「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 84 85 86 87 88 89 90 91 92 .... 366 367 次へ＞- To provide a new burnishing drill having machining accuracy equal to or more than that of a conventional burnishing drill and remarkably hardly generating a quality defect such as a galling defect.
従来のバニシングドリルに比べて加工精度が同等以上であり、しかもカジリ不良等の品質不具合が格段に発生し難い新たなバニシングドリルを提供する。 - 特許庁 - In addition, additional write of the defect data newly detected by a defect data detecting part 112c to the EEPROM 118 is performed by every application of power.
また、欠陥データ検出部１１２ｃによって新たに検出された欠陥データのＥＥＰＲＯＭ１１８への追加書き込みは、毎回の電源投入のたびに行われる。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING HEIGHT OF MICRO PROTRUSION AND DEFECT DETECTOR
微少突起物の高さ検出方法、高さ検出装置および欠陥検出装置 - 特許庁 - METHOD AND PROGRAM FOR DETERMINING MACHINING DEFECT OF CAST PRODUCT
鋳造品の加工不良判定方法及び鋳造品の加工不良判定プログラム - 特許庁 - At such a time, the defect kinds are sorted especially not only on the basis of the levels of maximum and minimum values but also on the basis of the difference value of maximum and minimum values (amplitude of a defect signal).
このとき、特に、最大値の大きさ、最小値の大きさのみでなく、最大値と最小値の差分値（欠陥信号の振幅）によっても、欠陥種類を分類する。 - 特許庁 - The generation state of a defect is statistically judged and the inspection region is restricted corresponding to a case getting out of an estimated distribution system to perform the inspection of a defect.
欠陥の発生状況を統計的に判断し、予想される分布形式から外れた場合に応じて検査領域を制限して、欠陥の検査を行う。 - 特許庁 - To precisely inspect a defect or nonconformity (for example, stuck seal) of a container such as a beer case.
ビールケース等の容器の不具合（例えば、シールの付着）を高い精度で検査する。 - 特許庁 - To identify a protruded or recessed shape of a detected defect, in a method for detecting the defect on a semiconductor wafer.
半導体ウエハ上の欠陥を検出する方法において、検出された欠陥の形状が凸形状なのか、あるいは凹形状なのかを識別する方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a high voltage MOS transistor overcoming a defect of the conventional art.
従来技術の欠点を克服した高電圧ＭＯＳトランジスタを提供すること。 - 特許庁 - To provide a defect removing device capable of quickly removing a defective region over a wide range and preventing the deterioration of quality relating to the defect removal.
広範囲に渡る欠陥領域を迅速に除去すると共に、欠陥除去に係る品質低下を防止することを可能とする欠陥除去装置等を提供する。 - 特許庁 - Thus the generation of a molding defect in a molded article can be prevented.
したがって、成形品に成形不良が発生するのを防止することができる。 - 特許庁 - To prevent the reduction of manufacturing yield and reliability due to a fatal defect (line display defect) generated when a short circuit is generated between a gate and a drain (or source) of a transistor.
トランジスタのゲートとドレイン（またはソース）間に短絡が生じた場合に致命欠陥（線表示欠陥）となることによる製造歩留および信頼性の低下を防止する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR SEARCHING DEFECT IN MOUNTED BASE BOARD AND STORAGE MEDIUM
実装基板の不良探索方法及び不良探索装置並びに記録媒体 - 特許庁 - (A) Defect warranty liability The user could either (a) terminate the contract, (b) demand for damages or (c) demand for repair of defect.
ａ）瑕疵担保責任等が適用される場合ユーザーはベンダーに対して、ア）契約解除、イ）損害賠償、ウ）瑕疵修補請求のいずれかを請求することが考えられる。 - 経済産業省 - To provide a defect inspection method utilizing an illumination transition region capable of visualizing a defect at high sensitivity and utilizing the illumination transition region for the whole surface of a lens.
