「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 86 87 88 89 90 91 92 93 94 .... 366 367 次へ＞- ANALYZING METHOD AND IMAGING SYSTEM OF DEFECTIVE ARTIFACT LOCATED AT PLACE CORRESPONDING TO DEFECT
欠陥に対応する場所に位置する欠陥アーチファクトの解析方法及び撮像システム - 特許庁 - To provide a carbon nanotube working device where a defect or a hole can be controllably introduced into the wall face of a carbon nanotube.
ディフェクトや孔をカーボンナノチューブ壁面に制御して導入できるようにすること。 - 特許庁 - To manufacture a liquid crystal device capable of alignment with extraordinary precision and generating no alignment defect.
高精度のアライメントが可能で配向不良が生じない液晶装置を製造する。 - 特許庁 - To provide an image processor suppressing occurrence of gray level defect in an image.
画像内の階調段差の発生を抑制するようにした画像処理装置を提供する。 - 特許庁 - To prevent a connection defect when a terminal of a wiring board is electrically connected to another member.
配線基板の端子を他の部材と電気的に接続する際の接続不良を防ぐ。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a semiconductor device that prevents a defect of transfer pattern.
転写パターンの欠陥を抑制する半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - The defect determination circuit 55 determines the presence or absence of defects, based on the maximum intensity information.
欠陥判定回路５５は、最大強度情報に基づいて、欠陥の有無を判定する。 - 特許庁 - To prevent product defect due to protrusion of gate mark in a method of manufacturing a resin molding.
樹脂成型品の製造方法においてゲート痕の突出による製品不良の防止。 - 特許庁 - Thereafter, a decision is made from the value of the mesh signal strength whether there is a phase defect (step S06).
そして、メッシュ信号強度の値から位相欠陥の有無を判定する（ステップＳ０６）。 - 特許庁 - DEFECT DETECTING METHOD FOR FUEL CELL MATERIAL AND ASSORTING METHOD FOR FUEL CELL MATERIAL
燃料電池材料の欠陥検出方法及び燃料電池材料の分別方法 - 特許庁 - To provide an injection machine and a die casting machine which prevent the defect of a cast product.
鋳造製品の不良を防止する射出装置及ダイカストマシンに関を提供する。 - 特許庁 - To eliminate defect occurring to only a pattern of a local part by a simple technique.
局所的な部分のパターンのみに生じる異常を簡易的な手法で解消する。 - 特許庁 - To provide a mask inspection device that can improve the defect detection sensitivity.
欠陥検出感度を向上させることができるマスク検査装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide an inspection system that can automatically inspect a defect or feature in a product.
自動的に物品の欠陥または特徴を検査できる、検査システムを提供する。 - 特許庁 - To detect a printing defect with respect to inks of all the colors in color inkjet printing.
カラーのインクジェット印刷において、全ての色のインクについて印刷欠陥を検出する。 - 特許庁 - To provide a technology capable of detecting a circuit pattern defect at a high S/N ratio.
高いＳ／Ｎ比で回路パターンの欠陥を検出することができる技術を提供する。 - 特許庁 - A defect detection device includes: an irradiation device 1; an imaging device 2; and a processing device 3.
欠陥検出装置は、照射装置１と、撮像装置２と、処理装置３とを備える。 - 特許庁 - The recipe is then automatically executed to cut a portion of the defect using a charged particle beam.
このレシピが自動的に実行されて、荷電粒子ビームを用いて欠陥部分をカットする。 - 特許庁 - MANUFACTURE OF COPPER ALLOY CAST BLOCK RESTRAINING CASTING DEFECT, SEGREGATION AND OXIDE CONTENT
鋳造欠陥、偏析および酸化物の含有を抑制した銅合金鋳塊の製造方法 - 特許庁 - To provide a device for inspecting a defect in a mask blank for extreme UV ray lithography.
極端紫外線リソグラフィ用マスクブランクの欠陥を検査する装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for inhibiting background plating in a dielectric defect of a semiconductor.
半導体の誘電性欠陥においてバックグラウンドめっきを抑制する方法を提供する。 - 特許庁 - A crystal defect R is formed in a resistive layer 10b of a wafer 10 for active layer.
活性層用ウェーハ１０の抵抗層１０ｂに結晶欠陥Ｒを形成する。 - 特許庁 - Consequently, the defect in the image can be prevented by accumulating stains to the heating member 3.
これにより外部加熱部材３に汚れを蓄積させることで、画像不良を防止する。 - 特許庁 - To easily and accurately detect a color defect of an object having a plurality of colors.
複数の色彩を有する対象物の色欠陥を、容易かつ精度良く検出する。 - 特許庁 - To improve accuracy of detecting defect of a BIST circuit testing memories incorporated in ECC.
