「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 88 89 90 91 92 93 94 95 96 .... 366 367 次へ＞- To provide an ultrasonic flaw detector capable of heightening detection accuracy of a defect.
欠陥の検出精度を高めることができる超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a semiconductor device with which a bonding leak defect can be suppressed.
接合リーク不良の抑制が可能な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device for which microfabrication is achieved while suppressing the defect.
不良を抑制しつつ微細化を達成した半導体装置の提供を目的の一とする。 - 特許庁 - To provide an inspection apparatus for accurately detecting a defect with a simple constitution.
簡単な構成で、高精度な欠陥検出を行うことができる検査装置を実現する。 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING THIN FILM SOI WAFER, AND METHOD FOR EVALUATING DEFECT THEREOF
薄膜ＳＯＩウェーハの製造方法および薄膜ＳＯＩウェーハの欠陥評価方法 - 特許庁 - RECORDING MEDIUM WITH MARGIN SPACE FOR DEFECT MANAGEMENT AND MARGIN SPACE ALLOCATING METHOD
欠陥管理のための余裕空間を有する記録媒体と余裕空間割当方法 - 特許庁 - To provide a defect inspection device capable of easily responding to different samples.
異なった試料に容易に対応できるようにした欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR DETECTING DEFECT OF OPTICAL FIBER, AND MANUFACTURING DEVICE OF PLASTIC OPTICAL FIBER
光ファイバの欠陥検出装置及び方法並びにプラスチック光ファイバの製造装置 - 特許庁 - To perform reprint processing quickly and easily when a defect exists in a print image.
印刷画像にディフェクトが存在した場合に迅速かつ容易に再印刷処理を行う。 - 特許庁 - To coat a target pixel with a desired amount of coloring agent droplets without causing any defect.
目標とする画素に所望の量の着色剤液滴を欠点なく塗布する。 - 特許庁 - To provide a heat exchanger, simply preventing the occurrence of welding defect in manufacture.
製造時の溶接欠陥の発生を簡単に防止しうる熱交換器を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for producing nanorods or nanowires, by which the crystal defect-free copper nanorods or nanowires can be obtained in a high yield.
結晶欠陥のない銅ナノロッド若しくはナノワイヤーを高い収率で得る。 - 特許庁 - INSPECTION METHOD AND APPARATUS OF DEFECT IN MAGNETIC HEAD BY OPTICAL SYSTEM MEASUREMENT IMAGE
光学系測定画像による磁気ヘッドの欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁 - SURFACE COATED CUTTING TOOL WITH HARD COATING LAYER HAVING EXCELLENT CHIPPING RESISTANCE AND DEFECT RESISTANCE
硬質被覆層がすぐれた耐チッピング性、耐欠損性を備える表面被覆切削工具 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF PATTERNED SUBSTRATE, AND METHOD FOR MANUFACTURING PATTERNED SUBSTRATE
パターン基板の欠陥修正装置、欠陥修正方法及びパターン基板製造方法 - 特許庁 - REFLECTIVE MASK, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND REFLECTIVE MASK DEFECT CORRECTION DEVICE
反射型マスク、反射型マスクの製造方法、および反射型マスク欠陥修正装置 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR REPAIRING DEFECT, PROGRAM AND COMPUTER-READABLE RECORDED MEDIUM
欠陥修復装置、欠陥修復方法、プログラム及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - To provide a technique capable of making a V line defect inconspicuous under various conditions.
種々の条件下でＶライン傷を目立たなくすることができる技術を提供する。 - 特許庁 - The second regions 52 and 62 have a crystal defect density higher than that of first regions 51 and 61.
第２領域５２，６２は第１領域５１，６１よりも結晶欠陥密度が高い。 - 特許庁 - METHOD FOR VERIFYING DISK DEFECT MANAGEMENT AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THIS
ディスク欠陥管理領域情報の検証方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁 - To provide a method for growing an aluminum (Al)-containing nitride semiconductor crystal having low crystal defect density by using a lateral epitaxial overgrowth method (LEO).
本発明はAl含有窒化物単結晶の成長方法に関するものである。 - 特許庁 - To provide a recording medium storing linking-type information and a defect area processing method.
リンキングタイプ情報を貯蔵する記録媒体と欠陥領域処理方法を提供する。 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, THIN FILM FORMING METHOD, DEFECT CORRECTING METHOD, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD
荷電粒子ビーム装置、薄膜作製方法、欠陥修正方法及びデバイス作製方法 - 特許庁 - Therefore, Gp is not too wide, but ≤2.0[mm] so that no development defect is caused.
そこで、Ｇｐを広くしすぎて現像不良が生じないよう、２．０［ｍｍ］以下とする。 - 特許庁 - PACKAGE ON PACKAGE TO PREVENT CIRCUIT PATTERN LIFT DEFECT AND METHOD OF FABRICATING THE SAME
回路パターンの浮き上がり現象を抑制するパッケージオンパッケージ及びその製造方法 - 特許庁 - To provide a semiconductor laser of high reliability by suppressing defect and migration.