高感度に欠陥可視化が可能な照明遷移領域を利用し、レンズ全面に対して前記の照明遷移領域を利用した欠陥検査手法を提供する。 - 特許庁 - To provide a device and method for defect signal detection capable of precisely detecting a defect signal according to an input reproduction signal.
入力される再生信号に応じてさらに正確に欠陥信号を検出できる欠陥信号検出装置及びその欠陥信号検出方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection method that improves pseudo resolution by image processing and detects a defect in a workpiece to be inspected with high accuracy.
画像処理による擬似的な解像度の向上を実現し、検査対象であるワークに存在する欠陥を高精度に検出可能な欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a photoelectric conversion element capable of accelerating processing and changing a resolution without increasing costs, and a defect inspection device and a defect inspection method using it.
コストを増加させずに処理の高速化と解像度の変更が可能な光電変換素子と、それを用いた欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - The final defect marking apparatus comprises a defect mark detecting device of detecting a defect mark of the film carrier tape for mounting electronic components with defect marks at predetermined points in various inspection steps in advance, and a plurality of marking devices of providing the final marking to detected defective portions of the film carrier tape for mounting the electronic components.
予め前行程である種々の検査工程で所定箇所に不良マークが付された電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良マークを検出する不良マーク検出装置と、不良マーク検出装置の検出結果に基づいて、検出された電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良部分に最終マーキングを付する複数のマーキング装置を備える。 - 特許庁 - When a second GaN layer 57 is epitaxially grown on the substrate, a lattice defect D that is propagated from the first GaN layer 53 exists merely in a region (defect region Ra) that is positioned at the upper part of the center part of the recess 53a, and there is hardly any lattice defect D that is propagated from the first GaN layer 53 in the other regions (low defect region Rb).
基板上に、第２のＧａＮ層５７をエピタキシャル成長させると、凹部５３ａの中央部の上方に位置する領域（欠陥領域Ｒａ）にのみ第１のＧａＮ層５３から伝播した格子欠陥Ｄが存在し、その他の領域（低欠陥領域Ｒｂ）には第１のＧａＮ層５３から伝播した格子欠陥Ｄはほぼ存在しない。 - 特許庁 - In each arithmetic processing part 41-43, the photographic data are image-processed for 100 lines to perform specifying a detection range, elicitation by binarization of the image data with a defect threshold, bleb processing for taking, the elicited defect images, when they are vertically and laterally continued, as a mass of bleb, and defect determination and defect kind determination based on the area of bleb.
各演算処理部４１〜４３で１００ライン毎に画像処理して、検出範囲の特定、欠陥しきい値による画像データの２値化による顕在化、顕在化された欠陥画像が上下左右で連続しているときにこれを１かたまりのブレブとするブレブ処理、ブレブの面積に基づく欠陥判別及び欠陥種別判別を行う。 - 特許庁 - To provide a marking signal control method for printed matter defect inspection, which allows setting of a printed matter defect inspection device and a marking device without limitation in the distance between both, and further allows suppression of use of resources in a memory or register by performing output control of marking signal relative to defect detection signal in defect inspection of printed matter.
印刷物の欠陥検査において、欠陥検出信号に対するマーキング信号の出力制御を行い、印刷物欠陥装置とマーキング装置の距離を制限なく設置することを可能とし、更にメモリやレジスタのリソースの使用を抑制可能とする印刷物欠陥検査におけるマーキング信号制御方法を提供する。 - 特許庁 - Even if there is an electrode open defect 103 in a wall face of a rib 101 formed on a substrate, the defect can be stably and efficiently amended by identifying the defect 103, pressing and applying a paste 30 adhering to the circumferential face of a coating probe 20 to the identified defect part from the side face, and curing the applied paste 30.
