「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 82 83 84 85 86 87 88 89 90 .... 366 367 次へ＞- To efficiently and more surely perform a test for detecting a defect on a magnetic disk.
より確実に磁気ディスク上の欠陥を検出するテストを効率的に行う。 - 特許庁 - When a defect detection means 10 detects a data defect in image data, an output means 11 outputs, to a display part 50, information representing an error.
欠損検出手段１０が画像データの中からデータ欠損を検出したときに、出力手段１１が表示部５０に表示部にエラーであることを出力する。 - 特許庁 - To improve reliability by preventing a soldering defect.
半田付け不良を防止することにより信頼性を高めることができるようにする。 - 特許庁 - To provide an insert and a cutting tool excellent in abrasion resistance and defect resistance.
耐摩耗性及び耐欠損性に優れたインサート及び切削工具を提供すること。 - 特許庁 - To provide a multi-domain vertical alignment liquid crystal display panel having no alignment defect.
配向欠陥のないマルチドメイン垂直配向型液晶表示パネルを提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR PARTIALLY FORMING THIN FILM, THIN FILM FORMING MATERIAL, METHOD FOR RESTORING PARTIAL DEFECT OF THIN FILM, COLOR FILTER FOR LIQUID CRYSTAL PANEL AND DEVICE FOR RESTORING DEFECT OF THIN FILM
部分的薄膜形成方法、薄膜形成材料および薄膜の部分的欠陥修復方法、液晶パネル用カラーフィルタならびに薄膜の欠陥修復装置 - 特許庁 - To provide a continuous casting method, by which an alloy steel containing ≥30% Ni is cast without generating a surface defect or an internal defect in a cast slab.
Ｎｉを３０％以上含有する合金鋼を、鋳片の表面欠陥および内部欠陥を発生することなく鋳造できる連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁 - The noble metal is supported at least in the internal defect of a carrier consisting of the crystal grain of an oxide having a nucleus and the internal defect extending nearly radially around the nucleus.
核と核を中心として略放射状に延びる内部欠陥とを有する酸化物の結晶粒からなる担体の、少なくとも内部欠陥に貴金属を担持した。 - 特許庁 - Thus, even when a defect takes place in the pattern parts 1b, 1d, since the error accompanied with the defect is decreased, the processing accuracy can be enhanced.
このようにすると、パターン部１ｂ、１ｄに欠陥が発生している場合であっても、欠陥に伴う誤差が小さくなるので加工精度を向上させることができる。 - 特許庁 - To accurately discriminate a defect at a pattern edge in a method for comparing a sample image with a target image and detecting the defect in the target image in units of pixel.
サンプル画像とターゲット画像とを比較し、画素単位でターゲット画像の欠陥を検出する方法において、特にパターンのエッジ部における欠陥を正しく判別する。 - 特許庁 - GLASS SUBSTRATE FOR STORAGE MEDIUM AND METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DEFECT OF GLASS VESSEL
記憶媒体用ガラス基板及びガラス容器の欠点検出方法並びに装置 - 特許庁 - The existence of defect detection is checked (S36), and when no defect is detected, inspecting image data are deleted and the fact of deletion is recorded in the history information (S40).
そして、欠陥検出の有無を調べ（Ｓ３６）、欠陥が検出されない場合には、検査画像データを削除し履歴情報に削除した旨を記録する（Ｓ４０）。 - 特許庁 - This type of substrate 30 is hardly affected by a crystal defect extending in parallel with the c-axis direction to make it possible to suppress a deterioration in element characteristic due to the crystal defect.
このような基板３０では、ｃ軸方向に平行に延びる結晶欠陥の影響を受けにくく、結晶欠陥による素子特性の劣化を抑制することができる。 - 特許庁 - To provide an image signal processor for correcting a pixel defect by highly accurately detecting a pixel defect which is generated during an operation with the secular change of an imaging element.
撮像素子の経年変化により動作中に発生する画素欠陥を高精度に検出して画素欠陥の補正を行う画像信号処理装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for producing a growth defect-free, high-quality silicon wafer in a stable supply pattern through identifying growth conditions further suitable for giving defect-free single crystal.
無欠陥単結晶を得るのに一層好適な成長条件を突き止め、成長欠陥のない高品質なシリコンウェーハを安定供給できる製造方法を確立する。 - 特許庁 - To provide a wrapping bag for sterilization which reliably detects seal defect.
