「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • Since the brightness inversion parts 8, 9 are generated when the border 6 passes on the irregularity defect 7 on the surface of the test body 1, the irregularity defect 7 can be determined easily as the movement of the images.
    検体１の表面の凹凸欠陥７では、境界６の通過時に明暗反転部８，９が生じるので、画像の動きとして凹凸欠陥７を容易に判断することができる。 - 特許庁
  • To provide a defect detector capable of supplying a power source to a defect detector control circuit by the power generated by using a solar cell at a defect inspection time, simultaneously with detection of deterioration of a light source, and performing efficient and accurate light source inspection.
    本発明は、光源の劣化を検出すると同時に、欠点検査時に太陽電池を用いて発電する電力で欠点検出器制御回路に電源を供給可能な、効率的かつ正確な光源検査が可能な欠陥検出器を提供せんとするものである。 - 特許庁
  • Receiving means 21, 21 of the receiving apparatus 2 receive the two defect compensation data superimposed on the respective carrier waves, a collection means 22 collects the received defect compensation data, and a decoding means 23 applies decode processing to the collected defect compensation data to restore the transmission data.
    受信装置２は、受信手段２１，２１にて夫々の搬送波に重畳された二の欠損補償データを受信し、受信した欠損補償データを収集手段２２にて収集し、収集した欠損補償データに対し、復号手段２３の復号処理にて送信データを復元する。 - 特許庁
  • To provide a failure analysis system for inspecting a defect in a blank and a photomask, determining a degree of coincidence between a defect in the blank and a defect in the photomask, and reliably establishing correspondence between the quality of the photomask and a quality level of the blank, and to provide a failure analysis method using the system.
    ブランクス及びフォトマスクの欠陥検査を行い、ブランクスの欠陥とフォトマスクの欠陥との一致度を判定し、フォトマスクの品質とブランクスの品質レベルとの確実な対応が取れる不良解析システム及びそれを用いた不良解析方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • The configuration of the determination tree and a designation of the sorting rule are determined based upon the indication of statuses of various attribute distributions of defect samples taught by the user for each branch element (also including a separation degree for each of various attributes between defect samples belonging to each defect sorting class).
    前記決定ツリーの構成および分類ルール指定は、各分岐要素毎にユーザによって教示された欠陥サンプルの各種属性分布の状態（各欠陥分類クラスに属する欠陥サンプル間の各種属性毎の分離度も含む）の表示を基に決定される。 - 特許庁
  • In defect detection by the defect data detecting part 112a, candidates for defects are detected by analyzing an image, for example, in the case of every main photographing and only a candidate for the defects to satisfy prescribed conditions in a plurality of times of detection is further determined as defect pixel data.
    欠陥データ検出部１１２ａによる欠陥検出では、例えば毎回の本撮像の際に画像を解析して欠陥の候補が検出され、さらに複数回の検出において所定の条件を満たした欠陥候補のみが欠陥画素データとして決定される。 - 特許庁
  • In fatal defect automatic extracting processing, X line relief discrimination processing and Y line relief discrimination processing are continuously performed, X line relief discrimination processing is performed considering defect in the direction of Y line, Y line relief discrimination processing is performed considering defect in the direction of X line.
    致命不良自動抽出処理は、Ｘライン救済判定処理及びＹライン救済判定処理を連続して行い、Ｘライン救済判定処理はＹライン方向の不良を考慮して行い、Ｙライン救済判定処理はＸライン方向の不良を考慮して行われる。 - 特許庁
  • To provide a detection method of a crystal defect having high sensitivity, capable of detecting even a fine defect such as a small BMD (Bulk Micro Defect) formed on a silicon monocrystal wafer having a low resistivity, with progression of temperature lowering in heat treatment following high integration of devices.
    デバイスの高集積化に伴い、熱処理の低温化が進んだことにより、抵抗率の低いシリコン単結晶ウエーハに形成されるようになった小さなＢＭＤなどの微小な欠陥であっても検出することができる高感度の結晶欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a defect report device whereby a plant facility is early restored by changing the report ranking of administrators in earlier report receiving orders so as to increase the report ranking of the administrators with whom a early phone contact can be made thereby early reporting defect contents to the administrators with a high probability of the phone contact on the occurrence of a defect.
