「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 93 94 95 96 97 98 99 100 101 .... 366 367 次へ＞- To provide a defect inspection method and a defect inspecting apparatus for easily, accurately, and quickly detecting defects contained in a quartz glass material, especially minute defects, such as bubbles, and foreign objects.
石英ガラス材の内部に含まれる欠陥、特に泡、異物等の微小な欠陥を容易に、正確に、短時間で検出できる欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - A pixel defect correction device receives pixel data from the imaging device having plural photoelectric conversion pixels to properly correct defective pixel data caused by the pixel defect of this imaging device.
複数の光電変換画素を有する撮像素子からの画素データを受け、該撮像素子の画素欠陥に起因する不良画素データを適切に修正する画素欠陥修正装置である。 - 特許庁 - To provide a method for detecting a surface defect capable of detecting precisely the defect generated on the surface of a cast slab when a steel is continuously cast without overlooking during the continuous casting.
鋼の連続鋳造時に鋳片表面に発生する欠陥を、連続鋳造中に見逃すことなく精度良く検出することのできる表面欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a continuous casting method, with which an immersion nozzle is difficult to clog during casting and pin hole state defect and powder state defect are not developed on the surface of a cast slab and the cast slab excellent in cleanliness is obtd.
鋳造中に浸漬ノズルが詰りにくく、鋳片表面にピンホール性欠陥やパウダ性欠陥がなく、かつ、清浄性にも優れた鋳片が得られる連続鋳造方法の提供。 - 特許庁 - To provide an application device and an application method by which occurrence of application defect onto a base film can be suppressed and occurrence of film defect in the base film can be suppressed.
ベースフィルムに対する塗布欠陥が発生するのを抑制するとともに、ベースフィルムにフィルム欠陥が発生するのを抑制することができる塗布装置及び塗布方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect inspecting apparatus for a display device capable of imaging display of the display device such as a liquid crystal panel and specifying an absolute position of a point defect precisely from an acquired imaged data.
液晶パネル等の表示装置の表示を撮像し、得られた撮像データから点欠陥の絶対位置を正確に特定することが可能な欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - Since defect data are composed of a counted value of signals, information amounts are reduced and inconvenience in derivation and transmission of defect data is never generated even when many defects are detected in a short time.
また、ディフェクトデータは信号のカウント値であるため情報量が少なく、短時間に多数のディフェクトが検出されても、ディフェクトデータの導出や伝送に不具合が生じることがない。 - 特許庁 - To improve the extraction accuracy of line defect and enhance the resistance to noise in a TFT array inspection device to precisely specify a cross line defect even in measured data with insufficient S/N.
ＴＦＴアレイ検査装置において、線欠陥の抽出精度を向上させること、ノイズに強く、Ｓ／Ｎが不十分な測定データにおいても精度良くクロス線欠陥を特定すること。 - 特許庁 - Based on the search domains in the series of resolution-enhanced visible images, pattern analysis is performed by a visible image defect part decision means 6 by using density differences of images to determine a defect part.
可視画像欠陥部位特定手段６は、高解像度化された一連の可視画像の検索領域に基づいて、画像の濃度差によってパターン解析を行い、欠陥部位を特定する。 - 特許庁 - Upon detecting the defect 13, a marking means 14 puts linear marks 15 parallel with a conveying direction 11a, so as to hold a defect position from both sides of a cross direction.
欠陥１３が検出されると、マーキング手段１４は、欠陥位置を、幅方向の両側から挟むように、搬送方向１１ａに平行な線状のマーク１５を、マーキングとして施す。 - 特許庁 - To appropriately narrow down defect information displayed or output in an inspection system where an identical defect may be detected by two or more cameras under different timings.
同一の欠陥について複数のカメラで異なるタイミングで検出されることがある検査システムにおいて、表示・出力する欠陥情報を適切に絞り込むこができるようにする - 特許庁 - The defect part produced in the black matrix 5 in the color filter 1 is irradiated with a laser beam, the black matrix 5 including the defect part is eliminated and, thereby, a void part 7 is formed.
カラーフィルタの１ブラックマトリクス５に発生する欠陥部分にレーザ光を照射して、欠陥部分を含むブラックマトリクス５を除去することによって白抜け部７を形成する。 - 特許庁 - To provide a specification defect verification system for operating a state transition model describing product specifications with all parameters, and for easily verifying a defect to be prevented for security.
