「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 116 117 118 119 120 121 122 123 124 .... 366 367 次へ＞- To provide a defect correcting method of photomask by which the operability of correction of black defect in a circular transmission pattern is largely improved and the correction almost just as design can be performed in the precision of correction too.
円形の透過パターン内の黒欠陥の修正の作業性が飛躍的に向上するとともに、修正精度においてもほぼ設計通りの修正が可能であるフォトマスクの欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁 - The semiconductor device 100A is provided with a memory controller 2 for reading each of the plurality of program data from the storage region 201 and a defect determination circuit 33A for determing the defect of the read program data.
半導体装置１００Ａは、格納領域２０１から複数のプログラムデータの各々を読み出すメモリコントローラ２と、読み出されたプログラムデータの不良判定を行う不良判定回路３３Ａとを具備する。 - 特許庁 - To provide a display element with superior reliability that prevents a dielectric layer from peeling caused by a dot defect even when the dielectric layer having the dot defect, and electronic equipment using the same.
誘電体層に点欠陥が生じているときでも、点欠陥に起因して、誘電体層が剥離するのを防止することができる信頼性に優れた表示素子、及びこれを用いた電気機器を提供する。 - 特許庁 - The defect correction method for correcting a defect on a substrate 6 wherein two or more circuit patterns are formed detects a defective part on the substrate 6 and acquires position information on the substrate 6 of the defective part.
複数の配線パターンが形成された基板６上の欠陥を修正する欠陥修正方法であって、基板６上の欠陥部位を検出し、その欠陥部位の基板６上における位置情報を取得する。 - 特許庁 - Thus, the image signal processor performs processing of making an address of the defect information in matching with the image signal without changing the data sequence of the image signal read from the CMOS image sensor 200 so as to smoothly correct the defect.
これにより、ＣＭＯＳイメージセンサ２００から読み出された画像信号のデータ順を変えることなく、画像信号と欠陥情報とのアドレスを一致させるような処理を行い、円滑な欠陥補正を行う。 - 特許庁 - Similarly, an automatic test pattern generation tool may use the defect location information to generate test data custom-tailored to check for faults corresponding to the identified defect in the specified portions of the microcircuit.
同様に、自動試験パターン生成ツールは、欠陥位置情報を用い、微小回路の指定部分内の同定された欠陥に対応する故障を検査するために特別に作成された試験データを生成し得る。 - 特許庁 - Further, region combination is performed on once detected defects by a defect detecting part 202, and if the defects are close-packed, they are detected as defects even if the defects are minute, and defect data 105 is produced.
さらに、欠陥検出部２０２が、一旦、検出した欠陥について領域結合処理を行い、微小欠陥であっても、密集している場合には欠陥として検出し、欠陥データ１０５を生成する。 - 特許庁 - The work station (WS) 4 executes defect examination and defect analysis by segments, with respect to failure information on semiconductor memories measured by a memory tester 1, segment-classified prior to testing, and stored in the data storage part 3.
ワークステーション（ＷＳ）４は、テスト前にセグメント分類され、データ格納部３に格納されているメモリテスタ１で測定した半導体メモリのフェイル情報をセグメントごとに不良調査及び不良解析を実行する。 - 特許庁 - The device is also characterized by heightening defect discrimination accuracy by combining the frequency component information with the intensity/ratio/differential value of leakage flux signals having different magnetization conditions and the length/width/area or the like of the defect signals.
また、周波数成分情報と、磁化条件の異なる漏洩磁束信号の強度・比・差分値、欠陥信号の長さ・幅・面積等とを組み合わせることで、欠陥の弁別精度を上げることができる。 - 特許庁 - The method includes a step to electronically access position data specifying a place of defect on a composite structure, and a step to make the material stationing machine automatically returning to the place of defect specified by the position data.