シール不良を確実に検出することができる滅菌用包装袋を提供する。 - 特許庁 - A feature extracting operator having a feature extraction pattern including a defect to be detected is held in advance and scanned to detect a defect image.
あらかじめ検出すべき欠陥を含む特徴抽出パターンを有する特徴抽出演算子を保持しておき、これを走査することによって欠陥画像を検出する。 - 特許庁 - To provide a surface defect detection device capable of detecting an irregular defect on the cylindrical work surface in a short time with excellent sensitivity, and requiring only a small installation space.
円筒状ワーク表面の凹凸欠陥を短時間で感度良く検出できるとともに、設置スペースが少なくて済む表面欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁 - The control section 11 changes the way of cutting by a sheet cutting section 10 for the continuous sheet 14b on the basis of the result of defect detection by the defect detection section 9.
制御部１１は、欠陥検出部９による欠陥検出結果に基づいて、連続シート１４ｂに対するシート切断部１０による切断の仕方を変更する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of improving accuracy and efficiency of detect inspection on the surface of a work having gloss.
光沢を有するワークの表面における欠陥検査の精度と効率とを向上させることが可能な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - If the position of the defect measured with the wafer inspection device agrees with a vacancy-rich region of the wafer, the kind of the defect is determined as being not particles.
前記ウェーハ検査装置によって測定された前記欠陥の位置が前記ウェーハのベイカンシ−リッチ領域に該当するなら、前記欠陥の種類がパーチクルでないと判定する。 - 特許庁 - Each defect removed portion is brought into a recessed shape in a surface coating on the skin layer 2a.
スキン層２ａの表面皮膜の欠点が除去された箇所が凹状になる。 - 特許庁 - To provide a mounted base board defect searching method and its device realizing a general searching technique allowing an automated defect search in a short time by means of a simple device structure.
簡易な装置構成で自動的に短時間で不良探索を行うことができる汎用的な探索手法を実現した実装基板不良探索方法及び装置。 - 特許庁 - To provide a method and its device capable of discriminating not only an existence of a defect but also the type of the defect in a surface condition of an inspected article such as a metal member.
金属部材などの被検物品の表面状態を欠陥の有無のみならずその欠陥の種類まで判別できる検査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁 - To prevent a defect due to an ROP processing at high speed with a small amount of memory capacity.
少ないメモリ容量、かつ高速にＲＯＰ処理による不具合を防止する。 - 特許庁 - To compensate a streak defect in an image formed by an image forming device.
画像形成デバイスによって形成された画像におけるストリーク欠陥を補償する。 - 特許庁 - To provide a method of setting a threshold for blot defect detection to simply set a threshold for detecting a blot defect by means of a plurality of inspection devices under a unified determination.
複数の検査装置で統一した判断でシミ欠陥を検出するための閾値を簡便に設定するシミ欠陥検出用閾値設定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a terminal welding method that facilitates suppressing a welding defect.
簡単に溶接不良を抑制することができる端子溶接方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect detection device and method capable of shortening an inspection time corresponding to the case where a large defect larger than a prescribed size exists.
所定サイズ以上の大欠陥がある場合に対応して検査時間を短縮することができる欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁 - In the temperature descending process, the zigzag defect 15c can be efficiently decreased by an interaction of an alignment regulating force with a peripheral normal part of the zigzag defect 15c.
この降温過程で、ジグザグ欠陥部１５ｃの周辺正常部との配向規制力の相互作用によりジグザグ欠陥部１５ｃを効率良く減少させることができる。 - 特許庁 - Consequently, only the amorphous silicon region part is fused together with the defect gathering layer, and then cooled to be solidified, thereby reducing or eliminating the defect gathering layer.
これにより、アモルファスシリコン領域部のみが欠陥集合層とともに溶融し、その後、これを冷却して固化することで、欠陥集合層の低減または消滅が図れる。 - 特許庁 - In a correction process S16, a position of the unit region including the defect in the second stage by position coordinate, is specified and the defect of the unit region is corrected.
修正工程Ｓ１６では、位置座標によって第２のステージにおける欠陥を含む単位領域の位置を特定し、単位領域の欠陥を修正する。 - 特許庁 - To provide an active matrix substrate in which correction of a defect is easy and yield decrease caused by a conductive piece prepared for defect correction is suppressed.
画素欠陥の修正が容易で、かつ、欠陥修正用に設けられた導電片に起因した歩留まりの低下が抑制されたアクティブマトリクス基板を提供する。 - 特許庁 - The product is image-photographed, and is template-matched using the template 104 with the defect pattern as the template, and the presence of the defect is determined based on an evaluation value by the matching.