欠陥の発生や転移を抑制し、信頼性の高い半導体レーザを提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for growing a nitride semiconductor layer, the crystal defect density of which is low.
結晶欠陥密度が低い窒化物半導体層の成長方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an improved method for producing an oxime, without having a defect caused by a conventional thin-film separation process.
膜分離工程の欠点を有しない、オキシムの改善された製造法を示す。 - 特許庁 - A concentrated defect distribution which influences a chip nearby the outer circumference of the wafer is selected (S4).
ウエハ外周近傍チップに影響を及ぼす集中不良分布を選定する（Ｓ４）。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR DEFECT SIGNAL DETECTION FOR OPTICAL RECORDING/REPRODUCING DEVICE
光記録／再生装置の欠陥信号検出装置及びその欠陥信号検出方法 - 特許庁 - METHOD FOR INSPECTING PIXEL DEFECT OF ELECTRONIC DISPLAY AND MANUFACTURE OF ELECTRONIC DISPLAY
電子ディスプレイ装置の画素欠陥検査方法、および、電子ディスプレイ装置の製造方法 - 特許庁 - AUTOMATIC PIXEL DEFECT DETECTING AND CORRECTING DEVICE FOR IMAGE PICKUP ELEMENT AND IMAGE PICKUP DEVICE USING THE SAME
撮像素子の画素欠陥自動検出補正装置及びこれを用いた撮像装置 - 特許庁 - STEEL SHEET FREE FROM UTS DEFECT IN WELD HEAT-AFFECTED ZONE, AND ITS MANUFACTURE
溶接熱影響部においてＵＴＳ欠陥を生じない鋼板とその製造方法 - 特許庁 - Meaningless data is recorded in the space region of the temporary defect management region.
この臨時欠陥管理領域の空き領域には、意味のないデータが記録されている。 - 特許庁 - To provide a solid electrolytic capacitor that reduces a defect percent of a leakage current.
漏れ電流の不良率を低減できる固体電解コンデンサを提供することにある。 - 特許庁 - To form a highly pure film with an extremely small amount of defect without using any highly toxic gases.
毒性の強いガスを用いず、欠陥の極めて少ない高純度な膜を形成する。 - 特許庁 - To enable to polarize a flexible pressure sensitive body even if there is a small defect.
微少な欠陥があった場合でも、可撓性圧電体を分極できるようにすること。 - 特許庁 - If there is no defect, the display panel and chip are firmly fixed subsequently.
欠陥がない場合には、続けてディスプレイパネルとチップとを強力に固定することができる。 - 特許庁 - No image defect occurs and proper image display is ensured.
画像がまだらに表示される等ということがなく、良好な画像表示が行われる。 - 特許庁 - To provide an inspection device capable of classifying a defect with high accuracy.
欠陥を高い精度で分類することができる検査装置を提供することにある。 - 特許庁 - To highly precisely inspect the defect of the surface of a tire or a tire configuring member.
タイヤやタイヤ構成部材の表面の欠陥を高精度に検査することを可能とする。 - 特許庁 - To provide a technique of specifying the position of a microscopic defect in an insulating film with high accuracy.
絶縁膜中の微小欠陥の位置を高精度で特定する技術を提供する。 - 特許庁 - To easily detect a defect in the attachment in a load carrying woven fabric assembly.
荷重担持用織地アセンブリにおいて取付欠陥を容易に検出できるようにする。 - 特許庁 - The quality of the solid-state imaging device to be inspected is determined based on the magnitude of the defect level.
検査する固体撮像素子の良否は、欠陥レベルの大きさに基づいて行われる。 - 特許庁 - A wafer is inspected by a wafer defect inspecting part 11, and coordinate value data S11 of a picture are outputted.
ウェーハがウェーハ欠陥検査部11で検査され、画像の座標値データS11が出力される。 - 特許庁 - To improve the quality of appearance by suppressing molding defect of an outer shell.
外郭に対する成形不良の発生を抑制して外観の品質を向上する。 - 特許庁 - METHOD TO ELIMINATE DEFECT ON PERIPHERY OF SLIDER DUE TO CONVENTIONAL MACHINING PROCESS
従来の機械加工プロセスによりスライダの周囲における欠陥を除去する方法 - 特許庁 - To provide an inspection device of a display panel capable of improving detection accuracy of a defect.
欠陥の検出精度を向上できる表示パネルの検査装置を提供すること。 - 特許庁 - To suppress occurrence of a secondary image defect along the circumferential direction of an image carrier.
像保持体の周方向に沿って二次的な画像欠陥が発生するのを抑制する。 - 特許庁 - To provide an image recorder which keeps waste paper little, and prevents the occurrence of an image defect.
損紙を少なく抑え、画像不良の発生を防止する画像記録装置を提供する。 - 特許庁
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