「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(114ページ目)

「Defect」を含む例文一覧(18306)

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To prevent generation of a defect on a layer formed on a layer caused by a level difference and a defect of a grain boundary in the surface of the layer formed in a multi-layer structure and reduction of a hydrogen permeation performance of the hydrogen permeable membrane by the generated defect in the hydrogen permeable membrane having the multi-layer structure.
多層構造を有する水素透過膜において、多層構造内に形成される層の表面における粒界段差や欠陥に起因して、この層上に形成される層に欠陥が発生すること、および、発生した欠陥により水素透過膜の水素透過性能が低下すること、を防止する。 - 特許庁
The short circuit defect part is removed while the upper-layer films are left intact, and the semiconductor film ASI is separated.
上層の膜を残したまま短絡欠陥箇所が除去されて半導体膜ＡＳＩが分離される。 - 特許庁
To provide a defect inspection system saving a space and efficiently checking defects.
本発明は、省スペース化を図り、かつ能率のよい欠陥検査を可能にした欠陥検査システムを提供する。 - 特許庁
An FIB induction deposition material is deposited along the pattern edge on the CAD adjacent to the black defect part.
黒欠陥部に隣接するＣＡＤ上のパターンエッジに沿ってＦＩＢ誘導成膜物を成膜する。 - 特許庁
To accurately detect a change in the depth of a surface defect even if the temperature of a monitor target changes.
監視対象物の温度が変化しても表面欠陥の深さの変化を正確に検出する。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory device having a structure which enables efficient replacement of a defect element.
不良要素の効率良い置き換えを可能にする構成を有する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
To prevent the defect of shrinkage cavities easy to be generated upon continuous casting for an alloy steel comprising ≥5 mass% Cr.
Crを５mass%以上含有する合金鋼の連続鋳造時に発生し易い引け巣欠陥を防止する。 - 特許庁
To correctly determine a part causing a defect of a drive electrode of a MEMS mirror device and its symptom.
ＭＥＭＳミラー装置の駆動電極の不良の発生箇所とその症状を正しく判定する。 - 特許庁
To automatically and surely detect a deformation defect of a hit trace, flaw or warp generated on a hoop.
フープ材に発生した打痕、きずまたは反りなどの変形不良を自動でかつ確実に検出すること。 - 特許庁
To make detectable not only a white line but also a black line in a line defect, and to enhance detection precision.
線欠陥で白線に限らず黒線も検出でき、さらに検出精度の向上を目的とする。 - 特許庁
Consequently, defect locations can be detected automatically by detecting the colored tape 13 with a color sensor.
この着色テープ１３をカラーセンサにより検出することで、不良箇所の自動検出が可能となる。 - 特許庁
In step S1, a defect detection processing for extracting the ordinates of a new defect and a detection size by a prescribed process is performed, after a prescribed process by using an area reducing function of an inspection device, and in step S3, existence of a new defect is determined in chip unit by a discrimination condition validating all detected new defects.
ステップＳ１で、検査装置の面積縮小機能を用いて所定の工程後に所定の工程による新規欠陥の座標及び検出サイズを抽出する欠陥検出処理を行い、ステップＳ３で、検出されたすべての新規欠陥を有効とする識別条件で新規欠陥の有無をチップ単位に判定する。 - 特許庁
To properly detect and correct a pixel defect even if a block output is sent from a line sensor.
ラインセンサからブロック出力がなされた場合でも、適切な画素欠陥の検出や補正を行う。 - 特許庁
To output information necessary for a defect analysis to a dump file while reducing the size of a dump file.
ダンプファイルのサイズを小さくしつつ、障害解析に必要な情報をダンプファイルに出力すること。 - 特許庁
To provide a method and a device for inspecting a defect with high sensitivity corresponding to the tendency of patterns to be made fine.
パターンの微細化の微細化に対応した高感度欠陥検査方法とその装置を提供する。 - 特許庁
The defect detection step further includes a step for transforming a heterogeneous software application into a homogeneous application.
欠陥検出段階は、異種ソフトウェアアプリケーションを同種のアプリケーションに変形する段階を更に有する。 - 特許庁
To inspect the defect of a scanning optical system in the single state before integration into a device.
