「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • A 1st inspection screen 524 is constituted of a production data display part 520 and a defect breakdown display part 522.
    第1の検査画面524は、生産データ表示部520と欠陥内訳表示部522とで構成されている。 - 特許庁
  • To solve a problem of operation inconvenience of a conventional electrooptical mouse by a defect of sensitivity of the electrooptical mouse.
    従来の電気光学マウスの感知度の不具合による電気光学マウスの操作不便の問題を解決する。 - 特許庁
  • The ultrasonic waves are reflected by a defect in the welded part, and are received by all probes, including a transmission probe.
    この超音波は溶接部内の欠陥で反射され、送信探触子を含む全探触子で受信される。 - 特許庁
  • To remove toner adhering to a photoreceptor drum and discharge product while restraining an image defect from occurring.
    画像不良の発生を抑制しながら、感光体ドラムに付着したトナーや放電生成物を除去する。 - 特許庁
  • To perform an optimize image processing by appropriately correcting a defect in shape information obtained from the image of an object.
    物体の画像から得られる形状の情報の欠陥を適切に補正して、最適な画像処理を行う。 - 特許庁
  • The CIGS film having the film defect thus inhibited shows high photoelectric conversion efficiency when used in a solar cell.
    CIGS膜は、膜欠陥を抑えることで、太陽電池として機能させたときに高変換効率を実現できる。 - 特許庁
  • To provide a means for inspecting a response to only an OFF stimulus in an inspection of advancing a visual field defect.
    視野欠損の進行の検査において、OFF刺激のみに対する応答を検査する手段を提供する。 - 特許庁
  • To provide an active matrix substrate having no defect by anode- oxidizing a signal conductor and its manufacturing method.
    信号線を陽極酸化することにより、欠陥のないアクティブマトリクス基板とその製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an inspection method for a filter with good sensitivity of detecting the defect of a filter and with excellent work efficiency.
    フィルタの欠陥を検知する感度が良く、かつ作業効率に優れるフィルタの検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To obtain a cylinder hole inspecting device capable of detecting a defect such as a cavity, a flaw and burr on the inner surface of a hole with a good S/N.
    孔内面の鋳巣、疵、バリ等の欠陥をS/N良く検出できる円筒孔検査装置を得る。 - 特許庁
  • To prevent an image defect in company with the separation discharge occurring at the time of separating transfer paper from a transfer belt.
    転写ベルトから転写紙を分離する際に発生する剥離放電に伴う画像不良をなくすようにする。 - 特許庁
  • To provide a radio communication system which suppresses a defect of data and shortens the latency time of a radio communication.
    データの欠落を抑制し、かつ、無線通信の待ち時間を短縮可能な無線通信システムを提供する。 - 特許庁
  • TERMINAL DEVICE, MOVEMENT DETECTION DEVICE, GETTING-ON/OFF DETECTION DEVICE, DEFECT RESPONSE SYSTEM, TRANSFER DEVICE AND ON-VEHICLE DEVICE
    端末装置、移動検出装置、乗降検出装置、不具合対応システム、転送装置、および車載装置 - 特許庁
  • To estimate the degree of influence of a trouble caused by a defect of an electronic component, and carry out a fault diagnosis of the electronic component.
    電子部品の欠陥が起因するトラブルによる影響度を推定し、電子部品の故障診断を行なう。 - 特許庁
  • As a result, the uniformity in the thickness of the adhesive layer is made possible and the occurrence of a gap defect can be prevented.
    これにより、接着層の厚さの均一化を図ることができ、ギャップ不良の発生を防ぐことができる。 - 特許庁
  • An HDD1 performs the defect test of the magnetic disk 11 by utilizing a TFC (Thermal Fly-height Control).
    本発明の一形態にかかるHDD1は、TFCを利用して磁気ディスク11の欠陥テストを行う。 - 特許庁
  • To provide an optical easy-to-adhere film having excellent transparency and easy adhesiveness and reduced in optical defect.