方法は、複合構造上の欠陥の場所を規定する位置データに電子的にアクセスするステップと、材料配置機械が位置データによって規定された欠陥の場所に自動的に戻るようにさせるステップとを含む。 - 特許庁 - To provide a method and a system for preferentially analyzing a defect with the possibility of becoming an electrical failure in the inspection of the foreign matter and pattern defect of a work forming an electronic device such as a semiconductor integrated circuit.
半導体集積回路などの電子デバイスを形成するワークの異物やパターン欠陥の検査において、電気的に不良になる可能性の欠陥を優先的に解析する方法とシステムを提供する。 - 特許庁 - In the determining section 34 determines the existence of defects in panel images P1-P3 obtained by imaging are detected, its position is detected and the defect position information is stored, being associated with the panel images P1-P3 which have detected the defect.
判定部３４では、撮像により得られたパネル画像Ｐ１〜Ｐ３における欠陥の有無及びその位置を検出し、その欠陥位置情報を検出したパネル画像Ｐ１〜Ｐ３に対応付けて記憶する。 - 特許庁 - Further, the operator M inputs defect information of a product P into the input display device 2 displaying an image which represents the product P on the input display device 2; and an analyzing device 3 analyzes this defect information.
そして、入力表示装置２に製品Ｐを表す画像を表示させながら、作業者Ｍが製品Ｐの不具合情報を入力表示装置２に入力し、解析装置３がこの不具合情報を解析する。 - 特許庁 - The control system for the printer is such that a color control sub system and a defect detection sub system are integrated, and thereby the color control system and the defect detection sub system are made to commonly have data obtained from the printer.
色制御サブシステムおよび欠陥検出サブシステムを統合し、かくして前記色制御システムおよび前記欠陥検出サブシステムが印刷機から得たデータを共有するようにされている印刷機用制御システム。 - 特許庁 - Furthermore, in acquiring the state of a defect, the database is referred to and the acquisition of the state of a defect is eliminated in a chip region having been already specified as a defective chip region.
また、前記欠陥の状態を把握する際には、前記データベースを参照して、既に不良チップ領域であるとして特定されているチップ領域については前記欠陥の状態の把握を省略する。 - 特許庁 - In this invention, a circumferential flaw is detected in a totalized track domain exceeding a standard deviation value on a defect detection amount (the number of detected defects) classified by radius in defect number histogram data classified by radius.
この発明は、半径別の欠陥数ヒストグラムデータにおける半径別の欠陥検出量（欠陥検出個数）についての標準偏差値を越える集計トラック領域において、円周疵の検出をする。 - 特許庁 - The inspection device for the solar cell includes an IV measurement unit which measures current-voltage characteristics of the solar cell as a body to be measured and a defect inspection unit which inspects a defect of the solar cell.
本発明の太陽電池セルの検査装置は、被測定物となる太陽電池セルの電流電圧特性を測定するＩＶ測定部と、前記太陽電池セルの欠陥を検査する欠陥検査部を有する構成とした。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic inspection method and a device for a turbine blade fitting section capable of improving defect detectability furthermore than the case where a search probe of a single element is used, and also performing defect sizing.
単一素子の探触子を使用したときよりも欠陥検出性を向上させながら、欠陥サイジングも可能であるタービンロータの翼植込み部の超音波検査方法および装置を提供することにある。 - 特許庁 - A substrate has a plurality of high-defect regions composed of a crystal having a second average dislocation density higher than a first average dislocation density, in a low-defect region composed of a crystal having the first average dislocation density.
基板は、第１平均転位密度を有する結晶からなる低欠陥領域中に、第１平均転位密度より高い第２平均転位密度を有する結晶からなる複数の高欠陥領域を有する。 - 特許庁 - To provide an apparatus for sensitively detecting a minute defect by widely and efficiently collecting and detecting scattering light from the defect without an increase in size of the apparatus, and its method.
装置を大型化することなく、欠陥からの散乱光をより広い領域で効率よく集光して検出することにより微細欠陥を感度よく検出することを可能にする装置及びその方法を提供する。 - 特許庁 - To easily determine whether a defect left on a mask substrate after cleaning processing is carried out on the mask substrate is caused by the cleaning processing process or an internal defect of the mask substrate itself.
