「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 89 90 91 92 93 94 95 96 97 .... 366 367 次へ＞- To accurately detect a defect irrespective of experience or physical condition of an inspector.
検査員の熟練度や体調に関係なく、正確に欠陥を検出することができる。 - 特許庁 - To realize enhancing of the yield of a proper product in which a shape defect does not exist.
形状欠陥が存在しない良品の歩留まり高めることができるようにする。 - 特許庁 - METHOD FOR REMOVING PROJECTING DEFECT ON TUBE STOCK SURFACE BY ULTRASONIC IRRADIATION AND BRUSH RUBBING
超音波照射とブラシ摺擦による素管表面上の凸欠陥除去方法 - 特許庁 - METHOD FOR DISCRIMINATING TRANSFER DEFECT IN ORIGINAL RENDERING SYSTEM AND XEROGRAPHIC OUTPUT DEVICE
原稿レンダリングシステム内の転写欠陥を識別する方法およびゼログラフィック出力装置 - 特許庁 - A generation rate of a junction defect can be reduced by the load stabilization.
この荷重安定化によって接合不良の発生率を低減することが可能となる。 - 特許庁 - To provide a novel and improved disk drive apparatus, and a novel and improved media defect detection method.
新規且つ改善された、ディスクドライブ装置及びメディア欠陥検出方法の提供。 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING FAILURE AND DEFECT OF ROUGH PATTERN TRANSFERRED FROM ORIGINAL OF NANO IMPRINT LITHOGRAPHY
ナノインプリントリソグラフィの原版から転写された凹凸パターンの欠損欠陥修正方法 - 特許庁 - An HDD 1 on one form of this invention performs the defect test of a magnetic disk 11.
本発明の一形態にかかるＨＤＤ１は、磁気ディスク１１の欠陥テストを行う。 - 特許庁 - The first electrode is formed over the low defect region and adjacent thereto with the insulating film interposed.
第１の電極は、低欠陥領域の上に形成され、絶縁膜を介して隣り合う。 - 特許庁 - To provide an improved hair clip capable of overcoming the defect of a conventional technique.
従来技術の欠点を克服することができる改善されたヘアクリップを提供する。 - 特許庁 - To remove a longitudinal stripe defect caused by nonoverlap sampling of an active matrix type display device.
アクティブマトリクス型表示装置のノンオーバーラップサンプリングで生じる縦スジ不良を取り除く。 - 特許庁 - To make it possible to automatically detect even a defect of a minute and smooth undulation.
微小で滑らかな起伏の欠陥でも自動検出することができるようにする。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR REPAIR-PROCESSING CASTING DEFECT IN ALUMINUM ALLOY CASTING
アルミニウム合金鋳物における鋳物欠陥の補修処理方法および補修処理装置 - 特許庁 - To prevent the occurrence of a printing defect by making a toner cartridge mountable in a horizontal state.
トナーカートリッジを水平状態で装着可能とし、印字不良の発生を防止する。 - 特許庁 - The crystal defect layer 2 is formed due to the ion implantation and a heat treatment of the silicon substrate.
この結晶欠陥層２はイオン注入とシリコン基板の熱処理とで生成される。 - 特許庁 - Next, the luminance values of the respective pixels of the defect image signals are integrated in an integration circuit (15).
次に、積算回路（１５）において、欠陥画像信号の各画素の輝度値を積算する。 - 特許庁 - COMPUTER DEVICE, DISK DRIVE DEVICE, METHOD FOR CONTROLLING DATA READ/WRITE AND METHOD FOR REGISTERING DEFECT MAP
コンピュータ装置、ディスクドライブ装置、データのリード／ライト制御方法、ディフェクトマップの登録方法 - 特許庁 - A servo hold circuit 7 holds tracking servo during the detected defect period.
サーボホールド回路７は、前記検出されたディフェクト期間中は、トラッキングサーボをホールドする。 - 特許庁 - A detecting mechanism (108) includes a means for detecting a peel defect of a test specimen (106).
探知機構（１０８）には、試験片（１０６）の剥離不良を検出する手段を含む。 - 特許庁 - Preferably, the second film has light transmission properties and has reactivity with a defect.
第２の膜が光透過性を有し、かつ欠陥との反応性を有することが望ましい。 - 特許庁 - The propriety of the lens L is made from the defect information obtained by the computer 20.
コンピュータ２０で得られる欠陥情報によって、被検レンズＬの良否判定がなされる。 - 特許庁 - To more securely prevent the formation of a defect where silicon tungsten abnormally grows outward.
より確実に、シリコン化タングステンが外向きに異常成長した欠陥の形成を防ぐ。 - 特許庁 - Precision deterioration and an operation defect of an analog circuit to which this circuit is applied can be prevented.
本回路を適用したアナログ回路の精度劣化や動作不良を防ぐことができる。 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING PIXEL DEFECT OF SOLID STATE IMAGING ELEMENT AND IMAGING DEVICE USING THE SAME
固体撮像素子の画素欠陥検出方法およびその方法を用いた撮像装置 - 特許庁 - The film unit equipped with peculiar identification data and having a prescribed image quality defect is manufactured (602).
特有の識別子と所定の画質欠陥とを有するフィルムユニットが製造される（６０２）。 - 特許庁 - To link a defect inspection process with a dimension inspection process of a blade for automization.
