「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 113 114 115 116 117 118 119 120 121 .... 366 367 次へ＞- To provide a method for evaluating an apparatus defect of a suction apparatus and an apparatus for evaluating an apparatus defect of a suction apparatus which can efficient and accurately evaluate a suction apparatus, by paying attention to the correlation between the suction amount per unit time by a suction apparatus and the apparatus defect.
吸引装置による単位時間当たりの吸引量と装置不良との間に相関関係があることに着目して為されたものであり、効率良く且つ正確に吸引装置を評価することができる吸引装置の装置不良評価方法および吸引装置の装置不良評価装置を提供する。 - 特許庁 - FLAW DETECTING METHOD OF WIDE DYNAMIC RANGE SOLID-STATE IMAGE PICKUP DEVICE, PIXEL DEFECT INSPECTION DEVICE, AND DIGITAL CAMERA
広ダイナミックレンジ固体撮像素子のキズ検出方法および画素欠陥検査装置ならびにディジタルカメラ - 特許庁 - The patterns on the referential substrate and on the test substrate are compared to decide whether the mask has a defect or not.
参照基板およびテスト基板上のパターンを比較して、マスクに欠陥があるかどうか判断する。 - 特許庁 - To provide a surface defect inspection device usable for detecting a surface defect such as micro-unevenness and a protrusion in an inspected object and for detecting and inspecting a defect accompanied by a concentration change on a surface, and capable of detecting easily and precisely the surface defects in the inspected objects having a plurality of kinds of diameters and lengths.
被検査物の微小な凹凸、突起等の表面の欠陥の検出、さらに併せて表面の濃度変化を伴う欠陥の検出・検査に利用することができ、複数種類の直径や長さの被検査物の表面欠陥を精度よく容易に検出できる表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - The optical modulation units are optimized with respect to the target defect using a plurality of optical parts.
ここで、光変調ユニットは複数の光学部品を選択的に用いて対象欠陥に最適化する。 - 特許庁 - To provide an improved manufacturing method of a thin film head, by which a terminal having no defect can be obtained even when its size is made small.
寸法が小さくなっても、めっき欠陥を発生しない、薄膜ヘッドの端子を得ることにある。 - 特許庁 - LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE, AND METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING DEFECT OF THE LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE
液晶表示装置および液晶表示装置の欠陥修正方法ならびに欠陥修正装置 - 特許庁 - To provide the land structure of a printed board which makes it possible to securely detect non-soldering and a soldering defect.
未半田や半田付け不良を確実に検出できるプリント基板のランド構造を提供する。 - 特許庁 - To enlarge a gap between a steel plate and sensors to a half or more of a detectable defect size.
鋼板とセンサとの間のギャップを検出可能な疵サイズの１／２以上まで拡大できるようにする。 - 特許庁 - Similarly, an inspection parameter B is detected, using the image of a defect (2) (step110 to ST115).
同様に、欠陥（２）の画像を用いて、検査パラメータＢが決定される（ＳＴ１１０乃至ＳＴ１１５）。 - 特許庁 - To obtain an integrated circuit device which can be repaired without increasing costs even when a connection defect occurs.
接続不良が発生した場合でもコスト高にならずに修復が可能な集積回路装置を得る。 - 特許庁 - To eliminate occurrence of lubrication defect in bearing even when a sealed grease in a bearing happens to leak out.
軸受内部に封入したグリースが外部に漏れても軸受に潤滑不良が生じないようにする。 - 特許庁 - To provide a defect inspection device capable of surely detecting defects which lead to a crack of a bottle bottom.
壜底の欠けに繋がるような欠陥を確実に検出できる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - To prevent the occurrence of a defect such as banding caused by the press-contacting peculiarity of a brush-shaped member.
ブラシ状部材の圧接癖により生じるバンディング等の不具合の発生を防止することである。 - 特許庁 - To provide a laminated glass having a plastic film inserted therein having no appearance defect, to be used for window glass of automobiles.
自動車の窓ガラスに用いるための、外観不良のないプラスチックフィルム挿入合せガラスの提供。 - 特許庁 - To prevent occurrence of such a defect that grains leaked out from a chaff sieve are scattered and lost.
チャフシーブから漏下する穀粒が飛散されてロスを生じるという不具合の発生を防止すること。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus capable of preventing an image defect associated with the deterioration of developer.
