「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 121 122 123 124 125 126 127 128 129 .... 366 367 次へ＞- To detect a state of conduction defect when a sheet material enters between a main body side connector and a unit side connector.
シート材が本体側コネクタとユニット側コネクタとの間に入り込んだ際の導通不良状態を検知する。 - 特許庁 - The measurement part 48 measures and detects the current and voltage of the coil of the disconnection defect detection sensor 24.
計測部４８は、断線不良検出センサ２４のコイルの電流及び電圧を計測して検出する。 - 特許庁 - To provide a method for simply producing a styryl dye, having no longer any defect caused by antecedent technologies.
もはや先行技術の欠点を有さないスチリル染料を製造するための簡単な方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR REMOVING MINUTE DEFECT IN DISCRETE THIN FILM SOLAR BATTERY AND METHOD FOR MANUFACTURING THIN FILM SOLAR BATTER MODULE
単位薄膜太陽電池内の微小欠陥部除去方法および薄膜太陽電池モジュールの製造方法 - 特許庁 - To reduce discontinuous residual noise which is conventionally a defect in a spectrum subtraction processing.
スペクトル減算処理において従来欠点であった、不連続な残留雑音を削減することを目的とする。 - 特許庁 - To prevent a defect of a display image caused by miniaturization of a CCD drive circuit and fluctuation in a power supply voltage.
ＣＣＤ駆動回路の小型化及び電源電圧の変動による表示画像の不具合を抑止する。 - 特許庁 - MEDIA APPARATUS FOR CORRECTING MEDIA DATA HAVING DEFECT USING NETWORK, METHOD EXECUTABLE BY COMPUTER, AND COMPUTER PROGRAM
ネットワークを使用して傷のあるメディア・データを訂正するメディア装置、コンピュータで実現可能な方法、コンピュータ・プログラム - 特許庁 - To provide an electron beam apparatus that can reliably inspect a defect with high throughput by using a multibeam.
マルチビームを用い、高いスループットで、かつ、高い信頼性をもって欠陥検査を行い得る電子線装置の提供。 - 特許庁 - DETECTOR AND METHOD FOR DETECTING RADIAL DEFECT, AND PROGRAM FOR FUNCTIONING COMPUTER AS DETECTOR
放射状欠陥の検出装置、検出方法およびコンピュータを当該検出装置として機能させるためのプログラム - 特許庁 - To reduce the time required for a test by specifying a defect part generated in a memory part of a semiconductor storage circuit.
半導体記憶回路のメモリ部で発生した不良箇所を特定し、テストに要する時間の短縮を図る。 - 特許庁 - Thereby, the data are corrected to a correct expected value within the defect of the cell data of 1 bit per 1 word line.
これにより、通常１ワード線あたり１ビットの本セルデータの不良までなら、正しい期待値に訂正される。 - 特許庁 - A corrosion-induced defect in the steel material is masked by filling a zinc paste and sticking zinc foil onto it.
鋼材の腐食による欠損個所に亜鉛ペーストを充填し、その上から亜鉛箔を貼り付けて遮蔽する。 - 特許庁 - To provide an electric discharge machining device that can improve machining accuracy and reduce machining defect in machining an edge of a workpiece.
ワークのエッジ部の加工精度や加工欠陥を減らすことができる放電加工装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a hetero structure substrate wherein a crystal defect layer is hardly generated in an epitaxial growth layer.
エピタキシャル成長層に結晶欠陥層が生じにくい、ヘテロ構造基板の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device which can reduce defect in a pad while using a copper wiring.
銅配線を利用しつつも、パッド部での不良を低減することが可能な半導体装置を提供すること。 - 特許庁 - OBJECT MOVEMENT MECHANISM AND OBJECT MOVEMENT METHOD USING INTERACTION BETWEEN LIQUID-LIQUID CRYSTAL PHASE TRANSITION AND LIQUID CRYSTAL DEFECT
液体−液晶間相転移と液晶欠陥の相互作用による物体移動機構および物体移動方法 - 特許庁 - The values in the register 104 are integrated in a predetermined number of times in a register 106 by the extended defect detecting signal.
レジスタ１０４の値は、引き延ばされた欠陥検出信号により、レジスタ１０６で所定回数、積算される。 - 特許庁 - DEFECT ANALYZING METHOD, SUBSTRATE USED FOR THE SAME METHOD, ELECTRONIC APPARATUS AND MANUFACTURING DEVICE THEREFOR
不良解析方法、その不良解析方法のために用いられる基板、電子機器および電子機器の製造装置 - 特許庁 - To provide a feed containing an additive having no defect of a commonly used material, and capable of improving the performance.
通例に使用される物質の欠点がなく能力を向上させる添加物を含有する飼料の提供。 - 特許庁 - Thus, a defect in the semiconductor device which occurs owing to faulty connection of the metal contact is avoided.
これにより、金属コンタクトの連結不良のために発生する半導体装置の不良を防止することができる。 - 特許庁 - To surely preclude a battery having a defect as a micro short circuit and the like from the terminal voltage at the initial charge.
初期充電時の端子電圧からマイクロショート不良等の問題のある電池を確実に排除する。 - 特許庁 - To reliably reproduce an address without regard to a defect in an information recording medium and the influence of crosstalk.
情報記録媒体の欠陥やクロストークの影響によらず、アドレスを確実に再生することができるようにする。 - 特許庁 - To prevent a photometry mistake from being caused by clamp malfunctioning due to a defect in a shade area in an image area sensor.
イメージエリアセンサにおいて遮光領域の異常によるクランプ誤動作を原因とする測光ミスを防止する。 - 特許庁 - The formation defect of the contact hole can be inspected by measuring the discharged charges with an array tester.