    優れた透明性、易接着性を有し、且つ光学欠点の少ない光学用易接着フィルムを提供する。 - 特許庁
  • To reduce occurrence of a defect such as a void and to improve a coupling strength in manufacturing a coupled substrate.
    結合基板の製造において、ボイド等の不良の発生を低減するとともに結合強度を高める。 - 特許庁
  • To provide an image forming apparatus that forms an image by suppressing the occurrence of an image defect caused by screen processing.
    スクリーン処理に伴う画像欠陥の発生を抑えて画像形成を行う画像形成装置を提供する。 - 特許庁
  • Total area of defect removed portions to the whole area is 0.2% or less to the whole area of the polishing face P.
    欠点が除去された箇所の合計の面積は、研磨面Pの全面積に対して0.2%以下である。 - 特許庁
  • The defect-suppressing layer 205 is of p-type, and the photodiode 208 and the inversion layer 209 are of n-type.
    欠陥抑制層205はP型となっており、フォトダイオード208と反転層209とはN型となっている。 - 特許庁
  • To increase the defect relief efficiency of a DRAM, etc., which is equipped with redundant bit lines and adopts a hierarchical IO line system.
    冗長ビット線を備え、かつ階層化IO線方式をとるDRAM等の欠陥救済効率を高める。 - 特許庁
  • To provide a laminated film in which a defect of appearance does not occur during stored in a rolled form for a long time.
    ロール状にして長期間保管した場合に、外観上の不具合のない積層フィルムを提供すること。 - 特許庁
  • As a result, a uniform functional thin film which is free from transfer defect on the substrate to be printed can be obtained.
    これによって被印刷基板上に転写不良のない均一な機能性薄膜を得ることができる。 - 特許庁
  • To prevent the occurrence of an alignment defect due to discharge of static electricity which is produced by rubbing in a liquid crystal display element.
    液晶表示素子においてラビングにより発生した静電気の放電による配向欠陥を防ぐ。 - 特許庁
  • To provide a method for detecting the extent of a defect accurately regardless of the speed variation of an apparatus for inspecting the inside of a pipe.
    管内検査装置の速度が変化しても、欠陥の程度を正確に検出する方法を提供する。 - 特許庁
  • As described above, the white spot defect is detected not immediately after the power supply is turned on but immediately before the power supply is cut off.
    以上のように、電源投入直後ではなく、電源遮断直前に白点欠陥を検出する。 - 特許庁
  • By this reliability, a defect of the rotor structure having the wrongly oriented permanent magnets is eliminated.
    この信頼性によって、誤って配向された永久磁石を備えた回転子構造の不良が排除される。 - 特許庁
  • When a differential is greater than a threshold value Th2, deterioration of a photo-diode 601 is discriminated as a defect factor.
    差分が閾値Th2より大きいときは、フォトダイオード601の劣化が欠陥要因であると判別される。 - 特許庁
  • METHOD FOR PREPARING DATA FOR DEFECT ANALYSIS IN EXAMINATION OF ELECTRONIC DEVICE AND SYSTEM FOR ANALYZING EXAMINATION DATA FOR ELECTRONIC DEVICE
    電子デバイスの検査における欠陥解析用データ作成方法、および、電子デバイスの検査データ解析システム - 特許庁
  • To provide a finned heat sink which solves the defect of a heat sink having a structure of the finned heat sink and made of graphite epoxy.
    黒鉛エポキシ製フィン付きヒート・シンク構造の欠点を解決するフィン付きヒート・シンクを提供すること。 - 特許庁
  • To provide a substrate processing apparatus and a substrate processing method which can prevent a defect in processing on a substrate.
    基板の処理不良を防止することができる基板処理装置および基板処理方法を提供する。 - 特許庁
  • To eliminate the need of rewriting firmware in order to correct a defect in a user interface or in order to provide an additional function.
    ユーザインタフェースの不具合の修正や機能追加のためにファームウェアの書き換えを必要としないようにする。 - 特許庁
  • To suitably correct image deterioration due to a pixel defect of an imaging element even when performing electronic shake correction.
