「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 100 101 102 103 104 105 106 107 108 .... 366 367 次へ＞- To provide technology for accurately detecting the defect of an optical disk in an optical disk device.
光ディスク装置において、正確に光ディスクの欠陥検出を行える技術を提供する。 - 特許庁 - To visualize and display a fluctuation state and defect distribution state of the measured value of a panel inspection apparatus.
パネル検査装置の測定値の変動状態や欠陥分布を可視化して表示すること。 - 特許庁 - To enhance precision in detecting a pixel with a blinking defect, and also to shorten time in detecting.
点滅欠陥を有する画素の検出精度を向上し、検出するための時間も短縮する。 - 特許庁 - To provide the method capable of producing a cast aluminum wheel at a low cost without any defect.
軽量化された鋳造アルミホイールを欠陥なく低価格で製造できる製造方法の提供。 - 特許庁 - To provide an upsetting press thickening method of a press formed part advantageous for reducing a defect.
欠陥の低減に有利なプレス成形品の据え込みプレス増肉方法を提供すること。 - 特許庁 - A computer 18 determines the existence of the defect of the sample on the basis of acquired magnetic field distribution data.
コンピュータ１８は、取得された磁場分布データに基づいて、試料の欠陥の有無を判定する。 - 特許庁 - Namely, frequency distribution being a relation between a defect parameter value and the number of the defects is generated and displayed.
つまり、欠陥パラメータ値と欠陥数の関係である度数分布を作成し、表示する。 - 特許庁 - A defect 300 is provided in either of the first 100 or the second gratings 200.
第１および第２の回折格子１００，２００のいずれか一方に、欠陥部３００を有する。 - 特許庁 - To eliminate a defect when fraudulent information is included in a job ticket.
ジョブチケットに不正な設定情報が含まれるときの不具合を解消することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a technology by which failure processes caused by a defect are detected regardless of chip sizes.
チップサイズに依らず、欠陥起因の不良工程を検出することのできる技術を提供する。 - 特許庁 - DEFECT CORRECTION METHOD OF IMAGE DISPLAY DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF IMAGE DISPLAY DEVICE, AND IMAGE DISPLAY DEVICE
画像表示素子の欠陥補正方法、画像表示素子の製造方法及び画像表示素子 - 特許庁 - To realize a defect-position-input support apparatus whose productivity and safety can be enhanced.
生産性および安全性の向上を図れる、欠陥位置入力支援装置を実現すること。 - 特許庁 - To provide an inspection tool capable of determining the size of a defect of a painted surface speedily and correctly.
迅速に且つ正確に塗装面の欠陥の大きさを判定できる検査冶具を提供する。 - 特許庁 - To provide a solid-state imaging device that allows suppression of abnormal growth of a defect in a pixel transistor.
画素トランジスタにおける欠陥の異常成長を抑制する固体撮像素子を提供する。 - 特許庁 - When the existent data and the update data do not match, a write defect occurs, and the update data is written to a new rewrite card.
不一致であれば書込み不良であり、新たなリライトカードに更新データを書込む。 - 特許庁 - To provide powder capable of suppressing scattering at the molding time, or generation of a molding defect.
成形時の飛散や成形欠陥の発生を抑制することができる粉体を提供すること。 - 特許庁 - To prevent an image defect in multi-color in an electrophotographic image forming apparatus.
電子写真方式の画像形成装置において、多重色における画像欠陥を防止する。 - 特許庁 - To prevent a shortcircuit defect when a track part and an element height part are formed and to enhance yield.
トラック部分や素子高さ部分形成時での短絡不良を防止し、歩留まりを向上する。 - 特許庁 - To provide a vacuum package for a granular product, capable eliminating a defect of a hole.
粒状製品用の真空包装で、穴が開く欠点を解消する包装を提供する。 - 特許庁 - On the basis of the detected temperature, the temperature influence correction unit 216 changes correction of the transfer defect.
温度影響補正部216は、検知された温度に基づいて、転送不良の補正を変更する。 - 特許庁 - This device is a device for inspecting the presence of a defect in the metal post 18 having the unevenness in one dimensional direction.
一次元方向に起伏のある金属ポスト（１８）の欠陥の有無を検査するための装置。 - 特許庁 - METHOD FOR MANAGING DEFECT IN INFORMATION RECORDING MEDIUM, RECORDING/REPRODUCING DEVICE, AND INFORMATION RECORDING MEDIUM
情報記録媒体における欠陥を管理する方法、記録／再生装置、及び情報記録媒体 - 特許庁 - A defect inspection device 1 is equipped with a camera 3 for obtaining a surface image of the workpiece W.
欠陥検査装置１は、ワークＷの表面画像を取得するカメラ３を備えている。 - 特許庁 - Then the wafer is transferred into a microscopic inspection device, in which the defect is examined more closely and imaged.
そしてウエハを微視的検査装置に移送し、欠陥をより詳細に検査し、撮像する。 - 特許庁 - Therefore, the accuracy of defect detection at the end of the inspection domain can be improved.
これにより検査領域の端部における欠陥検出の精度を向上させることができる。 - 特許庁 - To prevent deviation of specification relating to optical characteristics of a mask blank and to prevent a pattern defect in a transfer material.