    異常通報可能な順に、各管理者の通報順位を入れ替えて、電話連絡が取れる管理者の通報順位を高くすることにより、異常発生時に、連絡が取れる可能性が高い管理者に異常内容を早く通報してプラントの設備を早期に復旧させる。 - 特許庁
  • To prevent a trouble not anticipated based on an internal defect density found conventionally from being generated and enhance the yield to make productivity excellent, by calculating an internal defect density including positional information in the plate thickness direction of the internal defect.
    内部欠陥の板厚方向の位置情報を加味した内部欠陥密度を算出するようにして、従来求めていた内部欠陥密度からは予想されない不具合の発生を防止し、歩留りを向上して生産性を良好とした内部欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁
  • This method of detecting the micro surface roughness and defect detects the micro surface roughness and defect having 0.5-6 μm of roughness in the magnetic metal specimen, and detects the surface defect by detecting a signal caused by a strain in a defective part of the specimen.
    磁性金属被検体の凹凸量0.5μm以上6μm以下の微小凹凸表面欠陥を検出する微小凹凸表面欠陥の検出方法であって、前記被検体の欠陥部の歪に起因する信号を検知することによって前記表面欠陥を検出する。 - 特許庁
  • When an image signal of the paper money sheet the image of which is picked up by a line sensor camera 13 is converted into image data in an image input part 35, changed quantity of the image data is calculated in the horizontal and vertical directions by a filter part 37 and minute defect data and defect data like irregularity defect, etc., are obtained by the inspecting device.
    ラインセンサカメラ１３によって撮像された紙幣用紙の画像信号が画像入力部３５で画像データに変換されると、フィルタ部３７によって画像データの変化量を水平方向及び垂直方向について求め、微細欠陥データ及びムラ欠陥等の欠陥データを得る。 - 特許庁
  • The step of correcting the defect portion includes forming a resist film on the photomask again, performing prescribed pattern drawing on a prescribed region including the defect portion, developing it to form a correction resist pattern, and removing the residual substance at the defect portion by performing etching using the resist pattern as a mask.
    欠陥部分を修正する工程は、フォトマスク上に再度レジスト膜を形成し、欠陥部分を含む所定領域に所定のパターン描画を行い、現像して修正用レジストパターンを形成し、該レジストパターンをマスクとしてエッチングを施して欠陥部分の余剰物を除去する。 - 特許庁
  • A correlation graph and defect image display part 38 generates a correlation graph representing correlation between defect sizes and risk levels of respective defects and displays the correlation graph on a display device 40 and furthermore displays a defect image list of one or more defects selected using the correlation graph.
    また、相関グラフ＆欠陥画像表示部３８は、それぞれの欠陥の欠陥サイズと危険率との相関関係を表した相関グラフを作成し、表示装置４０に表示するとともに、さらに、その相関グラフを用いて選択された１以上の欠陥の欠陥画像一覧を表示する。 - 特許庁
  • To reduce the generation of a pseudo-defect when a lightness difference exists between two compared images, in an image defect inspection device and a method for detecting a difference between fellow picture elements corresponding to the two images to detect a picture element portion as a defect when the difference exceeds a detection threshold.
    ２画像の対応する各画素同士の画素値の差分を検出して、この差分が検出閾値を超えるとき画素部分を欠陥として検出する画像欠陥検査装置及び方法において、比較する２画像に明度差がある場合の疑似欠陥の発生を低減する。 - 特許庁
  • To provide a design method of filter, a filter, a defect inspection method and a defect inspection device capable of reducing the cost and tact time required for a defect inspection, and removing only moire fringes from an input image without losing the characteristic quantity of a defective part.
    欠陥検査に要するコストおよびタクトタイムの低減を図るとともに、欠陥部の特徴量を失うことなく、入力画像からモアレ縞だけを極力除去することが可能なフィルタの設計方法、フィルタ、欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
  • A surface defect is detected by a surface defect detector 14 and tracked by a controller 19, when a defect reaches the position of a marking device 15, marking is done to the thin steel sheet 1, an operator on an inspection base 13 is informed by a setting display board 25.
