「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • To provide a semiconductor device including a less defect semiconductor crystal, and to provide its manufacturing method.
    欠陥の少ない半導体結晶を有する半導体装置およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁
  • FILM CARRIER TAPE FOR MOUNTING ELECTRONIC COMPONENT AND FINAL DEFECT MARKING METHOD THEREOF
    電子部品実装用フィルムキャリアテープ、および電子部品実装用フィルムキャリアテープの最終不良マーキング方法 - 特許庁
  • To provide a method of designing a multilayer substrate that suppresses a defect in conduction and fracture of a conductor pattern.
    導体パターンの導通不良や破断を抑制できる多層基板の設計方法を提供する。 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR CONTROLLING NONUNIFORM BANDLIKE DEFECT AND RESIDUAL TONER DENSITY BY FEEDBACK CONTROL
    フィードバック制御を用いて不均一帯状欠陥及び残留トナー密度を制御する方法及び装置 - 特許庁
  • METHOD FOR PHOTOMASK DEFECT CORRECTION USING COMPOSITE APPARATUS OF CONVERGENCE ELECTRON BEAM DEVICE AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE
    集束電子ビーム装置と原子間力顕微鏡との複合装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁
  • To provide a pixel defect correction method by which even a digital camera adopting the pixel shift method can accurately correct defective pixels.
    画素ずらし方式のデジタルカメラにおいても、欠陥画素の補正を正確に行うことができる。 - 特許庁
  • To achieve the epitaxial growth of a low defect compound semiconductor crystal on an Si substrate with no dislocation.
    Ｓｉ基板上への無転位で低欠陥な化合物半導体結晶のエピタキシャル成長を実現する。 - 特許庁
  • To repair defect of cartilage tissues without cutting of healthy cartilage tissues.
    健全な軟骨組織を切除することなく軟骨組織における欠損部を修復することを可能とする。 - 特許庁
  • To provide a combustion method of a liquid fuel and a burner overcoming a defect of a preceding technology.
    先行技術の欠点を克服する液体燃料の燃焼方法およびバーナーを提供すること。 - 特許庁
  • To provide inspection device of defect for detecting defects on glass surfaces of solar battery panels with full accuracy.
    太陽電池パネルのガラス表面上のキズを精度良く検出するキズ検査装置を提供する。 - 特許庁
  • To repair a short circuit defect between auxiliary capacitance elements without damaging pixel electrodes.
    補助容量素子間の短絡不良を画素電極に損傷を与えることなく修復可能にする。 - 特許庁
  • To uniformly etch an aluminum film or its alloy film without generating residue, unevenness or defect in the etching.
    アルミニウム膜またはその合金膜をエッチング残渣、エッチングムラまたはエッチング不良なく、均一にエッチングする。 - 特許庁
  • The position of the defect in the mask can be found by scanning a smaller region in the pattern.
    マスクの欠陥の位置は、パターンのより小さい領域を走査することによって発見することができる。 - 特許庁
  • VERTICAL SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND CRYSTAL-DEFECT EVALUATION METHOD OF VERTICAL SEMICONDUCTOR DEVICE
    縦型半導体装置とその製造方法、及び縦型半導体装置の結晶欠陥評価方法 - 特許庁
  • To provide a technology for easily detecting a semiconductor element containing defects such as a particle and a crystal defect.
    パーティクルや結晶欠陥などの不良を含む半導体素子を容易に検知する技術の提供。 - 特許庁
  • DEFECT INFORMATION OBTAINING METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY, RELIEVING AND ANALYZING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR MEMORY, AND SEMICONDUCTOR MEMORY
    半導体メモリの不良情報取得方法、半導体メモリ救済解析装置、及び半導体メモリ装置 - 特許庁
  • Subsequently, an RTA treatment is performed to recover the crystal defect generated by ion implantation.
    その後に、イオン注入によって発生した結晶欠陥の回復のためのＲＴＡ処理を行う。 - 特許庁
  • A crystal defect of the first silicon-germanium thin film 11 is removed by a selective etching (hydrogen fluoride/nitric acid).
    第１のシリコンゲルマニウム薄膜１１の結晶欠陥を選択エッチング（フッ酸／硝酸）によって除去する。 - 特許庁
  • The search is ended when a virtual logical address larger than the logical address appears in the medium defect list.
