「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 112 113 114 115 116 117 118 119 120 .... 366 367 次へ＞- To provide the method for manufacturing of injection foamed body capable of preventing an apparent defect from occurring by using a simple constitution.
簡単な構成で外観不良を防止できる射出発泡体の製造方法を提供する。 - 特許庁 - As a result, even when the coating material 2 is thinly applied to the support 1, a stripe-like defect does not occur.
これにより、塗料２を薄く支持体１に塗布するときでも、すじ状の欠陥が発生しない。 - 特許庁 - To provide a computer-implemented method for detecting a defect in a reticle design pattern.
レティクルの設計パターンにおける欠陥を検出するためのコンピュータに実装された方法を提供する。 - 特許庁 - Thus, the generation of a joined defect and the generation of distortion in a formed body after joining are controlled.
このため、接合不良の発生や接合後の成形体における歪みの発生が抑制できる。 - 特許庁 - The unevenness defect detecting method has an unevenness component emphasizing processing process for applying an unevenness component emphasizing filter to each of the pixels of a photographed image to emphasizing unevenness components and an unevenness defect detecting process for detecting the uneven defect on the basis of the unevenness components emphasized value of each of the pixels obtained in the unevenness component emphasizing processing process.
ムラ欠陥検出方法は、撮像した画像の各画素に対してムラ成分強調フィルタをかけてムラ成分を強調するムラ成分強調処理工程と、前記ムラ成分強調処理工程で得られた各画素のムラ成分強調値に基づいてムラ欠陥を検出するムラ欠陥検出工程とを有する。 - 特許庁 - To conduct a defect inspection of a magnetic disk by write/read test without being influenced by random errors.
ライト／リード試験による磁気ディスクの欠陥検査をランダムなエラーの影響を受けないように行う。 - 特許庁 - Defect/image information output from an inspection device is butted on ADR/ADC information output from an observation means on a data processor, they are listed and displayed, and a relation between the defect characteristic amount and average detection ratio is displayed using the data, and the defect characteristic amount and the number of detections are displayed every review category.
検査装置から出力される欠陥・画像情報と、観察装置から出力されるADR・ADC情報とをデータ処理装置上で突き合わせをし、一覧表示させると共に、そのデータを用いて欠陥特徴量と平均検出率の関係や、レビューカテゴリごとにその欠陥特徴量と検出数を示す。 - 特許庁 - The inspection condition of the inspection device is set, by using the estimation image 124 and defect data 123A.
推定画像１２４および欠陥データ１２３Ａを用いて検査装置の検査条件を設定する。 - 特許庁 - Then, only when the recognized defect part which is determined that there are no defects therein by the electron microscope unit 2, is review carried out by an optical microscope unit 4, is the information based on the reviewed result as to whether defects exist in the recognized defect part, output to the defect information classifying section 6 by a second determining section 5.
続いて、電子顕微鏡ユニット２で欠陥が無いと判定された認定欠陥部位のみについて、光学顕微鏡ユニット４によりレビューし、その結果に基づき、第２の判定部５により認定欠陥部位における欠陥の有無の情報が欠陥情報分類部６に出力される。 - 特許庁 - To provide a surface layer defect detector which accurately discriminates between formation noises of a metal analyte and detection signals due to scab defects.
金属被検体の地合ノイズとヘゲ欠陥に起因する検出信号とを精度良く弁別する。 - 特許庁 - To detect a critical defect of a testing object previously in a productive step.
被検査物の致命的な不良の発生を、製造過程において事前に知ることができるようにすること。 - 特許庁 - To display an image of good quality even if received image data has a defect.
受信した画像データに欠陥がある場合であっても、良質な画像を表示することができるようにする。 - 特許庁 - To display an image with high quality by correcting a defect of a display state such as picture distortion at a low cost.
低コストで画歪み等の表示状態の欠陥を補正して高品質な画像表示を行う。 - 特許庁 - A drum of a label sticking device sticks the label on the edge part of the planographic printing plate corresponding to a defect part.