現像剤の劣化に伴う画像不良を防止することができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - The surface defect detecting method and device is constituted so that whether it is defect or not is discriminated by using an optical system constituted of a belt like light source 1 used for both dark field lighting and bright field lighting and a light receiving element 3 for detecting the defect in the dark field and bright field and comparing the taken image with a prescribed value.
暗視野照明及び明視野照明を兼用する帯状光源１と、暗視野及び明視野で欠陥を検出する受光素子３とから構成した光学系を用い、取り込んだ画像を所定値と比較して欠陥か否かを判定するようにした表面欠陥検出方法及び装置。 - 特許庁 - To detect a setting defect even in an access control system for performing complicated access control.
複雑な出入管理を行う出入管理システムにおいても、設定不備の検出を可能とすること。 - 特許庁 - To provide an optical member, a backlight unit and a display device, capable of observing visually a defect observable visually through a liquid crystal panel when a backlight turned on, clearly by the optical member only, and capable of evading the defect from flowing into a following process, even when the defect affecting image quality is generated.
バックライト点灯時に液晶パネルを通して目視可能な欠陥を、光学部材単独で明確に目視でき、画像品位に影響を及ぼす欠陥が発生してしまった場合にも、後工程に欠陥が流出することを回避できる光学部材、バックライトユニット及びディスプレイ装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor substrate having a lower defect density and a good surface profile property, a semiconductor light emitting device and methods for fabrication thereof.
低欠陥の半導体基板、半導体発光素子、およびそれらの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To execute classification with good accuracy by ameliorating the classification defect by clogging, or the like, of materials having tacky adhesiveness.
粘着性のある材料の目詰り等による分級不良を改善し、分級を精度よく行う。 - 特許庁 - Then a customer is shown that the latent defect of the material is detected at the specific coordinate position.
次いで、潜在的な材料の欠陥が所定の座標位置において検出されたことをカスタマに示す。 - 特許庁 - Defect inspection is carried out for picked-up images of three surfaces according previously set inspection standards.
撮像された３つの面の像を予め設定された検査の基準に基いて欠陥検査をする。 - 特許庁 - To suppress generation of processing defect at the time of supplying processing liquid onto a developed substrate.
現像処理後の基板上に処理液を供給する際に、処理欠陥の発生を抑制すること。 - 特許庁 - The recess and/or protrusion is formed in the shape not allowing generation of any crystal defect to the semiconductor layers 11, 13.
凹部及／又は凸部は半導体層１１、１３に結晶欠陥を発生させない形状とする。 - 特許庁 - To reduce a possibility of the occurrence of erroneous detection or operational defect when detecting a polarity of a line.
回線の極性を検出する際に、誤検出や動作不良が生じる可能性を低減する。 - 特許庁 - To provide a defect position detecting device for a buried pipe detecting a defect of the old buried pipe and capable of accurately detecting a defect position even when the pipe is bent without particularly digging a hole in an inspection of the crack or the like of the buried pipe in particular.
本発明は古くなった埋設配管の欠陥を検出する埋設配管欠陥箇所検出装置に係り、特に埋設配管の亀裂等の検査において特に穴を掘る必要もなく、例え配管が曲がっていても正確に欠陥個所を知ることができる埋設配管の欠陥箇所検出装置を提供するものである。 - 特許庁 - To prevent a display defect due to elution of an adhesive by making the adhesive surely curable in final curing.
本硬化において確実な硬化を可能にして、接着剤の溶出による表示不良を防止する。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus which properly prevent a development defect generated by additives to toner.
トナーの外添剤により発生する現像不良を適切に防止する画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect-inspecting apparatus which can inspect well even when a diffraction light from a wafer deviates.
ウェハからの回折光のずれがあっても、良好に検査可能な欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - From the stored signal value, the three-dimensional image of a defect present in the sample is obtained by software, etc.
この格納されている信号値から、ソフトウェア等でサンプル内にある欠陥の３次元画像を得る。 - 特許庁 - Defect selected by the operator having confirmed display of the review inspection images is irradiated with laser beam.
