「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • To effectively magnetize a magnet with a simplified method without the occurrence of any defect such as crack or the like on the magnet.
    磁石にカケ等の欠陥を発生させることなく、簡単な方法で磁石の着磁を効率的に行う。 - 特許庁
  • To improve a defect of handover between access devices in an IP communication network using hierarchical mobility management.
    階層型モビリティ管理を使用したIP通信ネットワークにおけるアクセス機器間のハンドオーバーの欠点を改善する。 - 特許庁
  • To prevent a luminescent spot defect caused by the residual spray alignment by assuring the transition from spray alignment to bend alignment.
    スプレイ配列からベンド配列への転移を確実にして、残留スプレイ配向による輝点欠陥を防止する。 - 特許庁
  • To detect only a defect while suppressing the effect of the film irregularity of a photoresist on a substrate layer, the residue of washing and the like.
    下地層のフォトレジストの膜むらや洗浄の残りなどの影響を抑えて欠陥のみを検出する。 - 特許庁
  • A time difference between the respective first peaks P1, P11 corresponds to a defect height ΔH1 in a depth direction 25.
    最初の各頂点P1,P11間の時間差は、深さ方向25の欠陥高さΔH1に対応する。 - 特許庁
  • The flap formation takes the form of a continuous tubular body having a diameter D approximating the diameter of a valve with a defect.
    組織弁は、欠陥のある弁の直径に近似する直径Dを有する連続管状体の形をとる。 - 特許庁
  • Accordingly, the defect detectability can be improved, and a proper diffracted wave can be used to improve the sizing precision.
    これによって、欠陥検出性を向上させ、適切な回折波を使用してサイジング精度の向上を計る。 - 特許庁
  • To provide a defect inspection apparatus for stably detecting defects even if an optical system fluctuates.
    光学系の変動が生じても、欠陥を安定して検出することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
  • The image blocks are compared relative to respective two adjacent repeated patterns, and a defect is detected from the difference between both blocks.
    この画像ブロックを、隣接する2つの繰返しパターン毎に比較し、両者の差から欠陥を検出する。 - 特許庁
  • To repair a pixel having a defect using a simple method and avoid deterioration in a normally formed pixel, in manufacturing an organic electroluminescent display device.
    簡易な方法で欠陥のある画素を修復するとともに、正常に形成された画素の劣化を避ける。 - 特許庁
  • STANDARD SAMPLE FOR CALIBRATING DEFECT INSPECTION APPARATUS FOR FLAT PANEL DISPLAY, AND CALIBRATION METHOD OF DEFECTIVE INSPECTION APPARATUS
    フラットパネルディスプレイの欠陥検査装置を校正するための標準試料および欠陥検査装置の校正方法 - 特許庁
  • If there is any defect on the surface of the optical disk 9, the photodetection position of the PSD 10 varies with the detect.
    光ディスク9の表面に欠陥があれば、その欠陥に応じてPSD10の受光位置が変動する。 - 特許庁
  • The image processing apparatus includes a defect determination circuit 14, a selector 15 and an SNR estimator 16.
    実施形態によれば、画像処理装置は、キズ判定回路14と、セレクタ15と、SNR推定器16と、を有する。 - 特許庁
  • To provide means capable of easily inspecting a surface defect of a semiconductor wafer with high reliability.
    半導体ウェーハの表面欠陥を簡便に高い信頼性をもって検査し得る手段を提供すること。 - 特許庁
  • The light reflected from the transparent sheet 10 is visually observed so as to inspect the defect in the transparent sheet 10.
    そして、透明シート10から反射する光を目視で観察して、透明シート10の欠陥を検査する。 - 特許庁
  • To suppress degradation of element characteristics which is caused by a defect present in a semiconductor substrate, relating to a semiconductor device.
    半導体素子において、半導体基板に存在する欠陥に起因する素子特性の低下を抑制する。 - 特許庁
  • The acquired images are automatically classified by an image processing section, and the results are added to a defect file to be output.
