「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 83 84 85 86 87 88 89 90 91 .... 366 367 次へ＞- METHOD FOR PRODUCING HIGH MAGNETIC FLUX DENSITY GRAIN ORIENTED SILICON STEEL SHEET SMALL IN DEFECT IN SHAPE
形状欠陥の少ない高磁束密度方向性電磁鋼板の製造方法 - 特許庁 - Thus, the device 1 can accurately detect a defect of the pattern of the other die while removing the defect of the pattern of the die as the reference.
これにより、欠陥検出装置１では基準とされるダイのパターンの欠陥の影響を除きつつ、他のダイのパターンの欠陥を精度よく検出することができる。 - 特許庁 - The defect rate of the part manufactured in our factory is less than one percent.
当工場で生産している部品の不良品発生率は1パーセント未満です。 - Weblio Email例文集 - The defect rate of the parts manufactured in our factories is less than one percent.
当工場で生産している部品の不良品発生率は1パーセント未満です。 - Weblio Email例文集 - To provide a work defect detection system by which a defect determination is performed accurately even when setting mistake of inspection software to an inspection apparatus occurs.
この発明は、検査装置への検査ソフトのセットミスが起きた場合でも正確に不良判定を行うことができるワーク不良検出システムを提供することを課題とする。 - 特許庁 - STATISTICAL SYSTEM AND METHOD THEREOF IN DETECTION OF DEFECT SIGNAL IN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING
半導体製造での欠陥信号の検出における、統計システム及びその方法 - 特許庁 - When defect information is given to an emulator 110, the emulator 110 performs emulation the operation of drive or player caused by defect of data of a disk (medium) side.
エミュレータ１１０に対して欠陥情報が与えられると、エミュレータ１１０は、ディスク（メディア）側のデータの欠陥に起因するドライブ、プレーヤの動作のエミュレートを行う機能を有する。 - 特許庁 - When toner T is supplied to the surface of the photosensitive drum 24, the toner T is stuck to the charge defect portion of the photosensitive drum 24 and the charge defect portion is blackened.
感光ドラム２４の表面にトナーＴが供給されると感光ドラム２４の帯電不良部分にトナーＴが付着して帯電不良部分が黒くなる。 - 特許庁 - Namely, the crystal defect layer 25 in the active region 20 is formed at a shallower position from a surface than the crystal defect layer 25 in the non-active region 40.
すなわち、活性領域２０における結晶欠陥層２５は、非活性領域４０における結晶欠陥層２５よりも表面からみて浅い位置に形成されている。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device wherein the defect of a gate insulating film or the defect of the semiconductor substrate located near a gate electrode is removed, and to provide its manufacturing method.
ゲート絶縁膜の欠陥やゲート電極の近傍に位置する半導体基板の欠陥が除去された半導体装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - A waveguide 13 is formed by chipping a part of the rod belonging to the stripe layer to which the point defect 12 belongs and different from the rod to which the point defect 12 belongs.
点欠陥１２の属するストライプ層に属し、かつ点欠陥１２の属するロッドとは異なるロッドの一部を欠損させることによって導波路１３を形成する。 - 特許庁 - DEFECT DETECTION DEVICE AND METHOD FOR COAXIAL FLEXIBLE PIEZOELECTRIC CABLE
同軸状可撓性圧電体ケーブルの欠陥検出装置及び欠陥検出方法 - 特許庁 - To provide a technique by which the determination of the quality is attainable in real time during welding such that the occurrence of defect is discovered in real time when the defect is occurred during welding.
溶接中に欠陥が発生すればリアルタイムで欠陥の発生を発見する等、溶接中にリアルタイムで品質を判定することが可能な技術を提供する。 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR DEFECT ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR AS WELL AS MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR
半導体不良解析システムおよびその方法並びに半導体の製造方法 - 特許庁 - Light emitting parts 20 are periodically formed at specified intervals on the low-defect parts and (n) side electrodes 14 are formed in parts where the high-defect parts are removed.
このうち低欠陥部分の上に発光部２０が所定の間隔で周期的に形成され、高欠陥部分を除去したところへｎ側電極１４が形成されている。 - 特許庁 - PHOTOMASK, METHOD FOR DETECTING PATTERN DEFECT AND METHOD FOR FORMING PATTERN BY USING THE SAME
フォトマスク、そのパターン欠陥検出方法及びそれを用いたパターン形成方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR PHOTOMASK DEFECT CORRECTION USING CHARGED PARTICLE BEAM
荷電粒子ビームを用いたフォトマスクの欠陥修正方法及び欠陥修正装置 - 特許庁 - To prevent a defect of information in performing recording of the information by utilizing holography.