    サーチは、媒体欠陥テーブルに、論理アドレスより大きい仮想論理アドレスが現れた時点で終了する。 - 特許庁
  • To provide a recording medium having margin spaces for defect management and a method of allocating the margin spaces.
    欠陥管理のための余裕空間を有する記録媒体と余裕空間割当方法を提供する。 - 特許庁
  • AUTOMATIC CCD CAMERA CHANGEOVER SYSTEM IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH LASER DEFECT DETECTING FUNCTION
    レーザ欠陥検出機能を備えた走査型電子顕微鏡におけるＣＣＤカメラ自動切替方式 - 特許庁
  • For nothing is so beautiful but that it betrays some defect on close inspection.
    なぜならば、精密に検査しても何か欠点が現れないほど美しいものは存在しないからである。 - Tatoeba例文
  • birth defect in which there is partial or total webbing connecting two or more fingers or toes
    2つかそれ以上の指またはつま先をつなげる部分的または全体の水かきがある先天的異常 - 日本語WordNet
  • If a latent defect is discovered, the buyer can file a damage claim against the seller.
    隠れたる瑕疵が発見された場合、買い手は売り手に対し損害賠償を請求することができる。 - Weblio英語基本例文集
  • the cause of msi may be a defect in the ability to repair mistakes made when dna is copied in the cell.
    msiの原因は、細胞内でdnaが複製される際のエラー修復機構の欠陥である可能性がある。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • To suppress both of cracking at an opening end side of a recessed groove and occurrence of an internal defect at a central part.
    凹溝の開口端側でのクラック発生と中央部での内部欠陥発生の両方を抑制する。 - 特許庁
  • To provide a small-sized mobile terminal capable of easily detecting the defect of a coaxial cable.
    同軸ケーブルの不良を簡単に検出することができる小型の携帯端末を提供することにある。 - 特許庁
  • In a defect analyzing computer 10, the number of defective bits are counted for each coordinate based on defective data (bit map data) BD obtained by an electrical test by a tester 2 and a defect numbers histogram is made (means 12), wavelet analysis is performed for the defect numbers histogram and a wavelet coefficient is calculated (means 13).
    不良解析計算機１０は、テスタ２による電気的試験により得られた不良データ（ビットマップデータ）ＢＤに基づいて座標ごとに不良ビット数をカウントして不良数ヒストグラムを作成し（手段１２）、不良数ヒストグラムについてウェーブレット解析を行ないウェーブレット係数を算出する（手段１３）。 - 特許庁
  • To detect the presence or absence of a defect in a zone texture region on the surface of a disk.
    ディスク表面上のゾーンテクスチャ領域における欠陥有無を検出することができるようにする。 - 特許庁
  • In addition, a defect (white dot appears on a captured image) resulting from the removing step can be eliminated.
    また、その除去工程に起因する欠陥（撮影画像上、白い点が現れる）を無くすことができる。 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR DEFECT DETECTION, INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING DEVICE, AND MAGNETIC DISK DRIVE
    欠陥検出方法および欠陥検出装置ならびに情報記録再生装置および磁気ディスク装置 - 特許庁
  • Thereby, even when the N type transistor 22 has the defect, the driving unit circuit 20 can be relieved.
    したがって、Ｎ型トランジスタ２２が不良な場合でも駆動単位回路２０を救済することができる。 - 特許庁
  • To allow automation and to surely detect a defect such as a surface flaw.
    自動化を可能とするとともに、表面疵等の欠陥を確実に検出することができるようにする。 - 特許庁
  • To provide a lithography apparatus which is favorable in terms of the short defect inspection time of a blanking deflector array.
    ブランキング偏向器アレイの欠陥検査時間の短さの点で有利な描画装置を提供する。 - 特許庁
  • SUBSTRATE FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE, LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE PROVIDED WITH THE SAME, AND DEFECT REPAIR METHOD THEREFOR
    液晶表示装置用基板及びそれを備えた液晶表示装置及びその欠陥修復方法 - 特許庁
  • To provide an image pickup device capable of efficiently compensating a pixel defect including the case of long-time expoure.