レビュー検査画像の表示を確認したオペレータによって選択された欠陥にレーザーが照射される。 - 特許庁 - METHOD FOR PREVENTING COARSE PRIMARY CRYSTAL SILICON DEFECT OF ALUMINUM ALLOY CASTING AND METHOD FOR MANUFACTURING ALUMINUM ALLOY CASTING
アルミニウム合金鋳物の粗大初晶Ｓｉ欠陥防止方法及びアルミニウム合金鋳物の製造方法 - 特許庁 - This information, etc., on the defect are supplied to a computer device 70 via a communication interface 410.
この欠陥に関する情報等を通信インタフェース４１０を介してコンピュータ装置７０に供給する。 - 特許庁 - To provide a resist composition for reducing a developing defect, in an ArF excimer laser lithography or the like.
ＡｒＦエキシマレーザーリソグラフィー等において、現像欠陥（ディフェクト）が少ないレジスト組成物を提供する。 - 特許庁 - On the other hand, when Vx is smaller (S8:NO), the defect in combustion is determined (S9).
これに対して、Ｖｘが小さい場合には（Ｓ８：ＮＯ）、燃焼不良となっていると判断する（Ｓ９）。 - 特許庁 - To provide an epitaxial lateral overgrowth substrate less in warpage or distortion and little crystal defect.
反りまたは歪みが少なく、かつ結晶欠陥の少ないエピタキシャル・ラテラル・オーバーグロース基板を提供する。 - 特許庁 - USE OF EPOTHILONE IN THE TREATMENT OF NEURONAL CONNECTIVITY DEFECT SUCH AS SCHIZOPHRENIA AND AUTISM
神経接続欠陥、例えば精神分裂病及び自閉症の治療においてエポチロン（ｅｐｏｔｈｉｌｏｎｅ）を使用する方法 - 特許庁 - The size and depth of the inside defect S of the face part 2 of the panel 1 is detected by using ultrasonic waves.
パネル１のフェース部２における内部欠点Ｓ大きさと深さとを、超音波を用いて検出する。 - 特許庁 - A complete defect in hepcidin expression shows the induction of progressive tissue iron overload in mice.
ヘプシジン発現の完全な欠損はマウスにおいて進行性組織鉄過剰を導くことを示している。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a low defect large diameter single crystal silicon carbide wafer at high yield.
低欠陥大口径の単結晶炭化珪素ウェハを高歩留りで製造する方法を提供する。 - 特許庁 - DEFECT-INSPECTING SEMICONDUCTOR SUBSTRATE, AND METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR SUBSTRATE AND MONITOR FOR INSPECTING THE SEMICONDUCTOR SUBSTRATE
欠陥検査用半導体基板、半導体基板の検査方法および半導体基板検査用モニター装置 - 特許庁 - When sintering the fine particles, a cavity 210 remains and will become an internal defect or hole of the piezoelectric element.
なお、微細粒子を焼結する際に圧電素子の内部欠陥や孔となる空洞２１０が残存する。 - 特許庁 - To discriminate the frequent recurrence of weft insertion defect of a specific weft in a multicolor weft-inserting loom.
多色緯入れ織機において、特定の緯糸での緯入れ不良の頻発を判別可能とする。 - 特許庁 - REFERENCE CALIBRATION PATCH ARRANGEMENT TO MINIMIZE EXPOSURE AND MEASUREMENT ARTIFACT AND MAXIMIZE ROBUSTNESS TO DEFECT
露光及び測定アーチファクトを最小にし、欠陥に対する強さを最大にする基準較正パッチ配置 - 特許庁 - And the laser beam is irradiated on the optical disk continuously even when defect exists in the optical disk.
そして、光ディスクに欠陥があった場合でもレーザビームを光ディスクに照射し続けることとする。 - 特許庁 - To prevent display defect of a liquid crystal display device caused by static electricity generated at so-called rubbing.
いわゆるラビング時に発生する静電気が原因となる液晶表示装置の表示不良を防止する。 - 特許庁 - The measuring mechanism 40 measures the intensity of the laser beam L2 for measurement that is reflected by a luminance spot defect 21.
計測機構４０は、輝点欠陥２１で反射された計測用レーザＬ２の強度を計測する。 - 特許庁 - REMOVAL OF WEFT YARN DEFECT IN LOOM ESPECIALLY IN AIR JET TYPE LOOM HAVING AIR TYPE WEFT YARN INSERTING TOOL
織機特に空気式よこ糸端挿入器付きエアジェット式織機のよこ糸欠陥の除去方法 - 特許庁
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