「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 85 86 87 88 89 90 91 92 93 .... 366 367 次へ＞- METHOD FOR DETECTING AND REPAIRING SHORT CIRCUIT DEFECT OF PHOTOVOLTAIC ELEMENT MODULE
光起電力素子モジュールの短絡欠陥検出方法及び短絡欠陥修復方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DETECTING SEALING DEFECT OF PACKING MATERIAL AND PACKING BODY
包装材及び包装体のシール不良検出方法及びシール不良検出装置 - 特許庁 - To provide an inspection method for surface defects of a sheet-like material, in which the inspection accuracy of the surface defect is high.
検査精度が高いシート状材料の表面欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for detecting a defect in a tooth of a generator rotor.
発電機ロータの歯の欠陥を検出するための方法および器具を提供する。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR DETECTING DEFECT IN INNER-SURFACE COATING OF METAL CONTAINER DRUM PART
金属容器胴部の内面被膜の欠陥検出装置および欠陥検出方法 - 特許庁 - To perform seamless large-screen display without causing a defect of an image.
画像の欠けを生じさせることなくシームレスな大画面表示を行えるようにする。 - 特許庁 - To detect a minute defect in a perpendicular storage medium with high accuracy, and to evaluate characteristics.
垂直記憶媒体の微小欠陥を高精度で検出し、特性を評価すること。 - 特許庁 - METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK
フォトマスクの欠陥修正方法および欠陥修正装置ならびに欠陥修正プログラム - 特許庁 - To prevent the defect generated at an array substrate when a resin film is thermo-compressed.
樹脂フィルムを熱圧着する際に、アレイ基板に不具合が起きることを防止する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor storage high in capability-for detecting defect of a dummy bit line.
ダミービット線の不良を検出する能力が高い半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection device capable of stably detecting minute defects.
微少な欠陥を安定して検出することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - The defect net and the correction net are terminated at top vias 41 and 46 of the substrate.
欠陥ネットと修正ネット各々は基板の表面ビア４１，４６で終端する。 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR OBSERVING CRYSTAL DEFECT IN SILICON CRYSTAL AND THIN PIECE SAMPLE
シリコン結晶中の結晶欠陥観察用試料作製方法及び薄片試料 - 特許庁 - Thus, the abnormal position is detected from the image for defect detection with high accuracy.
これにより、欠陥検出用画像から異常個所を精度良く検出することができる。 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR INSPECTION RECIPE PREPARING SYSTEM AND METHOD FOR DEFECT REVIEWING
検査レシピ作成システム、欠陥レビューシステム、検査レシピ作成方法及び欠陥レビュー方法 - 特許庁 - DETECTION OF DEFECT AND CHARACTERISTICS EVALUATION IN MASK BLANK USING ANGLE DISTRIBUTION OF SCATTERED LIGHT
散乱光の角度分布を使ったマスクブランクの欠陥の検出および特性評価 - 特許庁 - Nominal resistance of a tunnel junction (30) having a defect is increased by a voltage-exercising method.
欠陥のあるトンネル接合(30)の公称抵抗が、電圧エクササイジング法によって増大する。 - 特許庁 - METHOD FOR PRODUCING SEMICONDUCTOR DEVICE AND DEFECT INSPECTING DATA PROCESSING METHOD AND SYSTEM
半導体装置の製造方法並びに欠陥検査データ処理方法及びその装置 - 特許庁 - To prevent a display defect caused by so-called burning in a liquid crystal display device.
いわゆる焼き付きが原因となる液晶表示装置の表示不良を防止する。 - 特許庁 - To precisely detect a defect by bubble in a plastic optical fiber (POF) element wire.
プラスチック光ファイバ（ＰＯＦ）素線内の気泡による欠陥を精度よく検出する。 - 特許庁 - METHOD FOR REPAIRING DEFECT OF METALLIC PAINT FILM AND METALLIC COATING FILM OBTAINED BY THE METHOD
メタリック塗膜の欠陥を補修する方法およびそれから得られたメタリック塗膜 - 特許庁 - To prevent a brazing defect such as generation of a gap between a pipe and a header tank.
パイプとヘッダタンクとの間に隙間が発生してしまう等のろう付け不良を防止する。 - 特許庁 - This preventing and treating agent for the Alzheimer type defect of memory is provided by using sphingomyelin as an active ingredient of the agent.
スフィンゴミエリンをアルツハイマー型記憶障害の予防、治療剤の有効成分とする。 - 特許庁 - To provide a method for polishing an organic film such as a resist film by low surface defect density.
低い表面欠陥密度で、レジスト膜等の有機膜を研磨する方法を提供する。 - 特許庁 - INSPECTION METHOD AND APPARATUS FOR MASK DEFECT, AND METHOD FOR CREATING REFERENCE FOR MASK INSPECTION
マスク欠陥検査方法、マスク欠陥検査装置、並びにマスク検査基準作成方法 - 特許庁 - To provide computer-implemented methods for performing one or more defect-related functions.
