「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 79 80 81 82 83 84 85 86 87 .... 366 367 次へ＞- DEFECT SIGNAL GENERATING CIRCUIT AND OPTICAL DISK RECORDING AND REPRODUCING DEVICE HAVING THE SAME
ディフェクト信号生成回路及び同回路を有する光ディスク記録再生装置 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory in which defect relieving after assembling can be performed.
アセンブリ後の不良救済をも可能とした半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁 - APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM FOR DEFECT PROCESSING ANALYSIS
不具合処理分析装置、不具合処理分析方法および不具合処理分析プログラム - 特許庁 - The regions including defective parts are removed by partially grinding or cutting on the basis of the informations from the defect selecting apparatus 15a with a defect removing apparatus 14a.
欠陥除去装置１４ａは、欠陥選択装置１５ａからの情報に基づき、欠陥部を含む領域を部分的に研削、あるいは切削により除去する。 - 特許庁 - To provide an etching defect inspection method of a piezoelectric vibration chip wafer, and an inspection system.
圧電振動片ウェハのエッチング欠陥検査方法、及び検査システムを提供する。 - 特許庁 - To solve the problem that manufacturing defect location cannot be specified even if manufacturing defect can be judged by a scan path method for testing a circuit to be inspected in a semiconductor integrated circuit.
半導体集積回路内の被検査回路をテストするスキャンパス手法では製造不良を判定することはできても、製造不良箇所を特定することはできない。 - 特許庁 - To provide an image processor notifying a user of error treatment information even when there are failures such as a printing defect, and a communication defect with an external device.
印刷不良や外部装置との通信不良などの不具合があっても、ユーザにエラーの対処情報を通知することが可能な画像処理装置を提供する。 - 特許庁 - To prevent wrong detection relative to comparatively mild ink unevenness unrecognized as a defect by a person viewing a print, without reducing detection accuracy of the defect.
欠陥の検出精度を低下させることなく、印刷物を見る者に欠陥として認識されないような、比較的穏やかなインキムラに関する誤検出を防止する。 - 特許庁 - In the reconstructed defect numbers histogram, needless noise is suppressed without losing regularity to be analyzed, and analysis accuracy of defect analysis can be improved.
再構築された不良数ヒストグラムは、解析すべき規則性を失うことなく不必要なノイズが抑圧されており、不良解析の解析精度を高めることが可能になる。 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR PASSIVELY DETECTING AND POSITIONING WIRE HARNESS DEFECT
ワイヤハーネス欠陥を受動的に検出しかつ位置判定するための方法及びシステム - 特許庁 - FIBER REINFORCED PLASTIC PANEL, METHOD OF DETECTING ITS DEFECT, AND FIBER REINFORCED BASE
繊維強化プラスチックパネル及びその異常検出方法並びに繊維補強基材 - 特許庁 - To provide a semiconductor package avoiding a solder joining defect due to warpage of a substrate.
基板の反りによる半田接合欠陥を避ける半導体パッケージを提供する。 - 特許庁 - To suppress lattice defect and produce a good-quality diamond having little H content.
格子欠陥を抑制し、Ｈ含有量の少ない良質のダイヤモンドを製造する。 - 特許庁 - To provide a device and method for defect inspection, capable of ensuring the size of an image block processable by a PE (Processor Element) used in image processing in defect inspection.
欠陥検査の画像処理に用いるＰＥの処理可能な画像ブロックのサイズを確保することができる欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a pattern inspection method capable of performing defect inspection simply, quickly and surely, even when performing the defect inspection of a pattern of a sample having a large region.
大領域の試料のパターンの欠陥検査を行う場合であっても、簡便、迅速、確実に欠陥検査を行うことができるパターン検査方法を提供する。 - 特許庁 - After that, the release layer is etched to separate the low defect density film from the base substrate (step 1100), and then a device is grown on the low defect density film (step 1080).
その後、リリース層をエッチングすることで低欠陥密度膜をベース基板から分離して（ステップ１１００）、低欠陥密度膜上にデバイスを成長させる（ステップ１０８０）。 - 特許庁 - The waveguide 100 is constituted by connecting the total reflection confinement type waveguide 120 to the end face of the line defect section 113 of the photonic crystal line defect waveguide 110.
