「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • The method for evaluating the silicon crystal comprises the step of heating the crystal until a defect reaction in the crystal arrives at a metal-thermal equilibrium state.
    シリコン結晶を、結晶内欠陥反応が準熱平衡状態に達するまで加熱する。 - 特許庁
  • To provide a Zn alloy for die-casting in which the occurrence of the defect in cavities can be suppressed, and which can be thinned.
    空洞欠陥の発生を抑制でき，薄肉化が可能なダイカスト用Ｚｎ合金を提供する。 - 特許庁
  • If a defect occurs, an image different from a regular image, such as a strip, is formed on a recording surface.
    不具合品が発生すると、ストライプなどの通常の画像とは異なる画像を記録面に形成する。 - 特許庁
  • To provide an optical member for a backlight that is free from flexure causing a video defect.
    映像不良の原因となるたわみを発生させることのないバックライト用光学部材を提供する。 - 特許庁
  • To prevent the output of a bubble generation signal when there is a contact defect of an input switch.
    入力スイッチの接点不良があった場合には、バブル発生信号が出力しないようにする。 - 特許庁
  • To realize an apparatus for assisting inputting defect positions, whereby the productivity and the safety can be improved.
    生産性および安全性の向上を図れる、欠陥位置入力支援装置を実現すること。 - 特許庁
  • To improve resolution by imaging of an internal defect by water immersion C scan ultrasonic flaw detection.
    水浸Ｃスキャン超音波探傷による内部欠陥の映像化における分解能を向上させる。 - 特許庁
  • To detect abnormality of coating development processing equipment through surface defect inspection more accurately and speedily.
    表面欠陥検査に基づく塗布現像処理装置の異常検出をより正確により迅速に行う。 - 特許庁
  • To provide a self-diagnostic electronic price label capable of detecting and reporting a defect automatically.
    欠陥を自動的に検出して報告することができる自己診断電子価格ラベルを提供する。 - 特許庁
  • The data treatment part includes a mechanism of comparing defect information for the identical information imaged by different camera devices and determining and displaying the defect information based on image data imaged by one camera device determined among the different camera devices in accordance with a determination rule as representative defect information.
    データ処理部は、異なるカメラ装置で撮像された同一の欠陥についての欠陥情報を比較し、決定ルールに従って決定された異なるカメラ装置のうちの１つのカメラ装置で撮像された画像データに基づき抽出した欠陥情報を代表欠陥情報として決定し、表示する機能を備えた。 - 特許庁
  • DATA PROCESSOR, SYSTEM AND METHOD FOR DATA PROCESSING, DEVICE AND METHOD FOR DETECTING DEFECT AND STORAGE MEDIUM
    データ処理装置、欠陥検査装置、データ処理システム、データ処理方法、欠陥検査方法、及び記憶媒体 - 特許庁
  • To provide an image processing apparatus capable of obtaining a high-quality image by appropriate defect correction.
    適切なキズ補正により高品質な画像を得ることを可能とする画像処理装置を提供すること。 - 特許庁
  • To suppress occurrence of a short-circuiting defect caused by cutting dust in semiconductor device manufacturing responsive to wafer cutting.
    ウエハ切断による半導体素子製造での切削屑に起因する回路ショート不良発生の抑止。 - 特許庁
  • To improve the efficiency of defect discrimination processing of a semiconductor memory and to specify a defective part.
    半導体記憶装置の不良判定処理の効率向上、及び不良箇所の特定を可能とする。 - 特許庁
  • To provide a die casting equipment capable of restraining gas entrainment and preventing the occurrence of a defect.
    ガスの巻き込みを低減し、欠陥の発生を防止することができるダイカスト装置を提供すること。 - 特許庁
  • To prevent a situation in which completion of writing and erasure cannot be determined owing to defect caused afterward.
    後発的な不良により書き込みや消去の完了判定ができなくなる事態を防止する。 - 特許庁
  • To provide a method for sealing a cell of a honeycomb structure by causing no defect in a seal member.
