「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 115 116 117 118 119 120 121 122 123 .... 366 367 次へ＞- To provide an image forming apparatus capable of preventing a secondary transfer defect at a secondary transfer unit.
二次転写ユニットにおいて二次転写不良を防止することができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a biotissue prosthesis suppressing leakage of the prosthetic cultured bone from a defect even in a case of a relatively large osseous defect, suppressing the mixing of a soft tissue to be a cause of ossification inhibition from the outside, and promoting the osseous defect restoration and to provide its manufacturing method.
比較的大きい骨欠損部に対しても補填した培養骨が欠損部分から漏れ出すことを抑えることができるとともに、骨化阻害の要因となる軟組織が外部から混入することを抑えることができ、かつ、骨欠損修復を促進することができる生体組織補填体とその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a structure for manufacturing a casting with which the gaseous defect can be improved as the casting quality.
鋳物品質であるガス欠陥を改善することができる鋳物製造用構造体を提供する。 - 特許庁 - METHOD OF SETTING DEFECT MANAGEMENT INFORMATION, METHOD OF RECORDING DATA,PROGRAM AND RECORD MEDIUM AND INFORMATION RECORDING APPARATUS
欠陥管理情報設定方法、記録方法、プログラム及び記録媒体、並びに情報記録装置 - 特許庁 - To transfer data accurately even when a defect occurs on a nonvolatile storage element for storing a data.
データを記憶する不揮発性記憶素子に不良が発生した場合でも正確にデータを転送する。 - 特許庁 - To provide a defect test method and a defect test device for performing high-speed scanning equal to one set to the number of rotation as three times as large when the number of rotation of a scanner motor for rotating a polygon mirror is set to the number of rotation where no problem occurs and for detecting minute defect.
本発明はポリゴンミラーを回転させるスキャナモータの回転数を問題が生じない回転数に設定しても、その３倍以上の回転数に設定したのと同等な高速スキャンが可能で、微細な欠陥を検出することができる欠陥検査方法および欠陥検査装置を得るにある。 - 特許庁 - To provide a template adjustment method for adjusting a template described with the features of a defect distribution pattern as the reference of classification for classifying defect distribution on the surface of a substrate, and for automatically adjusting a template set by a person so that it can be more accurately fitted for the actual defect distribution.
基板の表面上の欠陥分布を分類するために、分類の基準となる欠陥分布パターンの特徴が記述されたテンプレートを調整するテンプレート調整方法であって、人が設定したテンプレートを、実際の欠陥分布により正確に適合するように自動的に調整できるものを提供すること。 - 特許庁 - Also in the event of cell comparison, difference images are first processed by the second threshold to find defect candidates, and further, the difference images are processed also by the first threshold to detect, as a defect, at least one difference image outputting a signal more than the first threshold out of two peaks, among difference images taken as defect candidates in the processing performed by using the above second threshold.
セル比較の場合にも、差画像を、まず第二の閾値で処理して欠陥候補を求め、さらに、差画像を第一の閾値でも処理し、先の第二の閾値による処理で欠陥候補となったもののうち、２つのピークのうち少なくとも一方で第一の閾値以上の信号がでているものを欠陥として検出する。 - 特許庁 - To securely detect even the defect in connection that the contact pressure is low although an electric connection is made.
電気的には接続されているが、接触圧が低いような接続不良についても確実に検知する。 - 特許庁 - The defect inspection device 21 is equipped with an illumination device 22, a camera 23 and a image processor 24.
不良検査装置２１は、照明装置２２、カメラ２３及び画像処理装置２４等を備えている。 - 特許庁 - The electron microscope 5 for observing the defect detected by an optical defect inspection device is mounted with an optical microscope 6 for re-detecting the defect, and has a constitution where, when focusing of the optical microscope 6 is performed, a lighting position and a detecting position of the optical microscope 6 to a sample 1 are not changed.
光学式欠陥検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡５において、欠陥を再検出する光学式顕微鏡６を搭載し、この光学式顕微鏡６の焦点合わせを行う時に、試料１に対して光学式顕微鏡６の照明位置と検出位置を変化させない構成とする。 - 特許庁 - To provide a photographing apparatus capable of simply preventing an image including a defect from being recorded.
撮影装置において、欠陥を含む画像が記録されてしまうことを簡易に防止できるようにする。 - 特許庁 - To provide a method and apparatus which cope with the defect attacks in RSA, and detect all the defects.