    表面欠陥検出器１４により表面欠陥を検出し、制御装置１９によりトラッキングし、欠陥がマーキング装置１５の位置に到達したとき、薄鋼板１にマーキングを施すと共に、設定表示盤２５により検査台１３上のオペレータに知らせる。 - 特許庁
  • A spindle servo correcting circuit 40 calculates a period for detecting the defect in a defect detection period calculating section 41 when the defect is detected on the optical disk with a DFCT signal, and calculates an oscillation period of a TE signal in an oscillation period calculating section 43.
    スピンドルサーボ補正回路４０は、ＤＦＣＴ信号により光ディスク上の欠陥を検知したときにディフェクト検出周期算出部４１において当該欠陥が検出される周期を算出するとともに、振動周期算出部４３においてＴＥ信号の振動の周期を算出する。 - 特許庁
  • It includes an input means for receiving selection of the pattern of the arrangement defect which is displayed on the display unit for correcting NC data 10a, by using correction data for canceling the defect which the arrangement defect pattern shows.
    実装画像データ及び設計画像データを表示部に表示している状態にて、配置不良パターンの示す不良を解消するための補正データを用いてＮＣデータを補正するために行われる表示部に表示されている配置不良のパターンの選択を受け付ける入力手段と、を具備する。 - 特許庁
  • The photonic crystal has a first defect forming a resonator 110, a second defect forming a waveguide path 120 through which light generated from the resonator is taken out, and a third defect forming a heat radiation part 130 emitting heat generated from the resonator to the outside.
    該フォトニック結晶は、共振器１１０を形成する第１の欠陥、該共振器で発生した光を外部へ取り出す導波路１２０を形成する第２の欠陥および該共振器で発生した熱を外部へ放出する放熱部１３０を形成する第３の欠陥を有する。 - 特許庁
  • To provide a method for correcting a defect part, by which a defect part is corrected and a flatness being the specification of a photomask is secured when a defect part such as a crack or chipped part is caused in the peripheral part of a glass substrate, in a glass substrate for a photomask formed of synthetic quartz or a photomask using the glass substrate.
    合成石英からなるフォトマス用のガラス基板や該ガラス基板を用いたフォトマスクにおいて、ガラス基板の周辺部にひび、欠けの欠陥部が生じた場合に、該欠陥部を修正でき、且つ、フォトマスクの仕様であるフラットネスを確保できる方法を提供する。 - 特許庁
  • A defect inspection method for inspecting the defect of the surface of a sample, includes the step of detecting the defect by addition processing of a detecting signal in which the amount of the misalignment of a pixel of detection signals calculated by comparing the distribution of Haze signal and predetermined light quantity distribution is corrected.
    試料の表面の欠陥を検査する欠陥検査方法であって、Ｈａｚｅ信号の分布と予め定めた光量分布とを比較して算出した検出信号の画素ずれ量を補正した検出信号を加算処理して欠陥を検出する工程を有する欠陥検査方法。 - 特許庁
  • When defect ID information is received, whether or not a battery ID stored in a monitoring IC of the secondary battery is included in the defect ID information is determined, and a message is displayed that the secondary battery is defective if the battery ID is included in the defect ID information.
    本発明は、不良ＩＤ情報を受信すると二次電池の監視ＩＣに記憶された電池ＩＤが不良ＩＤ情報に含まれるか否かを判断し、電池ＩＤが不良ＩＤ情報に含まれる場合は二次電池が不良であることを警告するメッセージを表示する。 - 特許庁
  • A fault management device specifies a terminal device whose communication is intercepted due to the restart of a predetermined device for which defect has been detected according to the defect detection information by using connection information memorized in a terminal information memory portion when the defect detection information is received from an external device.
    障害管理装置は、異常検知情報を外部装置から受信した場合に、端末情報記憶部に記憶された接続情報を用いて、当該異常検知情報によって異常検知された所定機器の再起動により通信が遮断される端末装置を特定する。 - 特許庁
  • When user data are recorded after the optical disk is initialized, the defect determination reference used for determination is selected and set from a plurally prepared defect determination references in accordance with the control information for selecting and setting the defect determination reference to determine the existence of the defective sector.
    前記光ディスクを初期化した後ユーザデータを記録する時、前記欠陥セクタの有無を判定するための欠陥判定基準を選択して設定するための制御情報に応じて、複数設ける欠陥判定基準から前記判定に使用する欠陥判定基準を選択して設定する。 - 特許庁
  • To provide a defect detection method of a roller bearing by torque monitoring, which detects accurately a fine defect existing on the rolling contact surface or on a roller of the roller bearing of a finished product, also detects stably a large defect by which rotation is locked, and shortens a time required for detection.