    封止材に不具合が発生しないハニカム構造体のセルを目封じする方法を提供すること。 - 特許庁
  • After the welding, the film 30 is pulled and, when the marking is confirmed visually, it is judged that there is a welding defect.
    溶着後、フィルム３０を引っ張り、マーキングが視認できたときは、溶着不良があると判断する。 - 特許庁
  • To provide a GaN semiconductor that can be suppressed in crystal defect to such a degree that the semiconductor can be used for electronic devices.
    電子デバイスに使用できる程度に結晶欠陥を抑制し得るＧａＮ半導体の提供。 - 特許庁
  • To provide a sensor including a defect-controlled nanotube for detecting a chemical or physical quantity, and a manufacturing method therefor.
    欠陥を制御されたナノチューブを含み、物理または化学量を検出するためのセンサの提供。 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR DETECTING DEFECT, AND PROGRAM FOR FUNCTIONING COMPUTER AS DETECTOR
    欠陥の検出装置、検出方法およびコンピュータを当該検出装置として機能させるためのプログラム - 特許庁
  • To detect a minute defect on a boundary surface of a semiconductor device having a structure of a plurality of layers.
    複数層の構造を有する半導体装置の界面における微小な欠陥を検出する。 - 特許庁
  • To easily test the quality of a plasma display panel by detecting a corona discharge generated by a defect.
    プラズマディスプレイパネルの品質を容易に試験することができる試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an excellent IC card improving image defect, and to provide an image forming method of the IC card.
    画像欠陥が改善された優れたＩＣカード及びＩＣカードの画像形成方法を提供する。 - 特許庁
  • To prevent occurrence of an element defect by obstructing peeling of an ITO film on the outer peripheral part of a wafer substrate.
    ウェハ基板外周部のＩＴＯ膜の膜剥がれを阻止して、素子不良の発生を防止する。 - 特許庁
  • To enable a user to rapidly specify the cause for a defect without visiting a facility where a speech reproduction system is arranged or making reappearance experimentation in case of the occurrence of such defect in this speech reproduction system by a fault or the like and to elucidate the process of falling into the defect.
    故障などにより音声再生システムに不具合が発生した場合に、当該音声再生システムが配置されている施設に赴いたり、再現実験を行ったりすることなしに、その不具合の原因を速やかに特定することができるようにするとともに、不具合に陥ったプロセスを判明することができるようにする。 - 特許庁
  • To detect a moving body by clearing verifying the presence and position of a defect without stopping the moving body.
    動体を停止させることなくその欠陥の存在及びその位置を明白に確認して検出する。 - 特許庁
  • To provide an image forming device by which the defect of voltage application of an electrifying charger is easily detected.
    帯電チャージャの電圧印加不良を容易に検知することができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a cast slab scarfing apparatus which surely prevents any defect from being caused in a product after the rolling.
    圧延後の製品に欠陥が発生するのを確実に防止できる鋳片の溶削装置を提供する。 - 特許庁
  • DEFECT MANAGEMENT METHOD, REPRODUCING METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, INFORMATION RECORDING APPARATUS, AND INFORMATION REPRODUCING APPARATUS
    欠陥管理方法、再生方法、プログラム及び記録媒体、情報記録装置並びに情報再生装置 - 特許庁
  • To guarantee that a message is not lost even if a system defect occurs in a message queue system.
    メッセージ待ち行列システムにおいて、システム欠陥が起きてもメッセージが失われないのを保証する。 - 特許庁
  • INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING DEVICE AND PROCESSING METHOD FOR DEFECT MANAGEMENT SYSTEM FORMAT FOR INFORMATION RECORDING MEDIUM
    情報記録再生装置および情報記録媒体に対する欠陥管理システムフォーマット処理方法 - 特許庁
  • The etching liquid for defect detection is a mixed liquid of hydrochloric acid and nitric acid heated to 60°C-80°C.
    欠陥検出用のエッチング液は、６０℃〜８０℃に加熱した塩酸と硝酸との混合液とする。 - 特許庁
  • Then, the control part controls a defect correction part which executes correction of the defects by utilizing the generated object.