基板上のリブ１０１の電極オープン欠陥１０３を認識し、認識した欠陥部分に塗布針２０の周面に付着したペースト３０を側面から押し当てて塗布し、塗布したペースト３０を硬化させることにより、基板上に形成されたリブ１０１の壁面に欠陥があっても安定してかつ効率的に修正することができる。 - 特許庁 - A market defect analyzing part 223 extracts a specific keyword from a data extracting part (not shown in drawing) on the basis of defect causes or processing contents of all of defect records of a radio device X stored in the market defect database 21, when analyzing conditions are designated, and the number of the keywords are counted by a data counting part (not shown in drawing).
市場不良解析部２２３は、解析条件が指定されると、市場不良データベース２１に記憶されている無線装置Ｘの全ての不良カルテの不良原因又は処置内容を参照し、その中から特定のキーワードをデータ抽出部（不図示）により抽出し、そのキーワードの数をデータ集計部（不図示）により集計する。 - 特許庁 - To provide a mobile object position detection system which eliminates a defect (defect in mobile object position detection system by GPS) that processing by radio equipment becomes complicated and the defect (defect in mobile object position detection system by a beacon) that a beacon device and a beacon receiver have to be installed apart from the radio equipment.
無線装置の処理が複雑になるという欠点（ＧＰＳによる移動体位置検出方式での欠点）、ビーコン装置及びビーコン受信装置を無線装置とは別に設置しなければならないという欠点（ビーコンによる移動体位置検出方式での欠点）を除去した移動体位置検出方式を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide an electrolytic capacitor which improves both dry strength and wetting strength simultaneously, improves vibration resistance and withstand voltage of the electrolytic capacitor, and further improves impedance characteristic, especially defect rate of element short-circuiting defect rate, impregnated element shape defect rate and aging short-circuit defect rate without giving any bad effect to an ESR, thus raising reliability.
乾燥強度と湿潤強度を同時に改善するとともに電解コンデンサの耐振動性と耐電圧を向上させ、更にインピーダンス特性、特にＥＳＲに悪影響を与えることなく素子ショート不良率及び含浸素子形状不良率、エージングショート不良率を改善し、信頼性を高めた電解コンデンサを提供することを目的とする。 - 特許庁 - In an image processor for processing data picked up using an imaging device, imaging data concerning a defect pixel having a defect level higher than a predetermined level undergoes interpolation correction processing based on the imaging data of other pixel, and imaging data concerning a defect pixel having a defect level lower than a predetermined level undergoes offset correction processing or gain correction processing.
撮像素子を用いて撮像された撮像データを処理する画像処理装置において、欠陥レベルが所定レベルより高い欠陥画素に係る撮像データは、他の画素の撮像データに基づく補間補正処理を行い、欠陥レベルが所定レベルより低い欠陥画素に係る撮像データは、オフセット補正処理又はゲイン補正処理を行なう。 - 特許庁 - To facilitate defect detection when a defect is present in a peripheral portion having a large luminance difference in an electronic display image quality inspection device detecting the display defect by picking up an image of the display defect in a display device such as a plasma display by a camera or the like, and binarizing an image obtained by differentiating the picked-up image by spatial differentiation processing or the like.
プラズマディスプレイ等の表示装置における表示欠陥をカメラ等により撮像し、撮像画像を空間微分処理等により微分した画像を２値化することにより、表示欠陥を検出する電子ディスプレイ画質検査装置において、輝度差の大きい周辺部分に欠陥が有る場合の欠陥検出を容易にすることに有る。 - 特許庁 - an image defect, smoking, firing, etc., due to a leak and dripping of a lubricant are prevented.
また、潤滑剤の漏れや垂れに起因する画像欠陥、発煙、発火等を防止する。 - 特許庁 - To reduce the damage caused by fore and aft inversion in shim mounting and a defect of replacement caused thereby.
