「testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(81ページ目) - Weblio英語例文検索

PROCESSOR SYSTEM AND METHOD FOR TESTING PROCESSOR SYSTEM例文帳に追加

プロセッサシステムおよびプロセッサシステムをテストする方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING ELECTRIC FUSE, AND ELECTRIC FUSE CIRCUIT例文帳に追加

電気ヒューズのテスト方法、及び電気ヒューズ回路 - 特許庁

SYSTEM TESTING DEVICE DIRECTED TO PLANT MONITORING AND CONTROL APPARATUS例文帳に追加

プラント監視制御装置向け系統試験装置 - 特許庁

UNDERWATER SEPARATION RESISTANCE TESTING DEVICE OF LIGHT-WEIGHT SOIL例文帳に追加

軽量土の水中分離抵抗性試験装置 - 特許庁

METHOD AND FACILITEIS FOR TESTING TUNNEL STABILITY例文帳に追加

トンネル安定性の試験方法および試験設備 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CONCRETE, AND MOLD FOR SAMPLE例文帳に追加

コンクリートの試験方法および供試体用型枠 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁

PROTECTION CIRCUIT TESTING APPARATUS FOR ON-SITE POWER SUPPLY FACILITIES例文帳に追加

所内電源系設備の保護回路試験装置 - 特許庁

RELIABILITY TESTING METHOD OF JOINT PART OF ELECTRONIC PART例文帳に追加

電子部品の接合部の信頼性試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING ARRAY ELEMENT例文帳に追加

アレイ素子検査方法およびアレイ素子検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR IC例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法とその装置 - 特許庁

FACILITY AND DEVICE FOR TESTING SMOKE DETECTOR例文帳に追加

煙感知器の試験設備及びそのための装置 - 特許庁

By installing a LAN cable for each testing device and connecting the LAN cable to a desired network 201 of the networks for the respective testing processes, the testing device is provided with the information for a desired testing process.例文帳に追加

試験装置毎にＬＡＮケーブルを設置し、ＬＡＮケーブルを、試験工程別ネットワークの内の所望のネットワーク２０１に接続することによって、所望の試験工程のための情報を試験装置に提供する。 - 特許庁

AUTOMOBILE SIDE COLLISION TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

自動車の側面衝突試験方法及び装置 - 特許庁

VEHICLE DEFLECTION PROPERTIES TESTING DEVICE, PROGRAM, AND METHOD例文帳に追加

車両偏向性試験装置、プログラム及び方法 - 特許庁

TIRE WEAR TEST METHOD AND TIRE WEAR TESTING DEVICE例文帳に追加

タイヤ摩耗試験方法及びタイヤ摩耗試験機 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING MAGNETIC TAPE RECORDER例文帳に追加

磁気テープ記録装置の試験方法および装置 - 特許庁

PROBE CARD, ELEMENT TESTING DEVICE, AND ELEMENT TEST METHOD例文帳に追加

プローブカード、素子試験装置及び素子試験方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM, SIGNAL GENERATOR AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

試験システム、信号発生装置および記録媒体 - 特許庁

MATERIAL-TESTING DEVICE AND DATA DISPLAY METHOD例文帳に追加

材料試験装置およびそのデータ表示方法 - 特許庁

ELECTRO-OPTICAL APPARATUS, TESTING METHOD, AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電気光学装置、検査方法および電子機器 - 特許庁

The thermostatic device for testing includes a sample placement section 2 and a trestle 3.例文帳に追加

試料配置部２と、架台３とからなる。 - 特許庁

PUMPING TESTING METHOD AND SCREW TYPE WATER STOP PACKER例文帳に追加

揚水試験方法及びスクリュー式止水パッカ - 特許庁

TEMPERATURE TESTING DEVICE AND TEMPERATURE ADJUSTMENT METHOD THEREFOR例文帳に追加

温度試験装置およびその温度調整方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

半導体試験装置および半導体試験方法 - 特許庁

PERFORMANCE TESTING APPARATUS FOR VAPOR MOVEMENT CONTROLLER例文帳に追加

水蒸気移動制御装置の性能試験装置 - 特許庁

NOISE ELIMINATING DEVICE, POWER SUPPLY DEVICE, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

ノイズ除去装置、電源装置、及び試験装置 - 特許庁

SMALL-SIZED AUTOMATIC REPEATING ONE SURFACE-SHEARING TESTING APPARATUS例文帳に追加

小型自動繰り返し一面せん断試験装置 - 特許庁

IMPULSE TESTER AND TESTING METHOD FOR STATIONARY INDUCTION APPARATUS例文帳に追加

静止誘導器のインパルス試験装置及び方法 - 特許庁

HANDLING DEVICE AND TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

ハンドリング装置およびこれを使用した試験装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING ELECTROSTATIC BREAKDOWN OF ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子デバイスの静電破壊試験方法と装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CONDUCTION OF SUBSTRATE FOR SEMICONDUCTOR PACKAGE例文帳に追加

半導体パッケージ用基板の導通検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS WAFER TESTING METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置およびそのウェハーテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体デバイス試験装置とその制御方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING A/D CONVERTER例文帳に追加

Ａ／Ｄコンバータの試験装置および試験方法 - 特許庁

COATING STRUCTURE OF MICROPHONE AND WIND TUNNEL TESTING APPARATUS例文帳に追加

マイクロホンの被覆構造及び風洞試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE HAVING SWITCHING ELEMENT ON SOCKET SUBSTRATE例文帳に追加

ソケット基板上にスイッチ素子を有するテスト装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING VOLTAGE EQUALIZER CIRCUIT例文帳に追加

電圧均等化回路の試験方法及び装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND MEMORY TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路およびメモリのテスト方法 - 特許庁

DIGITAL TEST DEVICE FOR TESTING ANALOG SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

アナログ半導体装置をテストするデジタルテスト装置 - 特許庁

SYSTEMS AND METHODS FOR FATIGUE TESTING STENTS例文帳に追加

ステントを疲労試験するためのシステムおよび方法。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND TIMING CALIBRATION METHOD例文帳に追加

半導体試験装置およびタイミング校正方法 - 特許庁

SOCKET FOR TESTING BALL GRID ARRAY INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

ボールグリッドアレイ集積回路装置の試験用ソケット - 特許庁

TESTING METHOD FOR ANALOG/DIGITAL CONVERTER, AND CIRCUIT THEREOF例文帳に追加

アナログ／デジタル変換器テスト方法、及びその回路 - 特許庁

WAFER PROBER AND TESTING STAGE USED THEREFOR例文帳に追加

ウエハプローバ及びそれに用いられる検査用ステージ - 特許庁