    取得した画像は、画像処理部で自動的に分類され、結果を欠陥ファイルに追加して出力される。 - 特許庁
  • To provide a technique for contributing to facilitate determining portions of foreign particles deposition that causes an image formation defect.
    画像形成不良の原因となるゴミの付着箇所の特定の容易化に寄与する技術を提供する。 - 特許庁
  • Furthermore, a method of manufacturing a unit cell of the fuel cell which includes processes of a unit cell defect detection method is provided.
    さらには、当該セル欠陥検出方法する工程を含む当該セルの製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method of manufacturing a throttle body which can prevent defect of the throttle body even when a gate mark projection is broken off.
    ゲート跡突起を折り取ってもスロットルボディの欠損を避けられるスロットルボディの製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a fiber sheet having no fluff defect while having sufficient mechanical characteristics and light resistance.
    十分な機械特性と優れた耐光性を有しながら毛羽欠点の少ない繊維シートを提供すること。 - 特許庁
  • To provide a solid-state imaging device and data processing apparatus the memory defect of which can be effectively detected.
    効果的にメモリ欠陥の検出を行うことができる固体撮像装置及びデータ処理装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a heat-sensitive recording medium which has no coating defect and is superior in recording image quality and plasticizer resistance.
    塗工欠陥がなく、記録画質及び耐可塑剤性に優れた感熱記録体を提供することにある。 - 特許庁
  • To provide a method and system for correcting an image quality defect by using an electrostatic voltmeter (ESV).
    静電電圧計(ESV)を用いて画像品質欠陥を補正するための方法およびシステムを提供する。 - 特許庁
  • As a result, the gap between the base metals W can be filled with the weld metal, and occurrence of any welding defect can be prevented.
    その結果、母材W間を溶着金属で満たすことができ、溶接欠陥の発生を防止できる。 - 特許庁
  • To rationally determine whether a circuit board is non-defective by detecting a latent defect of a conductive pattern of the circuit board.
    回路基板の導電パターンの潜在的な不良を検出して良否を合理的に判断できるようにする。 - 特許庁
  • Therefore, disturbance in the alignment of this range is prevented and appropriate defect inspection can be performed.
    このため、この範囲内でのアライメントの混乱の発生が防止され、適切な欠陥検査を行うことができる。 - 特許庁
  • An image with an exhibited detective portion is displayed (S230) when the defect item is selected therein (S200: YES).
    ここで、不良項目が選択されると(S200:YES)、不良箇所が明示された画像を表示する(S230)。 - 特許庁
  • To provide a device and a method by which a defect in the welding mechanism of a printer is easily detected.
    プリンタの融着機構における欠陥を容易に検出することのできる装置および方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a distortion defect inspection device unaffected by lighting environment for inspecting surface conditions.
    表面の状態と検査する照明環境などに左右されない表面歪み欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for manufacturing a high-quality crystal in which a discharged solvent is not confined and which has no crystal defect and crack.
    排出された溶媒の閉じ込めがなく、結晶欠陥やクラックのない高品質結晶を製造する。 - 特許庁
  • To provide an image forming apparatus that suppresses image defect in the case of using a photosensitive member of high capacitance.
    高静電容量の感光体を用いた場合の画像不良を抑制した画像形成装置を提供する。 - 特許庁
  • To solve the problem of failures in search processing due to foreign matters sticking on a sample or a pattern defect in a template matching processing.
    テンプレートマッチング処理において、試料に付着した異物やパターン欠陥によってサーチ処理を失敗する。 - 特許庁
  • To provide a printer and a printing method for obtaining a uniform functional thin film which is free from transfer defect on a substrate.
    基板上への転写不良が無く、均一な機能性薄膜を得る印刷装置、印刷方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a multistage developing roller type developing device capable of obtaining an excellent image without a defect in the image.
