「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 98 99 100 101 102 103 104 105 106 .... 366 367 次へ＞- To provide a wet development type image forming apparatus capable of preventing an unexpected image defect.
思わぬ画像不良を防止できる湿式現像方式の画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To make certainly discriminable a skip stitch and other defect of the fine line of single loop or double loop.
単環や二重環の糸目の目飛びその他の糸目不良を確実に判別できるようにする。 - 特許庁 - LIQUID MATERIAL COATING METHOD, LIQUID MATERIAL COATING MECHANISM, AND DEFECT-CORRECTING APPARATUS USING THE SAME
液状材料塗布方法と、液状材料塗布機構およびそれを用いた欠陥修正装置 - 特許庁 - To provide a plating device capable of effectively suppressing the defect of wiring caused by plating.
めっきに起因する配線欠陥を効果的に抑制できるめっき装置を提供すること。 - 特許庁 - To suppress a defect in light emission of a light emitting diode resulting from application of a reverse voltage.
逆方向電圧の印加に起因する発光ダイオードの発光不良の発生を抑制する。 - 特許庁 - To provide an antenna assembly which is tolerant of temperature variation and has no defect of a semiconductor crystal layer.
温度変化に強く、半導体結晶層に欠陥の少ないアンテナ装置を提供する。 - 特許庁 - TEST STRUCTURE OF SEMICONDUCTOR ELEMENT FOR DETECTING DEFECT SIZE, AND TEST METHOD USING THE SAME
欠陥サイズを検出することができる半導体素子のテスト構造及びこれを用いたテスト方法 - 特許庁 - Heat distribution on the component after press molding is analyzed, and the component defect such as crack is detected.
プレス成形後の部品上の熱分布を解析して、クラックなどの部品欠陥を検出する。 - 特許庁 - To provide an index capable of judging an outline dimension of a defect at one glance, in digitalization.
フィルムデジタル化に際して、欠陥概略寸法を一目で判断できる指標を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT AS WELL AS MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE USING THEM
欠陥検査方法、欠陥検査装置及びそれらを用いた半導体デバイスの製造方法 - 特許庁 - To obtain a defect observation device and a method of observing defects capable of imaging defects more quickly.
より短時間で欠陥を撮像できる欠陥観察装置および欠陥観察方法を得ること。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING DEFECT, APPARATUS AND METHOD FOR PROCESSING INFORMATION, AND ITS PROGRAM
欠陥検出装置、欠陥検出方法、情報処理装置、情報処理方法及びそのプログラム - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING DEFECT IN ELECTROPHOTOGRAPHY PHOTORECEPTOR
電子写真感光体の欠陥検出装置、および、電子写真感光体の欠陥検出方法 - 特許庁 - To provide a bipolar semiconductor element which can reduce surface defect and can suppress on voltage drift.
表面欠陥を低減でき、オン電圧ドリフトを抑制できるバイポーラ半導体素子を提供する。 - 特許庁 - To reduce the occurrence of a timing defective chip, to a rate lower than a prescribed market defect rate required.
タイミング不良チップの発生を要求される所定の市場不良率よりも低くする。 - 特許庁 - The extracted pattern is transformed into a graphic format of the ion beam defect correcting device and is transferred.
抽出されたパターンはイオンビーム欠陥修正装置の図形フォーマットに変換し転送される。 - 特許庁 - To provide an imaging device capable of effectively correcting a pixel defect.
画素欠陥を有効に補正することが可能な撮像装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a tablet capable of reducing the formation of leek defect, and excellent in properties to be stamped by YAG laser.
リーク不良の発生を低減し、ＹＡＧレーザー捺印性に優れたタブレットを提供すること。 - 特許庁 - Therefore, existence of the defect 3a can be simply detected from the appearance of the difference image.
したがって、該差分画像を見れば、欠陥部分３ａの存在を簡単に知ることができる。 - 特許庁 - To provide a circuit defect detecting device capable of efficiently detecting circuit defects.
回路欠損を効率的に検出することができる回路欠損検出装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an amplitude-based approach for detection and classification of hard-disc defect regions.
ハードディスク欠陥領域の検出および分類のための振幅ベースの方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a rotor magnet position feedback technique having no defect due to using a Hall-effect sensor.
ホール効果センサの使用による短所がないロータ・マグネット位置フィードバック技法を提供する。 - 特許庁 - To certainly and clearly detect even a fine defect occurring in the inner peripheral surface of a narrow pipe.
細い管体の内周面に発生した微細な欠陥であっても、確実・明確に検出する。 - 特許庁 - A first coordinate system is created in a defect inspection device using the physical scale (S3).
前記物理目盛を用いて欠陥検査装置内での第１の座標系を作成する（Ｓ３）。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a semiconductor device with reduced defect of an active region.
本発明は、能動領域の欠陥を低減した半導体デバイスの制作方法を提供する。 - 特許庁 - To suppress the occurrence of an image defect such as a white spot and a black spot even if a charging voltage is lowered.