    電子手ぶれ補正を行う場合にも、撮像素子の画素欠陥に起因する画像劣化を適切に補正すること。 - 特許庁
  • To reduce erroneous detection to enhance reliability, in automatic defect recognition for a test piece using nondestructive analysis.
    非破壊分析を用いたテストピースの自動欠陥認証において、誤った検出を少なくし信頼性を高める。 - 特許庁
  • To solve a problem that spotted stains are formed on a gold plating layer adhered to a wiring layer to cause an appearance defect.
    配線層に被着させた金めっき層上に斑点状のしみが形成されて外観不良を生じる。 - 特許庁
  • Defect is hard to generate in a film formed by a radical nitriding process in comparison with oxynitride film by CVD method.
    ラジカル窒化処理により形成された膜は、CVD法による窒化膜に比べて、膜中に欠陥が生じにくい。 - 特許庁
  • To enhance the yield of a recording head by lowering the failure rate thereof caused by the defect in a logical circuit.
    論理回路における欠陥が原因となる記録ヘッドの不良率を低下させて歩留りを向上させる。 - 特許庁
  • The analyzer module (34) detects defects on the wafer and works to classify them into different defect categories.
    アナライザモジュール(34)は、ウェーハにある欠陥を検出し、それらを異なる欠陥タイプに分類するように作用する。 - 特許庁
  • Eventually, grating defect atoms of the optical fiber 3 are nearly eliminated to make the optical fiber coil 2 inactive.
    そして、最終的に光ファイバ3の格子欠陥原子がほとんど無くなり、光ファイバコイル2は不活性化される。 - 特許庁
  • This allows the defect of the memory cells to be accurately detected, when the parallel bit test of the semiconductor memory device is performed.
    これにより、半導体メモリ装置の並列ビットテスト時にメモリセルの欠陥を正確に検出することができる。 - 特許庁
  • To form a homo-epitaxial growth layer with a small surface defect density on a silicon carbide substrate with a low off-angle.
    低オフ角の炭化珪素基板上に、表面欠陥密度の小さいホモエピタキシャル成長層を形成する。 - 特許庁
  • Now, a depth of he crystal defect layer 2 is set so as to be less than the depth of the trench 3.
    ここで、上記結晶欠陥層2の深さは上記トレンチ3の深さより小さくなるように設定される。 - 特許庁
  • A decoding circuit (460) decodes input/output designators of the memory cells having defects and memory cells having no defect.
    デコーディング回路(460)は、欠陥の有るメモリセルと欠陥の無いメモリセルの各々の入出力指示子をデコードする。 - 特許庁
  • To properly correct a bone defect part such as cleft palate which is not brought into sufficient contact with bone tissue.
    口蓋裂等の骨組織との十分な接触を図ることが困難な骨欠損部を適正に修復する。 - 特許庁
  • To prevent a image defect caused by the accumulation of reversed toner in a developing apparatus, without keeping a user waiting.
    反転トナーが現像装置の蓄積されることに起因する画像不良を、ユーザ待たせることなく防止する。 - 特許庁
  • To provide a check valve which does not cause a seal defect when a seal member of the check valve is swollen with fuel.
    逆止弁のシール部材が燃料により膨潤しても、シール不良が起きない逆止弁を提供すること。 - 特許庁
  • A defect itemizing means 14 itemizes the defects based on the areas of the defects and their entire lengths in respective threshold.
    欠陥項目分類手段14は各しきい値での欠陥の面積、全長から欠陥の項目を分類する。 - 特許庁
  • To provide a quartz glass ingot of ultra low contamination and defect levels for use in semiconductor processing applications.
    半導体加工用途で使用するための不純物レベル及び欠陥濃度の低い石英ガラスインゴットの提供。 - 特許庁
  • A space filter 6 converts a Fourier transformation image into a intensity change to detect the phase defect easily and quickly.
    空間フィルタ6がフーリエ変換像を強度変化に変換して、簡易かつ高速に位相欠陥を検出する。 - 特許庁
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