全ての欠陥を検出する、ＲＳＡにおける欠陥攻撃に対する対抗手段を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection method for highly precisely inspecting a defect caused by dynamic characteristics of a liquid crystal display panel.
液晶表示パネルの動的特性に基づく欠陥を、精度よく検査する方法等を提供する。 - 特許庁 - INFORMATION-RECORDING/REPRODUCING DEVICE, PROGRAM, COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM, AND METHOD FOR MANAGING DEFECT AREA
情報記録再生装置とプログラムとコンピュータ読み取り可能な記録媒体と欠陥領域管理方法 - 特許庁 - To form an oxide silicon film whose uniformity is satisfactory, and whose defect is reduced on a base containing silicon.
シリコンを含んでなる下地上に均一性が良く、かつ欠陥が少ない酸化シリコン膜を形成する。 - 特許庁 - To execute fitting while suppressing an incongruity feeling and a defect of an image when forming the image into a recording medium.
画像を記録媒体に形成する際に、画像の欠損及び違和感を抑えつつフィッティングする。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a highly functional retardation plate which is thin in thickness and has no defect in appearance.
薄型で外観欠点がなく高機能な位相差板を製造できる製造方法を提供する。 - 特許庁 - In the defect detection device 1, a reference image acquired relative to the one swath on a reference die is stored in an image memory 51, and compared with an image to be inspected acquired relative to a swath corresponding to the reference image of a die to be inspected by a defect detection part 52, to thereby detect a defect of the image to be inspected.
欠陥検出装置１では、基準ダイの１つのスワスについて取得された基準画像が画像メモリ５１に記憶され、被検査ダイの基準画像に対応するスワスについて取得された被検査画像と欠陥検出部５２において比較されて被検査画像の欠陥が検出される。 - 特許庁 - Symmetries in CBED patterns allow the point and space group to be determined in defect-free regions.
CBED図形の中の対称性は、欠陥がない領域で点群と空間群が決定されることを可能にする。 - 科学技術論文動詞集 - Contents of the clauses, if any, of the vendor's responsibility for any latent defect in the product.
商品に隠れた瑕疵がある場合の販売業者の責任についての定めがあるときは、その内容 - 経済産業省 - Consequently, void display defect can be prevented from occurring and display quality can be prevented from lowering.
これにより、白抜け表示欠陥が生じるのを防止でき、表示品位が低下するのを防止できる。 - 特許庁 - The images contain an index which expresses a defect on the substrate 14 and a crack on the cover glass 16.
これらの画像は、基板１４の欠陥及びカバ−ガラス１６のクラックを表わす指標を含んでいる。 - 特許庁 - Thus, the generation of any crystal defect at the corner parts of the gate trenches at the terminal parts can be prevented.
これによって、終端部のゲートトレンチのコーナー部に結晶欠陥が発生するのを防止できる。 - 特許庁 - To provide a non-volatile multi-level memory in which 3 bits/1 cell and defect relieving are realized with a simple circuit.
３ビット／１セル化と欠陥救済を簡単な回路で実現した多値不揮発性メモリを提供する。 - 特許庁 - The defect inspection method uses the defect inspection apparatus and discriminates whether the defects respectively detected by the defect detectors are the same by comparing and verifying the defect information of the inspected materials sent from defect detectors.
欠陥検出器を複数有する欠陥検査装置であって、複数の欠陥検出器と、それぞれの欠陥検出器から送られてくる被検査材の欠陥情報を比較・照合することにより、それぞれの欠陥検出器が検出した欠陥が同じ欠陥であるのか、否かを判別する判別器とを備えた欠陥検査装置およびそれを用い、それぞれの欠陥検出器から送られてくる被検査材の欠陥情報を比較・照合することにより、それぞれの欠陥検出器が検出した欠陥が同じ欠陥であるのか、否かを判別する欠陥検査方法。 - 特許庁 - To prevent occurrence of a reading defect or a feeding defect by pressing originals of a plurality of thickness such as of thick paper and thin paper with a considerably difference in thickness on a glass surface of an image sensor with appropriate pressures.
厚さに大きな違いがある厚紙、薄紙等の複数の厚さを有する原稿を、適切な押圧力でイメージセンサのガラス面に押し付けることができるようにし、読み取り不良や送り不良の発生を防止する。 - 特許庁 - To provide a feature defect detection device detecting a feature defect existing in only one of folded business form sheets, and not requiring readjustment of arrangement of a detector even when the sheets have different widths.