マスク基板に対して洗浄加工を行なった場合の洗浄加工後にマスク基板に残る欠陥が洗浄加工プロセスによるものなのか、マスク基板自体の内部欠陥によるものなかを容易に判定する。 - 特許庁 - The reproducing device having an error correction circuit (228) is provided with a defect detector (230) which detects a defect by calculating a moving average of a reproducing signal, and slicing the moving average with a threshold Th.
誤り訂正回路（２２８）を有する再生装置に、再生信号の移動平均値を演算して、この移動平均値を対象として、閾値Ｔｈでスライスして、欠陥を検出する媒体欠陥検出器（２３０）を設ける。 - 特許庁 - To provide a forming method for a conductive pattern which can deter and prevent an insulating film and filter paper from shifting in position during conveyance after printing and prevent the insulating film, etc., from having an outward shape defect, a leak defect, etc.
印刷後の搬送時に絶縁フィルムとろ紙が位置ズレを起こすのを抑制防止し、絶縁フィルム等に外観不良やリーク不良等が生じるのを防止できる導電パターンの形成方法を提供する。 - 特許庁 - To continue a recording operation beyond a defect portion by suppressing temporal omission of recording data even in the situation wherein data are continuously inputted, if a recording error occurs in the defect portion.
ディフェクト部分で記録エラーが発生した場合、連続してデータが入力される状況であっても、記録データの時間的な欠落を抑制し、ディフェクト部分を越えて記録動作を継続することを可能とする。 - 特許庁 - To provide a measuring method for inner defect size enabling measurement of a flaked defect size on an even flat plate or a laminated flat plate by using a flexuously-vibrating ultrasonic excited in a measuring body (RAM wave).
被測定体中に励起される屈曲振動する超音波（ラム波）を用いて、一様平板や積層平板の剥離状欠陥寸法を測定できる内部欠陥寸法の測定方法を提供する。 - 特許庁 - In the process of peeling the imprint mold and the resin pattern, a part wherein the defect of the resin pattern occurs can selectively be made to be uncured, so that the occurrence of the defect of the transfer pattern can be made possible.
よって、インプリントモールドと樹脂パターンを剥離する工程において、樹脂パターンの欠陥が発生する部位を選択的に未硬化とすることが出来、転写パターンの欠陥の発生を抑制することが可能となる。 - 特許庁 - For display, many inspection recipes are arranged on the coordinate system specified by many axes having characteristics values (charge robustness, defect detection speed, defect detection accuracy and others) which have the mutual trade-off relationship.
複数の検査レシピは、互いにトレードオフの関係にある特性値（帯電ロバスト性、欠陥検出速度、欠陥検出精度等）を持つ複数の軸により特定される座標系上に配置されて表示される。 - 特許庁 - Also, by having both a low resolution optical system and a high resolution optical system, both a circular or a rectangular pattern defect and a defect of fine line width such as an CD error can be detected simultaneously.
さらに、低解像度光学系と高解像度光学系の両方を具えることにより、円形又は矩形のパターン欠陥とＣＤエラーのような微細線幅の欠陥の両方を同時に検出することができる。 - 特許庁 - Thus, when a defect pixel due to the potential gap of a vertical transferring portion is generated in a transfer stop period (timings T102-T103), a defect pixel location is prevented from being changed according to the magnification N.
これにより、転送停止期間（タイミングＴ１０２〜Ｔ１０３）において、垂直転送部のポテンシャルギャップに起因する欠陥画素が発生した場合に、その欠陥画素位置が倍率Ｎに応じて変化することがなくなる。 - 特許庁 - To ensure accurate fine alignment correction while reducing the man hour of a user required for review, in an observation device having a function to perform fine alignment by using the location information on a defect registered in a defect file.