走査光学系の欠陥を、装置に組み込む前の単体の状態で検査することを可能にする。 - 特許庁
To simply and exactly detect a defect, etc. of an inspection object without using a thick correction jig.
肉厚補正治具を使用することなく簡易かつ正確に検査対象物の欠陥等を検出する。 - 特許庁
To prevent image defect by stabilizing a supply amount of toner from a supply roller to a developer carrier.
供給ローラから現像剤担持体へのトナーの供給量を安定させ、画像不良を防止する。 - 特許庁
The wideband signals (78) are analyzed (107) in order to distinguish a existing of the bearing defect peak (94).
広帯域の信号（７８）は、軸受欠陥ピーク（９４）の存在を識別するために分析される（１０７）。 - 特許庁
The yarn clearer is arranged downstream of the spinning device and detects a yarn defect in the travelling spun yarn.
ヤーンクリアラは、紡績装置の下流側に配置され、走行する紡績糸の糸欠点を検出する。 - 特許庁
Thus a servo defect on the disk can be detected from the disk drive assembly by the more improved method.
これにより，ディスクドライブアセンブリからディスク上のサーボ欠陥をさらに改善された方式で検出できる。 - 特許庁
To prevent the generation of partial corrosion in a metal separator by performing the surface treatment for preventing occurrence of a defect.
欠陥の生じない表面処理を施してメタルセパレータの部分的な腐食などを防止する。 - 特許庁
A defect found on the mask blank is subjected to characteristics evaluation of importance by using the angle distribution.
その角度分布を用いてマスクブランク上にみつかった欠陥の重大性の特性評価が行われる。 - 特許庁
To enhance a soft recovery characteristic by reducing the possibility of generation of a defect in a Schottky junction interface.
ショットキー接合界面に欠陥が生じてしまうおそれを低減し、ソフトリカバリー特性を向上させる。 - 特許庁
An imaged result is image-processed, and the presence of the defect in the hologram 5 is determined based on a result therein.
そして、この撮像結果に画像処理を施し、その結果から、ホログラム５の欠陥の有無を判定する。 - 特許庁
At this time, the semiconductor device 3a has a defect, so the activity rate of impurities is improved.
このとき半導体層３ａには欠陥が生じているため不純物の活性化率は向上する。 - 特許庁
A logical circuit 11 inputs a defect detection signal DD outputted from a comparator 8 and the output signal MM1 of the mono multivibrator circuit 10, performs operation invalidating the signal MM1 while the defect detection signal DD indicates existence of a defect and outputs a signal CP to the switch 6.
論理回路１１は、コンパレータ８から出力されるディフェクト検出信号ＤＤとモノマルチ回路１０の出力信号ＭＭ１を入力し、ディフェクト検出信号ＤＤがディフェクトの存在を示す間は信号ＭＭ１を無効にする演算を実行して積分回路３内のスイッチ６へ信号ＣＰを出力する。 - 特許庁
An inspector (P) for determining the existence of the formation defect of the resist pattern 12 is positioned on the light source part S side.
レジスト・パターン１２の形成不良の有無を判定する検査者(Ｐ)は、光源部Ｓ側に位置する。 - 特許庁
To prevent the occurrence of a defect in a plating film caused by the adsorption of bubbles on the surface to be plated.
被メッキ面における気泡の吸着に起因してメッキ膜中に欠陥が生じることを防止する。 - 特許庁
DEFECT DETECTION METHOD FOR FLAT PANEL LIGHT- RELATED PLATE ELEMENT IN LOW AND HIGH RESOLUTION IMAGES
低解像度および高解像度映像におけるフラットパネル用光関連板要素の欠陥検出方法 - 特許庁
To provide an image forming apparatus that more effectively suppresses occurrence of scale-like defect.
うろこ状ディフェクトの発生をより効果的に抑制することのできる画像形成装置を提供する。 - 特許庁
Thereby, even if the figure has the complicated shape, the template without defect can be easily produced.
これにより、形状が複雑な図形であっても、不備のないテンプレートを簡単に作成することができる。 - 特許庁
Thereby, the defect on the optical disk is skipped without re-encoding and recorded continuously.
それによって、再エンコードしないで光ディスク上の欠陥をスキップして連続的に記録することができる。 - 特許庁
To adjust transmittance in a portion with an increased transmittance in a black defect corrected part by an electron beam of a photomask.