製品仕様を記述した状態遷移モデルを、全パラメータにより動作させ、セキュリティ上の起こるべきではない欠陥を、簡易に検証する仕様欠陥検証システムを提供する。 - 特許庁 - To provide technique for determining which of a defect of user facilities and a defect of common carrier facilities is causes fault, for example, disables communication, when ONU loop-back test is to be conducted.
ONUループバック試験を実施するにあたり、通信不能等の故障時にユーザ設備の不良か通信事業者設備の不良かの切り分けができるようにする技術を提供すること。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic flaw detection method of solid shaft in which detection accuracy of defect can be enhanced when a defect occurring at the step part of a solid shaft is detected using an ultrasonic wave.
中実軸の段付部から生じる欠陥を超音波で探傷するに当り、欠陥の検出感度を高めることのできる中実軸の超音波探傷方法を提供すること。 - 特許庁 - Inclusion of oxygen gas in the sealed atmosphere allows aging to cause whiskers causing such a defect to oxidize and lose conductivity, to thereby allow recovery from the short circuit defect.
この時、密閉雰囲気中に酸素ガスが含まれていれば、エージングを行うことで欠陥の原因となったウイスカーが酸化され、導電性を失うことで、短絡欠陥が修復可能となる。 - 特許庁 - To provide a continuous casting method for producing a steel cast slab having little bubble-state defect and inclusion-state defect below the surface skin of the cast slab, and an electromagnetic stirring device used for this method.
鋳片の皮下に気泡状欠陥や介在物性欠陥が少ない鋼鋳片を製造するための連続鋳造方法並びにそのために用いる電磁攪拌装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a defect inspection method and a defect inspection device capable of accurately detecting defects of a mask, without being influenced by particulate matters, even if transparent particles are scattered on the surface of a photomask (mask).
フォトマスク（マスク）の表面に透明粒子が散布されても、粒状物による影響なく、マスクの欠陥を正確に検出できる欠陥検査方法及び欠陥検査装置。 - 特許庁 - To provide a defect searching system capable of automatically searching the defect of a circuit board provided with the electronic parts and the like without detailed circuit information with a simple device structure in a short time.
電子部品等が実装された回路基板の不良探索を詳細な回路情報なしに簡易な装置構成で自動的にかつ短時間で行える不良探索システムを提供する。 - 特許庁 - To provide an appearance inspecting apparatus capable of judging a coat defect and irregularity defect and rotation deviation of a photoreceptive drum, and an appearance inspecting method using this apparatus.
感光ドラムの塗布欠陥、凹凸欠陥の良否判定の他、回転振れの良否判否を行うことのできる外観検査装置および該装置を用いた外観検査方法を提供する。 - 特許庁 - As in a case that a defect required to be corrected has been found but the defect is hardly located with a correction device as a result of an inspection by an image quality evaluation device, a positioning mark is formed.
像質評価装置により検査を行った結果、修正すべき欠陥が発見されたがその位置の特定が修正装置では困難な場合に、位置合わせ用マークを形成する。 - 特許庁 - To provide a detection method of a crack defect which guarantes sure detection of a fine crack defect without omission, in penetrant inspection by an automatic penetrant inspection device.
自動浸透探傷装置による浸透探傷検査において、微細な亀裂欠陥を漏れなく確実に検出することが保証できる亀裂欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a linearly driving device and a variable shutter device each having simple configuration, a defect correcting device using them, and a defect correction method and a method for manufacturing a pattern substrate.
簡便な構成の直線駆動装置、可変シャッター装置及びそれを用いた欠陥修正装置、並びに欠陥修正方法、及びパターン基板の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - Alternatively, a first detector for the defect detecting inspection and a second detector only for review for observing a specific narrow part detected by the defect detecting inspection are disposed.
または欠陥検出検査の為の第１の検出器とこの欠陥検出検査により検出された特定の狭い部位を観察するレビュー専用の第２の検出器とを設ける。 - 特許庁 - Thereby, accuracy for specifying position and size of a defect section can be enhanced regardless of recording capability of the recording medium, and it becomes possible to largely shorten the defect inspection time.
これにより、記録媒体の記録能力とは無関係に欠陥部分の位置や大きさの特定精度を高めることができ、かつ、欠陥検査時間の大幅な短縮化が可能となる。 - 特許庁 - To detect surely a defect of an inspection object without depending on a defect shape of the inspection object, each different polishing line formed on each inspection object or the like.