    そして、生成したオブジェクトを利用して欠陥の修正を実行する欠陥修正部を制御する。 - 特許庁
  • To detect a defect caused by interference of bit lines without decreasing the number of simultaneous measuring in a selection process.
    選別工程での同時測定数を減らすことなく、ビット線の干渉による不良を検出する。 - 特許庁
  • Thereby, the high quality p-type PbTe single crystal almost free from a defect and having high mobility and low dislocation density is obtained.
    欠陥が少なく高移動度、低転位密度で、高品位のｐ型ＰｂＴｅ単結晶が得られる。 - 特許庁
  • Therefore, the occurrence of the filming is completely prevented and the defect on the image is completely avoided.
    従って、フィルミングの発生が十分に防止され、画像上の欠陥を十分に防止することができる。 - 特許庁
  • (iii) When it is apparent that the appeal against a disposition of execution is unlawful and such defect cannot be corrected
    三　執行抗告が不適法であつてその不備を補正することができないことが明らかであるとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Consequently, the three-dimensional photonic crystal system can obtain outputs of various defect modes.
    これにより、本発明の３次元フォトニック結晶システムは、様々な欠陥モードの出力を得ることができる。 - 特許庁
  • To provide a master disk defect measuring device which can be easily installed in a master disk cutting machine and can acquire, store and process a position and a scale of the defect generated in a rugged pattern of an optical master disk as data of a small amount of information and to provide an master disk defect measuring method.
    原盤カッティング機への設置が容易で、且つ光ディスク原盤の凹凸パターンに生じたディフェクトの位置及び大きさを情報量の少ないデータで取得、格納、及び処理することが可能な原盤ディフェクト測定装置、及び原盤ディフェクト測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • A control part 112 extracts an external form of the defect on the glass substrate 102 based on the image data.
    制御部１１２は画像データに基づいて、ガラス基板１０２上の欠陥の外形を抽出する。 - 特許庁
  • For this reason, the quality of an formed image becomes good and the occurrence of an image defect is also prevented.
    このため、形成される画像は品質の良好なものとなり、画像欠陥の発生も防止される。 - 特許庁
  • To provide a method for manufacturing a highly reliable semiconductor device by avoiding the formation of a defect.
    欠陥の発生を回避して高い信頼性を有する半導体装置を製造する方法を提供する。 - 特許庁
  • Existence of a short-circuit failure among the data lines and that of a defect of holding capacitance Ch can be determined in the same way.
    データ線のショート不良、保持容量Ｃｈの欠陥の有無も同様に判定することができる。 - 特許庁
  • To provide a flat panel display device electrically compensating a panel defect and an image quality control method thereof.
    パネル欠陥を電気的に補償する平板表示装置及びその画質制御方法を提供する。 - 特許庁
  • The printed matter inspecting system 1 has inspecting equipment 2, defect removing equipment 20 and a control part 30.
    印刷物検査システム１は、検査装置２及び欠陥除去装置２０及び制御部３０を備える。 - 特許庁
  • To overcome a defect that small leakage remains to require long work cycle time in the manufacture of laminate glazing.
    積層グレージングの製造において少しの漏れが残り、作業サイクルが長くなる欠点を克服する。 - 特許庁
  • To correct a defect of a thin film transistor by suppressing degradation in the display quality of a liquid crystal display.
    液晶表示装置の表示品位の低下を抑制して、薄膜トランジスタの欠陥を修正する。 - 特許庁
  • To provide a pattern inspecting device with in the bubbles of a base film are not erroneously recognized as the defect of a pattern.
    ベースフィルムの気泡をパターンの欠陥と誤認識することのないパターン検査装置を提供する。 - 特許庁
  • The measurement of moisture is stopped when the moisture meter 31 is defective, and the defect is classified into a defect which can detect the presence or absence of the flow of the grains and a defect which cannot detect it.
    水分計３１への穀粒取り込み検知で乾燥穀粒の流れの有無を検出可能とする穀物乾燥機において、該水分計３１の異常によって水分測定を停止すると共に、この異常を穀物の流れの有無を検出できる異常と、検出できない異常とに区分けすることを特徴とする水分測定装置の構成。 - 特許庁
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