1016万例文収録!

「x ray analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > x ray analysisの意味・解説 > x ray analysisに関連した英語例文

セーフサーチ:オン

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

x ray analysisの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 573



例文

X-RAY ANALYSIS METHOD AND X-RAY ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加

X線分析方法及びX線分析装置 - 特許庁

X-RAY ANALYSIS APPARATUS AND X-RAY ANALYSIS METHOD例文帳に追加

X線分析装置及びX線分析方法 - 特許庁

X-RAY ANALYSIS METHOD AND X-RAY ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加

X線分析方法、及びX線分析装置 - 特許庁

X-RAY DETECTION APPARATUS AND X-RAY ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加

X線検出装置及びX線分析装置 - 特許庁

例文

X-RAY ANALYZER AND X RAY ANALYSIS METHOD例文帳に追加

X線分析装置及びX線分析方法 - 特許庁


例文

X-RAY ANALYSIS SAMPLE HOLDER AND X-RAY ANALYZER例文帳に追加

X線分析用試料ホルダおよびX線分析装置 - 特許庁

SIMULTANEOUS ANALYSIS APPARATUS OF X-RAY ANALYSIS AND THERMAL ANALYSIS例文帳に追加

X線分析及び熱分析同時分析装置 - 特許庁

X-RAY SPECTROSCOPE FOR MICRO-PORTION ANALYSIS例文帳に追加

微小部分析用X線分光器 - 特許庁

X-RAY ANALYSIS METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

X線分析方法及び装置 - 特許庁

例文

X-RAY ANALYSIS APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

X線分析装置および方法 - 特許庁

例文

SIGNAL PROCESSING DEVICE FOR X RAY ANALYSIS例文帳に追加

X線分析用信号処理装置 - 特許庁

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加

蛍光X線分析装置 - 特許庁

X-RAY MAPPING ANALYSIS METHOD例文帳に追加

X線マッピング分析方法 - 特許庁

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS SYSTEM例文帳に追加

蛍光X線分析装置 - 特許庁

X-RAY GENERATOR, X-RAY ANALYSIS DEVICE, X-RAY TRANSMISSION IMAGE MEASUREMENT DEVICE, AND X-RAY INTERFEROMETER例文帳に追加

X線発生装置ならびにX線分析装置、X線透過像計測装置及びX線干渉計 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS SYSTEM AND X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS METHOD例文帳に追加

X線回折分析システム、および、X線回折分析方法 - 特許庁

X-RAY ANALYSIS METHOD AND X-RAY ANALYSIS APPARATUS, AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加

X線分析方法,X線分析装置及びそのプログラム - 特許庁

SAMPLE-COOLING DEVICE FOR X-RAY ANALYSIS APPARATUS, AND X-RAY ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加

X線分析装置の試料冷却装置及びX線分析装置 - 特許庁

X-RAY ANALYSIS METHOD, X-RAY ANALYSIS APPARATUS, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

X線分析方法、X線分析装置及びコンピュータプログラム - 特許庁

X-RAY ANALYSIS DEVICE, X-RAY ANALYSIS METHOD AND SURFACE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

X線分析装置、X線分析方法、及び表面検査装置 - 特許庁

To provide an X-ray analyzer and an X-ray analysis method appropriate for performing X-ray analysis.例文帳に追加

X線分析を行うのに好適なX線分析装置及びX線分析方法を提供する。 - 特許庁

TOTAL REFLECTION X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD AND ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加

全反射蛍光X線分析方法および分析装置 - 特許庁

QUANTITATIVE ANALYSIS IN ELECTRONIC PROBE X-RAY ANALYSIS例文帳に追加

電子プローブX線分析における定量分析 - 特許庁

FILM ANALYSIS METHOD AND DEVICE BY FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS例文帳に追加

蛍光X線分析による被膜分析方法及び装置 - 特許庁

X-RAY SPECTROSCOPIC ELEMENT AND X-RAY ANALYSIS DEVICE USING IT例文帳に追加

X線分光素子およびそれを用いたX線分析装置 - 特許庁

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER AND FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS METHOD例文帳に追加

蛍光X線分析装置及び蛍光X線分析方法 - 特許庁

METHOD FOR SETTING MEASUREMENT CONDITIONS FOR X-RAY ANALYSIS AND X-RAY ANALYZER例文帳に追加

X線分析の測定条件設定方法及びX線分析装置 - 特許庁

HIGH-RESOLUTION X-RAY MICROSCOPIC APPARATUS WITH FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS FUNCTION例文帳に追加

蛍光X線分析機能付き高分解能X線顕微装置 - 特許庁

FLUORESCENCE X-RAY ANALYZER AND FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS METHOD例文帳に追加

