「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • To improve the performance of assembling a handle body on a frame and prevent the defect of assembly.
    ハンドル本体のフレームに対する組付け性を向上させると共に組み付け不良を防止する。 - 特許庁
  • To form a homogeneous silicide layer that less produces a defect such as a junction leak.
    より均一で接合リーク等の欠陥を生じにくいシリサイド層を半導体装置に形成する。 - 特許庁
  • This is considered a special clause which discharges the seller from any liability for defect (Article 572 of the Civil Code).
    これは売主の 担保責任を免除する特約と考えられる（民法第５７２条）。 - 経済産業省
  • With regard to the use of RC4 in SSL3.0/TLS1.0, no security defect has been reported so far.
    SSL3.0/TLS1.0での利用に関しては、現在のところその安全性に関して欠陥は報告されていない。 - 経済産業省
  • Thus, the noble metal material and the crack defect are isolated from an external environment.
    このようにして該貴金属材料体及び該亀裂状欠陥を外部環境から隔離する。 - 特許庁
  • It's a genetic defect that creates fluid buildup in the lungs... which leads to oxygen deprivation and multisystem organ failure.
    肺における流体増強を作る それは酸素欠乏 複数システム臓器不全に繋がる - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • To achieve a defect inspection apparatus capable of accurately inspecting micro foreign matter or defect at a high speed for an inspection target substrate in which a repetitive pattern and a non-repetitive pattern are mixed.
    繰り返しパターンと非繰り返しパターンとが混在する被検査対象基板に対して、微小な異物または欠陥を高速で、しかも高精度に検査できる欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁
  • Thus, the surface of a portion which is slightly eccentric from the center of the nut 5, where the defect tends to presented as a shade on the nut can be fetched as the image information, and sure defect detection can be attained.
    そのため、ナット５に傷が陰影として出やすい部分であるナット５の中心よりわずかに偏心した位置の表面を画像情報として取り込むことができ、確実な傷検出が可能となる。 - 特許庁
  • To provide a thermocompression adhesive for connecting a flip chip, having a high connection reliability such as moisture resistance and heat resistance, and inhibited with the occurrence of void development defect or connection defect caused by resin curing.
    耐湿性および耐熱性の接続信頼性が高く、ボイド発生不良や樹脂硬化による接続不良の発生が抑制されたフリップチップ接続用熱圧接着剤を提供すること。 - 特許庁
  • To provide an imaging apparatus for detecting a very small defect of a solid-state image sensor conspicuous as an image is brighter and correcting a pixel signal of the detected very small defect, and to provide a correction method of the pixel signal.
    画像が明るいほど目立つ固体撮像素子の微小欠陥を検出し、検出された微小欠陥の画素信号を補正する撮像装置および画素信号の補正方法を提供する。 - 特許庁
  • As a result, even if an ejection defect occurs in at least one of a plurality of nozzles in the X-head 41X and/or the Y-head 41Y, the defect region becomes anisotropic.
    したがって、仮にＸヘッド４１Ｘ及び／またはＹヘッド４１Ｙにおける複数のノズルうちのうち少なくとも１つに吐出欠陥が発生していても、その欠陥領域は異方的となる。 - 特許庁
  • The 1st defect judging means in a signal processing circuit board 21 judges the presence of defect based on electric signal information transmitted from lightreceiving elements 19, 20 consisting of a one-dimensional sensor.
    信号処理回路基板２１内の第１の欠点有無判定手段は、一次元センサである受光素子１９，２０から得られる電気信号情報に基づいて欠点有無の判定を行なう。 - 特許庁
  • Logical sum of the defect map and mask data is then operated (ST15) and compared and then a decision is made whether a thin film having defects along the defect map can be utilized or not for a pattern along the mask data (ST16).
    次に、欠陥マップとマスクデータとろ論理和を演算処理して（ＳＴ１５）比較し、欠陥マップに沿った欠陥を有する薄膜がマスクデータに沿ったパターンに対して利用可能か判定する（ＳＴ１６）。 - 特許庁
  • A part 9 for inspecting recording defect inspects the recording defect in recording processing to the back surface of the recording medium on the basis of the reference image data, the first inspection image data and the second inspection image data.
    記録不良検査部９は、基準画像データ、第一の検査画像データ、及び第二の検査画像データに基づいて、当該記録媒体の裏面に対する記録処理での記録不良を検査する。 - 特許庁
  • To reduce line defect problems of postprocessing, a reliability test, and a user by preventing a defect in connection from being overlooked in sensitive inspection and an inspector from incorrectly deciding an unstable connection.