欠陥ファイルに登録された欠陥の位置情報を用いてファインアライメントを実行する機能を備えた観察装置において、ファインアライメント補正を正確なものとし、レビューのために要するユーザの工数を低減する。 - 特許庁 - To reduce working time for defect classification necessary to discriminate a pixel in which the characteristic of a TFT (thin film transistor) is shifted and a defective pixel which shows the abnormality of external appearance in the defect inspecting method of a liquid crystal display element.
液晶表示素子の欠陥検査方法において、ＴＦＴの特性がシフトした画素を外観異常を伴なう欠陥画素と分離できないことによる欠陥分類作業時間の低減を図る。 - 特許庁 - To provide a layered film defect detection device capable of performing defect detection considering irregularities of optical performance of a phase difference layer constituting the layered film without requiring insertion of an additional component into an optical path.
新たな部品を光路中に挿入することなく、積層フィルムを構成する位相差層の光学性能のばらつきを考慮した欠陥検出を行うことが可能な積層フィルムの欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁 - If the permeable membrane 1 has a structural defect such as a pinhole, helium flows out to the gas flow passage 3 side through the structural defect portion and reaches the sniffer probe 6 before it permeates the peripheral wall section.
しかしながら、透過膜１にピンホール等の構造欠陥が存在する場合、ヘリウムは周壁部を透過するよりも先に構造欠陥部分を通じてガス流通経路３側に流出し、スニファープローブ６に入る。 - 特許庁 - Thus, the irradiation angle of the light to the lens 2 is varied and the lens 2 is imaged, so that the scattered light image of the defect can be clearly captured regardless of the shape, size, kind, or the like of the defect.
このように、レンズ２に対する光の照射角度が変化されてレンズ２が撮像されるため、欠陥の形状や大きさ、種類等によらず、欠陥の散乱光像を明確に捉えることが可能となる。 - 特許庁 - As a result the defect of a cam groove engaging section 10 acting as the bolt to the cam groove 8 even if the external force is applied to the intake throttle valve 5 is prevented from occurring and the defect of the cam plate 9 being locked can be avoided.
この結果、吸気絞り弁５に外力が加えられても、カム溝係合部１０がカム溝８に対して閂として作用する不具合が生じず、カムプレート９がロックする不具合を回避することができる。 - 特許庁 - To form a surface-protecting coat capable of readily removing formation defect when the formation defect occurs, being curable at a low temperature and having high ultraviolet light transmittance, high chemical resistance, high hardness and a high mold release property.
形成不良を生じた場合に容易に除去することが可能で、低温で硬化させることができ、かつ高い紫外線透過率、高い耐薬品性、高硬度、高離型性を有する表面保護コートを形成する。 - 特許庁 - As a defect density in the silicon film cannot be reduced by irradiating the silicon film with the laser beam or the strong light, a defect density in the crystallized silicon film can be reduced by heat-treating the crystallized silicon film, following the crystallization of the silicon film.
レーザ光又は強光を照射では、膜中の欠陥密度を減らすことができないため、つづいて加熱処理をすることで結晶化された珪素膜の欠陥密度を低減させることができる。 - 特許庁 - To provide a carrier of a color developer which eliminates a transfer defect and fixing defect in a system of forming color images in synchronization with feeding of a transfer member and superposing a plurality of the colors on the transfer member.
転写部材の送りに同期させてカラー画像を形成し転写部材上で複数色を重ねる方式において、転写不良、定着不良を解消するカラー現像剤のキャリアを提供することにある。 - 特許庁 - On the basis of a detection position information signal (e) from the pixel defect detecting means 17, a defect correcting means 18 replaces the signal level of a defective pixel with a signal picked up with the other normal light receiving pixel.
欠陥補正手段１８は、画素欠陥検出手段１７からの検出位置情報信号ｅに基づいて欠陥画素についてはその信号レベルを他の正常な受光画素で撮像した信号と置き換える。 - 特許庁 - Thus, even when a steep attenuation occurs in the amplitude of an RF signal during the defect period, the defect period is detected at the early stage of the attenuation to suppress a change in the amplitude of a tracking signal.
