「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 124 125 126 127 128 129 130 131 132 .... 366 367 次へ＞- Thereby, the alignment defect and the occurrence of the filling line unevenness are prevented and the display quality level is improved.
これにより、配向不良を防止すると共に、注入スジむらの発生を防止し、表示品位を向上させる。 - 特許庁 - To provide a retardation plate which hardly causes defect and contributes to the enlargement of a viewing angle of a liquid crystal display device.
欠陥が少なく、液晶表示装置の視野角の拡大に寄与する位相差板を提供することである。 - 特許庁 - To provide a screen defect detecting method and the like, capable of efficiently detecting large and small stain spots, unevenness and the like.
大小のシミやむら等を効率よく検出することができる画面欠陥検出方法等を得る。 - 特許庁 - To reduce the footprint of a incorporated test circuit detecting the defect of the output data bit of a built-in memory circuit.
内蔵メモリ回路の出力データビットの不良を検出する組込テスト回路の占有面積を低減する。 - 特許庁 - A defect determination part 206 determines the occurrence of the fault of the device itself based on extraction results of the defects.
欠陥判定部２０６は、欠陥の抽出結果に基づいて、装置自身の異常の有無を判定する。 - 特許庁 - To improve picture recognition by preventing visible defect in a panel due to carets generated in scribing or suction holes.
スクライブの際に発生するカレットや吸着孔によるパネル表示不良を防ぎ、画像認識を改善する。 - 特許庁 - To provide a camera module etc., on which a filter can be mounted without causing trouble such as an imaging defect.
撮像不良等の不具合を招くことなくフィルタを装着することのできる、カメラモジュール等を提供する。 - 特許庁 - To repair a halftone defect causing imperfect light shielding in a binary mask with high accuracy and excellent transfer properties.
バイナリマスクの遮光が完全でないハーフトーン欠陥の高精度かつ転写特性の優れた修正を可能にする。 - 特許庁 - To solve a problem relating a SDT junction having a defect in a memory array of a resistive cell intersection.
抵抗性セル交差点メモリアレイにおける欠陥のあるＳＤＴ接合に関連した問題を克服すること。 - 特許庁 - The presence of a recess or protrusion defect on the the copper coated surface within the micropore range is determined when exceeding the set value.
超えていれば当該微孔範囲内の銅被覆表面に凹みまたは凸起欠陥があると判定する。 - 特許庁 - To prevent a read defect of a document image, even if an image reader added with vertical vibration.
画像読取装置に上下振動が加えられても原稿画像の読み取り不良が発生することを防止する。 - 特許庁 - To provide an efficient method and a system for detection of defect for which need grows more and more.
必要性がますます増大している欠陥検出のための効率的な方法及びシステムを提供する。 - 特許庁 - Further, bubbles are not stuck to the inside of the through-hole 202 and a defect in a discharge direction and contamination of a foreign substance do not occur.
また、貫通孔２０２内に気泡が付着せず、吐出方向不良や異物混入が生じない。 - 特許庁 - To provide a digital broadcast receiver that easily controls recording start and recording stop of a transport stream depending on an error or a defect of a digital signal.
デジタル信号のエラーや不具合に応じてトランスポートストリームの記録開始、記録停止を容易にコントロールする。 - 特許庁 - To reduce the generation of a defect of a pattern in a coating development treatment system to form a pattern on a wafer.
ウェハ上にパターンを形成する塗布現像処理システムにおいて，パターンに関する不具合の発生を低減する。 - 特許庁 - To improve assemability of a convergence correction device by resolving the defect due to integration of the coil winding member.
コイル巻線用部材の一体化による不具合を克服してコンバージェンス補正装置の組立性を改善する。 - 特許庁 - To provide a device holding a semiconductor chip in a probing condition integrally with a probe card for performing a defect analysis and a burn-in test on a semiconductor integrated circuit in a bear chip condition.
ベアチップ状態で、半導体集積回路の不良解析やバーンイン試験を可能にする。 - 特許庁 - The determination means determines existence of a defect on the pattern based on the signal from the detection means.
前記判定手段は、前記検出手段からの信号に基づいて前記パターンの欠陥の有無を判定する。 - 特許庁 - To provide a display device capable of easily discriminating the existence of a defect in a data line on a VI test stage.
ＶＩテスト段階でデータ線の不良の有無を容易に判別することができる表示装置を提供する。 - 特許庁 - The finally recorded defect management information can be specified quickly by referring to the status information.
ステータス情報を参照することにより、最後に記録したディフェクト管理情報を迅速に特定することができる。 - 特許庁 - To provide technology for detecting defect and a fraud related to a game ball intake device disposed in a game machine.
遊技機内に配置される遊技球取込装置に係る不具合や不正を検出する技術を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method for an array substrate for a display device wherein a contact defect is prevented and yield is enhanced.
コンタクト不良を防止し、歩留りの向上した表示装置用アレイ基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a game machine capable of eliminating a defect caused by break-down of control correlation.
制御の相関が崩れることにより生ずる不具合を解消することができる遊技機を提供すること。 - 特許庁 - To make a defect existing in the vicinity of a surface of a specimen detected.
被検査体の表面近傍に存在する欠陥を検出することができる超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal panel and the like capable of reducing a defect generated when resin is used for a light shielding film.
遮光膜に樹脂を利用した場合の不具合を低減可能な液晶パネル等を提供することである。 - 特許庁 - Thus, socket cover can be omitted so that frequencies of defect generation can be reduced in an automatic assembling process.