    感応検査での接続不良の見逃しや、接続不安定なものの検査作業者による判定違いの発生を防ぎ、後工程や信頼性試験及びユーザーにおける線欠陥問題を低減する。 - 特許庁
  • The defect level is determined by dividing the picture elements included in the inspection area into N×N of segments (N is the number of picture elements), and by using an average concentration of picture element concentrations included in the each segment as the defect level of the segment.
    欠陥レベルは、検査領域に含まれる画素をＮ×Ｎ（Ｎは画素数）のセグメントで分割し、各セグメントに含まれる画素濃度の平均濃度を当該セグメントの欠陥レベルとして決定される。 - 特許庁
  • To provide a defect detection method and a defect detecting device, capable of accurately detecting display defects, such as voltage cause defects which can be generated in image, when a voltage is applied to an image display device.
    画像表示デバイスに電圧を印加した際に画像内に生成し得る電圧要因欠陥等の表示欠陥を精度よく検出できる欠陥検出方法、および欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁
  • In consequence of this determination, when it is normal, it is determined whether this product is a good product for changing functions after performing defect relieving for changing DRAM functions, assembly, a defect acceleration test, a selection test (step S10-S14).
    この判定の結果、正常の場合は、ＤＲＡＭ機能変更欠陥救済、組立、不良加速試験、選別試験を行った後に、機能変更良品か否かを判定する（ステップＳ１０〜Ｓ１４）。 - 特許庁
  • The manufacturing method for the semiconductor device has a process, in which a crystal defect 1 is formed in a region in which the semiconductor layer 15 is etched, and a process in which the semiconductor layer 15, to which the crystal defect 1 is formed, is wet-etched.
    半導体層１５をエッチングする領域に結晶欠陥部１を形成する工程と、結晶欠陥部１が形成された半導体層１５をウェットエッチングする工程を有する。 - 特許庁
  • To provide a manufacturing method of a low-cost multilayer printed board of high quality in which a power supply defect due to insufficient charging of conductive paste and a short-circuit defect due to a spill of conductive paste can be eliminated.
    導電ペーストの充填不足による通電不良や導電ペーストこぼれによる短絡不良を解消でき、低コストかつ高品質の多層プリント基板の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • A low resolution optical system is formed by arranging space low-pass filters (10a and 10b) which enlarge or average the image of a defect in an optical path, and the image of the defect is enlarged on a camera device.
    欠陥の画像を拡大又は平均化する空間ローパスフィルタ（１０ａ，１０ｂ）を光路中に配置して低解像度光学系を形成し、欠陥の画像を撮像装置上において拡大する。 - 特許庁
  • To provide a multicolor image forming device and a multicolor image forming method capable of making an unavoidable defect visually inconspicuous by preventing the unavoidable defect on a photoreceptor from becoming a large image more than necessary.
    感光体上の不可避な欠陥が必要以上に大きな画像とならないようにして、視覚上目立たないようにすることができる多色画像形成装置及び多色画像形成方法の提供。 - 特許庁
  • To provide a defect erasing apparatus for a semiconductor wafer capable of erasing a crystal defect existing in a surface layer without bringing about a new evil for bringing about a slip dislocation or the like.
    スリップ転位等が生ずる等の新たな弊害を生じさせることなく、その表層部分に存在する結晶欠陥を消去することができる半導体ウエハの欠陥消去装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a defect detector for easily removing pseudo defect images generated by vibration, or the like and for preventing the erroneous detection of pseudo defects.
    本発明は、振動等により生じた擬似欠陥画像を容易に除去することが出来、擬似欠陥の誤検出を防止出来る欠陥検出装置を提供することを可能にすることを目的としている。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor manufacturing device capable of preventing an IC chip with an abnormal defect from mis-detection in a probe inspection process, a defect review device and a manufacturing method for a semiconductor device.
    異常欠陥のあるＩＣチップがプローブ検査工程で検出される不良チップから漏れることを防止できる半導体製造装置、欠陥レビュー装置及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • A defect period detection circuit 5 detects a defect period where a beam passes through the defective part of an optical disk 8 based on the prior subbeam return light signal from the output terminal 2.
    ディフェクト期間検出回路５は、前記出力端子２からの先行サブビーム戻り光信号に基づいて、光ディスク８のディフェクト部分をビームが通過中であるディフェクト期間を検出する。 - 特許庁
  • By performing the friction stirring by changing the position of occurrence of the defect 91 to the environment of high stirring pressure, the sound welded part 90 with the defect 91 diminished can be consistently obtained (4).