ブレードの欠陥検査工程と寸法検査工程とを連動させて自動化を図る。 - 特許庁 - To produce a thermoplastic resin sheet of high quality free from a surface defect with good productivity.
表面欠点のない、高品質な熱可塑性樹脂シートを生産性良く製造すること。 - 特許庁 - To prevent a wiring layer from being oxidized and to prevent a connection defect in a multilayer wiring board.
多層配線基板において、配線層の酸化を防止し、接続不良を防止する。 - 特許庁 - To provide a III group nitride semiconductor substrate with low defect density and with reduced warpage.
欠陥密度が低く、かつ反りの少ないIII族窒化物半導体基板を提供すること。 - 特許庁 - To realize excellent tracking control and focus control by performing stable defect processing.
安定したディフェクト処理を行い良好なトラッキング制御とフォーカス制御を実現する。 - 特許庁 - Upper, middle and lower pixel defect correctors 7-9 correct the pixel defects, if detected.
画素欠陥が検出されると上中下画素欠陥補正部７〜９は欠陥を補正する。 - 特許庁 - ABSORBABLE IMPLANT AND USE OF THE SAME IN HEMOSTASIS AND IN TREATMENT OF OSSEOUS DEFECT
吸収性のインプラントならびに止血および骨欠損の処置における、それらの使用 - 特許庁 - A plurality of residual defect signals are extracted from these conditioned files.
複数の残りの欠陥信号が、これらの条件付けされたファイルから抽出される。 - 特許庁 - A user designates a range where the representative defect exists by viewing frequency distribution.
ユーザは度数分布を見ることにより、代表的な欠陥が存在する範囲を指定する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING MECHANICAL DEFECT OF INGOT BLOCK MADE OF SEMICONDUCTOR MATERIAL
半導体材料から成るインゴットブロックの機械的欠陥を検出する方法および装置 - 特許庁 - When format processing request is received from a host computer, a defect management region is initialized.
ホストコンピュータからフォーマット処理要求を受けると、欠陥管理領域を初期化する。 - 特許庁 - WORKFLOW SERVER DEVICE, DEFECT INFORMATION FEEDBACK METHOD, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM WITH THE PROGRAM RECORDED
ワークフローサーバー装置、不良情報フィードバック方法、プログラム、該プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - DEFECT CORRECTION METHOD FOR PHOTOMASK, MANUFACTURING METHOD OF PHOTOMASK, AND PATTERN TRANSFER METHOD
フォトマスクの欠陥修正方法及びフォトマスクの製造方法、並びにパターン転写方法 - 特許庁 - The dotted defect 16 functions as a resonator which resonates to light having a specific wavelength.
点状欠陥１６は特定の波長の光を共振する共振器として機能する。 - 特許庁 - PHASE DEFECT CORRECTION METHOD OF REFLECTION TYPE PHOTOMASK AND REFLECTION TYPE PHOTOMASK USING THE SAME
反射型フォトマスクの位相欠陥修正方法およびそれを用いた反射型フォトマスク - 特許庁 - The defect correction paste 5 includes the binder but does not include the conductive assistant and the active material.
欠陥修正ペースト５はバインダを含むが、導電助剤、活物質は含まない。 - 特許庁 - To detect the location of a micro defect in a semiconductor device with high accuracy by Raman spectroscopic method.
半導体装置の微細な欠陥箇所を、ラマン分光法により高精度で検出する。 - 特許庁 - Three points of reference patterns 3a, 3b, 3c are formed to surround a defect of a pattern 2.
パターン２の欠陥を囲むように、３点の参照パターン３ａ，３ｂ，３ｃを形成する。 - 特許庁 - To provide a toner supply roller which does not cause an image defect such as a horizontal white stripe.
、横白スジ画像不良を発生させることのないトナー供給ローラを提供する。 - 特許庁 - WAFER PROCESSING HARDWARE FOR EPITAXIAL DEPOSITION WITH WHICH AUTO-DOPING AND BACK SURFACE DEFECT ARE DECREASED
オートドープおよび裏面欠陥が減少したエピタキシャル堆積用のウェーハ処理ハードウェア - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING PHOTOMASK SURPLUS DEFECT USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROFABRICATING APPARATUS
原子間力顕微鏡微細加工装置を用いたフォトマスク余剰欠陥修正方法 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING EPITAXIAL WAFER HAVING NO EPITAXIAL DEFECT USING NITROGEN AND CARBON ADDED SUBSTRATE
窒素および炭素添加基板を用いたエピ層欠陥のないエピウエハの製造方法 - 特許庁 - METHOD FOR JUDGING DEFECT IN PHOTOMASK, AND METHODS FOR MANUFACTURING PHOTOMASK AND SEMICONDUCTOR DEVICE
フォトマスク欠陥判定方法、フォトマスク製造方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁 - LIGHTING METHOD FOR IMAGING, HOLOGRAM IMAGE ACQUISITION METHOD, AND HOLOGRAM DEFECT EXTRACTION METHOD
画像化用照明方法、ホログラム画像取得方法、およびホログラム欠陥抽出方法 - 特許庁 - PATTERN EXCESS DEFECT REPAIRING METHOD OF PHOTOMASK USING PROBE OF ATOMIC FORCE MICROSCOPE
原子間力顕微鏡の探針を用いたフォトマスクのパターン余剰欠陥修正方法 - 特許庁
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