ラベル貼付け装置のドラムが、欠陥部と対応した平版印刷版のエッジ部にラベルを貼り付ける。 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR DETECTING MEDIUM DEFECT AND INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING DEVICE USING THEM
媒体欠陥検出方法、媒体欠陥検出システムおよびこれを用いた情報記録再生装置 - 特許庁 - To provide a filling-solidifying analysis method which can duplicate a shrinkage cavity defect at high precision.
収縮巣欠陥を高精度に再現できる溶融材料の充填凝固解析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an active matrix substrate capable of improving manufacturing yield by repairing point defect in the active matrix substrate.
アクティブマトリクス基板における点欠陥を修正することにより、製造歩留りを向上させる。 - 特許庁 - DEFECT CORRECTION METHOD FOR OPTICAL ELEMENT, OPTICAL ELEMENT, AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE WITH OPTICAL ELEMENT INCORPORATED THEREIN
光学素子の欠陥修正方法、光学素子、および、光学素子を組み込んだ液晶表示装置 - 特許庁 - To provide a dynamic drive scheme to eliminate a defect dependent on the data pattern in a displayed image.
表示された画像において、データパターン依存の欠陥を除去する動的駆動スキームを提供する。 - 特許庁 - To provide a device and a method for pattern inspection which can efficiently perform accurate defect detection.
正確な欠陥検出を効率的に行うことが可能なパターン検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a magnetic tape, which can eliminate a defect caused by a tracking error of a servo writer.
サーボライタのトラッキングエラーによる不良を解消できる磁気テープの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To suppress a spot defect from being generated by preventing a pixel electrode from being broken throughout a manufacturing stage for a liquid crystal.
液晶の製造過程を通して画素電極の破損を防止し、点欠陥の発生を抑制する。 - 特許庁 - To provide a friction stir joining apparatus by which the defect in joining caused by a sheet gap between the objects to be joined can be prevented.
被接合物の板隙による接合不良を防止する摩擦撹拌接合装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for surely discriminating a fault such as disconnection or connection defect in an electric circuit.
断線や接続不良等の電気回路上の故障が確実に判別できる方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical sheet having no defect in appearance, a metal mold for the same, a back light unit and a display device.
外観不具合の無い光学シート、その金型、バックライト・ユニット及び表示装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a surface acoustic wave device having an excellent filter characteristic with high quality without occurrence of a defect.
フィルタ特性が良好で、不良の発生がない高品質な弾性表面波装置を提供すること。 - 特許庁 - To use data about a transmitted light quantity distribution of an inspection device to detect an internal defect, etc. of a transfer mask.
検査装置の透過光量分布のデータを用いて転写用マスクの内部欠陥等を検出する。 - 特許庁 - To suppress a substrate treatment defect by detecting a leakage fault of a treatment liquid valve and a fault of a suction means.
処理液バルブのリーク故障や吸引手段の故障を検出して、基板処理不良を抑制する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection method used for determining an appropriate threshold value in counting defects.
欠陥を計数する際の適正なしきい値を決定する欠陥検査方法を提供することである。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a GaN single crystalline substrate which is epitaxially grown and has a few defect density.
欠陥密度の少ないＧａＮ単結晶のエピタキシャル成長基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing an STN liquid crystal display device having no defect by a low twist domain structure.
低ツイストドメインによる欠陥のないＳＴＮ液晶表示装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - While the defect information of the DUT 10 is written into the memory 7 under the control of the CPU 1. the defect information of the DUT 10, that is tested previously and stored in the memory 8, is read by the CPU 2 and a defect analysis of the DUT 10, which was tested previously, is conducted.
試験用ＣＰＵ１の制御下でＤＵＴ１０の不良情報を第１不良解析メモリ７に書き込んでいる間に、第２不良解析メモリ８から前回試験したＤＵＴ１０の不良情報を不良解析用ＣＰＵ２に読み込んで、前回試験したＤＵＴ１０の不良解析をする。 - 特許庁 - To reduce the testing time by conducting the test of a memory to be tested and the analysis of a defect in parallel.
被試験メモリの試験と不良解析を並行処理することによって試験時間を短縮する。 - 特許庁 - To provide a novel and useful inspection device for detecting a kind or defect of a container such as a barrel.
