「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 92 93 94 95 96 97 98 99 100 .... 366 367 次へ＞- As a whole of a pixel array section 102, the unlit defect position is not fixed and can fluctuate, and is, therefore, averaged in time and space and the visibility of the unlit defect can be more reduced.
画素アレイ部１０２全体では、滅点位置が固定されず変動し得るので、時間的かつ空間的に平均化され、滅点の視認性を一層低下させることができる。 - 特許庁 - When there is a pixel having a pixel value equal to or higher than a predetermined threshold, on the basis of a created histogram, the defect candidate region decision part 43 decides the pixel as a defect candidate region.
欠陥候補領域判定部４３は、作成されたヒストグラムに基づいて所定の閾値以上の画素値を有する画素がある場合には、これを欠陥候補領域として判定する。 - 特許庁 - When a quality defect is generated, search in the intellectual database 20 is performed to select an open box having the same volume with the open box, wherein the defect is generated, or a combination of the open boxes.
品質不具合が発生すると、知的データベース２０を検索して品質不具合が発生した無蓋ボックスと同一体積となる無蓋ボックスあるいはその組合せを選択する。 - 特許庁 - Alternatively, the device is provided with the first detector for the defect detecting inspection and the second detector exclusive for a review for observing the specified narrow portion detected by the defect detecting inspection.
または欠陥検出検査の為の第１の検出器とこの欠陥検出検査により検出された特定の狭い部位を観察するレビュー専用の第２の検出器とを設ける。 - 特許庁 - Then, the determining section 34 applies an AND operation to the defect position information of a plurality of panel images P1-P3 and obtains the difference of the result of this AND operation and the defect position information of respective panel images P1-P3.
そして、判定部３４では、複数のパネル画像Ｐ１〜Ｐ３の欠陥位置情報の論理積をとり、その論理積と各パネル画像Ｐ１〜Ｐ３の欠陥位置情報との差分をとる。 - 特許庁 - To efficiently perform the repairing work in the repairing of a dot defect and a line defect of liquid crystal panel with a laser beam, and also to improve the yield by enhancing the success rate of the repairing.
液晶パネルの点欠陥や線欠陥のレーザ光によるリペアにおいて、リペア作業を効率良く行うことができ、かつリペア成功率を高めて歩留まりを向上させる。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a semiconductor device that avoids a defect of a transfer pattern caused by a defect in charging a mask material in a pattern formed on a template in an imprinting method.
インプリント法において、テンプレートに形成されたパターンへのマスク材料の充填不良に伴う転写パターンの不良を回避する半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection device of solid-state imaging element and an inspection method thereof capable of conducting an electric pixel defect inspection and a pixel defect inspection through image analysis, thereby improving yield.
本発明は、電気的画素欠陥検査と、画像分析による画素欠陥検査を行うことができ、歩留まりを向上させる固体撮像素子の検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of automatically and precisely determining a material defect section without any visual verification even if the material defect section occurs on the surface of a steel rail for a track.
軌道用鋼製レールの表面に材質異常部が生じた場合でも、これを目視確認を伴うことなく自動、且つ、高精度に判定することを可能とする方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for correction of a white defect in a mask pattern, capable of precisely correcting the white defect without damaging a photomask by using near field light, and to provide a mask pattern.
フォトマスクがダメージを受けることなく、精度よく、白欠陥の修正を可能とする、近接場光を用いたマスクパターンの白欠陥修正方法およびマスクパターンを提供する。 - 特許庁 - To avoid occurrence of printing defect by informing the coming of a cleaning timing before the adhesive capacity of a cleaning roller is saturated, and to eliminate defect of wasteful consumption of a paper sheet or an ink ribbon.
クリーニングローラの接着能力が飽和する前にクリーニング時期の到来を通知して、印刷不良の発生を回避し、用紙やインクリボンを無駄に消費する不具合も解消する。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic wave defect detection apparatus that is compact and capable of effectively converging ultrasound energy into the deeper position of an object for defect detection even with low frequency supersonic wave.
本発明は、低周波数の超音波であっても、小型化を図りつつ、被探傷対象物のより深い位置に超音波エネルギを有効に収束させることができるようにする。 - 特許庁 - When the resin layer has a two-layered structure wherein the rugged surface is formed at a lower layer part and an upper layer part is flattened, an adhesion defect and a pattern defect of a rugged film are easily generated.
この樹脂層が、下層部に凹凸を形成し、上層部に平坦化を持たせた二層構造の場合、凹凸膜の密着性およびパターン不良などが発生しやすい。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a substrate capable of forming a conductive pattern having no defect such as damage on both the faces of the substrate without generating the defect such as the damage on both the faces of the substrate.
基板の両面に傷等の不良を発生させることなくその基板の両面に傷等の不良のない導電パターンを形成できる基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a lighting system for detecting a minute defect of several micrometer order in surface inspection of detecting a defect in the surface of an inspecting object by imaging processing.
