「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 107 108 109 110 111 112 113 114 115 .... 366 367 次へ＞- In the optical disk player which produces and outputs a servo control signal based on a servo error signal formed from an output of an optical pickup and a defect signal showing the defect on the optical disk, the defect position on the optical disk is detected and stored and after that, a target value based on a value of the servo error signal produced after the optical pickup passed through the defect position is stored.
光ピックアップの出力から生成されるサーボエラー信号と光ディスク上の欠陥を示す欠陥信号とに基づいてサーボ制御信号を生成し出力する光ディスク再生装置において、光ディスク上の欠陥位置を検出して、その欠陥位置を記憶し、その後光ピックアップが欠陥を通過した後に生成されるサーボエラー信号の値に基づいた目標値を記憶する。 - 特許庁 - In a step S14, the threshold for determining defect is raised by a value of distance corresponding to the travelling speed.
そして、ステップＳ１４では、走行速度に応じた距離の間だけ欠陥判定の閾値を高くする。 - 特許庁 - To reuse data recorded in an information recording medium by defect management.
情報記録媒体において、ディフェクト管理によって記録された記録データの再利用を可能ならしめる。 - 特許庁 - From the surface of this phosphor powder, a surface crystalline defect layer or a surface strain layer is removed.
表面から表面結晶欠陥層あるいは表面歪み層が除去されている蛍光体粉末。 - 特許庁 - To provide an MCZ method with which low-defect semiconductor wafers can be produced with an improved yield.
改善された歩留まりで低欠陥半導体ウェハを製造することができるＭＣＺ法を提供する。 - 特許庁 - To make a contribution to prevention of copying with a CD, etc., without insertion of physical information or deliberate defect.
物理的な変形や意図的な欠陥を挿入せずに、ＣＤ等でコピー防止に寄与できるようにする。 - 特許庁 - To reduce the foreign matter defect of a nonwoven fabric for electric insulation constituted of an organic fiber and a resin binder.
有機繊維と樹脂バインダで構成された電気絶縁用不織布の異物不良を低減する。 - 特許庁 - To detect exactly data holding defect of a memory cell accelerating noise caused in operation of SR (self-refresh).
ＳＲの動作で発生するノイズを加速しながら、メモリセルのデータ保持不良を確実に検出すること。 - 特許庁 - A control system 58 includes a control section 71 having a high-voltage power source defect processing means 100.
制御システム５８は、高圧電源異常時処理実行手段１００を有する制御部７１を備える。 - 特許庁 - In such a case, a pattern which also can be observed by the ion beam defect correcting device is selected as the pattern of alignment.
このとき、位置あわせのパターンはイオンビーム欠陥修正装置でも観察可能なものを選んでおく。 - 特許庁 - To reduce defect count errors by preventing defects from being overlooked, and the images of close defects from being overlapped.
欠陥の見逃しや、近接した欠陥の画像の重なりを防止して、欠陥計数誤差が低減する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DEFECT SEARCH FOR MOUNTED SUBSTRATE, AND RECORDING MEDIUM RECORDED WITH CONTROL PROGRAM THEREFOR
実装基板の不良探索方法、不良探索装置およびその制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - LASER BEAM MACHINING APPARATUS, LASER BEAM OPTICAL SYSTEM,LASER BEAM MACHING METHOD, AND METHOD FOR REPAIRING DEFECT OF ACTIVE MATRIX SUBSTRATE
レーザ加工装置、レーザ光学系、レーザ加工方法及びアクティブマトリクス基板の欠陥修正方法 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING DEFECTS OF ACTIVE MATRIX SUBSTRATE OR ACTIVE MATRIX LIQUID CRYSTAL PANEL, AND DEFECT DETECTION DEVICE
アクティブマトリクス基板又はアクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁 - This defect inspection system for inspecting defects of an inspection object comprises a data generation means for generating inspection information for specifying an inspection and inspection result information containing defect information showing the details of the defect detected by inspection in a predetermined united format, and registering the generated inspection result information in a database.
検査対象の欠陥を検査する欠陥検査システムにおいて、検査を特定する検査情報と、検査で検出した欠陥の詳細を示す欠陥情報を含む検査結果情報を所定の統一フォーマットで生成し、生成した検査結果情報をデータベースに登録するデータ生成手段とを有する。 - 特許庁 - LUMINANCE SPOT DEFECT REPAIRING METHOD OF POLARIZING PLATE FOR LIQUID CRYSTAL PANEL, AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY USING SAME
液晶パネル用偏光板の輝点欠陥修復方法及びこれを用いた液晶表示装置 - 特許庁 - The crystal defect density on a surface of substrate 2S is higher in the vicinity of the silicide film than in the periphery of the silicide film.