ホログラフィを利用して情報の記録を行う際の情報の欠落を防止する。 - 特許庁 - Thereby, thereafter, information of the QR code is read, so that the defect page is detected, and the restoration of the defect page can be easily performed.
このようにすることで、その後、このＱＲコードの情報を読取ることによって、欠損ページを検出し、その欠損ページの復元を容易に行うことが可能となる。 - 特許庁 - CORROSION LIQUID FOR SILICON WAFER D-DEFECT EVALUATION AND EVALUATION METHOD USING THIS LIQUID
シリコンウェハのＤ−欠陥評価用腐蝕液、及びこれを利用した評価方法 - 特許庁 - TITANIUM ALLOY BILLET HAVING EXCELLENT DEFECT DETECTABILITY IN ULTRASONIC CRACK INSPECTION TEST
超音波探傷試験における欠陥検出能力に優れたチタン合金ビレット - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a microchip using a low-defect SOI substrate.
低欠陥ＳＯＩ基板を用いてマイクロチップを製造する技術を提供すること。 - 特許庁 - To enable the correction of black defect in which also the riverbed is not generated in the practical throughput by combining a defect correcting device using an ion beam and an atomic force microscope(AFM).
イオンビームを用いた欠陥修正装置と原子間力顕微鏡(AFM)を組み合わせることで、実用的なスル−プットでリバーベッドも無い黒欠陥修正を可能にする。 - 特許庁 - A linear simulation defect 13 is formed on a base member 11 of the same configuration as a subject using a laser marking device 12, constituting a simulation defect sample 10.
被検査体と同一構成のベース部材１１にレーザーマーキング装置１２で一直線状の模擬欠陥１３を形成して、模擬欠陥サンプル１０を構成する。 - 特許庁 - To provide an inspection device that detects a defect existing in a silicon carbide substrate or an epitaxial layer formed on the silicon carbide substrate and classifies the detected defect.
炭化珪素基板又は炭化珪素基板に形成されたエピタキシャル層に存在する欠陥を検出し、検出された欠陥を分類する検査装置を実現する。 - 特許庁 - In order to reduce such a defect, burnishing is performed to the Ti-based film.
これらの欠陥を低減するために、Ｔｉ被膜に、バニシングが施される１０８。 - 特許庁 - The positions of pixel defects are detected from the image signals through a pixel defect detecting unit 13.
画素欠陥検出部１３は、画像信号から画素欠陥位置を検出する。 - 特許庁 - A defect abnormality detection processing part 234 decides that any image defect exists when the specified interrelation coefficients of the positioned portions are lower than a decision index value.
欠陥異常検出処理部２３４は、位置が合った部分での正規化相互相関係数が判定指標値を下回る場合画像欠陥が存在すると判定する。 - 特許庁 - To provide a method for applying defect correction substantially independent from calibration.
較正から実質的に独立した欠陥修正を適用する方法を提供する。 - 特許庁 - To perform stable patterning by eliminating a defect of a pinpoint in ink jet coating application.
インクジェット塗布において、ピンポイントの不良をなくし、安定したパターニングを行う。 - 特許庁 - To obtain a region with reduced defect extensively in a semiconductor element substrate.
半導体素子用基板において、広範囲にわたって低欠陥な領域を得る。 - 特許庁 - DEFECT MARKING APPARATUS FOR ELECTRONIC COMPONENTS MOUNTING FILM CARRIER TAPE
電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良マーキング装置およびそのためのスタンプ部材 - 特許庁 - The distribution of defect size is shifted toward that of much smaller one by the nitrogen doping.
窒素ドーピングにより欠陥サイズ分布がより小さい欠陥のほうにシフトする。 - 特許庁 - Accordingly, the defect detecting accuracy of the panel 2 can be improved.
すなわち、被検査パネル２の欠陥検出精度を大きく向上させることができる。 - 特許庁 - LIQUID CRYSTAL PANEL, PICTURE DISPLAY APPLICATION EQUIPMENT, AND METHOD FOR ELIMINATING BRIGHT DEFECT OF LIQUID CRYSTAL PANEL
液晶パネル、画像表示応用機器、および液晶パネルの輝点解消方法 - 特許庁 - To provide a surface defect inspection method which enables accurate detection of surface defects in information recording media which can cause errors, and to provide a surface defect inspection apparatus.