画像処理により検査対象物の表面の欠陥を検出する表面検査において、数μｍオーダの微小欠陥の検出を可能にする照明装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an electronic device which has improved efficiency in analysis of a defect compared to the conventional device by sufficiently acquiring information useful for analysis of the defect.
不具合の解析に有用な情報を十分に取得することによって、従来よりも不具合の解析の効率を向上させることが出来る電子機器を提供することを目的とする。 - 特許庁 - Next, in a defect index calculation step 14, a defect index of the grain boundary 24 is calculated on the basis of the diameter and density of the He bubbles and the occurrence or nonoccurrence of the intercrystalline crack 26.
次に、欠陥指標算出工程１４は、Ｈｅバブルの直径および密度、並びに粒界割れ２６の発生の有無に基づいて、粒界２４の欠陥指標を算出する。 - 特許庁 - To provide a surface defect inspection device capable of more reliable surface defect inspection capable of imaging while securing sufficient brightness even the inspection object is curvilinear solid.
被検査物が曲面体であっても十分な明るさをもった撮影画像が確保でき、より信頼性の高い表面欠陥検査が可能となる表面欠陥検査装置を提供する - 特許庁 - To prevent the defect of the reproducibility of an image due to the local defect of transfer caused at the time transfer such as the one like a wormhole in image formation using an intermediate transfer system.
中間転写方式を用いた画像形成において、虫喰い等の転写時に発生する局所的な転写不良による画像の再現性不良を防止することにある。 - 特許庁 - Unallowable appeals and appeals that do not satisfy the statutory requirements shall be rejected by the Appeal Section without proceedings; however, an appeal may not be rejected for formal defect unless the appellant has been unsuccessfully invited to remove the defect.
ただし，様式上の欠陥を理由とする審判請求の却下は，審判請求人が求められた欠陥の修正を行わなかった場合に限り，行うことができる。 - 特許庁 - When the defect 13 is detected, a marking means 14 puts a linear mark parallel to the transport direction 11a to sandwich a defect position from both sides in the width direction as marking.
欠陥１３が検出されると、マーキング手段１４は、欠陥位置を、幅方向の両側から挟むように、搬送方向１１ａに平行な線状のマーク１５を、マーキングとして施す。 - 特許庁 - To provide a laminated thermoplastic resin film having excellent transparency, little defect of extremely thin coating stripes and little optical defect due to a massive foreign substance having a diameter of 0.3 mm or more.
優れた透明性を有し、極めて薄い塗布筋欠点および長径０．３ｍｍ以上の塊状異物による光学欠点の少ない積層熱可塑性樹脂フィルムを提供する。 - 特許庁 - To provide a method for rearranging dehydrolinalool into citral under an action of a catalyst, not having a defect of well-known method and capable of reducing at least the defect.
触媒の作用下でデヒドロリナロオールをシトラールへ転位する方法であって、既に知られている方法の欠点を有さず、又は少なくともその欠点が軽微である方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a transparent body inspection device for determining how deep a defect exists in, when the defect exists within a transparent body which is an object to be inspected.
検査対象となる透明体の内部に欠陥が存在する場合に、その欠陥がどのくらい深い位置に存在しているかを特定できる透明体検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical recording apparatus which can perform correct recording operation by detecting a defect and an impact and performing proper processing in accordance with levels of the defect and the impact.
ディフェクトや衝撃を検出して、そのレベルに応じた適切な処理を行うことにより、正しい記録動作を実現する光記録装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - A defect signal is synchronized to the pulse from a pulse oscillator 9 connected to a measuring roll 8 and tracked, marking is done to a part having a defect by a marking device 12.
欠陥の信号は、メジャリングロール８に結合されたパルス発信器９からのパルスに同期してトラッキングされ、マーキング装置１２により、欠陥が存在する部分にマーキングが施される。 - 特許庁 - The defect detection unit 15 executes white defective pixel detection processing using the all black images and stores information for the pixel location of the defective pixel detected in the defect memory 16.
欠陥検出部１５は、全黒画像を用いて白欠陥画素検出処理を実行し、検出された欠陥画素の画素位置の情報を欠陥記憶部１６に記憶させる。 - 特許庁 - A digital camera 10 temporarily stores image data 36a to a memory 36, a defect detection function section 180 detects a defective pixel included in read image data 180a and stores the result to a defect address memory 38a.
ディジタルカメラ10は、メモリ36に画像データ36a を一時格納し、読み出した画像データ180aが含む欠陥画素の検出を欠陥検出機能部180 で行い、欠陥アドレスメモリ38a に格納する。 - 特許庁 - To provide a membrane monitoring method and membrane monitoring system capable of detecting the minute defect of the membrane such as a pin hole by chemically discriminating the existence of defect.
