testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
TESTING DEVICE OF CONDYLE BALL FOR ARTIFICIAL HIP JOINTS例文帳に追加
人工股関節用骨頭ボールの試験装置 - 特許庁
TESTING METHOD AND TESTER FOR SEMICONDUCTOR COMPONENT例文帳に追加
半導体部品の試験方法及び試験装置 - 特許庁
CERAMIC SUBSTRATE FOR SEMICONDUCTOR MANUFACTURING AND FOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体製造・検査装置用セラミック基板 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路の試験方法および試験装置 - 特許庁
ACTIVE MATRIX TEST SUBSTRATE AND TESTING METHOD例文帳に追加
アクティブマトリクス型検査基板および検査方法 - 特許庁
ELECTRONIC DEVICE TESTING APPARATUS AND TRAY TRANSFER DEVICE例文帳に追加
電子部品検査装置及びトレイ移載装置 - 特許庁
CONTACT TESTING DEVICE AND CONTACT TEST METHOD例文帳に追加
接触試験装置および接触試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING FLUID PRESSURE例文帳に追加
流体圧検査方法及び流体圧検査装置 - 特許庁
BODILY FLUID SAMPLE CAPTURING/TESTING DEVICE AND CARTRIDGE例文帳に追加
体液試料捕捉試験装置およびカートリッジ - 特許庁
CONNECTOR, AND CONDUCTION TESTING METHOD OF THE SAME例文帳に追加
コネクタ及びコネクタにおける導通検査方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS EDDY CURRENT TESTING例文帳に追加
渦流探傷方法および渦流探傷装置 - 特許庁
SURGERY RECORDING DEVICE AND BRAIN FUNCTION TESTING APPARATUS例文帳に追加
手術記録装置及び脳機能検査装置 - 特許庁
NOISE GENERATOR, MEASUREMENT APPARATUS, AND TESTING APPARATUS例文帳に追加
ノイズ発生装置、計測装置、および試験装置 - 特許庁
METHOD FOR CALIBRATING CALIBRATION DEVICE FOR HARDNESS- TESTING MACHINE例文帳に追加
硬さ試験機用校正装置の校正方法 - 特許庁
UNIT AND METHOD FOR TESTING COMMUNICATION TERMINAL例文帳に追加
通信端末の試験装置および試験方法 - 特許庁
JIG FOR TESTING MECHANICAL CHARACTERISTICS OF DUCTILE MATERIAL例文帳に追加
延性材料の機械的特性試験用治具 - 特許庁
ELECTRIC CHANNEL SELF-INSPECTION SEMICONDUCTOR TESTING SYSTEM例文帳に追加
電気チャネル自己検査式半導体試験システム - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加
半導体集積回路試験装置及び方法 - 特許庁
TEMPERATURE CORRECTING CIRCUIT IN SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置における温度補正回路 - 特許庁
ABNORMALITY NOTIFICATION SYSTEM AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
異常通知システムおよび半導体試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND HIGH SPEED TESTING SYSTEM例文帳に追加
半導体集積回路及び高速テストシステム - 特許庁
VESSEL FOR BLOOD TEST AND BLOOD TESTING METHOD例文帳に追加
血液検査用容器及び血液検査方法 - 特許庁
TESTING APPARATUS FOR CHROMATOGRAPHY, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
クロマトグラフィー用試験具及びその製造方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR CHIP, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体チップの試験方法,半導体装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND MEMORY TESTING SYSTEM例文帳に追加
半導体集積回路及びメモリ検査方法 - 特許庁
COMMUNICATION SYSTEM OF ELEVATOR AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
エレベーターの通信システム及びその試験方法 - 特許庁
METADATA CAPTURE FOR TESTING TCP CONNECTIONS例文帳に追加
TCP接続を検査するためのメタデータキャプチャ - 特許庁
WAFER PROBER AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
ウエハプローバー及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体集積回路及びその試験方法 - 特許庁
ANALOG/DIGITAL CONVERSION CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
アナログ/デジタル変換回路およびそのテスト方法 - 特許庁
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|