「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(91ページ目)

「Defect」を含む例文一覧(18306)

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To provide a micro-cuvette that removes or minimizes any known defect.
本発明は、周知の欠点を除去する、若しくは最小化するマイクロキュベットに関する。 - 特許庁
DROSS DEFECT SUPPRESSING DEVICE OF DEVICE FOR CONTINUOUSLY PLATING MOLTEN METAL ON STEEL STRIP AND ITS METHOD
鋼帯の連続溶融金属鍍金装置のドロス欠陥抑制装置及びその方法 - 特許庁
In 1461, he killed Mochikuni and his son Jiro, who attempted to defect to the enemy again.
寛正2年（1461年）には、再び離反しようとした持国・次郎父子を討ち取っている。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
To fill a crystal defect in the semiconductor layer of a thin film transistor with hydrogen ions.
薄膜トランジスタの半導体層の結晶欠陥を水素イオンで埋めるようにする。 - 特許庁
To obtain an alternative foaming agent which overcomes a defect of chlorodifluoromethane or a pentane itself.
クロロジフルオロメタン又はペンタン単独の欠点を克服する代替発泡剤を提供する。 - 特許庁
To correct phase defect in a Mo/Si multilayer film or Mo_2C/Si multilayer film of the blanks of an EUVL mask.
EUVLマスクのブランクスのMo/Si多層膜またはMo_2C/Si多層膜中の位相欠陥を修正する。 - 特許庁
A defect correction method corresponding to the detected defects is read from a database.
次に、検出された欠陥に対応する欠陥修正手法をデータベースから読み出す。 - 特許庁
CATIONIC ELECTRODEPOSITION-COATING MATERIAL COMPOSITION AND METHOD FOR SUPPRESSING COATED FILM DEFECT OF ELECTRODEPOSITION-COATED FILM
カチオン電着塗料組成物および電着塗膜の塗膜欠陥を抑制する方法 - 特許庁
SOLID-STATE IMAGE PICKUP ELEMENT AND METHOD FOR DETECTING AND CORRECTING DEFECT OF SOLID-STATE IMAGE PICKUP DEVICE
固体撮像素子ならびに固体撮像装置の欠陥検出および欠陥補正方法 - 特許庁
To improve performance in input signal reading after the elimination of defect state etc.
デフェクト状態解消後等における入力信号の読み取りパフォーマンスの向上 - 特許庁
To provide a recording medium storing linking type information and a defect area processing method.
リンキングタイプ情報を貯蔵する記録媒体と欠陥領域処理方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method of correcting defect in color filter which does not cause failure after correction.
修正後に、不具合が生じることがないカラーフィルタ欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁
To detect a plurality of defect types, in a short time without degrading detection performance.
複数の欠陥種の検出を、検出性能を落とすことなく、短時間で行う。 - 特許庁
To provide a method for simultaneously precisely detecting a gene defect and a spot mutation.
遺伝子欠損と点変異を同時に精度よく検出する方法を提供すること。 - 特許庁
INFORMATION RECORDING MEDIUM, DEFECT CONTROL METHOD AND ITS DEVICE, REPRODUCING DEVICE AND RECORDING DEVICE
情報記録媒体、欠陥管理方法、欠陥管理装置、再生装置および記録装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MASK, PATTERN SIZE MEASURING INSTRUMENT, MASK DEFECT CORRECTING DEVICE AND WAFER TRANSFER DEVICE
半導体マスク、パターン寸法測定装置、マスク欠陥修正装置およびウェーハ転写装置 - 特許庁
DEFECT MANAGEMENT INFORMATION PROCESSING METHOD FOR INFORMATION RECORDING MEDIUM AND INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING APPARATUS
情報記録媒体の欠陥管理情報処理方法及び情報記録再生装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR DETECTING BRAKE DEFECT FOR VEHICLE ANTI-SKID HYDRAULIC PRESSURE CONTROL DEVICE
車両用アンチスキッド液圧制御装置のブレーキ失陥検出方法及びその装置 - 特許庁
To simultaneously measure a transmission wavefront and a defect of an optical element.
光学素子の透過波面の測定と欠陥の測定とを同時に行えるようにする。 - 特許庁
PHOTOMASK, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME AND METHOD FOR DETECTING/REPAIRING DEFECT IN PHOTOMASK
光マスク及びその製造方法、並びに光マスクの欠陥検出及び修理方法 - 特許庁
To provide a method for testing a material defect in a polysilicon molding without any destruction.
多結晶シリコン成形体の材料欠陥を破壊なしに試験する方法を提供する。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR SPECIFYING DETAIL OF DEFECT OF ROTATING SPEED DETECTION DEVICE
回転速度検出装置の異常内容特定装置及び異常内容特定方法 - 特許庁
The defect threshold holds the maximum number of correctable defects permitted by the corresponding process.
障害閾値は、対応するプロセスが許容する最大訂正可能障害数を保持する。 - 特許庁
METHOD OF PREPARING ELECTROLYTIC CORROSION TEST SAMPLE FROM DEFECT GENERATING BASE MATERIAL OF THROUGH HOLE SECTION OF PRINTED BOARD
プリント板のスルーホール部基材欠陥発生品の電食試験サンプル作製方法 - 特許庁
Where the defect is not remedied, the petition shall be rejected by decision.
欠陥が修正されなかったときは，その請求は決定をもって拒絶するものとする。 - 特許庁