検査対象物における欠陥の形状や各検査対象物に形成されたそれぞれ異なる研磨筋等によらず、検査対象物の欠陥を確実に検出すること。 - 特許庁 - None of the provisions shall exempt the seller from liability for the defect in the case the Goods (excluding rights to use a facility or to receive offer of services) have a hidden defect.
商品（施設を利用し及び役務の提供を受ける権利を除く。）に隠れた瑕疵がある場合に販売業者が当該瑕疵について責任を負わない旨が定められていないこと。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - To perform the defect inspection of a printed image on the basis of inspecting image data obtained by reading out the printed image and to store the inspecting image data whose defect is detected in consideration of security.
印刷画像を読み取って得た検査画像データに基づいて印刷画像の欠陥検査を行い、欠陥の見つかった検査画像データをセキュリティを考慮して保管する。 - 特許庁 - By the defect propagation limitation mechanism 140, the propagation of a defect 124 in one luminous zone 120 from one luminous zone 120 to the other 130 is prevented.
この欠陥伝搬制限機構１４０によって、１つの発光ゾーン１２０内の欠陥１２４が、他の発光ゾーン１３０へもう一方の発光ゾーンへ伝搬することが防止される。 - 特許庁 - To provide a defect detection method of a plate-like body capable of detecting a defect of the transparent or translucent plate-like body highly accurately without reflecting a rear surface state of the plate-like body.
透明又は半透明の板状体の欠陥を、板状体の裏面の状況を反映することなく高精度で検出できる板状体の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection device inspecting, in particular a defect of a magnetic recording medium where isolated magnetic dots are formed, relating to a recording device recording and playing back information by magnetism.
磁気により情報を記録・再生する記録装置に関し、とくに孤立した磁性ドットを形成した磁気記録媒体の欠陥を検査する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - To achieve both the prevention of a defect in image quality such as a white stripe or a black stripe caused by the soiling of an electrifying roll and the prevention of a defect in image quality such as a void caused by a discharge product.
帯電ロールの汚れに起因した白筋、黒筋等の画質ディフェクトの防止と、放電生成物に起因した白抜け等の画質ディフェクトの防止との両方を実現する。 - 特許庁 - The potential difference measuring terminal 112 for the defect in the circumferential direction and the potential difference measuring terminal 114 for the defect in the axial direction are installed so that each direction of the two terminals forms 90° mutually.
周方向欠陥用電位差測定端子１１２と軸方向欠陥用電位差測定端子１１４は、２本の端子の向きが互いに９０°となるように設置されている。 - 特許庁 - To early specify a transport roller causing a periodic defect when a periodic defect is caused in a transport system.
搬送システムにおいて周期欠陥が発生したときに、前記周期欠陥を発生させている搬送ローラを早期に特定できる検査システムおよび周期欠陥発生箇所の特定方法の提供。 - 特許庁 - Part of the correcting glass paste 31 is attached to the defect 51, several times if necessary, to fill the defect 51 with the correcting glass paste 32.
開口していない気泡状欠陥は、レーザを照射することで開口している欠陥に変化させ、同様に修正用ガラスペーストを塗布し、乾燥後必要に応じて形状の修正を行う。 - 特許庁 - In the nozzle defect inspection method, the abnormal nozzles are detected by preventing the erroneous determination by the blurring of ink even though the recording medium for recording the test pattern is the non-coat paper by the above defect determination.
この不良判断により、テストパターンを記録する記録媒体が非コート紙であっても、インクの滲みによる誤判断を防止して異常ノズルを検出するノズル不良検査方法である。 - 特許庁 - The defect detecting system 10 detects the existence of a defect by detecting light emission of a light emitting film 1 formed on the surface of the structure 2, i.e., a detection target.
本発明に係る欠陥検知システム１０は、検知対象である構造体２の表面に形成した発光膜１の発光を検出することによって、欠陥の有無を検知する。 - 特許庁 - From the minimum values min (V1, V2) of the measured reflection echo height, the presence or absence of a defect and the size Lf the defect at the end of the joint interface 4 are discriminated.