エラーとなり得る情報記録媒体の表面の欠陥を精度良く検出可能な表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - To favorably detect inner defects in the entire area of a glass substrate including an inner defect near the main surface, the defect giving a large influence on pattern transfer to a transfer material.
被転写体へのパターン転写に影響の大きな主表面近傍の内部欠陥を含む、ガラス基板の全ての領域の内部欠陥を良好に検出できること。 - 特許庁 - To provide a grid without a defect such as a void and a gap inside X-ray absorption parts.
Ｘ線吸収部内にボイドやシム等の欠陥が無いグリッドを提供する。 - 特許庁 - To provide a dressed building plate capable of not making a defect position conspicuous and easily repairing it even if the defect is generated on a design pattern formed by ink jet coating.
インクジェット塗装により形成された意匠模様に欠陥が生じてもこの欠陥箇所を目立たず容易に補修することが可能な化粧建築板を提供する。 - 特許庁 - To provide a data processor which can easily and also efficiently detect a defect of a defect inspection object and brings about a reduction in the costs of the entire device.
欠陥検査対象物の欠陥を容易に且つ効率的に検出することが可能であり、装置全体のコストダウンを図ったデータ処理装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a surface defect inspection apparatus for a cylindrical inspection target, which can inspect a defect generated on the surface of the cylindrical inspection target by a simple configuration.
簡単な構成で円筒形被検査体の表面に発生する欠陥を検査できる円筒形被検査体の表面欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To inspect a pattern defect on a sample, to recognize the causal relationship between abnormality in an apparatus and defect inspection, and to increase operating efficiency and reliability.
試料上のパターン欠陥を検査することができ、且つ装置異常と欠陥検査の因果関係を認識することができ、装置稼動率及び信頼性の向上をはかる。 - 特許庁 - Each piece of data from the inspection data storage part 38 is inputted, judged based on each threshold and recognized as the defect by a defect judgment processing part 45.
欠陥判定処理部４５は、検査データ蓄積部３８からの各データを入力し、それぞれのデータが各々の閾値を基準として判定され欠陥と認識する。 - 特許庁 - To allow one optical sheet which has no defect to be reused even when an optical member integrally constituted of two optical sheets has a defect.
２つの光学シートが一体化されて構成された光学部材が欠陥を有する場合であっても、欠陥を有していない一方の光学シートを再利用できるようにすること。 - 特許庁 - The position coordinate of a defect in a substrate for calibration is referred to as an absolute coordinate while the position coordinate of a defect in the substrate for calibration detected by the inspection device is referred to as an inspection coordinate.
校正用基板の欠陥の位置座標を絶対座標と呼び、検査装置によって検出した校正用基板の欠陥の位置座標を検査座標と呼ぶ。 - 特許庁 - To provide a continuous casting method by which the surface layer defect and the internal defect of a cast slab conductive to scab after being rolled and crack caused when press-formed can surely be eliminated.
圧延後のヘゲ疵やプレス成形時のワレにつながる鋳片の表層欠陥や内部欠陥を確実に解消することができる連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁 - DEVICE FOR MEASURING DEFECT EXISTING IN LIGHT TRANSMITTING SINGLE LAYER BODY OR LAMINATE
光透過性単層体又は積層体に存在する欠陥を測定する装置 - 特許庁 - To provide a fault diagnosis system and a fault diagnosing method capable of quantitatively determining defect classification with high accuracy on the basis of a uniformly acquired defect characteristic value.
画一的に取得した欠陥特徴値に基づいて欠陥種別を定量的かつ高精度で判定できる故障診断システム及び故障診断方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for remelting an Ni-base alloy which does not produce freckle defect.
フレッケル欠陥を発生させないＮｉ基合金の再溶解法を提供する。 - 特許庁 - An error discriminator 113 receives an error detected result caused by this defect through an error output logic 138i, and discriminates existence/absence of defect with a sector unit.
エラー判定器１１３は、この欠陥に起因するエラーの検出結果をエラー出力ロジック１３８ｉを介して受け取り、セクタ単位に欠陥の有無を判定する。 - 特許庁
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