「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 109 110 111 112 113 114 115 116 117 .... 366 367 次へ＞- Other part than the zigzag defect 15c is held at a temperature equal to or lower than the phase transition temperature of a smectic C phase.
ジグザグ欠陥部１５ｃ以外は、スメクティックＣ相の相転移温度以下の温度に保持される。 - 特許庁 - As the threshold value is automatically set, a defect detection condition can be efficiently optimized.
自動的にしきい値が設定されるため、欠陥検出条件の最適化を効率良く行うことができる。 - 特許庁 - To prevent the generation of such a weld defect as a porosity, a blow hall, a crack, or the like in a keyhole welding with a laser beam.
レーザによるキーホール溶接において、ポロシティ、ブローホール、割れ等の溶接欠陥の発生を防止する。 - 特許庁 - If the result is out of the range, the device waits until the user determines whether to make the automatic correction of an image defect or not.
範囲外であれば、画像欠陥の自動補正を行うか否か、ユーザの選択待ち状態とする。 - 特許庁 - To provide a template production device capable of easily producing a template without defect.
不備のないテンプレートを簡単に作成することができるテンプレート作成装置を得ることを目的とする。 - 特許庁 - A defect correcting means 36 and an image processing means 40 correct the determined defective pixel.
そして、判別した欠陥画素を欠陥補正手段３６及び画像処理手段４０にて補正する。 - 特許庁 - To improve a maintenance efficiency by accurately identifying the defect of a valve in a brake control device.
ブレーキ制御装置が備える弁の故障を精度よく特定し、メンテナンスの作業効率を向上する。 - 特許庁 - If any defect occurs in the driver 31, the detector 43 can not detect the potential vs.
もし、ドライバ３１に何等かの不良があると検知器４３は電位ｖs を検出することができない。 - 特許庁 - To provide a radiation imaging apparatus capable of appropriately detecting a defect pixel.
欠損画素を適正に検出することができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide an improved inspection method for detecting a defect in a weld joining a rotor disk.
ロータディスクを結合する溶接における欠陥を検出するための改良された検査法を提供する。 - 特許庁 - To provide a fixture for inspecting a display panel, with which occurrence of a defect caused by breakdown from falling is reduced.
落下破損不良の発生を低減することができる表示パネルの検査用治具を提供する。 - 特許庁 - A defect such as unevenness in display due to orientation fluctuation of the liquid crystal molecules 41 in the liquid crystal layer 42 can be avoided.
液晶層42中の液晶分子41の配向揺らぎによる表示むらの欠陥を回避できる。 - 特許庁 - CRYSTAL DEFECT RESTORATION METHOD, CRYSTAL PRODUCTION METHOD, PATTERN FORMATION METHOD, AND X-RAY DOSE DETECTION BODY
結晶欠陥の回復方法、結晶体の作製方法、パターン形成方法、Ｘ線量の検出体 - 特許庁 - METHOD AND SOFTWARE FOR ESTIMATING VOID DEFECT OF RESIN MOLDED PRODUCT AND RECORDING MEDIUM
樹脂成形品のボイド不良予測方法、樹脂成形品のボイド不良予測ソフトウェアおよび記録媒体 - 特許庁 - To provide a polishing method of a sapphire wafer (substrate) restraining growth of a pit in correspondence with a transitional defect.
転位欠陥に対応したピットの発生が抑制されたサファイアウェハー（基板）の研磨方法を提供する。 - 特許庁 - The piezoelectric sensor without contact point eliminates the defect of the contact point and aging as inherent in the conventional switches.
そして、圧電センサは接点がないので従来のスイッチのような接点不良や経年劣化がない。 - 特許庁 - To provide a system and a method for road surface defect detection based on infrared imaging technology.
本発明は、赤外線撮影技術に基づく路面欠陥検出システム及び方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR RECOVERING DEFECT OF THIN FILM PHOTOELECTRIC CONVERSION MODULE AND METHOD FOR MANUFACTURING THIN FILM PHOTOELECTRIC CONVERSION MODULE
薄膜光電変換モジュールの欠陥修復方法及び薄膜光電変換モジュールの製造方法 - 特許庁 - In response to the inquiry, the DB server 4 refers to a database 41 which has version information about the firmware in association with defect correction information showing the corrected defect in the version and specifies whether or not there is any firmware whose defect can be resolved, or specifies the version of the firmware when such firmware exists.