ＥＣＣ搭載メモリをテストするＢＩＳＴ回路の不良検出精度を向上させる。 - 特許庁 - To suppress a display defect when a color filter is formed on an active matrix substrate.
カラーフィルタをアクティブマトリクス基板上に形成する場合の表示不良を抑制する。 - 特許庁 - Thus, a rough depth on the crystal surface is reduced, resulting in reduced crystal defect density.
こうして、結晶表面の凹凸深さを低減し、結晶欠陥密度を減少させる。 - 特許庁 - The defect on a substrate 9 is thereby detected precisely and effectively.
これにより、基板９上の欠陥を高精度かつ効率よく検出することができる。 - 特許庁 - RECORDING MEDIUM HAVING MARGIN SPACE FOR DEFECT MANAGEMENT AND METHOD OF ALLOCATING MARGIN SPACE
欠陥管理のための余裕空間を有する記録媒体と余裕空間割当方法 - 特許庁 - To provide an element employing a semiconductor film of low defect density over a large area.
大面積にわたって低欠陥密度の半導体膜を用いた素子を提供する - 特許庁 - The beam F irradiates a sample LA placed on an analysis plane P_D and having a defect D_1.
ビーム（Ｆ）は、解析平面（Ｐ_Ｄ）上で欠陥（Ｄ_１）を有したサンプル（ＬＡ）を照射する。 - 特許庁 - To realize a device and method for automating defect detection of an antireflection film.
反射防止フィルムの欠陥検出を自動的に行う装置および方法を実現する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a multilayer substrate reduced in adhesion defect.
接着不良が少ない多層基板の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To lessen occurrence of a welding defect such as a blowhole in welding a stud member.
スタッド部材を溶接する際にブローホール等の溶接欠陥の発生を少なくする。 - 特許庁 - METHOD FOR PRODUCING TEST PIECE FOR CALIBRATION OF SEAM DEFECT INSPECTION MACHINE, AND TEST PIECE FOR CALIBRATION
巻締め不良検査機の較正用試験片の作成方法および較正用試験片 - 特許庁 - An identification circuit includes a media defect detection circuit 112 and an anchor fixing circuit 114.
識別回路は、媒体欠陥検出回路１１２およびアンカ固定回路１１４を含む。 - 特許庁 - To prevent a connection defect of a semiconductor package using semiconductor package tapes.
半導体パッケージ用テープを用いた半導体パッケージの接続不良を防止すること。 - 特許庁 - The gas flowing into the molding die is a little, so that the defect of the golf ball is reduced.
成形型に流入するガスは少量なので、ゴルフボールの不良が低減される。 - 特許庁 - Thus, the defect of the data track is effectively detected, and also the testing period is shortened.
これにより、データ・トラックの欠陥を効果的に検出し、また、そのテスト時間を短縮する。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE, DEFECT ANALYZING METHOD THEREFOR AND RECORDING MEDIUM WITH THE SAME RECORDED METHOD
半導体装置とその不良解析方法及びその方法が記録された記録媒体 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR CORRECTING HORIZONTAL STRIPE DEFECT UTILIZING FEEDBACK/FEEDFORWARD CONTROL
フィードバック／フィードフォワード制御を利用した横縞欠陥の補正システムおよび補正方法 - 特許庁 - Thereby, the alignment defect and alignment unevenness caused by the structure of the grooves between pixels can be suppressed.
これにより、画素間溝の構造に起因する配向不良、配向むらが抑制される。 - 特許庁 - To provide technology for accurately extracting and analyzing a defect detected by an electron beam.
電子ビームで検出した欠陥を正確に取り出して解析する技術を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor defect sorting method which is high in sorting accuracy and efficiency.
分類精度が高く、且つ処理効率が高い半導体欠陥分類方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display device capable of reducing point defect and improving transmissivity.
点欠陥の低減および透過率の向上を図った液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - A main control part 3 performs processing for determining existence of a defect by using each image.
また、主制御部３では各画像を用いて欠陥の有無を判定する処理を行なう。 - 特許庁 - This result leads to proper correction of the V line defect in motion image photographing.
その結果、動画撮影時においてＶライン傷の補正を適切に行えることとなる。 - 特許庁 - To easily and efficiently detect a defect present in a semiconductor substrate with high sensitivity.
半導体基板内に存在する欠陥を、容易に、効率よく、かつ、高感度に検出する。 - 特許庁 - HIGHLY SENSITIVE OPTICAL INSPECTION SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING DEFECT ON DIFFRACTION SURFACE
回折面上の欠陥を検出するための高感度光学検査システムおよび方法 - 特許庁 - To provide an encoder foil and manufacturing method thereof for coping with defect of usual encoder foils.
通常の符号器ホイルの不備に対処する符号器ホイルおよび製造法を提供する。 - 特許庁
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