折られた帳票の１枚だけに存在する形体欠陥を検出することが可能で、帳票の幅が異なるときでも検出器の配置を調整し直す必要性がない形体欠陥検出装置の提供。 - 特許庁 - By reflecting reflected light from a left slope of a protruding defect 201 in a direction of incidence onto a reflected light intensity measuring device 108 in a scanning initial period, the protruding defect 201 looks bright at this part.
走査初期において、凸欠陥２０１の左斜面からの反射光を反射光強度測定器１０８に入射する方向に反射させることにより、この部分で凸欠陥２０１が明るく見える。 - 特許庁 - To provide a low-defect thin film which is extremely little in deposition defects such as particles attached or embedded in a film under growth and a low-defect deposition method which is a method for manufacturing the same.
本発明は、成長中の膜に付着若しくは埋め込まれて成るパーティクルなどの成膜欠陥が極めて少ない低欠陥薄膜及びその製造方法である低欠陥成膜法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide an imaging condition determination method for finding an area where the luminance difference becomes maximum in unit patterns of a periodic pattern, and to provide a defect inspection method that uses the same, and a defect inspecting device.
周期性パターンの単位パターンにおいて輝度差が最大となる領域を求めるための周期性パターンの撮像条件決定方法、これを用いた欠陥検査方法、および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection device of a motor coil that secures the insertion performance of the motor coil and insulation quality between the motor coils by automatically extracting the motor coil that has an insertion defect and a molding defect, and its inspection method.
挿入不良あるいは成形不良のモータコイルを自動的に抽出し，モータコイルの挿入性およびモータコイル間の絶縁品質を確保するモータコイルの検査装置および検査方法を提供すること。 - 特許庁 - A defect position input unit 3a reads out numerical data of positions from a defect position storing unit 1 for indicating the place of a defective memory element from a given original position in an IC memory.
不良位置データ入力部３ａは、ＩＣメモリに発生した不良メモリ素子が予め決められた原点から何番目のメモリ素子であるかを示す不良位置のデータを不良位置記憶装置１から読み込む。 - 特許庁 - To provide a support information system for simultaneously solving both the problems of difficulty in connection that is a defect in a telephone support, and difficulty in the gathering of useful information that is a defect in a support system on the Internet.
電話によるサポートの欠点であるつながりにくさと、インターネット上のサポートシステムの欠点である、有用な情報が集まりにくいという双方の問題点を同時に解決できるサポート情報システムを提供する。 - 特許庁 - In the defect inspection method, a surface image on a wafer end part is acquired (Step S1), and a defect on the wafer end part is detected based on the coordinates from a first origin which is specified for the wafer, using the acquired surface image (Step S2).
ウェハ端部の表面画像を取得し（ステップＳ１）、取得された表面画像を用いて、ウェハ端部の欠陥を、そのウェハに設定されている第１原点からの座標によって検出する（ステップＳ２）。 - 特許庁 - To provide a continuous casting method for a casting little in a bubble defect capable of suppressing the clogging of an immersion nozzle, and preventing the bubble defect such as linear flaw and a bulging flaw generating in a steel material worked by rolling a casting.
浸漬ノズルの詰まりを抑制し、鋳片を圧延加工した鋼材に発生する線状疵や膨れ疵等の気泡欠陥を防止することができる気泡欠陥の少ない鋳片の連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of sheet heating element which can restrain generation of foaming in a material 3' of PTC heating element, and of discoloring defect or defect in setting of resistance value.
ＰＴＣ発熱素子の生地３’に発泡が発生するのを抑えることができ、もって変色不良や抵抗値の設定不良が発生するのを抑えることが可能な面状発熱体の製造方法を提供する。 - 特許庁 - The image feature amount is calculated from an inspection image of a semiconductor wafer, pattern region division is performed, and the inspection method and sensitivity (defect inspection threshold) preset for each pattern region are changed, thereby performing the defect inspection.
半導体ウェハの検査画像から画像特徴量を算出し、パターン領域分割を行い，予めパターン領域毎に設定した検査方式及び感度（欠陥検出閾値）を切り替えて欠陥検出を行う。 - 特許庁 - A signal processing circuit 60 discriminates between the surface defect and the internal defect of the substrate 1 from the intensity difference between the scattered light received by the first light receiving system and the scattered light received by the second light receiving system.
