「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 108 109 110 111 112 113 114 115 116 .... 366 367 次へ＞- To report the decline of a ventilation amount due to clogging to a user and to prevent the decomposition defect of garbage.
目詰まりによる通風量の低下を使用者に報知し、生ごみの分解不良を防止する。 - 特許庁 - To provide a structure for producing a casting with which gas defect as the casting quality can be improved.
鋳物品質であるガス欠陥を改善することができる鋳物製造用構造体を提供する。 - 特許庁 - To provide a compact linear compressor constructed to solve a defect of former technology.
従来技術の欠点を解決するよう構成されたコンパクトなリニアコンプレッサを提供することにある。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR ACQUISITION OF SHAPE INFORMATION AND APPARATUS AND METHOD FOR DEFECT DETECTION
形状情報取得装置、欠陥検出装置、形状情報取得方法および欠陥検出方法 - 特許庁 - To provide a level device eliminating a conventional defect in the lever device such as a brake lever of a motorcycle.
オートバイのブレーキレバーの如きレバー装置であって、従来の欠点を解消したレバー装置を提供する。 - 特許庁 - OUTSIDE DEVELOPMENT INFORMATION PRACTICAL USE METHOD OF STEEL STRIP AND COLLECTION/DISPLAY PROGRAM OF DEFECT DATA ON STEEL STRIP
鋼帯の外観展開図情報活用方法および鋼帯の欠陥データの収集・表示プログラム - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device in which defect detection can be performed in a short period oftime and the circuit area is small.
不良検出が短時間で行なえる回路面積の小さな半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor package preventing a defect from occurring easily in the formation process of a resin package.
樹脂パッケージの形成過程で欠陥が生じにくい半導体パッケージの提供を課題としている。 - 特許庁 - The defect is determined by taking account of whether the normalized intensity values for the pixels are higher than the pixels thresholds.
欠陥は、画素についての該正規化強度値が画素閾値よりも大きいか否かを考慮して判定する。 - 特許庁 - TEST METHOD FOR DETECTING DEFECT IN RECORDING DISK AND DATA STORAGE DEVICE FOR EXECUTING THE SAME
記録ディスクにおける欠陥を検出するためのテスト方法及びそれを実行するデータ記憶装置 - 特許庁 - A defect extraction part 5 extracts defects on the object to be inspected through the use of generated images.
欠陥抽出部5は、生成された画像を用いて被検査対象物上の欠陥を抽出する。 - 特許庁 - A defect in an MOS interface, the number of crystal grain boundaries and defects in the crystal grain boundaries in the critical path are reduced.
クリティカルパス中のMOS界面欠陥・結晶粒界数・結晶粒界欠陥が低減されている。 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING SUBSTRATE WAFER FOR LOW-DEFECT SEMICONDUCTOR COMPONENT, COMPONENT OBTAINED BY THE SAME, AND ITS USE
低欠陥半導体部品用の基体ウェーハの製造方法、それにより得られる部品及びその使用 - 特許庁 - To provide an offset printing machine which can easily and accurately detect a defect in a roller nip width.
ローラニップ幅不良箇所を正確かつ容易に検出することができるオフセット印刷機を提供する。 - 特許庁 - To provide a flaw correction method (means) for carrying out optimum defect correction processing within one image frame.
一つの画像フレーム内で、最適な欠陥補正処理を施す様な傷補正方法（手段）を提供する。 - 特許庁 - METHOD OF PATTERNING SUBSTRATE BY FEEDING MASK DEFECT DATA FORWARD FOR SUBSEQUENT CORRECTION
後の修正のためにマスク欠陥データをフィードフォワードすることによって基板にパターンを形成する方法 - 特許庁 - To provide a system which detects a variety of defect patterns on the disk surface of a hard disk drive.
ハードディスクドライブのディスク表面上のいろいろな欠陥類型を検出するシステムを提供する。 - 特許庁 - To provide a filling material for a defect part of a bone, rapidly substituted for a bone tissue inside human body tissues.
人体組織内で速やかに骨組織に置換される骨の欠損部の充填材を実現する。 - 特許庁 - To overcome the defect of a conventional magnetic film and to obtain a super high density unit recording cell using a magnetic film.
従来の磁気フィルムの欠点を克服し、磁気フィルムを使用して超高密度ユニットレコーディングセルを得る。 - 特許庁 - Only a coincidence signal corresponding to an effective pixel is outputted to the defect correcting calculation section to perform a correcting calculation.
有効画素に対応する一致信号のみ欠陥補正演算部に出力し補正演算を行う。 - 特許庁 - Disclosed is a glass bottle checking machine for checking the defect of the glass bottle 10 with the spots.
斑点が付いたガラスボトル１０の欠陥を点検するためのガラス容器の点検機械が開示されている。 - 特許庁 - An image composed of pixels whose brightness values exceed the first threshold value Th1 is identified as defect candidate images 61, 62, 63.
輝度値が第１閾値Ｔｈ１を超える画像を欠陥候補画像６１，６２，６３として特定する。 - 特許庁 - To realize image forming corresponding to the stress state of developer and to restrain occurrence of the defect of image quality.
現像剤のストレス状態に応じた画像形成を可能とし、画質ディフェクトの発生を抑制する。 - 特許庁 - These image data sets RD, TD are input to an image processing unit IPU, and a defect detection is carried out.