蛍光X線分析装置及び蛍光X線分析方法 - 特許庁

SAMPLE FOR FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS, FLUORESCENCE X-RAY ANALYZING APPARATUS, AND FLUORESCENCE X-RAY ANALYZING METHOD例文帳に追加

蛍光X線分析用試料、蛍光X線分析装置、及び蛍光X線分析方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS AND FLUORESCENT X-RAY ANALYZING METHOD USING IT AND FLUORESCENT X-RAY ANALYZER例文帳に追加

蛍光X線分析用試料保持具ならびにそれを用いる蛍光X線分析方法および装置 - 特許庁

DISPLACEMENT MEASURING METHOD, DISPLACEMENT MEASURING DEVICE, TOOL FOR MEASURING DISPLACEMENT, TOOL OF HOLDER FOR X RAY ANALYSIS, X RAY ANALYSIS METHOD, AND X RAY ANALYSIS DEVICE例文帳に追加

変位測定方法、変位測定装置、変位測定用冶具、X線分析用ホルダの治具、X線分析方法及びX線分析装置 - 特許庁

To achieve a stable behavior of an X-ray source, and stably implement quantitative analysis in an X-ray analysis apparatus, and to provide an X-ray analysis method.例文帳に追加

X線分析装置及びX線分析方法において、X線源を安定に挙動させ、定量分析を安定して行なうこと。 - 特許庁

SUBSTRATE FOR FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS AND STANDARD SAMPLE FOR FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS例文帳に追加

蛍光X線分析用基板および蛍光X線分析用標準試料 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS, AND METHOD AND DEVICE FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS USING THE SAME例文帳に追加

蛍光X線分析用試料保持具ならびにそれを用いる蛍光X線分析方法および装置 - 特許庁

SAMPLE PRE-TREATMENT SYSTEM FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS, AND FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS SYSTEM HAVING THE SAME例文帳に追加

蛍光X線分析用試料前処理システムおよびそれを備えた蛍光X線分析システム - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SAMPLE FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS, AND PRESSURIZING AND MOLDING FIXTURE OF SAMPLE FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS例文帳に追加

蛍光X線分析用試料の作製方法及び蛍光X線分析用試料加圧成形治具 - 特許庁

To provide an x-ray analysis apparatus which can perform x-ray microbeam analysis while visually observing an irradiation position on a sample of an x-ray microbeam with a simpler and easier way in an x-ray microbeam analysis apparatus.例文帳に追加

X線マイクロビーム分析装置において、より簡便な方法でX線マイクロビームの試料上での照射位置を目視観察しながらX線マイクロビーム分析を行えるX線分析装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS METHOD, TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS PRETREATMENT DEVICE, AND TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYZER例文帳に追加

全反射蛍光X線分析方法、全反射蛍光X線分析前処理装置及び全反射蛍光X線分析装置 - 特許庁

SPECIMEN DRIP SUBSTRATE FOR TOTAL-REFLECTION FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS, TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYZER, AND TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS METHOD例文帳に追加

全反射蛍光X線分析用試料点滴基板および全反射蛍光X線分析装置ならびに全反射蛍光X線分析方法 - 特許庁

MULTILAYER FILM SPECTRAL ELEMENT FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS OF BERYLLIUM例文帳に追加

ベリリウム蛍光X線分析用多層膜分光素子 - 特許庁

ISOTROPIC HIGH-PRESSURE APPLYING DEVICE FOR X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS例文帳に追加

X線回折解析用等方性高圧力印加装置 - 特許庁

MULTILAYER FILM SPECTROSCOPIC ELEMENT FOR BORON FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS例文帳に追加

ホウ素蛍光X線分析用多層膜分光素子 - 特許庁

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS OF LIQUID SAMPLE例文帳に追加

液体試料の螢光X線分析方法 - 特許庁

QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD AND DEVICE FOR X-RAY IMAGES例文帳に追加

X線画像の定量解析法および装置 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION AND THERMAL ANALYSIS SIMULTANEOUS MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

X線回折・熱分析同時測定装置 - 特許庁

CALIBRATION SAMPLE FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS例文帳に追加

蛍光X線分析用較正試料 - 特許庁

MULTI-LAYER FILM SPECTRAL ELEMENT FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS OF BORON例文帳に追加

ホウ素蛍光X線分析用多層膜分光素子 - 特許庁

WAVELENGTH DISPERSION TYPE FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加

波長分散型蛍光X線分析装置 - 特許庁

例文

X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPIC ANALYSIS METHOD例文帳に追加

X線光電子分光分析方法 - 特許庁

索引トップ用語の索引



  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2024 GRAS Group, Inc.RSS