また、測定された反射エコー高さの最小値ｍｉｎ（Ｖ_１、Ｖ_２）から、接合界面４の端部における欠陥の有無及び欠陥の大きさＬ_ｆを判別するようにした。 - 特許庁 - To provide an electric connecting device between a cable and an electric/electronic device, wherein there is no defect of the electric connecting device in a conventional technique, especially no defect of a plug to be coupled with a socket.
従来技術の電気接続装置の欠点、特にソケットと結合されるプラグの欠点を有さない、ケーブルと電気的／電子的装置との間の電気接続装置を実現する。 - 特許庁 - To provide the defect measuring device of a specimen capable of contriving the improvement of the attaching working of the specimen or a vibrator and the improvement of the precision of defect measurement without damaging the specimen.
試料に損傷を与えることなく、試料又は振動子の取付け作業の向上及び欠陥測定の精度の向上が図れる試料の欠陥測定装置を提供する。 - 特許庁 - To decrease overlookings of micro-defects due to the maladjustment of an image pick-up conditions in a method for minute inspection of a defect executed, after the position of the defect on an object to be inspected is measured beforehand.
被検査対象物の欠陥位置が予め計測された後に欠陥の詳細検査を行う方法において、撮像条件の不具合による微小欠陥を見逃しを低減する。 - 特許庁 - To prevent the generation of a defect in appearance such as unplating and plating unevenness and a defect in plating adhesion when a steel sheet comprising ≥0.2 mass% Si is subjected to hot-dip galvanizing plating.
Ｓｉを０．２質量％以上含有する鋼板に溶融亜鉛めっきしたときに不めっき、めっきムラなどの外観不良やめっき密着性不良の発生を防止する。 - 特許庁 - Defect information obtained by means of an inspection device 102 and review information obtained by means of a reviewing device 103 are stored in a defect data area 111 and a review data area 112 as individual items.
検査装置１０２による欠陥情報を欠陥データ領域１１１に、レビュー装置１０３によるレビュー情報をレビューデータ領域１１２に個別の項目で記憶する。 - 特許庁 - The stain and the dust deposited on the surface of the transparent sheet-like member are distinguished from the defect such as the flaw and the forein matter, and only the defect is detected, based on an image image-picked up by the respective illuminators of the detector.
装置の各照明で撮像される画像から、透明板状体の表面に付着している汚れや埃をキズや異物などの欠点と区別し、欠点のみを検出する。 - 特許庁 - To provide a method and apparatus for inspecting defect of a resist pattern capable of easily detecting a defect caused only by a resist formation process by comparing the surface of a resist pattern efficiently.
レジストパターン表面を効率よく比較し、レジスト形成工程に起因する欠陥のみを容易に検出するレジストパターンの欠陥検査方法及びその欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - To obtain an optical disk drive capable of performing stable drive control of an operation such as reproduction without losing control continuity before and after the defect detection even when the defect detection period is long.
欠陥検出前後の制御の連続性を失うこと無く、欠陥検出期間が長い場合でも、再生等の操作の安定した駆動制御が可能な光ディスク装置を得る。 - 特許庁 - To provide a mask inspection method for performing rapid pattern inspection by suppressing detection of a pseudo defect included in a mask pattern and reliably detecting a real defect.
マスクパターンに含まれる擬似欠陥の検出を抑制し、実欠陥を確実に検出しすることによって、迅速なパターン検査を行うことが出来るマスク検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a glass slip sheet capable of preventing the surface of a glass sheet used for a substrate material for a flat panel display on which a high cleanness and a high quality on defect are required from staining and generating the defect.
高い清浄度や傷品位が要求されるフラットパネル・ディスプレイ用の基板材料として用いられるガラス板表面への汚染や傷入りを防止できるガラス合紙を提供する。 - 特許庁 - To obtain an imaging device which can obtain single image data which prevents complete absence of brightness information by recovering brightness information at a position of a defect image element even if a defect image element is generated.
欠陥画素が生じても、欠陥画素の位置での輝度情報を回復して、輝度情報が完全に欠損することを防いだ単一画像データを取得可能な撮像装置を得る。 - 特許庁 - To provide a defect information management device capable of acquiring necessary and effective information accurately by processing information on a defect (failure) of an enormous amount of product appropriately.
膨大な製品の不具合（故障）に関する情報を適切に加工し、必要かつ有効な情報を的確に取得することが可能な不具合情報管理装置を提供する。 - 特許庁
- ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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