マスクブランクの光学特性に係る仕様の逸脱や、被転写体のパターン欠陥を防止する。 - 特許庁 - To detect highly accurately a defect of an inspection object, and to shorten an inspection time.
点検対象の不具合を高い精度で検出するとともに、点検時間の短縮を図る。 - 特許庁 - To inspect the defect of a magnetic disk used for a magnetic disk device having a recording density exceeding 20 Gb/in2.
記録密度が２０Ｇｂ／ｉｎ^２を超える磁気ディスク装置に使用する磁気ディスクの欠陥検査。 - 特許庁 - To provide a circuit inspection device capable of detecting surely and easily a defect of a circuit board.
確実かつ容易に回路基板の不良を検出できる回路検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a camera having an MF function with no defect and having good operability.
ＭＦ機能の欠点を解消し、より使い勝手の良いＭＦ機能を備えたカメラを提供する。 - 特許庁 - A defect in an image is detected to be displayed together with images which accepts selection of printing.
本発明は、画像の異常を検出して、印刷の選択を受け付ける画像と共に表示する。 - 特許庁 - METHOD OF ALLOTTING SPARE AREA AND METHOD OF MANAGING DEFECT FOR DISK RECORDING AND/OR REPRODUCING DEVICE
ディスクの記録及び／または再生装置のための余裕空間割当方法と欠陥管理方法 - 特許庁 - To provide a defect detection system for forming a thermal imagery of a structure energized by sound energy.
音エネルギによって付勢された構造を熱画像化する欠陥検出システムを提供すること。 - 特許庁 - To prevent rotation of a fuel pipe at a cylinder head and to eliminate a defect of a conventional key slot.
シリンダヘッドにおける燃料パイプの回転を防止する従来キースロットの欠点の排除。 - 特許庁 - In such portion developing the crack or the defect, a truncated cone shaped opening part is arranged in the product.
かかる亀裂又は欠陥の部位において、製品中に円錐台形の開口が設けられる。 - 特許庁 - As a result, if there is an overlooked defect or the like (S7 and S8), evaluation values are calculated (S10).
その結果、見逃し欠陥がある場合などには（Ｓ７、Ｓ８）、評価値を算出する（Ｓ１０）。 - 特許庁 - Therefore, defect of the memory device is efficiently detected for various test data.
従って、多様なテストデータに対して効率的にメモリ装置の不良を検出することができる。 - 特許庁 - This defect inspecting device includes a camera, and a half mirror provided between the plate-like body and the camera.
欠陥検査装置は、カメラと、板状体とカメラとの間に設けられたハーフミラと、を有する。 - 特許庁 - WORKING APPARATUS AND METHOD, DEFECT CORRECTING DEVICE AND METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING PATTERN SUBSTRATE
加工装置、加工方法、欠陥修正装置、欠陥修正方法及びパターン基板の製造方法。 - 特許庁 - To grow a diamond crystal having few defect and dislocation on a non-diamond substrate.
欠陥や転位濃度の少ないダイアモンド結晶をダイアモンド以外の基板上に成長させる。 - 特許庁 - To accurately detect a defect in a hologram of an arbitrary type.
任意の品種のホログラムに対して効率的に、かつ精度良く欠陥を検出できるようにすること。 - 特許庁 - When a defect is found in the head slider in the test, the head slider is detached from the suspension.
上記テストにおいてヘッド・スライダに欠陥が見つかると、ヘッド・スライダはサスペンションから取り外される。 - 特許庁 - To provide a reproducing device having a margin space for defect management and its management information.
欠陥管理のための余裕空間とその管理情報を有する再生装置を提供する。 - 特許庁 - The FIB-CVD light shielding film 8 is then grown from the exposed glass part 6 to repair the halftone defect.
次に暴露したガラス部分6からFIB-CVD遮光膜8を成長させてハーフトーン欠陥を修正する。 - 特許庁 - Therefore, when a shutter is pressed during recording even just once, no defect occurs in the TOC.
従って、記録中に１回でもシャッタが押されていれば、ＴＯＣに欠陥が生じることはない。 - 特許庁 - To provide a positive resist composition having favorable development defect performance and a square resist profile.
良好な現像欠陥性能、矩形なレジストプロファイルを有するポジ型レジスト組成物を提供する。 - 特許庁 - To provide an external appearance inspection device which can detect the defect of a reticle with high sensitivity.
レチクルの欠陥の検出を高感度で行うことのできる外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - To extract a minute original defect with high precision without being affected by the surface pattern of a steel plate.
鋼板の地肌模様に影響されずに微小な本来の欠陥を高精度に抽出する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING BANDING DEFECT IN PHOTORECEPTOR IMAGE FORMING DEVICE
光受容体画像形成装置内のバンディング欠陥を修正するための方法および装置 - 特許庁 - The defect not more than the half of the image size may be detected even if the MIF(E0) is set>0.55.
ＭＴＦ（Ｅ０）＞０．５５に設定しても画素寸法／２以下の欠陥を検出可能である。 - 特許庁
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