導波路１００は、フォトニック結晶線欠陥導波路１１０の線欠陥部１１３の端面に全反射閉じ込め型導波路１２０を接続して構成されている。 - 特許庁 - To add defect relieving functions to a plurality of semiconductor memory circuits, respectively by suppressing increment of circuit area without spoiling the defect relieving function.
欠陥救済機能を損なうことなく、回路面積の増加を抑制して、複数の半導体記憶回路に欠陥救済機能をそれぞれ付加することができるようにする。 - 特許庁 - To provide improved defect detection and analysis using infrared thermography.
赤外線サーモグラフィを使用して改善された欠陥検出及び解析を提供する。 - 特許庁 - To surely detect a black defect included in transparent granular objects to be tested.
透明な粒状被検査物に含まれる黒色の欠陥を確実に検出する。 - 特許庁 - When the sound intensity is smaller than a predetermined level g, a determination part 16 decides that the weld defect occurs and the coordinate points of the weld defect is stored by a storage part 17.
この音の強さが所定レベルｇより弱い場合には、溶接不良と判別部１６が判断して、その溶接不良箇所の座標を記憶部１７が記憶する。 - 特許庁 - HIGH-POWER IMAGE AUTOMATIC COLLECTION METHOD AND SYSTEM OF SEMICONDUCTOR WAFER DEFECT
半導体ウェーハ欠陥部の高倍率画像自動収集方法およびそのシステム - 特許庁 - METHOD FOR DISPLAYING DEFECTIVE CONTENT OF LOOM AND APPARATUS FOR DISPLAYING DEFECT CONTENT OF LOOM
織機の不良内容表示方法および織機の不良内容表示装置 - 特許庁 - Consequently, a peak of crystal defect density is nearby the top main surface of the n-type semiconductor substrate 2 and the crystal defect density is distributed gradually decreasing toward the reverse main surface.
この結果、結晶欠陥密度のピークはｎ型半導体基板２の上主面近傍となり、結晶欠陥密度は下主面に向かって漸減するように分布する。 - 特許庁 - To improve reliability of products in both surfaces of a device and a storage medium, by stably and surely managing defect information and defect management information.
安定して確実に欠陥情報及び欠陥管理情報を管理することができ、製品の信頼性を装置及び記憶媒体の両面で向上することができる。 - 特許庁 - To easily detect a defect of an internal component such as a diaphragm.
絞り等の内部の部品の故障を容易に検出することができるようにする。 - 特許庁 - To provide a method of detecting a defect in a liquid crystal panel with a polarization plate stuck thereon, the defect being undetectable by a conventional method, in the state in which the crystal panel is not driven.
従来方法では検出できない偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を、液晶パネルを駆動させない状態で、検出できる方法を提供する。 - 特許庁 - The presence of the defect in the weld is determined by analyzing the fluctuation of the ultrasonic energy in the measuring position in the vicinity of the latent defect position.
そして、潜在的欠陥位置の近傍の測定箇所における超音波エネルギーのゆらぎを解析することによって、溶接部内の欠陥の存在が決定される。 - 特許庁 - To provide a solid-state imaging device capable of preventing a generation of a white dot-shaped defect on a reproduction screen which is caused by a leak current due to a crystal defect.
結晶欠陥に起因するリーク電流に起因する再生画面上での白い点状欠陥の発生を抑制することができる固体撮像装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing an electric power steering device capable of lowering a defect rate.
不良率を低くできる電動パワーステアリング装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a rolled sheet wound with an optical film with defect information printed as a marking, and hardly generating a defect caused by transfer of irregular deformation in a marking portion.
欠点情報がマーキングとして印字された光学フィルムが巻回されており、該マーキング部位の凹凸変形の転写による欠陥が生じにくいロール原反を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a pneumatic tire preventing generation of a vulcanization defect.
加硫不良の発生を抑制しうる空気入りタイヤの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To suppress erroneous determination of an edge part as a defect part, when determining the defect part by receiving light transmitted through an inspection object.