１つ又は複数の欠陥関連の機能を遂行するコンピュータ実行方法を提供する。 - 特許庁 - RECORDING MEDIUM HAVING SURPLUS SPACE FOR DEFECT MANAGEMENT AND SURPLUS SPACE ALLOCATING METHOD
欠陥管理のための余裕空間を有する記録媒体と余裕空間割当方法 - 特許庁 - ANTISTATIC POLYESTER FILM OF WHICH DEFECT OF COATING APPEARANCE IS IMPROVED AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME
コーティング外観欠点が改善された帯電防止ポリエステルフィルム及びその製造方法 - 特許庁 - Consequently, the secondary transfer defect at the secondary transfer unit 80 can be prevented.
これにより、二次転写ユニット８０での二次転写不良の発生を防止することができる。 - 特許庁 - A laser oscillator 14 outputs a laser beam for correcting the detected defect.
レーザ発振器１４は、検出された欠陥を修正するためのレーザ光を出力する。 - 特許庁 - To provide a technique capable of obtaining impurity level and defect level accurately.
不純物準位や欠陥準位を正確に求めることができる技術を提供する。 - 特許庁 - To provide a glass substrate which has no pit defect at a chamfer part.
本発明は、ガラス基板の面取り部にピット欠陥がないガラス基板の提供を目的とする。 - 特許庁 - To provide an information storage medium in which defect management being suitable for continuous recording is performed.
連続記録に適した欠陥管理が可能な情報記憶媒体を提供すること。 - 特許庁 - LUMINANCE SPOT DEFECT REPAIRING METHOD OF LIQUID CRYSTAL PANEL, AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE USING SAME
液晶パネルの輝点欠陥修復方法及びこれを用いた液晶表示装置 - 特許庁 - The defect inspection may be carried out after the formation of the second electrode and before the formation of the protection film.
欠陥検査は、第２電極の形成後かつ保護膜の形成前に行ってもよい。 - 特許庁 - The SEM image data is binarized by using the threshold to perform defect detection.
そして、このしきい値を用いてＳＥＭ画像デ−タを二値化処理し、欠陥を検出する。 - 特許庁 - To precisely detect a defect including dropout of a label in a label tape test device.
ラベルテープの検査装置において、ラベルの脱落を含む欠陥を精度良く検出する。 - 特許庁 - Periodic defect detecting parts 27 determine whether defects periodically occur or not.
周期性欠陥検出部２７により、欠陥が周期的に発生するか否かを判定する。 - 特許庁 - METHOD FOR VERIFYING DISK DEFECT MANAGING AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME
ディスク欠陥管理領域情報の検証方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁 - METHOD OF CORRECTING MAGNIFICATION IN RADIOGRAPHIC EXAMINATION DIGITAL IMAGE, AND METHOD OF EVALUATING DEFECT THEREIN
放射線透過試験デジタル画像の拡大倍率の補正方法と欠陥評価方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR PROCESSING VIDEO SIGNAL AIMED AT COMPENSATING FOR DEFECT OF DISPLAY DEVICE
表示装置の欠陥を補償するビデオ信号を処理するための方法及び装置 - 特許庁 - PROTECTIVE STRUCTURE AND METHOD FOR BLOCKING PROPAGATION OF DEFECT GENERATED IN SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体デバイス内で発生した欠陥の伝搬を阻止する保護構造および方法 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus which prevents a fixation defect in first copy.
ファーストコピーでの定着不良を防止することが可能な画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - An upper electrode is formed on the point defect at the central part to reduce device resistance.
上部電極を中央部の点欠陥上に形成し、素子抵抗を低減する。 - 特許庁 - To suitably determine the defect of oil return from an oil separator to the inlet side of a compressor.
オイルセパレータから圧縮機吸入側へのオイル戻りの不良を適切に判定する。 - 特許庁 - ELECTRON BEAM DEVICE, DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD THEREWITH
電子線装置、欠陥検査方法及び該装置及び方法を用いたデバイス製造方法 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING CONTINUOUSLY CAST STEEL SLAB AND SYSTEM FOR REPAIRING OUTER LAYER DEFECT OF CAST SLAB
鋼の連続鋳造鋳片の製造方法および鋳片の表層欠陥手入システム。 - 特許庁 - To attempt the automatic repair of an electromagnetic stop valve in case of the occurrence of an operation defect in the valve.
電磁開閉弁に動作不良が生じた場合にその自動修復を試みる。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING, MONITORING AND CHARACTERIZING EDGE DEFECT ON SEMICONDUCTOR WAFER
半導体ウエ—ハ上のエッジ欠陥を検出、モニタ及び特徴付ける方法及び装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR GROWING LOW DEFECT DENSITY SILICON CARBIDE AND RESULTING MATERIAL
低欠陥密度炭化ケイ素を成長させる方法及び装置、並びに得られる物質 - 特許庁
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