このイメージデータＲＤ、ＴＤが、イメージ処理ユニットＩＰＵに入力され、欠陥検出が行われる。 - 特許庁 - Accordingly, any defect or scratch which causes the deterioration of a manufacturing yield of a semiconductor device is not be generated.
よって、半導体装置の製造歩留りの低下を引き起こす、欠陥若しくはスクラッチが発生しない。 - 特許庁 - With this, the defect on the surface of the work can be stably and effectively corrected.
本発明によれば、ワーク表面上の欠損を、安定してかつ効率的に修正することができる。 - 特許庁 - Then, a surface detect inspecting device inspects a defect on a surface of a wafer after wafer processing.
その後ウェハ処理が終了したウェハの表面の欠陥を表面欠陥検査装置により検査する。 - 特許庁 - To improve accuracy in detection for an image defect that is generated in an image formed by an image forming apparatus.
画像形成装置にて形成された画像に発生した画像欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁 - To provide a method for producing a semipolar group III nitride substrate having a low defect density and high quality.
欠陥密度が低く高品質な半極性面III族窒化物基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To prevent the defect occurrence of a glass optical element in a method and apparatus for manufacturing the glass optical element.
ガラス光学素子の製造方法及び製造装置において、ガラス光学素子の欠陥発生を防ぐ。 - 特許庁 - To reproduce the influence of soil particle fracture using a simple particle defect model in distinct element method.
個別要素法において、簡易な粒子欠損モデルにより、土粒子の破砕の影響を再現する。 - 特許庁 - To shorten an inspection time by improving an inspection throughput in a surface defect inspection of a semiconductor substrate.
半導体基板の表面の欠陥検査において検査スループット向上させ、検査時間を短縮する。 - 特許庁 - To reduce a defect that a fiber sheet is deformed, when the fiber sheet reaches a needling table.
繊維シートがニードリングテーブルに到達するときに、繊維シートが変形しているという欠点を軽減する。 - 特許庁 - To inexpensively provide a joined aluminum plate with a uniform thickness having superior smoothness of the surface and having no defect.
表面の平滑性に優れ、かつ、欠陥のない同厚のアルミニウム接合板を安価に提供する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a silicon epitaxial wafer presenting high productivity and reducing an epitaxial defect.
生産性に優れ、エピタキシャル欠陥を低減できるシリコンエピタキシャルウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To reduce a position detection error arising from stain on a scale or a defect in a grating by simple calculation.
簡単な計算で、スケールの汚れや格子の欠陥により発生する位置検出誤差を低減する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a GaN single crystal substrate with reduced crystal defect such as dislocation.
転位等の結晶欠陥が低減されたＧａＮ単結晶基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid droplet discharge apparatus which prevents occurrence of defect caused by using an UV ink.
ＵＶインクを用いる場合に起因する不具合の発生を防止した液滴吐出装置を提供する。 - 特許庁 - To prevent occurrence of an image defect caused by toner sticking to by preventing toner from sticking onto a developer carrier.
トナーの現像担持体への固着するのを防ぎ、トナー固着による異常画像が発生を防止する。 - 特許庁 - By using the image, any surface defect such as very small crack can be adequately detected.
この像を利用することで、微小な割れといった表面欠陥を適切に検出することができる。 - 特許庁 - To provide a Schottky diode capable of suppressing an effect of a crystal defect, and to provide a method of manufacturing the same.
結晶欠陥の影響が抑制されたショットキーダイオードおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - Thereafter, the step S4 to step S11 are performed based on the updated inspection recipe, so that a defect of the wafer is detected.
以後、更新された検査レシピに基づいて工程Ｓ４〜Ｓ１１が行われ、ウェハの欠陥が検される。 - 特許庁 - To provide a display device with which poor shading as a defect of an 1F reverse driving system is improved.
１Ｆ反転駆動方式の欠点であるシェーディング不良を改善する表示装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a discharge display device of high reliability capable of suppressing generation of outgas and an electrode defect.
電極欠陥やアウト・ガスの発生を抑制して信頼性の高い放電表示装置を提供する。 - 特許庁 - The electron microscope 5 for observing a defect detected by the optical defect inspection device or the optical appearance inspection device has a constitution wherein an optical microscope 14 for re-detecting the defect is loaded, and a distribution polarization element and a space filter are inserted onto a pupil surface when performing dark field observation by the optical microscope 14.
光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。 - 特許庁 - To eliminate the danger that a card fails because of a contact defect between the card and the brush of a card reader.
カードと読み取り器のブラシ間の接触不良によってカードが故障する危険性を除去する。 - 特許庁 - To provide a resist composition capable of manufacturing patterns having a wide focus margin and less defect generation.
フォーカスマージンが広く、さらに欠陥の発生数が少ないパターンを製造できるレジスト組成物の提供。 - 特許庁 - At this time, the surface defect on the cast bloom can be prevented by casting with a vertical type continuous caster.
その際、垂直型連続鋳造機により鋳造することで、鋳片表面の欠陥も防止できる。 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR IDENTIFYING DEFECT, FOREIGN MATTER AND DEBRIS WHEN MANUFACTURING COMPOSITE STRUCTURE
複合構造の製造の際に、欠陥ならびに異物および破片を識別するためのシステムおよび方法 - 特許庁 - COMPUTER-IMPLEMENTED METHOD FOR DETECTING AND (OR) SORTING DEFECT IN RETICLE DESIGN PATTERN
レティクルの設計パターンにおける欠陥を検出し、かつ（あるいは）ソートするためのコンピュータに実装された方法 - 特許庁
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