帯電電圧を下げても白点や黒点などの画像欠陥の発生を抑えること。 - 特許庁 - To efficiently monitor a frequency of defect generation and characteristic likelihood of an ROI region with high sensitivity.
高感度にＲＯＩ領域の欠陥発生頻度や特性尤度の効率的なモニタリングをする。 - 特許庁 - To enhance an automation of color measuring of a printing material, by avoiding a defect of conventional technique.
従来技術の欠点を回避し、印刷材料の色測定をさらに自動化することである。 - 特許庁 - To provide a method for testing a material defect in a shaped polycrystalline silicon body without any destruction.
多結晶シリコン成形体の材料欠陥を破壊なしに試験する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an evaluation index of an internal defect that is not dependent on a gap existing in a route of radiation.
放射線の経路に存在する隙間に依存しない内部欠陥の評価指標を得る。 - 特許庁 - To provide a server device for preventing start processing from being affected by the defect of a service program.
サービスプログラムの不具合が起動処理に影響を与えないようにしたサーバ装置を提供する。 - 特許庁 - To detect a defect 3 inside a welded part 2 using a TOFD(Time of Flight Diffraction) method for ultrasonic flaw detection.
溶接部２内の欠陥３を、超音波探傷のＴＯＦＤ（Time of FlightDiffraction）法によって検出する。 - 特許庁 - A second coordinate system in a defect imaging device is created using the physical scale (S7).
前記物理目盛を用いて欠陥撮影装置内での第２の座標系を作成する（Ｓ７）。 - 特許庁 - To detect a defect in the front surface of a specimen (glass plate) more accurately than that inside or in the rear surface of the specimen.
被検体（ガラス板）の表面の欠陥を内部や裏面よりも高精度に検出する。 - 特許庁 - To improve maintainability by simplifying a defect detection mechanism in a container push-up device.
容器突き上げ装置における不良検出機構を簡略化し、メンテナンス性の向上を図る。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a solid electrolytic capacitor having no defect and a homogeneous oxide film.
欠陥が無く、且つ均質な酸化皮膜を持つ固体電解コンデンサの製造方法を提供する。 - 特許庁 - The display section 25 displays the image of a wafer surface that includes the defect, based on the display image data.
表示部２５は、表示画像データに基づいて、欠陥を含むウェハ表面の画像を表示する。 - 特許庁 - To certainly prevent an alignment defect resulting from impurities in a flattening film and in an overcoat film.
平坦化膜やオーバーコート膜中の不純物に起因する配向不良を確実に防止する。 - 特許庁 - Each defect on two or more spots on the surface of the press formed article 70 is imaged.
またプレス成形品７０の表面の２箇所以上の部位それぞれの欠陥が撮像される。 - 特許庁 - To provide an apparatus and method for minimizing ghost defect in corona transfer systems.
コロナ転写システムにおける、ゴースト不具合を最小化するための装置および方法を提供する。 - 特許庁 - In the recoil line, as the position of a defect approaches an inspection base, an line speed is automatically decelerated.
リコイルラインでは、欠陥のある位置が検査台に近づくと自動的にライン速度が減速される。 - 特許庁 - To provide a ferroelectric film laminated body which is few in crystal-defect and has good characteristics.
結晶欠陥が少なく良好な特性を持つ強誘電体膜積層体を提供する。 - 特許庁 - The defect of turning of the sub door 20 or generation of the rattling sound can be prevented.
このようにして、サブドア２０の回動不良やがたつき音発生を防止することができる。 - 特許庁 - To analyze retrieval of various kinds of defect items by simplifying setting of analysis conditions.
解析条件の設定を単純化させ多種類の不良項目の検索について解析すること。 - 特許庁 - To provide a new method for distilling an oxystyrene derivative, which does not show the defect of the conventional method.
従来法の欠点を示さない新しいオキシスチレン誘導体の蒸留方法を提供する。 - 特許庁 - To easily and securely inspect whether or not a scanning optical unit has a defect of beam energy characteristics.
走査光学ユニットにおけるビームエネルギー特性の欠陥の有無を簡易かつ確実に検査する。 - 特許庁 - Furthermore, the semiconductor photo detector 1 is reduced in dark current defect, resulting in an increase in yield.
また、半導体受光素子１は暗電流不良が低減されているので、歩留りが良い。 - 特許庁 - To distinguish a faulty disk from a normal disk, with reference to the height or depth of a recessed and protruded defect.
凹凸欠陥の高さあるいは深さを基準に不良ディスクと正常ディスクとを区別する。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus which can prevent generation of an image defect or image failure.
画像欠陥や画像不良の発生を防ぐことのできる画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - The periphery is thereby not contaminated by the correcting ink 7 applied onto the white defect 6a.
したがって、白欠陥６ａに塗布した修正インク７によって周囲が汚染されることはない。 - 特許庁
- 特許庁
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