シムの前後逆取り付けによる損傷、それによる交換の欠点を軽減すること。 - 特許庁 - RECORDING MEDIUM HAVING SPARE AREA FOR DEFECT MANAGEMENT AND METHOD OF ALLOCATING SPARE AREA
欠陥管理のための余裕空間を有する記録媒体と余裕空間割当方法 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a liquid crystal panel capable of preventing a bubbling defect in a main seal.
メインシールでの気泡不良を防止できる液晶パネルの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To improve yield by modifying a micro pore defect occurring in a micro pore work piece.
微細孔加工品に生じた微細孔欠陥を修正し、歩留りの向上を図る。 - 特許庁 - This allows images of the defect to be taken by means of the camera through two sight lines of different angles.
これにより、カメラは、２つの異なった角度の視線で欠陥の像を撮影する。 - 特許庁 - To efficiently and stably grow a defect-free part free from secondary defects in the radial direction of the crystal.
結晶径方向で二次欠陥のない無欠陥部を、効率よく安定的に育成する。 - 特許庁 - LIGHTNESS CORRECTING METHOD, SELECTIVE DEFECT DETECTING METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDING THE METHODS
明度補正方法及び選択的欠陥検出方法及びこれらを記録した記録媒体 - 特許庁 - To provide a sample preparation method which easily can analyze any defect in the vicinity of wafer surface.
ウェハの表面近傍欠陥を容易に解析できる試料作製方法を提供する。 - 特許庁 - To form a uniform coating, which is excellent in gas resistance and free of defect on a recording medium.
耐ガス性に優れ記録媒体上で欠陥が無く均一な被覆形成を行なう。 - 特許庁 - To grasp a defect in a molding quickly and precisely.
本発明は、成形体における欠陥を迅速、かつ的確に把握することを課題とする。 - 特許庁 - As a result, even if a defect occurs during the polishing, the turning of the wafer W will not stop.
結果、仮に研磨中に不具合が起きても、ウェーハＷの旋回は停止しない。 - 特許庁 - DEFECT DETECTING METHOD FOR MULTILAYER ELECTRONIC COMPONENT, AND METHOD OF MANUFACTURING MULTILAYER ELECTRONIC COMPONENT
積層型電子部品の不良検出方法および積層型電子部品の製造方法 - 特許庁 - The reflected light from the steel plate 3 is changed, thereby generates a false defect.
これにより鋼板３からの反射光も変化し、疑似欠陥が発生したことになる。 - 特許庁 - To provide a process for fabricating a silicon single crystal wafer in which void defect can be reduced.
ボイド欠陥を低減できるシリコン単結晶ウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a plasma display panel capable of restraining the generation of a quality defect.
品質不良の発生を抑制できるプラズマディスプレイパネルの製造方法を提供する。 - 特許庁 - Such a defect as a bare case does not occur in the tire produced by using the bladder 2.
このブラダー２を用いて製造されたタイヤに、ベアーケースのような欠陥は生じない。 - 特許庁 - Therefore, occurrence of discharge breakdown or expansion of image defect can be suppressed.
従って、放電破壊や、画像欠陥の拡大を引き起こすことを抑制することができる。 - 特許庁 - METHOD OF DETECTING WELD DEFECT AND METHOD OF PRODUCING ELECTRIC RESISTANCE WELDED TUBE, AND WELDED PRODUCT
溶接欠陥検出方法及び電縫鋼管の製造方法並びに溶接製品 - 特許庁 - To provide improved belt drives for a machine for inspecting a defect of a bottle.
ボトルの欠陥を検査する機械のための改良されたベルト駆動装置を提供すること。 - 特許庁 - Thus, even the integrated circuit 10s in the master side has a defect, the device can be self-repaired.
これにより、マスター側の集積回路１０ａに欠陥があっても自己修復できる。 - 特許庁 - The position of the defect section 71 can be fluoroscopically grasped by the imaging marker 4.
Ｘ線透視下で、欠損部７１の位置は、造影マーカ４により把握することができる。 - 特許庁