    画像欠陥のない良好な画像を得ることが可能な多段現像ローラ型現像装置を提供する。 - 特許庁
  • The coated single crystal is heat-treated so that the inside of the micro pipe defect may be saturated with silicon carbide vapor.
    そして、熱処理を施し、マイクロパイプ欠陥中が炭化珪素蒸気種で飽和状態になるようにする。 - 特許庁
  • DEFECT SEARCHING SYSTEM AND METHOD FOR MOUNTED BOARD, AND RECORDING MEDIUM RECORDING ITS CONTROL PROGRAM
    実装基板の不良探索システム及びその不良探索方法並びにその制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
  • To lighten adverse influence such as noise and defect during reproduction of an address and to detect timing synchronized with data.
    アドレス再生時におけるノイズ、欠陥等の影響を軽減し、また、データに同期したタイミングを検出する。 - 特許庁
  • To obtain a product which has no casting defects such as shrinkage cavity, misrun, cold shut, gas defect, etc., when a casting is produced.
    鋳物を製造するにあたり引け巣、不廻り、湯境い、ガス欠陥等の鋳造欠陥が無い製品を得る。 - 特許庁
  • ELASTIC WAVE-INPUTTING APPARATUS, AND METHOD FOR PROSPECTING DEFECT IN CONCRETE STRUCTURE USING THE SAME
    弾性波入力装置及び該弾性波入力装置を用いたコンクリート構造物中の欠陥探査方法 - 特許庁
  • To provide a mail server network that reduces time for identifying and defining defect and delay position.
    故障・遅延箇所の特定・切り分けに要する時間を短縮することが可能なメールサーバ網を提供する。 - 特許庁
  • To provide a spring clutch which can suppress deterioration of lifetime due to defect of lubrication.
    潤滑不良による寿命の低下を抑制することができるようにしたスプリングクラッチを提供することである。 - 特許庁
  • To easily and properly classify defects, when carrying out sequentially a plurality of kinds of defect detection.
    複数種類の欠陥検出処理を順次行うような場合、欠陥の分類処理を容易かつ適切に行う。 - 特許庁
  • To suppress the succession of the defect growth of the micro pipe all over the faces of the silicon carbide single crystal.
    炭化珪素単結晶の成長面全体においてマイクロパイプ欠陥の継承を防止できるようにする。 - 特許庁
  • To improve reliability of wiring defect correction in a method of correcting disconnection of wiring for a picture display device.
    画像表示装置の配線の断線修正方法に関し、配線欠陥修正の信頼性を向上すること。 - 特許庁
  • To provide a liquid recovery system capable of suppressing occurrence of an exposure defect by suppressing remaining of a liquid, etc.
    液体の残留等を抑制して、露光不良の発生を抑制できる液体回収システムを提供する。 - 特許庁
  • To quickly apply marking for a defect portion on an inspection object, and to reduce the size of a device.
    検査対象物上の欠陥箇所に対するマーキングを迅速に行うとともに、装置の小型化を図る。 - 特許庁
  • To reduce an initial defect of a cell assembly memory when a cell assembler sets a new destination.
    セル組立装置において、新たな送信先を設定するときの、セル組立メモリの初期不良を低減させる。 - 特許庁
  • With the bounce controllers 21 and 22, the occurrence of the defect caused by the phosphor bounce to the panel 1 is prevented.
    跳ね制御体21,22により、パネル1への蛍光体の跳ね返りに起因した欠陥の発生を防止できる。 - 特許庁
  • METHOD FOR REDUCING DEFECT DENSITY AND METHOD FOR CONTROLLING FLOW RATE OF SLURRY IN CHEMICAL MECHANICAL POLISHING OF SEMICONDUCTOR WAFER
    半導体ウエハの化学的機械的研磨における欠陥密度低減方法及びスラリ流量制御方法 - 特許庁
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