製造物を画像撮影し、欠陥パターン付きテンプレート１０４をテンプレートとしてテンプレートマッチングを行い、マッチングさせた評価値から欠陥の有無を判定する。 - 特許庁 - To enable rapid repair of a defect by decreasing the number of times of coating application operations of a correcting fluid even when the translucent defect of a large size exists.
サイズが大きい透光性欠陥が存在する場合でも、修正液の塗布操作の回数を極力少なくした上で、短時間で欠陥を修正できるようにする。 - 特許庁 - Furthermore, since the inspection device includes a function of collating the inspection results for both samples, the relation between a defect and the cause of the defect can be analyzed easily.
更に、双方の試料に対する検査結果を照合する機能を備えることにより、欠陥と欠陥が生じる原因との関係を容易に解析できるようにする。 - 特許庁 - To provide a high-accuracy inspection method and inspection apparatus capable of easily determining a threshold value of brightness of a pixel to be extracted as a defect and detecting a true defect.
欠陥として抽出する画素の明るさの閾値を決めることを容易にして、真の欠陥を検出できる精度の高い検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for correcting a defect in a pattern substrate capable of stably correcting the defect and a manufacturing method of a pattern substrate.
安定して欠陥を修正することができるパターン基板の欠陥修正方法及び欠陥修正装置並びにパターン基板製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To prevent deterioration of a display quality level by point defect of a display panel with high definition.
高精細な表示パネルの点欠陥による表示品位の低下を防止する。 - 特許庁 - To provide a defect information processor which permits information on a product defect to be shared among the parties concerned of the product manufacturer, a store or the like.
製品の不具合に関する情報を、製品のメーカや販売店等の関係者の間で共有化することが可能な不具合情報処理装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device having a structure capable of eliminating a bonding defect and a conduction defect between a cap portion and a sensor portion, and to provide a method for manufacturing the same.
キャップ部とセンサ部との接合不良や導通不良が起こらないようにすることができる構造を備えた半導体装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To obtain a defect management method for an optical disk by which allocation of a spare region is set to be an appropriate one according to its usage in the optical disk which executes defect management.
欠陥管理を行う光ディスクにおいて、スペア領域の割り当てをその用途に応じて適切なものに設定することができる光ディスクの欠陥管理方法を得る。 - 特許庁 - METHOD FOR SORTING DEFECT ON BASIS OF PICKED-UP IMAGE AND METHOD FOR DISPLAYING THE RESULT
撮像画像に基づく欠陥の分類方法、および、その結果の表示方法 - 特許庁 - In the wafer surface layer, the grown-in defect is removed or reduced and there is no possibility of giving bad influence such as the property defect of semiconductor device.
このウェーハ表層部は前記ｇｒｏｗｎ−ｉｎ欠陥が消滅もしくは低減されており、半導体デバイスの特性不良などの悪影響を与えるおそれがない。 - 特許庁 - By this method, a forming defect is prevented and a production cost can be reduced.
これにより、成形不良を防止でき、製造コストの低減を図ることができる。 - 特許庁 - To prevent a fault at defect inspection or a disconnection defect of wiring due to irregularities caused on a surface when reducing the thickness of copper foil by etching.
銅箔の厚さをエッチングによって減少させるときに、表面に凹凸が生じることで欠陥検査の障害となったり、配線の断線不良となったりすること。 - 特許庁 - To provide a means capable of simplifying defect inspection of electrodes or the like.
電極等の欠陥検査を簡略化することが可能な手段を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for a correcting mask defect which can control the generation of so-called gallium stains by making it possible to rapidly correct the defect after mask inspection.
マスク検査後の欠陥修正を短時間で行うことができるようにして、所謂ガリウムステインの発生を抑制するとができるマスク欠陥の修正方法を提供する。 - 特許庁 - To facilitate defect analysis work by executing defect analysis for a semiconductor integrated circuit by using a more simplified analyzer.
本発明は、半導体集積回路不良解析をより簡略化された解析装置にて実施することを可能とし、不良解析作業の簡便化を図ることを目的とする。 - 特許庁 - To reduce a contact fail in a thin-film transistor causing a point defect and a line defect although it is extremely difficult to eliminate the point and line defects completely in the thin-film transistor in an active matrix type liquid crystal display.
アクティブマトリクス型の液晶表示装置において、薄膜トランジスタの点欠陥や線欠陥を完全に排除するのは極めて困難であるのが現状である。 - 特許庁
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