樽等の容器の種類又は不具合を検知する新規かつ有用な検査装置を提供する。 - 特許庁 - Then, in a step (f), the analysis result information, the image information and the product defect information are stored.
そして、（ｆ）ステップは、解析結果情報、画像情報及び製品不具合情報の保存を行う。 - 特許庁 - FOR DEVICE, DEFECT INSPECTION DEVICE USING THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR USING THE INSPECTION DEVICE
ＦＯＰ装置、それを用いた欠陥検査装置、及び該検査装置を用いた半導体製造方法 - 特許庁 - And since defect generation ratio can be minimized in each sheet, the yield in the stage can be enhanced.
また、各シートで欠陥発生率を最小化できるために、工程収率を向上させることができる。 - 特許庁 - To provide a pattern correcting method capable of performing correction, even if the width of defect on a substrate is small.
基板上のパターンの欠陥幅が小さくとも修正が可能なパターン修正方法を提供する。 - 特許庁 - Phase shift or a phase defect part included in an original signal u(0) is made dull by the addition of the delayed signals.
遅延信号の加算により元の信号ｕ（０）に含まれる位相ずれや位相欠損部が鈍化する。 - 特許庁 - To secure electric connection reliability even when a defect appears in a bolt fastening form.
ボルトの締め付け形態に不具合があった場合でも電気的な接続信頼性を確保できるようにする。 - 特許庁 - To securely correct a defect of a pattern formed on a substrate surface and to shorten the correction time.
基板面に形成されたパターンの欠陥修正を確実に行なうと共に修正時間を短縮する。 - 特許庁 - A movable element is then moved to a new measurement position (23) and the overall image defect is measured (21) once again.
そして可動部材を新たな測定位置(23)に動かして、全体的結像収差を再度測定する(21)。 - 特許庁 - To provide a lens sheet capable of improving both of the luminance and defect concealment nature of a planar light source device.
面光源装置の輝度及び欠陥隠蔽性の双方を向上させ得るレンズシートを提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection method capable of determining a semiconductor device having a defect in metal wiring, as defective one.
金属配線に欠陥のある半導体デバイスを不良と判断できる検査方法を提供する。 - 特許庁 - Further, a cleaning gas 4 is sprayed onto the surface of a silicon wafer 1, thus dissolving and removing the defect 12.
さらにこの後、洗浄ガス４をシリコンウェハ１の表面に噴射し、欠陥１２を溶解除去する。 - 特許庁 - To obtain a product having comparatively uniform metallurgical structure and little defect even in a thin-walled product.
肉厚の薄い製品であっても比較的均一な金属組織を持つ欠陥の少ない製品を得る。 - 特許庁 - To provide an acrylic precursor having high density and decreased defect in strength, and to provide a method for producing the precursor.
緻密性が高く、強度欠陥の少ないアクリル系プリカーサー及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To detect presence or absence of a defect in a mask by comparing two detected images in a mask inspection apparatus.
マスク検査装置において、２つの検出画像を比較してマスクの欠陥有無を検出可能とする。 - 特許庁 - The edge defect detecting method of the invention is provided with the process of enhancing the edge defects at edges E1-E3 in a plurality of the directions D1-D3 in the pattern P, and obtaining edge defect enhancement values by applying an edge defect enhancement filter to a captured image.
本発明のエッジ欠陥検出方法は、撮像画像にエッジ欠陥強調フィルタを適用することにより、パターンＰにおける複数の方向Ｄ１〜Ｄ３にそれぞれ沿った各エッジＥ１〜Ｅ３に係るエッジ欠陥を強調し、エッジ欠陥強調値を取得するエッジ欠陥強調工程を備える。 - 特許庁 - An image processing/defect detection part 300 receives image data acquired by scanning on a wafer W from an image input part 72, determines whether a defect exists by comparing the image data with reference image data, and outputs defect inspection result data, showing the result to a control part 401 of a PC terminal.
画像処理／欠陥検出部３００は、ウエハＷ上の走査により得られた画像データを画像入力部７２から受け取り、該画像データを参照画像データと対比して欠陥が存在するか否かを判定し、それを表す欠陥検査結果データをＰＣ端末の制御部４０１に出力する。 - 特許庁
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