フォトマスクの電子ビーム黒欠陥修正部の透過率上昇部分の透過率を調整する。 - 特許庁
DETECTION DEVICE FOR DETECTING DEFECT STATE OF BATTERY SAFETY VALVE, AND BATTERY AND ASSEMBLED BATTERY HAVING DETECTION DEVICE
電池安全弁の状態を検知する検知装置、その検知装置を有する電池および集合電池 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF THIN FILM PHOTOELECTRIC CONVERSION MODULE AND DEFECT RECOVERY DEVICE OF THIN FILM PHOTOELECTRIC CONVERSION MODULE
薄膜光電変換モジュールの製造方法及び薄膜光電変換モジュールの欠陥修復装置 - 特許庁
To provide a cellulose acylate film free from the defect of display nonuniformity and a drawn cellulose acylate film.
表示むらが発生する不具合を解消したセルロースアシレートフィルム、及び延伸セルロースアシレートフィルムの提供。 - 特許庁
To provide a defect analysis method capable of improving a measurement throughput, and acquiring an accurate analysis result.
測定スループットを向上させ、かつ正確な解析結果を得ることができる欠陥解析方法を得る。 - 特許庁
DEVICE FOR BLOOD TRANSFUSION, INFUSION OR HEMOCATHARSIS AND METHOD FOR DETECTING SUCTION DEFECT OF PUMP IN THE SAME
輸血・輸液又は血液浄化用の装置及び当該装置におけるポンプの吸引不良検知方法 - 特許庁
To make transfer defect of toner, owing to deformation of an elastic sheet of an agitating member, be prevented in a developing device.
現像装置において、攪拌部材の弾性シートの変形による、トナーの搬送不良を防止する。 - 特許庁
This defect in structure became a target widely used by opposition parties and the military later on after the Showa period started.
この構造の欠陥が昭和に入ってから野党や軍部に大きく利用されることとなった。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
DEFECT ANALYSIS METHOD USING EMISSION MICROSCOPE AND ITS SYSTEM, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
エミッション顕微鏡を用いた不良解析方法およびそのシステム並びに半導体装置の製造方法 - 特許庁
To obtain a fluoride thin film having stoichiometeric composition and free from fluorine defect by a magnetron sputtering method.
化学量論組成でフッ素欠損のないフッ化物薄膜をマグネトロンスパッタリング法により得ることである。 - 特許庁
The boron-doped carbon nanotube is characterized in that the carbon nanotube is substantially free from a defect.
本発明のホウ素ドープカーボンナノチューブは、カーボンナノチューブに実質的に欠損がないことを特徴とする。 - 特許庁
This Article "Geshi-shinkai" (a petition from a lower-ranking official) was made to refer to the case that any defect was found in a statement submitted to a superior officer or in a description given to a lower-ranking official.
下司申解（上申文書・下達文書における不備が明らかとなった場合） - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
INFRARED MICROSCOPE, LASER DEFECT CORRECTING DEVICE WITH LASER USING THE SAME, AND METHOD OF OBSERVING LIQUID CRYSTAL PANEL
赤外線顕微鏡およびこれを用いたレーザー欠陥修正装置および液晶パネルの観察方法 - 特許庁
To increase the manufacture yield of a photomask blank with improved defect detection sensitivity on a photomask blank.
フォトマスクブランクの欠陥検出感度を向上させてフォトマスクブランクの製造歩留まりを高めること - 特許庁
The surface defect inspection device comprises: the illumination part 3 equipped with a plurality of light emission elements 30; the imaging camera 4 for photographing the inspection part illuminated by the irradiation light by the illumination part 3; and the defect evaluation means for detecting the defect on the inspection surface by evaluating the output signal of the imaging camera 4.
複数の発光素子３０を有する照明部３と、この照明部３による照射光によって照明された被検査面を撮像する撮像カメラ４と、撮像カメラ４の出力信号を評価して被検査面における欠陥を検知する欠陥評価手段とを備えた表面欠陥検査装置。 - 特許庁
To significantly improve the accuracy of inspection by improving the capability to extract a defect near an edge.
エッジ付近の欠陥を抽出する能力を高めることで、検査の精度を大幅に向上する。 - 特許庁

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