従って、ソケットカバーを省略でき自動組立工程における不良発生頻度を減らすことができる。 - 特許庁 - To control a PLL that generates a reproduction clock by detecting a signal defect included in a reproduced signal.
再生信号に含まれる信号欠陥を検出することにより、再生クロックを生成するＰＬＬを制御する。 - 特許庁 - To avoid defect of data transfer caused by discontinuity by eliminating a data line from a wire bundle cable in a non-magnification scanner.
等倍型スキャナにおいて、束線ケーブルからデータラインを削除し、断線によるデータ転送不良を回避する。 - 特許庁 - The shutter 31 is closed after a proper amount of correction liquid 20a spreads all over the whose white voice defect part 13a.
白抜け欠陥部１３ａ全体に適切な量の修正液２０ａが行きわたったら、シャッタ３１を閉じる。 - 特許庁 - To increase use efficiency of a plurality of temporary disk/defect management areas (TDMA) provided in a disk.
ディスクに提供される複数の一時ディスク／欠陥管理領域（ＴＤＭＡ）の利用効率性を増大させる。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing SiO_2-TiO_2 glass with the low coefficient of expansion which has no defect of a conventional technology.
先行技術の欠点を有していない低い膨張率を示すＳｉＯ_２−ＴｉＯ_２−ガラスの製造方法 - 特許庁 - To provide a semiconductor device and a production method therefor, with which the conduction defect of wiring and a via part can be avoided.
配線とｖｉａ部との導通不良を回避できる半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a magnet roller which prevents an image defect, obtains an excellent image quality at a low cost, and being suitable for coloring.
画像不良を防止し、低コストで、高品質の画質が得られ、カラー化にも好適なマグネットローラを提供する。 - 特許庁 - To provide a defect inspecting method for detecting defects in an object formed on a substrate with high efficiency.
基板上に形成された形状の欠陥を良好な効率で検出する欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - To accurately recognize a defect even under presence of a part of different pattern or a partial shading part.
パターンの違い部分や、部分的な濃淡部分の存在のもとでも、欠陥を正確に認識できるようにする。 - 特許庁 - To provide a generator control system which can prevent the occurrence of a generation defect accompanied by a slide of a clutch.
クラッチ滑りに伴う発電不良の発生を防止することができる発電機制御システムを提供すること。 - 特許庁 - To effectively avoid the defect of image quality caused by the falling of foreign matters such as spattering powder by welding and chips of a screw.
溶接によるスパッタ粉、ネジの切り粉などの異物の落下に起因する画質欠陥を有効に回避する。 - 特許庁 - The image acquired by the image pickup device 5 is subjected to an image processing step carried out by an image processing device 6, thereby detecting the defect.
画像処理装置６は、撮像素子５で取り込んだ画像の画像処理を行って、欠陥を検出する。 - 特許庁 - To detect a welding defect existing in a weld line generated at the time of producing a electro-resistance-welded tube with high precision.
電縫管の造管時に発生した溶接線に存在する溶接欠陥を高精度で検出すること。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a film and a porous film which suppresses the occurrence of dot defect, crack or the like.
点欠陥、クラック等の発生を抑制できる膜および多孔性膜の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - The substrate (1) to be subjected to normal/defective condition deciding is subjected to defect inspection and the defects and their addresses are determined.
本発明では、良否判定すべき基板（１）について欠陥検査を行い、欠陥及びそのアドレスを求める。 - 特許庁 - TUBE EXPANDING METHOD FOR MULTITUBE HEAT EXCHANGER, TUBE EXPANDING MANAGING METHOD, TUBE EXPANDING INSPECTING AND DISPLAYING DEVICE AND TUBE EXPANDING DEFECT ALARMING DEVICE
多管式熱交換器の拡管方法、拡管管理方法、拡管検査表示装置及び拡管不良警報装置 - 特許庁 - METHOD OF SOFT PAD PREPARATION TO REDUCE REMOVAL RATE RAMP-UP EFFECT AND TO STABILIZE DEFECT RATE
除去レートランプアップによる影響を減少し且つ欠陥レートを安定化するための柔軟パッド調整方法 - 特許庁 - There is disclosed the method of manufacturing a substantially-relaxed SiGe alloy layer, in which flat surface defect density is decreased.
平面欠陥密度を低下させた、実質的に緩和したＳｉＧｅ合金層を製造する方法を開示する。 - 特許庁 - Then, based on the binarized signals, the defect of the optical original card plate is detected by a CPU 25.
次に二値化処理された信号に基づいてＣＰＵにより光カード原版の欠陥検出が行われる。 - 特許庁 - To prevent the occurrence of an alignment defect due to discharge of static electricity which is produced by rubbing in a liquid crystal display element.
液晶表示素子において、ラビングにより発生した静電気の放電による配向欠陥を防ぐ。 - 特許庁 - To identify only a visually observable defect as a defective area more accurately in a defective area identification device.
欠陥領域特定装置において、より正確に、視認される欠陥のみを欠陥領域として特定する。 - 特許庁 - The kind of the defect is determined based on the acquired secondary electron image to display a wafer 18 in-plane distribution.
取得した二次電子画像から欠陥の種類の判定を行ない、ウエハ１８面内分布を表示する。 - 特許庁 - To provide an image forming device which is free of retransfer and transfer defect and is high in image quality and durability.
再転写や転写不良がなく、高画質及び高耐久性の画像形成装置を提供することにある。 - 特許庁 - The image thus obtained undergoes image processing by an image processor 19, and defect information is transmitted to the computer 20.
得られた画像は画像処理装置１９で信号処理を行い欠陥情報をコンピュータ２０に伝達する。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