放電された電荷量をアレイテスタで測定することでコンタクトホールの形成不良を検査することができる。 - 特許庁 - To provide a method for producing photoresist resin that produces a resist film with reduced number of defect occurred.
欠陥の発生数が少ないレジスト膜を与えることが可能なフォトレジスト樹脂の製造方法等を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a wiring circuit board, by which the defect of a wiring pattern can accurately be detected.
配線パターンの不良を正確に検出することが可能な配線回路基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To detect a pixel defect (including pixel defects occurring subsequently) with high accuracy, without having to depend on the ambient temperature.
周囲温度に依存せずに精度良く画素欠陥（後発画素欠陥を含む）を検出できるようにする。 - 特許庁 - To detect semiconductor element defect adhering dust and the like of a semiconductor lowering resistance at a high temperature.
高温になって抵抗が低下する半導体のゴミ等が付着した半導体素子欠陥を検出すること。 - 特許庁 - Thereby, H causing lattice defect is eliminated to form good-quality diamond having slight H content.
その結果、格子欠陥の原因となるＨが除去され、Ｈ含有量の少ない良質のダイヤモンドが形成される。 - 特許庁 - Concentration of iron in a boron-doped silicon wafer including the defect resulting from oxygen is measured with the SPV method.
酸素起因欠陥を有しかつボロンドープしたシリコンウェーハ中の鉄濃度をＳＰＶ法を用いて測定する。 - 特許庁 - To remove trouble due to overheating when heating is carried out to repair a defect in soldering of a solder bump.
半田バンプの半田付けの不良を補修するために行う加熱に際して、過熱による不具合を除く。 - 特許庁 - In a wafer-inspecting and a sampling system, wafer defects are detected and are stored in a data store as defect data.
ウェハ検査及びサンプリングシステムにおいて、ウェハ欠陥が検出され、欠陥データとしてデータストアに保存される。 - 特許庁 - To provide an imaging apparatus capable of correcting a pixel defect changed according to the photographing ISO sensitivity.
撮影ＩＳＯ感度に応じて変化する画素欠陥を補正することが可能な撮像装置を提供する。 - 特許庁 - To prevent disconnection defect in a contact hole formed in a layered structure on a substrate in an electrooptical apparatus.
電気光学装置において、基板上の積層構造に形成されたコンタクトホール内の断線不良を防止する。 - 特許庁 - To manufacture a nitride semiconductor substrate as a single substrate that is grown so that the substrate has a low defect and a thick film.
窒化物半導体基板を低欠陥かつ厚膜で成長させ単体基板として製造できるようにする。 - 特許庁 - To reduce defects accompanying chamber etching without losing accompanying advantages and without accepting a new defect.
チャンバーエッチに付随する欠点を、付随する利点をなくさないで、且つ、新しい欠点を受け容れないで、緩和する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a transfer decorative sheet with no strip-like defect due to entrapped air bubble.
気泡の混入によるスジ状の欠陥が見られない転写加飾シートの製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To detect defect of a DC/DC converter for supplying controlling power supply of a fuel cell electric power generator.
燃料電池発電装置の制御用電源供給用のＤＣ／ＤＣコンバータの故障を検出する。 - 特許庁 - To provide a stage apparatus, an exposure apparatus, a cleaning method and a device manufacturing method, that can suppress an exposure defect.
露光不良を抑制できる、ステージ装置、露光装置、洗浄方法及びデバイス製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an inspection device and an inspection method capable of inspecting a defect at high speed with high sensitivity.
高速かつ高感度で欠陥検査を行うことができる検査装置、及び検査方法を提供すること。 - 特許庁 - To solve such problems that a display defect occurs under a specific drive condition or in a specific temperature range and hence the contrast degrades.
特定の駆動条件や特定の温度範囲において表示欠陥が発生し、コントラストが低下する。 - 特許庁 - To provide a defect correcting device and method improving a tape use efficiency and greatly saving on a running cost.
テープ使用効率が改善され、ランニングコストが大幅に安価になる欠陥修正装置及び方法を実現する。 - 特許庁 - To provide an information display panel which prevents a display defect caused by variations in the amount of particles arranged.
粒子配置量のばらつきに起因した表示不良を生じない情報表示用パネルを得ることができる。 - 特許庁 - A defect determination means 16 performs quality determination based on a difference domain between the soldered domain and the land domain.
不良判定手段１６は、半田領域とランド領域の差領域に基づいて良否判定を行う。 - 特許庁 - To provide a coating apparatus capable of preventing the defect of coating appearance by reliably deterring the occurrence of bubbles.
泡の発生を的確に抑止して、塗装外観の不良を防止することができる塗布装置を提供する。 - 特許庁 - A semiconductor substrate 50 is provided with a defect region 43, which is shortened in lifetime, only at the terminal portion.
半導体基板５０には、ライフタイムが短縮化された欠陥領域４３が終端部にのみ設けられている。 - 特許庁 - To accurately detect an irregularity defect on an inspection surface of an inspection object by an inexpensive and simple device constitution.
低コストかつ単純な装置構成で検査対象の被検査面の凹凸欠陥を精度よく検出する。 - 特許庁 - To provide a control system for a printer coordinating each function of the color control system and a defect detection system.
色制御システムと欠陥検出システムの各機能の調整を図った印刷機用制御システムを提供する。 - 特許庁 - This wrinkle-like defect preventive device 10 is arranged so as to face at least both end parts in the width direction of the paper P.
また、このシワ状欠陥防止装置10は、少なくとも、紙Ｐの幅方向の両端部に臨ませて設ける。 - 特許庁 - To provide a stage device, an exposure device, a cleaning method, and a device manufacturing method that can suppress an exposure defect.
露光不良を抑制できる、ステージ装置、露光装置、クリーニング方法及びデバイス製造方法を提供すること。 - 特許庁
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