意味 | 例文 (573件) |
x ray analysisの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 573件
SIGNAL PROCESSING DEVICE FOR X RAY ANALYSIS例文帳に追加
X線分析用信号処理装置 - 特許庁
X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加
蛍光X線分析装置 - 特許庁
X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS SYSTEM例文帳に追加
蛍光X線分析装置 - 特許庁
X-RAY GENERATOR, X-RAY ANALYSIS DEVICE, X-RAY TRANSMISSION IMAGE MEASUREMENT DEVICE, AND X-RAY INTERFEROMETER例文帳に追加
X線発生装置ならびにX線分析装置、X線透過像計測装置及びX線干渉計 - 特許庁
X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS SYSTEM AND X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS METHOD例文帳に追加
X線回折分析システム、および、X線回折分析方法 - 特許庁
X-RAY ANALYSIS METHOD AND X-RAY ANALYSIS APPARATUS, AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加
X線分析方法,X線分析装置及びそのプログラム - 特許庁
SAMPLE-COOLING DEVICE FOR X-RAY ANALYSIS APPARATUS, AND X-RAY ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加
X線分析装置の試料冷却装置及びX線分析装置 - 特許庁
X-RAY ANALYSIS METHOD, X-RAY ANALYSIS APPARATUS, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
X線分析方法、X線分析装置及びコンピュータプログラム - 特許庁
X-RAY ANALYSIS DEVICE, X-RAY ANALYSIS METHOD AND SURFACE INSPECTION DEVICE例文帳に追加
X線分析装置、X線分析方法、及び表面検査装置 - 特許庁
To provide an X-ray analyzer and an X-ray analysis method appropriate for performing X-ray analysis.例文帳に追加
X線分析を行うのに好適なX線分析装置及びX線分析方法を提供する。 - 特許庁
TOTAL REFLECTION X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD AND ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加
全反射蛍光X線分析方法および分析装置 - 特許庁
QUANTITATIVE ANALYSIS IN ELECTRONIC PROBE X-RAY ANALYSIS例文帳に追加
電子プローブX線分析における定量分析 - 特許庁
X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER AND FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS METHOD例文帳に追加
蛍光X線分析装置及び蛍光X線分析方法 - 特許庁
METHOD FOR SETTING MEASUREMENT CONDITIONS FOR X-RAY ANALYSIS AND X-RAY ANALYZER例文帳に追加
X線分析の測定条件設定方法及びX線分析装置 - 特許庁
HIGH-RESOLUTION X-RAY MICROSCOPIC APPARATUS WITH FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS FUNCTION例文帳に追加
蛍光X線分析機能付き高分解能X線顕微装置 - 特許庁
FLUORESCENCE X-RAY ANALYZER AND FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS METHOD例文帳に追加
蛍光X線分析装置及び蛍光X線分析方法 - 特許庁
SAMPLE FOR FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS, FLUORESCENCE X-RAY ANALYZING APPARATUS, AND FLUORESCENCE X-RAY ANALYZING METHOD例文帳に追加
蛍光X線分析用試料、蛍光X線分析装置、及び蛍光X線分析方法 - 特許庁
SAMPLE HOLDER FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS AND FLUORESCENT X-RAY ANALYZING METHOD USING IT AND FLUORESCENT X-RAY ANALYZER例文帳に追加
蛍光X線分析用試料保持具ならびにそれを用いる蛍光X線分析方法および装置 - 特許庁
DISPLACEMENT MEASURING METHOD, DISPLACEMENT MEASURING DEVICE, TOOL FOR MEASURING DISPLACEMENT, TOOL OF HOLDER FOR X RAY ANALYSIS, X RAY ANALYSIS METHOD, AND X RAY ANALYSIS DEVICE例文帳に追加
変位測定方法、変位測定装置、変位測定用冶具、X線分析用ホルダの治具、X線分析方法及びX線分析装置 - 特許庁
To achieve a stable behavior of an X-ray source, and stably implement quantitative analysis in an X-ray analysis apparatus, and to provide an X-ray analysis method.例文帳に追加
X線分析装置及びX線分析方法において、X線源を安定に挙動させ、定量分析を安定して行なうこと。 - 特許庁
SUBSTRATE FOR FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS AND STANDARD SAMPLE FOR FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS例文帳に追加
蛍光X線分析用基板および蛍光X線分析用標準試料 - 特許庁
SAMPLE HOLDER FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS, AND METHOD AND DEVICE FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS USING THE SAME例文帳に追加
蛍光X線分析用試料保持具ならびにそれを用いる蛍光X線分析方法および装置 - 特許庁
SAMPLE PRE-TREATMENT SYSTEM FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS, AND FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS SYSTEM HAVING THE SAME例文帳に追加
蛍光X線分析用試料前処理システムおよびそれを備えた蛍光X線分析システム - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF SAMPLE FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS, AND PRESSURIZING AND MOLDING FIXTURE OF SAMPLE FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS例文帳に追加
蛍光X線分析用試料の作製方法及び蛍光X線分析用試料加圧成形治具 - 特許庁
To provide an x-ray analysis apparatus which can perform x-ray microbeam analysis while visually observing an irradiation position on a sample of an x-ray microbeam with a simpler and easier way in an x-ray microbeam analysis apparatus.例文帳に追加
X線マイクロビーム分析装置において、より簡便な方法でX線マイクロビームの試料上での照射位置を目視観察しながらX線マイクロビーム分析を行えるX線分析装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS METHOD, TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS PRETREATMENT DEVICE, AND TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYZER例文帳に追加
全反射蛍光X線分析方法、全反射蛍光X線分析前処理装置及び全反射蛍光X線分析装置 - 特許庁
SPECIMEN DRIP SUBSTRATE FOR TOTAL-REFLECTION FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS, TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYZER, AND TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS METHOD例文帳に追加
全反射蛍光X線分析用試料点滴基板および全反射蛍光X線分析装置ならびに全反射蛍光X線分析方法 - 特許庁
MULTILAYER FILM SPECTRAL ELEMENT FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS OF BERYLLIUM例文帳に追加
ベリリウム蛍光X線分析用多層膜分光素子 - 特許庁
ISOTROPIC HIGH-PRESSURE APPLYING DEVICE FOR X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS例文帳に追加
X線回折解析用等方性高圧力印加装置 - 特許庁
MULTILAYER FILM SPECTROSCOPIC ELEMENT FOR BORON FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS例文帳に追加
ホウ素蛍光X線分析用多層膜分光素子 - 特許庁
X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS OF LIQUID SAMPLE例文帳に追加
液体試料の螢光X線分析方法 - 特許庁
QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD AND DEVICE FOR X-RAY IMAGES例文帳に追加
X線画像の定量解析法および装置 - 特許庁
X-RAY DIFFRACTION AND THERMAL ANALYSIS SIMULTANEOUS MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加
X線回折・熱分析同時測定装置 - 特許庁
CALIBRATION SAMPLE FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS例文帳に追加
蛍光X線分析用較正試料 - 特許庁
MULTI-LAYER FILM SPECTRAL ELEMENT FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS OF BORON例文帳に追加
ホウ素蛍光X線分析用多層膜分光素子 - 特許庁
WAVELENGTH DISPERSION TYPE FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加
波長分散型蛍光X線分析装置 - 特許庁
X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPIC ANALYSIS METHOD例文帳に追加
X線光電子分光分析方法 - 特許庁
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