当該シリサイド膜付近の基板表面２Ｓ内の結晶欠陥密度は周辺よりも高い。 - 特許庁 - PRINTED CIRCUIT BOARD DEFECTIVE SOLDERING DETECTOR AND PRINTED CIRCUIT BOARD MOUNTING ELECTRONIC PART DEFECT DETECTOR
プリント基板の半田付け不良検出装置およびプリント基板搭載の電子部品不良検出装置 - 特許庁 - Any defect of the MR reading element can be discovered surely in early stage of the manufacturing step.
製造工程の早い段階でＭＲ読み取り素子の不具合は確実に発見されることができる。 - 特許庁 - To provide a method for correcting a defect of a photomask capable of acquiring an excellent cross-sectional shape at the edge part of a pattern of an absorption layer or a light blocking layer after dark defect correction, a method for manufacturing a photomask using it, and a photomask defect correction device for performing the method.
本発明は、黒欠陥修正後、吸収層または遮光層のパターンの端部にて良好な断面形状が得られるフォトマスクの欠陥修正方法、およびそれを用いたフォトマスクの製造方法、それを実施するためのフォトマスクの欠陥修正装置を提供することを主目的とする。 - 特許庁 - DEFECT MANAGEMENT METHOD FOR INFORMATION RECORDING MEDIUM, INFORMATION RECORDING MEDIUM DRIVE, AND INFORMATION RECORDING MEDIUM
情報記録媒体の欠陥管理方法、情報記録媒体ドライブ装置及びその情報記録媒体 - 特許庁 - To improve display defects due to a cell gap defect of a liquid crystal display.
本発明は、液晶表示装置のセルギャップ不良による表示不良を改善することを目的とする。 - 特許庁 - To precisely determine the quality of an inspection target by accurately detecting the presence of a defect.
欠陥の有無を正確に検出し、検査対象物が良品であるか否かを精度よく判定する。 - 特許庁 - Thus, the overflow of the correction ink 7 applied to the white defect 6a to the circumference can be suppressed.
したがって、白欠陥６ａに塗布した修正インク７の周囲へのはみ出しを抑えることができる。 - 特許庁 - To enable to realize a liquid drop discharge by which unevenness of film thickness (coating unevenness) and line defect or the like can be reduced.
膜厚ムラ（塗布ムラ）やライン欠陥などを低減することができる液滴吐出を可能にする。 - 特許庁 - To prevent a defect such as the deformation and breaking of a connection wire, or short circuit between wires.
結線用のワイヤーの変形や断線、あるいは各ワイヤー同士の短絡等の不良を良好に防止する。 - 特許庁 - An image high in resolution and reduced in a noise on the defect inspection is thereby detected.
これにより、解像度が高く、欠陥検査上のノイズも低減した画像を検出することを可能にした。 - 特許庁 - To suppress a wrinkle-like facial defect generated on a polymer film immediately after the polymer film is released from a substrate.
支持体から剥離した直後のポリマーフィルムに発生するシワ状の面状故障を抑制する。 - 特許庁 - To provide an appearance inspecting apparatus having the function of detecting an uneven defect and the function of detecting a pattern defect (minute defect) in a color filter or the like, from image data acquired by photographing a substrate such as the color filter or the like having a pattern shape by using an optics and a photographing system with high resolutions.
カラーフィルタ等のパターン形状を有する基板を解像度の高い光学系と撮像系を用いて撮像した画像データより、カラーフィルタ等のパターン欠陥（微細欠陥）を検出する機能とムラ欠陥を検出する機能とを兼ね備えた外観検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - Using a defect detection sensitivity correction standard substrate including a pattern 8 and pseudo-defective sections 7 that are cone defects differing in size and are randomly formed on a silicon substrate 1, defect detection sensitivity is used in product management as an indicator for judging sensitivity adjustment after a lamp 21a in a lighting section 21 of a defect detecting device is replaced.
パターン８と、サイズの異なるコーン欠陥であり、シリコン基板１上にランダムに形成された擬似欠陥部７とを備えた欠陥検出感度校正標準基板を用いて、欠陥検査装置の照明部２１におけるランプ２１ａの交換後の感度調整を判断する指標として製造管理に利用する。 - 特許庁 - To prevent lane closing and congestion caused by a communication defect on a lane dedicated to entrance.
この発明は、入口専用車線において、通信不良による車線閉鎖及び混雑が防げる。 - 特許庁 - Consequently, while a transfer defect due to a contact defect between an image carrier such as the photosensitive drum 1 and the paper conveyance belt 10 (or transfer paper P) as a recording body holding belt is suppressed, a transfer defect and lift of the front end of transfer paper P due to extremely tight contact between the both can be suppressed.
これにより、感光体ドラム１等の像担持体と、記録体保持ベルトたる紙搬送ベルト１０（又は転写紙Ｐ）の密着不良による転写不良を抑えつつ、両者を極度に強く密着させることに起因する転写不良や転写紙Ｐ先端の浮きを抑えることができる。 - 特許庁 - To prevent the occurrence of a display defect in a liquid crystal device at both of high temp. and low temp.
高温時及び低温時の両方において液晶装置に表示不良が発生するのを防止する。 - 特許庁 - To provide a defect correcting device which can remove a defective projection without leaving grinding streaks.
