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testingを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 14414



例文

METHOD AND DEVICE FOR TESTING NONUNIFORMITY OF PERIODIC PATTERN例文帳に追加

周期性パターンのムラ検査方法及び装置 - 特許庁

DEVICE FOR SETTING SYSTEM CONFIGURATION OF IC TESTING DEVICE例文帳に追加

IC試験装置のシステム構成設定装置 - 特許庁

LEAKAGE TESTING METHOD OF SWITCH, AND ITS DEVICE例文帳に追加

開閉器の漏れ試験方法およびその装置 - 特許庁

CELLULOSE FILM MOUNTING TYPE MOISTURE CHARACTERISTIC TESTING DEVICE例文帳に追加

セルロース膜装着型水分特性試験装置 - 特許庁

例文

Eco-Friendly Traffic System Begins Testing 例文帳に追加

環境に優しい交通システムの実験始まる - 浜島書店 Catch a Wave


例文

DEVICE AND METHOD OF TESTING TIRE WITH WHEEL例文帳に追加

ホイール付きタイヤの試験装置及び試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND TEST DEVICE OF LIQUID CRYSTAL PANEL例文帳に追加

液晶パネルの試験方法及び試験装置 - 特許庁

TRACE CIRCUIT, MEMORY TESTING METHOD AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

トレース回路、メモリ試験方法及び記録媒体 - 特許庁

SURVEY POINT OBTAINING METHOD IN IC TESTING例文帳に追加

IC試験における探索ポイント取得方式 - 特許庁

例文

TESTING METHOD FOR NETWORK DEVICE AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

ネットワーク装置の試験方法及び記憶媒体 - 特許庁

例文

SCRATCHING TESTING DEVICE AND SCRATCHING TEST METHOD例文帳に追加

引っ掻き試験装置及び引っ掻き試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING LIGHT RESISTANCE例文帳に追加

耐光性試験方法及び耐光性試験装置 - 特許庁

SPECIMEN FIXING DEVICE IN BALANCE TESTING MACHINE例文帳に追加

釣合い試験機における試験体の固定装置 - 特許庁

COMPACT LOAD TESTER AND TESTING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

小型載荷試験装置及びその試験方法 - 特許庁

TESTING PROCESS AND SYSTEM FOR ENGINE STARTING BELT例文帳に追加

エンジン始動用ベルトの試験方法及び装置 - 特許庁

TENSION TESTING METHOD AND HOLDING TOOL FOR TENSION TEST例文帳に追加

引張試験方法、及び引張試験用把持具 - 特許庁

TESTING DEVICE OF ELECTRODE PLATE FOR LITHIUM ION SECONDARY BATTERY例文帳に追加

リチウムイオン2次電池の電極板試験装置 - 特許庁

ARTIFICIAL GROUND FAULT TESTING DEVICE FOR DISPERSION REACTOR SYSTEM例文帳に追加

分散リアクトル系統用人工地絡試験装置 - 特許庁

ADHESIVE PEELING TEST PIECE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

接着剤剥離試験片とその試験方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS OF ROBOT, AND ITS METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

ロボットの試験装置及び方法及びプログラム - 特許庁

HARD MAGNETIC DISK OR METHOD FOR TESTING MAGNETIC HEAD例文帳に追加

ハード磁気ディスクまたは磁気ヘッドの試験方法 - 特許庁

IMPACT RESISTANCE TESTING METHOD FOR TIRE AND ITS DEVICE例文帳に追加

タイヤの耐衝撃試験方法およびその装置 - 特許庁

QUALITY EVALUATION METHOD AND TESTING APPARATUS OF SUBSTRATE例文帳に追加

基板の品質評価方法および検査装置 - 特許庁

CHARGE PLATE, CDM SIMULATOR AND TESTING METHOD例文帳に追加

荷電板及びCDMシミュレータと試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加

半導体素子の試験方法および試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加

半導体素子の試験装置及び試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の検査方法及び検査装置 - 特許庁

CONTACT INSERT FOR TESTING SOCKET OF SUBMINIATURE CIRCUIT例文帳に追加

超小型回路の試験ソケット用接点インサート - 特許庁

DEVICE AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体チップの試験装置および試験方法 - 特許庁

CONSTANT CURRENT PULSE GENERATION CIRCUIT AND TESTING DEVICE例文帳に追加

定電流パルス発生回路及び試験装置 - 特許庁

POWER SUPPLY DEVICE FOR DEVICE OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のデバイス用電源装置 - 特許庁

PHOTOGRAPHING METHOD AND TESTING APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

撮影方法およびそれを用いた試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND SYSTEM例文帳に追加

半導体試験装置及び半導体試験システム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加

プリント回路板の試験方法及び試験装置 - 特許庁

METHOD FOR MAKING PLURAL TESTING DEVICES OPERATIONAL例文帳に追加

複数の試験装置を使用可能にする方法 - 特許庁

DUT BOARD, AND TESTING METHOD USING IT例文帳に追加

DUTボード及びそれを用いるテスト方法 - 特許庁

CYLINDER COVER FOR PEDESTRIAN PROTECTION IMPACT TESTING MACHINES例文帳に追加

歩行者保護衝撃試験機用のシリンダーカバー - 特許庁

DIFFERENTIAL VOLTAGE MEASURING DEVICE, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

差動電圧測定装置、半導体試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND ADJUSTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体試験装置及びその調整方法 - 特許庁

ERROR TESTING METHOD AND COMMUNICATION DEVICE IN LAN例文帳に追加

LANにおけるエラーテスト方法および通信装置。 - 特許庁

MATERIAL TESTING MACHINE AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

材料試験機および材料試験機用プログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置およびそのテスト方法 - 特許庁

ELECTRIC SIGNAL AND POWER SOURCE SUPPLY TESTING SUBSTRATE例文帳に追加

電気信号及び電源供給試験基板 - 特許庁

METHOD FOR TESTING DENSITY CHARACTERISTICS OF IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加

画像形成装置の濃度特性試験方法 - 特許庁

LOAD CELL FOR MEASURING LOAD, AND MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加

荷重計測用ロードセルおよび材料試験機 - 特許庁

ENCODER TESTING METHOD AND MAGNETIZING DEVICE FOR TEST例文帳に追加

エンコーダの検査方法及び検査用着磁装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置および試験装置 - 特許庁

IMPROVED ACCELERATION CLIMATIC TESTING DEVICE WITH IMMERSION CYCLE例文帳に追加

浸漬サイクル付き改良促進耐候試験装置 - 特許庁

ABRASION TESTING METHOD OF PRINTING SURFACE AND GLOSSY PAPER例文帳に追加

印刷面の摩耗試験方法及び光沢紙 - 特許庁

例文

AUTOMATIC NONSTOP CHARGE RECEPTION SYSTEM TESTING DEVICE例文帳に追加

ノンストップ自動料金収受システム試験装置 - 特許庁




  
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