    完成品でのころ軸受の転走面やころに存在する微少な欠陥を精度良く検出でき、また回転がロックしてしまう大欠陥も安定して検出でき、検出の所要時間も短縮できるトルク監視によるころ軸受の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an adhesive tape manufacturing system which quickly in-line detects the cause of a surface defect when the surface defect due to fine irregularities occurs while manufacturing the adhesive tape and can change manufacturing conditions so as to remove the cause of the surface defect.
    粘着テープの製造中に微細な凹凸に起因する表面欠陥が発生した場合に、その表面欠陥の原因をインラインで迅速に検出するとともに、表面欠陥の原因を除去するように製造条件を変更可能な粘着テープ製造システムを提供する。 - 特許庁
  • When a voltage is applied among the external connection terminals 9a, 9b, 9c, a voltage is applied to all the comb-like electrodes 3a, 3b to cause a short-circuit defect for an electrode on which a metallic foreign material is placed and then the frequency characteristic is measured to detect the short-circuit defect and to eliminate the defect.
    その後、外部接続端子９ａ，９ｃ間に電圧を印加すると全ての櫛形電極３ａ，３ｂに電圧が印加され、金属異物が載っているものについてショート不良を発生させ、その後で周波数特性を測定することにより、ショート不良を検知し除去する。 - 特許庁
  • In the production of silicon wafer, size of grown-in defect is made small by doping nitrogen when silicon ingot is pulled up and a defect-free layer is formed on the surface of wafer and oxygen deposit is produced in high density in the interior and whisker-like defect is produced by carrying out heat treatment.
    シリコンウェーハ製造に際し、シリコンインゴット引上げ時に窒素をドープすることにより、Ｇｒｏｗｎ−ｉｎ欠陥のサイズを小さくし、熱処理を行うことによりウェーハ表面に無欠陥層を形成し、内部に高密度に酸素析出物を生成させかつヒゲ状欠陥を生成させる。 - 特許庁
  • To provide fuel cell generation apparatus and defect diagnosis method if its reforming apparatus and storage medium recording the defect diagnosis program, which determines the exchange time of reforming catalyst which diagnoses the defect of the reforming apparatus in a moment or continuously in that place.
    本発明の課題は、その場で瞬時に且つ連続的に改質装置の劣化診断を行い改質触媒の取替時期を判定する燃料電池発電装置及びその改質装置の劣化診断方法並びに劣化診断プログラムを記録した記録媒体を提供することにある。 - 特許庁
  • (5) Where an objection under paragraph (3) is made, the court, when it finds in a written petition for commencement of bankruptcy proceedings any defect other than the defect for which it ordered correction by a disposition set forth in paragraph (1), shall specify a reasonable period and order that such additional defect should be corrected within that period.
    ５　裁判所は、第三項の異議の申立てがあった場合において、破産手続開始の申立書に第一項の処分において補正を命じた不備以外の不備があると認めるときは、相当の期間を定め、その期間内に当該不備を補正すべきことを命じなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To provide a defect detecting method and a defect detecting device of an optical part, capable of detecting a defect of the optical part constituted by laminating a plurality of light transmissive layers, without highly accurately positioning the optical part and an incident position of the detecting light.
    透光性を有する複数の層が積層されて構成される光学部品の欠陥を、光学部品と検出用の光の入射位置とを高精度に位置決めすることなく、検出することができる光学部品の欠陥検出方法および欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method and a detector for detecting a surface defect capable of detecting an uneven stripe-like defect even in any position on a surface of a belt-like body, and capable of visualizing the uneven stripe-like defect as a pattern easy to be recognized by the human being.
    凹凸性筋状欠陥が帯状体の表面のどの位置に存在してもその検出が可能となり、かつ、凹凸性筋状欠陥を人間が認知することが容易なパタンとして可視化することが可能な表面欠陥検出方法及び装置を提供する。 - 特許庁
  • In addition, a recording area can be changed according to the number of the update of the defect management area and an error status, etc. by providing, in the defect management area, a plurality of recording areas including an alternative area as an area in which defect management information is recorded.