検査対象物を透過した光を受光して欠陥部分を判定する場合に、エッジ部分を誤って欠陥部分として判定してしまうことを抑止すること。 - 特許庁 - To prevent a defect of data fragmentation caused by a defective sector of a hard disc device.
ハードディスク装置の不良セクタに起因するデータ断片化の不具合を回避する。 - 特許庁 - To provide a template suppressing defect of a transfer layer, and a pattern forming method.
転写層の欠陥を抑制するテンプレート及びパターン形成方法を提供する。 - 特許庁 - To automatically adjust statistical parameters used for detecting a defect of a device.
装置の異常検出に利用する統計的パラメータの調整を自動的に行う。 - 特許庁 - To prevent an adhesive sheet from having a peeling defect.
接着シートの剥離不良が発生することを防止することができるようにすること。 - 特許庁 - To provide a method which can evaluate an internal defect easily and speedily.
簡便かつ迅速に内部欠陥を評価することが可能な方法を提供する。 - 特許庁 - In addition, a defect of the green sheet 14 does not expand beyond a sheet interface, thereby reducing possibility of a defect occurring on the same position on the green sheets 14 and 14.
また、グリーンシート１４の欠陥がシート界面を超えて増長することはなく、グリーンシート１４，１４において同位置に欠陥が生じる確率も低く抑えられる。 - 特許庁 - To identify a step causing a surface defect of a glass substrate for a magnetic disk and to prevent further more generation of the surface defect by repairing the step.
磁気ディスク用ガラス基板の表面欠陥の原因となっている工程を同定し、当該工程を修繕することで、それ以上の表面欠陥の発生を防止する。 - 特許庁 - MICRO PROCESSOR INTEGRATED CIRCUIT CHIP AND METHOD FOR BYPASSING DEFECT POSITION OF CACHE MEMORY THEREON
マイクロプロセッサ集積回路チップおよびその欠陥キャッシュメモリ位置をバイパスする方法 - 特許庁 - To provide a black defect correction method for correcting a black defect generated in a transparent conductive film without damaging a base and a peripheral region.
透明導電膜に存在する黒欠陥を、下地や周辺部位へのダメージ無く修正することが可能な黒欠陥修正方法を提供することが課題である。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus with high productivity that reduces image density defect.
画像濃度の異常を抑制し、且つ生産性の良い画像形成装置の提供。 - 特許庁 - To achieve an inspection device of detecting a defect that is present in a silicon carbide substrate or an epitaxial layer formed in the silicon carbide substrate and classifying the detected defect.
炭化珪素基板又は炭化珪素基板に形成されたエピタキシャル層に存在する欠陥を検出し、検出された欠陥を分類する検査装置を実現する。 - 特許庁 - To detect a defect in an oxygen barrier film having a high oxygen barrier property in a short time.
高酸素バリア性の酸素バリアフィルムにおける欠陥を短時間で検出する。 - 特許庁 - PROCESSING METHOD FOR DIGITAL PHOTO IMAGE DATA INCLUDING METHOD OF AUTOMATIC DETECTION OF RED EYE DEFECT
赤目欠陥の自動識別方法を含むデジタル写真画像データの処理方法 - 特許庁 - The minute defect of the mold is corrected by laser-annealing only the surface of the mold.
モールドの表面のみをレーザアニールすることでモールドの微小欠陥を修正する。 - 特許庁 - TEST MASK, MANUFACTURING METHOD, AND METHOD FOR CONTROLLING DETECTION SENSITIVITY OF DEFECT INSPECTING APPARATUS
テストマスク及び製造方法及び欠陥検査装置の検出感度調整方法 - 特許庁 - To provide a structure for repairing a line defect of an organic light emitting display, which easily repairs a short defect between wiring lines, and also to provide a method of repairing the structure.
配線間のショート欠陥を容易に修理できるようにした有機電界発光表示装置の配線修理構造及びその修理方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an image defect correction apparatus which makes a white vertical line invisible that is generated by a point defect of a vertical CCD while suppressing the deterioration of substantial resolution.
垂直ＣＣＤの点欠陥により発生する白縦線を、実質的な解像度の低下を抑えつつ目立たなくすることができる画像欠陥補正装置を提供する。 - 特許庁
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