The applying operation is performed a plurality of times so that the correction paste 13 is applied to the defect part 2a.
塗布動作を複数回実行して修正ペースト１３を欠陥部２ａに塗布する。 - 特許庁
A search probe roller 350 probes the defect inside the beads and marks by a marking pen 400.
探触子ローラ３５０は、ビード内の欠陥を探触し、マーキングペン４００で印をつける。 - 特許庁
To obtain a preferable radiation image even when image data has an image defect.
画像データに画像欠陥を生じた場合であっても良好な放射線画像を得る。 - 特許庁
A defect layer 2 which getters a contaminating substance is formed on the side of the semiconductor chip 1.
半導体チップ１の側面に汚染物質をゲッタリングする欠陥層２を形成する。 - 特許庁
Thus, the ground-defect can be detected by the abnormality detection output Sout of a photo-coupler 106.
フォトカプラ１０６の異常検知出力Ｓｏｕｔにより地絡を検知することができる。 - 特許庁
To realize an electron beam defect inspection device enabling the inspection of flaw at a high speed with high resolving power.
高速且つ高分解能での検査が可能な電子ビーム欠陥検査装置を実現。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a semiconductor device in which crystal defect generation is prevented.
結晶欠陥の発生が抑制された半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
This resist-modeled image is compared with a reference image to obtain defect information (206).
このレジストモデル化画像を基準画像と比較し、欠陥情報を入手する２０６。 - 特許庁
To prevent a defect of the magnetostrictive film of a magnetostrictive torque sensor to avoid a decrease in the sensitivity.
磁歪式トルクセンサの磁歪膜の損傷を防止して感度の低下を回避する。 - 特許庁
DEFECT EVALUATION METHOD FOR LAMINATED CERAMIC ELEMENT, AND PRODUCTION METHOD FOR LAMINATED CERAMIC ELECTRONIC COMPONENT
積層型セラミック素子の欠陥評価法及び積層型セラミック電子部品の製法 - 特許庁
To prevent the occurrence of a defect due to the arrival of excess data without stopping communication.
通信を停止させることなく、過剰なデータの到来による不具合の発生を防ぐ。 - 特許庁
To probe automatically and nondestructively a defect inside beads formed by friction-stir joining.
摩擦攪拌接合により形成されたビードの内部の欠陥を非破壊で自動的に探触する。 - 特許庁
The laminating p-type ZnTe layers 20a, 20c, 20e, 20g, 20i are formed thick on the low defect contact layer 21.
ｐ型ＺｎＴｅ層２０ａ，２０ｃ，２０ｅ，２０ｇ，２０ｉの厚さは低欠陥コンタクト層２１側を厚くする。 - 特許庁
To provide an electrode for resistance welding with which the defect in working caused by sparks can be reduced.
スパークによる加工不良を低減できる抵抗溶接用電極を提供すること。 - 特許庁
At low temperature, the peak to peak of the AC component is raised in order to prevent the charge defect.
低温時には帯電不良を防ぐために交流成分のピーク・トウ・ピークを高くする。 - 特許庁
To eliminate or reduce an operational defect of a speaker system caused by a magnet chip or the like.
マグネットの欠けら等に起因するスピーカー装置の動作不良をなくす又は低減する。 - 特許庁
To provide a defect inspection device capable of obtaining the long-term stable detection sensitivity.
長期的に安定した検出感度を得ることができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
To solve the problem that crystalline defect is readily generated in the single crystal of a ZnO compound semiconductor.
ＺｎＯ系化合物半導体の単結晶中には結晶欠陥が生じやすい。 - 特許庁
METHOD FOR DETECTING DISK DEFECT MANAGEMETN AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME
ディスクの欠陥管理領域情報の検出方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁
A detection frequency integration part 112 integrates a detection frequency of the defect of the monitored equipment.
検知回数積算部１１２は、被監視機器の不具合の検知回数を積算する。 - 特許庁
To prevent stretching of a belt type conveyor while maintaining an image defect and cleaning property.
画像欠陥やクリーニング性能を維持しつつ、ベルト状搬送体の伸びを防止する。 - 特許庁
To stop defect of connection between a cam-like plate and a lock gear and to prevent abnormal sound from being generated.
カム状板とロックギヤとの接合不良を阻止し、かつ、異音の発生を防止する。 - 特許庁
To provide a steel slab heating method capable of preventing any defect on a surface of a steel slab.
鋼片の表面の欠陥を防止できる鋼片の加熱方法を提供する。 - 特許庁
To overcome a defect related to an aortic aneurysm treatment apparatus utilized at the present time.
現在利用されている動脈瘤治療装置に関連する欠点を克服する。 - 特許庁
METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN GRAY TONE MASK, METHOD FOR MANUFACTURING GRAY TONE MASK AND GRAY TONE MASK
グレートーンマスクの欠陥修正方法、グレートーンマスクの製造方法及びグレートーンマスク - 特許庁

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