DEVICE例文帳に追加

回路基板試験装置 - 特許庁

TESTING CIRCUIT, TESTING METHOD, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テスト回路、テスト方法、半導体集積回路 - 特許庁

DIGITAL CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加

デジタル回路試験装置 - 特許庁

CIRCUIT FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

集積回路の試験回路及び試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING CIRCUIT AND TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体テスト回路及びテスト装置 - 特許庁

DELAY FAULT TESTING CIRCUIT例文帳に追加

遅延故障試験回路 - 特許庁

TESTING CIRCUIT AND TESTING METHOD FOR VOLTAGE STEP-UP CIRCUIT例文帳に追加

昇圧回路の試験回路及び試験方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT TESTING SYSTEM例文帳に追加

集積回路試験システム - 特許庁

CIRCUIT PATTERN TESTING APPARATUS例文帳に追加

回路パターンの検査装置 - 特許庁

CIRCUIT BOARD TESTING SYSTEM例文帳に追加

回路基板の試験装置 - 特許庁

TESTING CIRCUIT OF INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD FOR TESTING例文帳に追加

集積回路装置のテスト回路及びテスト方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加

集積回路試験装置 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加

テスト回路及び回路テスト方法 - 特許庁

TESTING CIRCUIT AND DISPLAY APPARATUS HAVING THE TESTING CIRCUIT例文帳に追加

検査回路及び検査回路を有する表示装置 - 特許庁

TESTING DEVICE OF CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板の検査装置 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路検査装置 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING POWER SUPPLY CIRCUIT例文帳に追加

電源回路試験装置 - 特許庁

MEMORY TESTING AND INITIALIZING CIRCUIT例文帳に追加

メモリテスト兼初期化回路 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路試験装置 - 特許庁

TESTING SYSTEM FOR SELF-TESTING CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板自己試験のための試験システム - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT TESTING APPARATUS例文帳に追加

集積回路の試験装置 - 特許庁

TESTING PROCESS AND TESTING CIRCUIT FOR DIFFERENTIAL OUTPUT CIRCUIT例文帳に追加

差動出力回路の試験方法および試験回路 - 特許庁

TESTING CIRCUIT AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験回路及び試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法及びテスト回路 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加

集積回路のテスト方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF TRANSMITTING-RECEIVING CIRCUIT AND TRANSMITTING-RECEIVING CIRCUIT WITH TESTING CIRCUIT例文帳に追加

送受信回路のテスト方法及びテスト回路付き送受信回路 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路の試験装置 - 特許庁