    欠陥９１の発生位置を攪拌圧力の高い環境に変化させて摩擦攪拌を実施することで、欠陥９１が消滅した健全な接合部９０を安定して得ることができる（４）。 - 特許庁
  • When short circuit defect exists between the word line and the other wiring, the voltage of the word line is liable to be affected by the voltage of the other wiring, and short circuit defect is detected by the voltage change of the word line.
    ワード線と他の配線との間にショート不良が存在するときに、ワード線の電圧は、他の配線の電圧の影響を受けやすくなり、ショート不良は、ワード線の電圧変化により検出される。 - 特許庁
  • To prevent a projection defect due to residual magnetic polisher slurry or a recess defect due to magnetic polishing slurry carried in a succeeding step, even when a substrate is subjected to local polishing using magnetic polishing slurry.
    磁性研磨スラリーを用いた局所研磨を基板に施しても、磁性研磨スラリーの残留による凸欠陥や、次工程への磁性研磨スラリーの持込みによる凹欠陥の発生を防止する。 - 特許庁
  • To provide a manufacturing device and a manufacturing method for a semiconductor single crystal by which a silicon single crystal having a desired defect region or a desired defect-free region can be easily manufactured in high yield.
    所望の欠陥領域あるいは所望の無欠陥領域を有するシリコン単結晶を容易に歩留まりよく製造できる半導体単結晶の製造装置及び製造方法を実現すること。 - 特許庁
  • A defect inspection apparatus inspects the defect on a module board by comparing the image pattern picked up by an image pickup apparatus 20 with a reference pattern image of a reference module board previously stored.
    画像読取装置２０で読取った画像パターンと予め記憶されている基準モジュール基板の基準パターン画像と比較対照することにより、モジュール基板の欠陥を検査する欠陥検査装置である。 - 特許庁
  • To provide a defect detector which attains improvement in defect detection output and reliability by highly accurately detecting various defects to occur on the surface of an inspection object.
    検査対象物の表面上に発生する様々な欠陥を高精度に検出可能とすることで、欠陥検検出力及び信頼性の向上を図った欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁
  • To detect a defect having the possibility of growth in a storing condition after production to remove in advance an optical information recording medium having the defect, in a production stage of the optical information recording medium.
    光情報記録媒体の製造段階において、その後の保存の状況によって成長しそうな欠陥を検出して、このような欠陥を有する光情報記録媒体を事前に排除する。 - 特許庁
  • In a static analysis device 10, a defect information generation part 12 extracts a place which is determined that it cannot be confirmed whether or not it is a defect because it includes an unconfirmed element, from a source program.
    静的解析装置１０において，欠陥情報生成部１２は，ソースプログラムから，未確定要素を含むために欠陥であるか否かを確定できないと判定された箇所を抽出する。 - 特許庁
  • To obtain an optical disk wherein a reference for determining a defective sector is set to one corresponding to the usage in optical disks performing a defect management, and also to obtain the defect management method using the optical disk.
    欠陥管理を行う光ディスクにおいて、欠陥セクタの判定基準をその用途に対応したものに設定することができる光ディスク及び、かかる光ディスクを用いた欠陥管理方法を得る。 - 特許庁
  • To provide an inspection device that can detect reliably a molding defect of a molded article when opening a molding die in an injection molder, and thereby capable of improving reliability of a defect inspection.
    射出成形機の成形金型の型開時に成形品の成形不良を確実に検出することができ、不良検査の信頼性の向上を図ることが可能な検査装置を提供する。 - 特許庁
  • Further, the recording medium 10 is provided with a status information recording area 15, status information indicating the temporary defect management area in which finally recorded defect management information exists is recorded in the area 15.
    さらに、記録媒体１０上にステータス情報記録エリア１５を設け、そこに、最後に記録したディフェクト管理情報が存在する一時的ディフェクト管理エリアを示すステータス情報を記録する。 - 特許庁
  • To provide a defect distinguishing apparatus for automatically distinguishing the type of defects on a sheet and quickly taking an emergency measure if the defect on the sheet is critical.
    シート上欠点の欠点種類を自動的に判別することができ、シート上の欠点が重大なものである場合に緊急措置を迅速に行うことができる欠点判別装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a defect detection method of an insulator cap part in which automation of detection is possible and precise inspection of the defect of the cap part can be done, and appropriate quality control can be performed.