ＤＢサーバ４は、それに対応し、ファームウェアのバージョン情報とそのバージョンで改修された不具合を示す不具合改修情報とを関連づけて有するデータベース４１を参照して、不具合を解決可能なファームウェアの有無および不具合を解決可能なファームウェアがある場合にはそのファームウェアのバージョンを特定する。 - 特許庁 - The lateral growth is utilized to the growth of the semiconductor layer and a low-defect nitride semiconductor substrate can be provided.
横方向成長を利用しており、低欠陥の窒化物半導体基板を提供することができる。 - 特許庁 - The signal S12 is given as an actuator control signal S20 during the defect detection period.
この欠陥補償信号Ｓ１２は欠陥検出期間にアクチュエータ制御信号Ｓ２０として付与される。 - 特許庁 - DEFECTIVE MASK AND ITS MANUFACTURING METHOD, DEFECT INSPECTING METHOD OF MASK, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
欠陥マスクおよびその製造方法、マスクの欠陥検査方法並びに半導体装置の製造方法 - 特許庁 - It is especially preferable that the content of titanium dioxide in the titanium dioxide added resin layer having the oxygen defect is 0.5-50 wt.% or the ratio of the oxygen defect of titanium dioxide having the oxygen defect is 0.01-25% of the number of oxygen atoms in titanium dioxide.
特に、酸素欠陥を有する二酸化チタン添加樹脂層における二酸化チタン含有率が０．５重量％から５０重量％である場合や、酸素欠陥を有する二酸化チタンの酸素欠陥の割合が、二酸化チタン中酸素原子の数の０．０１％から２５％である場合が好ましい。 - 特許庁 - Since the drift layer is directly disposed on the substrate, the element with reduced defect density is obtained.
ドリフト層を基板上に直接成膜するので、欠陥密度の減少した素子を得ることができる。 - 特許庁 - Mathematical transformation applied to improved images further expedites defect detection and analysis.
改善された画像に数学的変換を適用することにより、欠陥検出及び解析をさらに加速する。 - 特許庁 - To prevent occurrence of a lighting defect of a liquid crystal display panel by preventing a shortcircuit and current leakage of each electrode.
各電極の短絡や漏電を防止して、液晶表示パネルの点灯不良の発生を防止する。 - 特許庁 - Hereby, a defect on the power cable or on the accessory inside is detected from the photographed image.
そして、上記撮影された画像より電力ケーブルあるいは付属品内部の欠陥を検出する。 - 特許庁 - NONDESTRUCTIVE INSPECTION METHOD AND NONDESTRUCTIVE INSPECTION APPARATUS OF BACK DEFECT AND MATERIAL CHARACTERISTICS BY ELECTROMAGNETIC METHOD
電磁気的手法による裏面欠陥および材料特性の非破壊検査方法とそのための装置 - 特許庁 - To obtain a coated paper capable of preventing a calender roll stain being a defect of a conventional paper coating solution.
従来の紙塗工液の持つ欠点であるカレンダーロール汚れを防止しうる塗工紙を提供する。 - 特許庁 - DEFECT CONTROL METHOD FOR INFORMATION STORAGE MEDIUM, DISK DRIVE DEVICE, INFORMATION STORAGE MEDIUM AND INFORMATION PROCESSING SYSTEM
情報記憶媒体の欠陥管理方法、ディスクドライブ装置、情報記憶媒体および情報処理システム - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF GLASS SUBSTRATE, METHOD FOR PRODUCING GLASS SUBSTRATE, GLASS SUBSTRATE FOR DISPLAY PANEL, AND DISPLAY PANEL
ガラス基板の欠陥修正方法、ガラス基板の製造方法、表示パネル用ガラス基板、及び表示パネル - 特許庁 - To screen a retention defect caused by the fact that a data holding time varies like random telegraph noise in DRAM.
DRAMにおいて、データ保持時間がランダム・テレグラフ・ノイズ的に変化してリテンション不良となるものをスクリーニングする。 - 特許庁 - To achieve defect pixel correction processing with high precision in a CMOS type image sensor.
本発明は、ＣＭＯＳ型イメージセンサにおいて、高精度の欠陥画素補正処理を実現できるようにする。 - 特許庁 - To provide a fluorescent probe enabling a defect of low molecule liquid crystal to be displayed fluorescently.