    長時間露光時を含めて効果的な画素欠陥の補償が可能な撮像装置を提供する。 - 特許庁
  • Methods for repairing a tissue injury or defect using the tissue implants are also provided.
    この組織インプラントを用いて組織傷害或いは組織欠損部を修復する方法も提供する。 - 特許庁
  • To provide a display device inspecting system which efficiently detects even a small defect at a low cost.
    安価で、小さい欠陥も効率的に検出することができる表示装置検査システムを提供する。 - 特許庁
  • To improve defect detection position accuracy while suppressing the deflection of a substrate that is used for a flat panel.
    フラットパネルに用いられる基板の撓みを抑制しつつ欠陥検出位置精度を向上させる。 - 特許庁
  • By the vibration, the contact part of the sensor and the electrode is rubbed and an electric continuity defect is dissolved.
    この振動により、センサと電極の接触部がこすられ、電気的導通不良が解消される。 - 特許庁
  • To eliminate a difference in levels of signals as a defect of a linear image sensor in a left and right separate reading system.
    左右分割読み出し方式のリニアイメージセンサの欠点である信号の段差を解消すること。 - 特許庁
  • To provide a liquid crystal display unit and its defect repair method which can repair a defect place relatively easily if the distance from a display part to an edge of a substrate is short and a defect due to a short circuit between a storage capacity bus line batch electrode and a gate bus line crossing it occurs.
    表示部から基板の縁までの距離が小さく、且つ、蓄積容量バスライン一括電極とそれに交差するゲートバスラインとの短絡による欠陥が発生したときに比較的簡単に欠陥個所を修復することができる液晶表示装置及びその欠陥修復方法を提供する。 - 特許庁
  • To prevent a process defect such as staining caused when a substrate is coated with a color filter composition.
    カラーフィルター組成物を基板に塗布するとき発生する染みなどの工程不良の発生を防止する。 - 特許庁
  • The method for managing the defect area comprises appropriately determining an alternate area in case of the occurrence of a defect without previous division of the area to a data area and a spare like heretofore, transferring the data to be recorded thereto and separately managing the information of the position alternated with the defect position information.
    そのために本発明の欠陥領域管理方法は、従来のように予めデータ領域とスペア領域とに分けておかずに、欠陥が発生したときに適宜交替領域を決めてそこに記録するデータを移すと共に、欠陥位置情報と交替した位置の情報を別途管理するようにした。 - 特許庁
  • To appropriately manage a defect even if data to which real time property is requested is recorded and reproduced.
    実時間性が要求されるデータを記録再生する場合にも適切なディフェクトマネージメントを可能とする。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus for the inspection of a defect with reference to a film wherein the defect can be inspected quickly and with high accuracy from the film in which fillers such as particles or the like exist and information on the inspection of the defect is recorded or attached so as to be provided as a filmlike product and to provide the filmlike product.
    粒子などのフィラーが存在するフィルムの中から、迅速かつ高精度な欠陥検査を可能にし、該欠陥検査の情報を記録若しくは添付してフィルム状製品として提供するフィルム対する欠陥検査方法とその装置並びにフィルム状製品を提供することにある。 - 特許庁
  • To provide a package on package to prevent a circuit pattern lift defect, and a method of fabricating the same.
    回路パターンの浮き上がり現象を抑制するパッケージオンパッケージ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To enable stable contiguous recording on an information storage medium even if many defect regions exist.
    欠陥領域が多数存在しても情報記憶媒体上に安定した連続記録が可能となる。 - 特許庁
  • To provide a process cartridge in which the charging hysteresis of an image preserving body is suppressed and the image defect is suppressed.
    像保持体の帯電履歴が抑制され、画像欠陥が抑制されるプロセスカートリッジを提供する。 - 特許庁
  • In this method, based on position coordinate of the defect detected by defect detecting means, marking through ion beam, etc. is provided around the position coordinate, sample is observed with a transmission electron microscope to identify the defective area from relative positional relationship between the marking and the defect, reliably preparing sample which contains the target defective area.
    欠陥検出手段で検出した欠陥の位置座標を基準にして、その近傍にイオンビームなどによってマーキングし、試料を透過型電子顕微鏡で観察して、マーキングと欠陥との相対位置関係から、欠陥部を特定し、目的とする欠陥部を含む試料を確実に作製する。 - 特許庁
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