信号処理回路６０は、第１の受光系が受光した散乱光と第２の受光系が受光した散乱光との強度の違いから、基板１の表面の欠陥と内部の欠陥とを弁別する。 - 特許庁 - For a defect 12 present in the surface 16 of the seat pad 10 made by foam molding, a sheet material 14 which has an uneven shape 15 (for example, a zigzag shape) on the periphery is attached so as to cover the defect 12.
発泡成形されたシートパッド１０の表面１６に存在する欠点１２に対し、外周に凹凸形状（例えば、ジグザグ形状）１５を持つシート材１４を、該欠点１２を覆うように貼り付ける。 - 特許庁 - A size setting means 31A sets a size of a defect accepted by a size setting acceptance means 51, and a reduction ratio setting means 32 sets an image reduction ratio in response to the set size of the defect.
サイズ設定手段３１Ａが、サイズ設定受付手段５１にて受け付けた欠陥のサイズを設定し、縮小率設定手段３２が、設定された欠陥のサイズに応じて画像縮小率を設定する。 - 特許庁 - To provide a surface defect inspection apparatus and a surface defect inspection method capable of performing a detection of LPDs on a wafer surface and a detection of a dark field image in parallel with each other and having an improved detection sensitivity of the LPDs.
ウェーハ表面のＬＰＤの検出と暗視野像の検出とを並行して行うことができ、且つ、ＬＰＤの検出感度を高めた表面欠陥検査装置および表面欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁 - Compounds dispersed in the liquid are sensed by the probe, and a presence position of the impure substance or a defect is detected, and a concentration of the compounds is detected, and a kind of the compounds is detected, thereby observing the impure substance or the defect of the device.
液中に拡散した化合物を探針で検知し、不純物または欠陥の存在位置の検出，化合物の濃度の検出，化合物の種類を検出し、デバイスの欠陥や不純物を観察する。 - 特許庁 - Good piece regions each formed with wiring of a prescribed pattern, and defective piece regions each formed with wiring of a defect pattern having a prescribed defect in the prescribed pattern are formed on an operation checking board.
所定パターンの配線が形成される良ピース領域と、この所定パターンに所定の欠陥を設けた欠陥パターンの配線が形成される不良ピース領域とが、動作チェック用基板にそれぞれ形成されている。 - 特許庁 - Then, a threshold is calculated for each pixel row from an image wherein a crack defect detection domain is masked, and a fluff defect is detected by performing binarization by using the threshold.
欠点候補領域の矩形率、最大径角度、凹凸度を求め、ワレ欠点を検出後、ワレ欠点検出領域をマスクした画像から、1画素列毎に閾値を算出し、その閾値により2値化して毛羽欠点を検出する。 - 特許庁 - To shorten the access processing time when a defect region exists between a current position of a pickup and a target position, by omitting a process resetting from defocusing and tracking drift in the defect region.
ピックアップ現在位置と目標位置の間にディフェクト領域が存在した場合、ディフェクト領域におけるフォーカス外れおよびトラッキング流れからの復帰処理を省略することにより、アクセス処理時間を短縮すること。 - 特許庁 - A flat panel inspection system 100 as the defect detection apparatus is provided with an image processing section 104 for identifying a defect region in the flat panel 200, based on image data obtained by imaging the flat panel 200.
欠陥検出装置としてのフラットパネル検査システム１００は、フラットパネル２００を撮像して得られた画像データに基づいてフラットパネル２００の欠陥領域を特定する画像処理部１０４を備えている。 - 特許庁 - The method also includes determining whether each defect detected in the first die substantially possesses the same position in the die as a defect detected in the second die or not.
加えて本方法は、第１のダイ内で突きとめられた個別の欠陥が、第２のダイ内において突きとめられた個別の欠陥と実質的に同一のダイ内ポジションを有しているか否かを決定することも含む。 - 特許庁 - To obtain a semiconductor integrated circuit in which a defective cell can be specified and relieved at the time of a defect of DC current such as defect of standby current or the like and the yield of semiconductor chips can be improved.
スタンバイ電流不良等の直流電流不良時における不良メモリセルを特定して救済することができ、半導体チップの歩留まりを向上させることができる半導体集積回路を得る。 - 特許庁 - Since birefringence can be induced within the defect part because of the electro-optical effect when terahertz light impinges, the birefringence is measured to be able to defect whether terahertz light has impinged or not.
テラヘルツ光が入射されると、電気光学効果によって欠陥部内に複屈折を誘起させることができるから、複屈折率を測定すれば、テラヘルツ光が入射したか否かを検出することができる。 - 特許庁