従って、ディフェクト期間中にＲＦ信号の振幅が急峻に減衰しても、その減衰の早期の段階でディフェクト期間が検出されて、トラッキングエラー信号の振幅の変化を小さく抑制できる。 - 特許庁 - Among a plurality of the pixels corresponding to a plurality of the pixel electrodes, at least a part of defective pixels as a bright defect (903) or the like is made to be a dark defect by covering it with a non-transparent material (910).
複数の画素電極に対応する複数の画素のうち、輝点（９０３）等となる不良化した画素の少なくとも一部については、不透明材料（９１０）で覆われることによって黒点化されている。 - 特許庁 - To provide a highly reliable defect inspection device for thoroughly detecting even an irregularly-shaped defect of a small curvature change caused on the surface of a transparent sheet-like object and formable at low cost and in a space saving manner.
透明体シート状物表面に発生した曲率変化の小さな凹凸状欠陥でも漏れなく検出し、低コスト、かつ、省スペースで構成できる信頼性の高い欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - Also, since an external shock is absorbed by the holding tube 55, nearly no shock is applied to the carbon rod 53 except in a defect of the weak pin 30, thus eliminating a risk of an unintentional defect in the carbon rod 53.
また、外部からの衝撃を収容管５５が吸収するため、弱点ピン３０の欠損時を除けば、炭素棒５３に衝撃が加わることがほとんどなく、炭素棒５３を意図せず破損させる恐れもほぼない。 - 特許庁 - To provide a card punching and inspecting method that can promptly locate the position of a card defect in a punching apparatus and promptly cope with the defect before many defectives appear.
カードの打抜装置側における不良の発生箇所を俊敏に特定して不良発生解消対応が大量の不良が生じる前に素早く行えることを可能とするカード打抜検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a hot rolled sheet efficiently which can reduce a shape defect of an entire material to be rolled including a tip part to thereby efficiently reduce rolling trouble caused by the shape defect.
先端部も含む被圧延材全体の形状不良を効果的に低減し、ひいては形状不良に起因した圧延トラブルを効果的に低減することができる熱延板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To inspect a surface defect of a magnetic disk using continuous recording system, as well as a surface defect of a magnetic disk using discrete track recording system and patterned media recording system, with only one inspection apparatus.
一台の検査装置で従来の連続記録磁性媒体の磁気ディスクの表面欠陥の検査とディスクリートトラック方式、パターンドメディア方式の磁気ディスクの表面欠陥の検査を行うことを可能にする。 - 特許庁 - For example, if there is a defect increasing in the same manner from an average value in both of the area lithographed under the safe condition and the area lithographed under the acceleration condition, it is assumed that the defect depends on the process.
例えば、安全条件で描画した領域と加速条件で描画した領域の双方において、平均値から同じように数が増加する欠陥があれば、この欠陥はプロセスに依存するものと推測できる。 - 特許庁 - To provide an inspecting method capable of specifying a defect position of a thin-film solar cell module with high precision, and to provide a method for manufacturing the thin-film solar cell module that removes a defect predetermined by using the inspecting method.
薄膜太陽電池モジュールの欠陥位置を高精度で特定できる検査方法、及び、この検査方法を用いて特定した欠陥を除去する薄膜太陽電池モジュールの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus that prevents a detection member which judges a paper feed state by coming into direct contact with a transfer material from electrostatically being charged and also prevents an image defect due to a transfer material conveyance defect.
転写材と直接接触することによって通紙状態を判断する検出部材の帯電を防止し、転写材搬送不良による画像不良の発生を防止する画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a pixel defect detection/correction device that detects pixel defects even if there is a large value of the pixel in the adjacent same color pixels, an image pickup device, a pixel defect detection/correction method, and program therefor.
同色隣接画素に大きな値の画素が存在する場合であっても画素欠陥を検出することが可能な画素欠陥検出補正装置、撮像装置、画素欠陥検出補正方法、およびプログラムを提供する。 - 特許庁
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