    また、ディフェクトマネージメント領域においては、ディフェクトマネジメント情報を記録する領域として、交替領域を含む複数の記録領域を設けることで、ディフェクトマネジメント領域の更新回数、エラー状況などに応じて記録領域を変化させることができるようにする。 - 特許庁
  • A column-based defect relief circuit 1 is separated into fuse/ readout circuits 2 which read out a defect address from a blown fuse and into address comparison circuits 3, in which the read-out defect address is compared with an address to be outputted from an address counter so as to activate a decoder when both addresses agree.
    カラム系欠陥救済回路１を、切断されたヒューズから欠陥アドレスを読み出すヒューズ／読み取り回路２と、読み出された欠陥アドレスとアドレスカウンタから出力されるアドレスとの比較を行い、一致するとデコーダを活性化させるアドレス比較回路３とに分離する。 - 特許庁
  • When the image data are acquired by the image acquisition section, the image display section displays a corrected image after the defect is corrected by the correction section, so that the detected defect and the corrected defect are confirmed simultaneously at one time by the corrected image.
    画像表示部が、画像取得部によって画像データが取得されたときに、修正部により不具合が修正された後の修正後画像を表示することによって、検出された不具合と修正された不具合とをその修正後画像によって同時に１回で確認することができる。 - 特許庁
  • To provide a disk storage and a method for managing a sector group of the disk storage which can efficiently register defect sectors caused by a large defect area existing across a plurality of tracks and which can prevent a size of a defect management table from becoming too large.
    この発明は、複数のトラックに跨る巨大な不良領域に起因する欠陥セクタを効率よく登録でき、欠陥管理テーブルのサイズが大きくなりすぎることを防止可能なディスク記憶装置およびディスク記憶装置のセクタ群管理方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
  • A known standard defect 9 is provided in a sample 2, the defect appearing on a surface of the sample 2 is detected, and prescribed processing recipe evaluation information that varies in response to difference in a processing recipe used in the prescribed production process is acquired, based on a detection result of the standard defect 9.
    試料２に既知の標準欠陥９を設けて、試料２の表面に現れる欠陥を検出し、所定の製造プロセスで使用された処理レシピの相違に応じて変化する所定の処理レシピ評価情報を、標準欠陥９の検出結果に基づいて取得する。 - 特許庁
  • This optical recording medium can record and reproduce data by means of a laser beam and has a defect management prevent flag that is previously recorded in the prescribed area of a read-in area to show whether a defect management or the alternation processing is needed or not.
    レーザ光を用いてデータの記録、再生を行なえる光学的記録媒体たる光ディスクであって、予めリードイン領域の所定の領域に、ディフェクトマネージメント若しくは交替処理が必要であるか否かを示すディフェクマネージメントプリベントフラグ（Defect Management Prevent Flag）が記録されてなる光ディスク。 - 特許庁
  • To provide a printed wiring board, in which when the printed wiring board has an insulating defect or a slight insulation failure which may cause an insulating defect in future, the place of the insulation defect or insulation failure is easily specified and to provide a method of inspecting the same.
    絶縁不良が発生したプリント配線板、又は将来絶縁不良を引き起こすであろう僅かな絶縁欠陥を有するプリント配線板において、その絶縁不良個所や絶縁欠陥箇所を容易に特定できるプリント配線板及びその検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a photonic crystal defect waveguide and photonic crystal defect device which permits the free selection and facilitates the design of various elements on the photonic crystal, as compared to the case of performing the bending selected simply in accordance with a lattice structure of a photonic crystal, with respect to the direction of guiding an electromagnetic field containing light by forming a stepwise line-defect waveguide.
    階段状線欠陥導波路を設けることにより、光を含む電磁界を導く方向に関して、フォトニック結晶の格子構造に単純に従って曲げを行うよりも、より自由な選び方を可能とし、フォトニック結晶上の様々な素子の設計を容易にする。 - 特許庁
  • The inspection standard determining apparatus 1 determines the inspection standard which is used for determining as to whether a defect candidate area of a sample is a defect, by using the appearance feature quantity of the defect candidate area, based on the psychological measurement curve obtained, by digitizing the response of the inspector M to a stimulation consisting of the feature quantity.