    検出の自動化が可能であり、精度のよい笠部欠陥検査を行うことができ、しかも品質管理の適正化を果たすことのできるガイシ笠部の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a defect detection method and a defect detection device capable of precisely detecting defects using a simple device even for a work-piece in a complicated shape.
    簡易な装置を用いて、複雑な形状のワークに対しても、精度良く欠陥を検出することができる欠陥検出方法および欠陥検出装置を提供することを目的としている。 - 特許庁
  • In a hard-disc drive, a defect region on the hard disc is classified as corresponding to either thermal asperity (TA) or media defect (MD) by generating two statistical measures.
    ハードディスクドライブにおいて、２つの統計的基準を生成することによって、ハードディスク上の欠陥領域がサーマル・アスペリティ（ＴＡ）または媒体欠陥（ＭＤ）のどちらに対応するかを分類する。 - 特許庁
  • To provide a method for evaluating the crystal defect of a semiconductor single-crystal substrate capable of performing detecting the crystal defect of the semiconductor single-crystal substrate with high sensitivity and evaluating it with high accuracy.
    半導体単結晶基板の結晶欠陥を、高感度に検出し精度良く評価することのできる半導体単結晶基板の結晶欠陥評価方法を提供することを目的としている。 - 特許庁
  • Any of punctate superficial keratitis, corneal epithelial defect, conjunctival epithelial defect, corneal erosion, keratoconjunctivitis or corneal ulcer is preferable as the keratoconjunctive diseases caused by the dry eye.
    該ドライアイに起因する角結膜疾患としては、点状表層角膜症、角膜上皮欠損、結膜上皮欠損、角膜びらん、角結膜炎、又は角膜潰瘍のいずれかであることが好ましい。 - 特許庁
  • Sectional defect parts 5a are provided in the steel bars 5, and in the reinforced concrete, the hoops 13 may be arranged at the positions corresponding to the sectional defect parts 5a more densely than the other parts.
    棒鋼５に断面欠損部５ａを設け、鉄筋コンクリート９には、帯筋１３が、断面欠損部５ａに対応する位置において、それ以外の部分よりも密に配置されるようにしてもよい。 - 特許庁
  • To provide an inspection device that accurately discriminates a bulkhead and an organic light emitting layer from an imaged picture and detects only a defect mode causing a significant defect to a display unit, and an inspection method.
    撮像画像から精度よく隔壁と有機発光層を判別し、表示装置に重大な欠陥を与える欠陥モードのみを検出する検査装置および検査方法を提供すること。 - 特許庁
  • Based upon a result thereof, it can easily be determined whether a defect which cannot be removed through the cleaning processing is the defect in the substrate or caused owing to a problem of the cleaning processing process.
    その結果に基づいて洗浄加工によって除去できなかった欠陥が基板内部の欠陥であるのか、洗浄加工プロセスの問題によるものかを容易に判定することができるようになる。 - 特許庁
  • To provide a rubbing method and device for solving both of a spot defect due to defective alignment and a spot defect due to dust, and to provide a method of manufacturing an optical compensation film.
    配向不良に起因する輝点欠陥と塵埃に起因する輝点欠陥の両方を同時に解決することのできるラビング方法及び装置並びに光学補償フィルムの製造方法を提供する。 - 特許庁
  • The second inspection device performs inspection on the substrate to be inspected having no defect among the plurality of substrates 14(1)-14(n) to be inspected on reference to the existence information of the defect stored in the storage device.
    この第２の検査装置は、記憶装置に記憶された欠陥の有無情報を参照して、複数の被検査基板１４（１）〜１４（ｎ）のうち、欠陥の無い被検査基板で、検査を実施するものである。 - 特許庁
  • To provide a method for controlling fluidity of molten steel in a mold for producing a steel cast slab having a little bubble-like defect and inclusion defect under the surface of the cast slab, and a device for forming electromagnetic field for this purpose.
    鋳片の皮下に気泡状欠陥や介在物欠陥が少ない鋼鋳片を製造するための溶鋼の鋳型内の流動制御方法並びにそのための電磁場形成装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a defect correcting method of a phase shift photomask that can raise and stabilize the yield of mask production by making efficient defect inspection and correction stages of the phase shift mask.
    位相シフトマスクにおける欠陥検査及び修正工程の効率化を図り、マスク生産における歩留の向上及び安定を図ることができる位相シフトマスクの欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁
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