低分子液晶の欠陥部位を蛍光表示することができる蛍光性プローブを提供すること。 - 特許庁 - To provide a mold wash for a green sand mold exhibiting remarkable effect on the reduction of the defect in oxides.
酸化物不良の低減に大きな効果を発揮する生砂鋳型用塗型材を提供する。 - 特許庁 - To provide a cutting tool having a high rigidity at high temperatures and excellent in wear resistance and defect resistance.
高温下で高い靱性を有し、耐摩耗性、耐欠損性に優れた切削工具を提供することである。 - 特許庁 - To prevent capping pressure from causing a defect in the nozzle face at the time of priming a print head hermetically.
プリントヘッドを密封プライミングするときに、キャッピング圧によりノズル面に欠陥が生じることを防止する。 - 特許庁 - To enable the execution of high-accuracy scan processing by surely obstructing the occurrence of a scanning defect by static electricity.
静電気による走査不良の発生を確実に阻止し、高精度な走査処理を遂行可能にする。 - 特許庁 - A defect is detected which is generated in a wafer on which a pattern is formed, and positional relationships between a coordination system for indicating a defect position used by an inspection equipment 1 for outputting the position where the detected defect is generated and a coordination system used in the design data of the pattern are set in multiple ways (steps S3 and S4).
パターンが形成されたウェハに発生した欠陥を検出し、検出した欠陥の発生位置を出力する検査装置１が使用する欠陥位置を指し示すための座標系と、パターンの設計データにおいて使用される座標系と、の間の位置関係を複数設定する（ステップＳ３、Ｓ４）。 - 特許庁 - To provide a technique of detecting a reset defect of an HDMI (High-Definition Multimedia Interface) source device by an HDMI sync device.
ＨＤＭＩソース機器のリセット不良をＨＤＭＩシンク機器が検知する技術を提供する。 - 特許庁 - To detect the presence or absence of a mask defect by comparing two detected images in a mask inspection apparatus.
マスク検査装置において、２つの検出画像を比較してマスクの欠陥有無を検出可能とする。 - 特許庁 - To eliminate a defect in the form where a post processing device is positioned on an upper part of an image forming device.
後処理装置を画像形成装置の上部に位置させた形態における不具合を解消する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection method for a semiconductor device capable of efficiently setting an inspection region.
効率的に検査領域を設定することが可能な半導体装置の欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an image reading apparatus capable of correcting jitter caused by a guide defect of a guide means.
ガイド手段のガイド不良に起因するジッタを補正することができる画像読取装置を提供する。 - 特許庁 - The defect inspecting apparatus is provided with a means for replacing a failure component with a spare component which has been prepared in the apparatus.
また、故障した部品を、装置内に用意しておいた予備部品と交換する手段を備える。 - 特許庁 - The two measures are then compared to determine whether the defect region corresponds to TA or MD.
次に、２つの基準を比較して、欠陥領域がＴＡまたはＭＤに対応するかが判断される。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a bonded silicon wafer that automatically detects and eliminates a sticking defect such as a void even if there is the bonding defect in a peripheral edge region of the bonded silicon wafer, and to provide a device for manufacturing the bonded silicon wafer that can automatically eliminate the bonding defect.
貼り合わせシリコンウェーハの周縁領域にボイド等の貼り合わせ欠陥があったとしても、かかる貼り合わせ欠陥を自動的に検出し、消失させることが可能な貼り合わせシリコンウェーハの製造方法及び、貼り合わせ欠陥を自動的に消失可能な貼り合わせシリコンウェーハ製造装置を提供する。 - 特許庁 - To prevent reliability of a ceramic substrate from getting low caused by a defect in the periphery of a via, in the substrate.
セラミック基板において、ビアの周辺の欠陥に起因した基板の信頼性低下を防止する。 - 特許庁 - To erase (correct, compensate) a bright spot defect caused in a liquid crystal module, so that a bright spot cannot be viewed.
液晶モジュールに生じた輝点欠陥を消去（修正、補正）し、輝点が目視できないようにする。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a solid-state image pickup element capable of preventing an occurrence of a white spot defect.
白傷欠陥の発生を抑制することができる固体撮像素子の製造方法を提供する。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