研磨筋を残すことなく突起欠陥を除去することが可能な欠陥修正装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an outside development information practical use method of a steel strip and a collection/display program of defect data on the steel strip, when an operator inputs an outside inspection result of a defect in a one's own process onto an outside development displayed on a screen of a defect recording device and records it when processing the steel strip in a plurality of processes.
鋼帯を複数の工程で処理するに際し、オペレータが自工程での欠陥の外観検査結果を、欠陥記録装置の画面上に表示された外観展開図上に入力して記録を行う際の鋼帯の外観展開図情報活用方法および鋼帯の欠陥データの収集・表示プログラムに関する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection method of an optical film constituted such that adhesion of an adhesive on a mold releasing film or roughening of the surface of a mold releasing agent is inhibited during defect inspection of a part of the mold releasing film by peeling while remaining a part of the mold releasing film in the defect inspection of the optical film.
光学フィルムの欠点検査において、離型フィルムの一部を残して剥離して欠点検査を行なう場合に、離型フィルムの剥離に際し、離型フィルムに粘着剤が付着したり、粘着剤表面が荒れることがないように構成した光学フィルムの欠点検査方法を提供することにある。 - 特許庁 - When a CD-MRW drive 2 receives a request for the defect management information by receiving a get defect table information command from a host computer 1, the drive reads the defect management information of a CD-MRW disk loaded therein out of the CD-MRW disk (or a RAM) and transfers the information to the host computer 1.
ＣＤ−ＭＲＷドライブ２は、ホストコンピュータ１からゲットディフェクトテーブルインフォメーションコマンドを受信して欠陥管理情報の要求を受けると、装着されているＣＤ−ＭＲＷディスクの欠陥管理情報をＣＤ−ＭＲＷディスクから（あるいはＲＡＭから）読み出してホストコンピュータ１へ転送する。 - 特許庁 - To provide a change-over damper for a conveyer eliminating the operation defect of the change-over damper and reducing equipment cost.
切換ダンパーの作動不良を無くし、比較的設備費用の安価なコンベアの切換ダンパーを提供する。 - 特許庁 - To provide a recording medium which has margin space for defect management and a margin space allocating method.
欠陥管理のための余裕空間を有する記録媒体と余裕空間割当方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a metallic mold which can form a product having no defect, and a forming method using the metallic mold.
欠陥の無い製品を成形可能な金型及びこの金型を用いた成形方法を提供する。 - 特許庁 - To enable failure substrates to be used for learning, and to significantly improve the operability of a defect detector.
不良基板も学習に使用できる様になり、欠陥検出装置の操作性が格段に向上する。 - 特許庁 - The biocompatible tissue implants are provided for repairing a tissue injury or defect.
組織傷害或いは組織欠損部を修復するための生体適合性組織インプラントを提供する。 - 特許庁 - A defect classification apparatus includes a feature amount extraction unit, a defect classification unit and a classification condition setting unit, the classification condition setting unit has a function for correspondingly teaching a feature amount of a defect and a class of accuracy and a function for designating the priority order of classification, and conditional setting is performed so as to improve an accuracy rate for the classification of high priority.
特徴量抽出部、欠陥分類部、分類条件設定部を含み、分類条件設定部は、欠陥の特徴量と正解のクラスを対応づけて教示する機能と分類の優先順位を指定する機能を有し、優先順位の高い分類の正解率が高くなるよう条件設定を行う。 - 特許庁 - To solve the problem of a line head that a defect inherent to a nozzle is perceived easily as uneven density or streak in the print results.
ラインヘッドの場合、ノズル固有の不良が濃度ムラやスジとして印刷結果で知覚され易い。 - 特許庁 - To provide an electrical connector and its manufacturing method capable of eliminating a defect in a conventional technology.
従来技術における欠点を解消する電気コネクタ及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide: an exposure method that suppresses an exposure defect; a method of manufacturing a device; and an exposure device.
露光不良を抑制できる露光方法、デバイスの製造方法及び露光装置を提供すること。 - 特許庁 - To produce a sulfonated polyarylene sulfide compound which has no structural defect and has a high degree of sulfonation.
構造欠陥がなくスルホン酸基置換度の高いスルホン酸化ポリアリーレンスルフィド化合物を製造する。 - 特許庁 - To prevent generation of any casting defect when casting a lower casing of a crank case to support a crankshaft.
クランク軸を支承するクランクケースの下部ケースの鋳造時に、鋳物欠陥が生じないようにする。 - 特許庁 - To surely correct a defect after completion of an active matrix substrate and before bonding of this substrate to a counter substrate.
アクティブマトリクス基板の完成後、対向基板との貼り合わせ前に欠陥修正を確実に行う。 - 特許庁 - To omit a complicated wiring structure and to easily perform an exchange for each pixel when a defect occurs.
複雑な配線構造を省略し、不良が発生した場合に画素毎に容易に交換可能とする。 - 特許庁
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