    検査基準決定装置１は、試料の欠陥候補領域が有する外観的特徴量により欠陥であるかどうかを判定する検査基準を、その特徴量からなる刺激に対する検査員Ｍの応答を数値化した心理測定曲線、に基づいて決定する。 - 特許庁
  • When exposure of patterns are performed in order using the split masks MDM of the main mask MM and a pattern is exposed using the split mask MDM having the defect of the mask MM, the exposure is performed using the split mask CDM, which corresponds to the mask MDM having the defect and has no defect, of the mask CM.
    主マスクＭＭの分割マスクＭＤＭにより順次露光を行い、かつ主マスクＭＭの欠陥がある分割マスクＭＤＭを露光する際に、当該欠陥がある分割マスクＭＤＭに対応する欠陥のない補償マスクＣＭの分割マスクＣＤＭを用いて露光を行う。 - 特許庁
  • To provide a printing method having an inspecting and modifying technique which does not require a high-level defect discrimination system, can easily correct a high-precision defect and hardly causes the loss of a substrate to be printed when forming a defect-free image pattern on the substrate to be printed by using a printing process.
    印刷法を用いて被印刷基板に欠陥のない画像パターンを形成するに当たり、高度な欠陥識別システムが不要で、容易に高精度な欠陥修正が可能で、被印刷基板のロスが少ない検査・修正技術を備える印刷方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an ultrasonic flaw detector and an ultrasonic flaw detection method, capable of discriminating a signal detected based on a defect such as a crack, from a reflection signal based on a welding part texture, capable of detecting the defect, and capable of measuring precisely a depth of the defect.
    き裂などの欠陥から検出された信号と溶接部組織からの反射信号とを識別することができ、さらに、欠陥検出、欠陥深さを高精度に測定することができる超音波探傷装置および超音波探傷方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a defect inspection method and a defect inspection device of a laminate, capable of detecting a defect of the laminate in a nondestructive/noncontact manner, regardless of the material of the laminate, and utilizable, for example, for deterioration diagnosis of for a solid oxide type fuel cell or process inspection at manufacturing.
    積層体の材質に左右されることなく、積層体の欠陥を非破壊・非接触で検出しることができ、例えば固体酸化物形燃料電池の劣化診断や、製造時の工程検査などに利用することができる積層体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for detecting a defect and a defect detection device in a continuously cast slab for a thin steel sheet which can estimate and detect a cracking defect generated on the surface of a slab to be formed into the stock of a continuously cast thin steel sheet with high accuracy in a stage directly after casting.
    連続鋳造した薄鋼板の素材となる鋳片（スラブ）表面に発生した割れ性の欠陥を、鋳造特後の段階で、精度よく予測し、検出することが可能な薄鋼板用の連続鋳造鋳片の欠陥検出方法と欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁
  • The disconnection and appearance defect of a wiring pattern in a printed circuit board 1 enabling multiple semiconductor devices 5 to be mounted are checked, and then a defect recognition mark 2 that can be identified by image recognition is added to a semiconductor device mount area corresponding to the defect location on the printed circuit board 1.
    複数の半導体素子５が搭載可能なプリント基板１の配線パターンの断線および外観不良のチェックを行い、プリント基板１の不良箇所に対応して該当する半導体素子搭載領域に画像認識などによって識別可能な不良認識マーク２を付与する。 - 特許庁
  • A temporary defect management area 14 is set up between a control information recording area 12 and a data area 11 of the write-once type recording medium 10, and in a stage before finalizing the recording medium 10, defect management information is temporarily recorded in the temporary defect management area 14.
    追記型記録媒体１０の制御情報記録エリア１２とデータエリア１１との間に一時的ディフェクト管理エリア１４を設け、記録媒体１０をファイナライズする前の段階では、一時的ディフェクト管理エリア１４にディフェクト管理情報を一時的に記録しておく。 - 特許庁
  • To provide a surface defect inspection device for a band like body capable of detecting a surface defect by carrying out image pickup of a band like body surface at a optional pickup angle by a light source with low light intensity in regard to a surface defect inspecting device using a time delay integration type video camera.
    時間遅延積分型ビデオカメラを用いた表面欠陥検査装置において、低い光強度の光源により任意の撮像角度で帯状体面を撮像し、表面欠陥を検出することができる帯状体の表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
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