膜の損傷の有無を化学的に判別することにより、ピンホールのような微小な膜の損傷でも検出が可能な膜監視方法及び膜監視システムを提供すること。 - 特許庁 - To provide a defect detector not affecting the output timing of a defect detection signal even when a stray light exists in an optical signal incident to an optical pickup.
光ピックアップに入射される光信号に迷光がある場合でも、デフェクト検出信号の出力タイミングに影響を及ぼさないデフェクト検出装置を提供する事を目的とする。 - 特許庁 - To check the related state of a macro-defect part and a micro-defect part by superposing a macro-inspection image and a micro-inspection image one upon another and to enhance the inspection efficiency of a glass substrate.
マクロ検査画像とミクロ検査結果とを重ね合わせてマクロ欠陥部分とミクロ欠陥部分との関連状況をチェックでき、ガラス基板に対する検査効率を向上すること。 - 特許庁 - To improve a defect of a conventional electronic fluid sensor having a complex structure and low reliability, although the electronic fluid level sensor which does not have the defect in a float type sensor is proposed.
従来、フロート型センサの欠点を有しない電子的流体レベルセンサが提案されているが、従来の電子的流体レベルセンサは複雑で信頼性が低い欠点を有する。 - 特許庁 - To provide a surface appearance inspection apparatus capable of surely detecting only a defect, even when both a density variation and the defect coexist on the surface of an inspection object.
検査対象物の表面において濃淡ばらつきと欠陥とが混在する場合であっても、欠陥のみを確実に検出することができる表面外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - In this case, the control section 30 controls the first printing section 16 so that a defect mark 5 is printed on the surface 2 of the IC card 1 having the IC chip 4 in which a defect was detected.
この場合、制御部３０は、欠陥が検出されたＩＣチップ４を有するＩＣカード１の表面２に欠陥マーク５が印字されるよう、第１印字部１６を制御する。 - 特許庁 - To provide a defect detecting device that can detect a defect of low contrast having a small concentration difference with respect to a circumference, without using a memory and a computing element of a large data width.
周囲との濃度差が小さい低コントラストの欠陥を、データ幅の大きなメモリ及び演算器を使用することなく検出することができる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁 - In a case that there exists a defect 3a (crack or step) at a concrete surface 3, generation or non-generation of a shadow at the defect 3a depends on an irradiation direction of lights 4A, 4B.
コンクリート表面３に欠陥部分（ひび割れや段差）３ａがある場合、ライト４Ａ，４Ｂの照射方向によって該欠陥部分３aに影が出来たり出来なかったりする。 - 特許庁 - Then, the defect inspection device is enabled to recalculate an inspection result in response to change in a threshold coefficient from the inspection result data, display it on an assist tool picture (GUI), and observe a detection defect.
次に、検査結果データから、しきい値係数の変更による検査結果の再計算を可能とし、アシストツール画面(ＧＵＩ)上に表示させ、検出欠陥の観察も可能とする。 - 特許庁 - Defect information for each ECC block only for a cluster in which it is detected in the first half that defect exists is stored in an area form BP9210 to BP18419 of the latter half.
後半分のＢＰ９２１０からＢＰ１８４１９までのエリアには、前半分のエリアで欠陥ありとされたクラスタについてのみの、ＥＣＣブロック毎の欠陥情報が格納される。 - 特許庁 - To provide a method for examining an ultrasonic wave which can surely and simply detect an internal defect and a surface defect even when the thickness of a material to be examined is changed.
被検査体の厚さが変動している場合であっても、内部欠陥及び表面欠陥を確実、かつ簡便に検出することが可能な超音波検査方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a defect inspection device reducing error detection of noise and surely detecting a defect part, even if there is fluctuation in an image level by the fluctuation of an external environment.
外部環境変動による画像レベルの上下が存在しても、ノイズの誤検出を減少させて、しかも、不良部分を確実に検出できる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect correction circuit capable of also dealing with a defect caused by a change with the passage of time without especially limiting the number of handleable defects.
本発明は、対処可能な欠陥個数に特に制限が無く、又経時変化で発生する欠陥に対しても対応可能な欠陥補正回路を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a method and a device for inspecting a defect capable of stably, efficiently and inexpensively detecting the defect of a molding component such as a boot for a constant velocity universal joint.
等速自在継手用ブーツ等の成形部品の欠陥を安定して効率的にしかも安価に検出することができる欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁 - A defect correction device 1 is a defect correction device for repairing defects on a substrate and is provided with a laser output mechanism 10 capable of varying the cross-sectional area of the irradiating laser.
本発明の欠陥修正装置１は、基板上の欠陥部を修復する欠陥修正装置であって、照射するレーザの断面積を可変なレーザ出力機構１０を有している。 - 特許庁 - When a defect is analyzed, a mini-disk 2 used when an error occurs is specified from the unique ID, when a corresponding mini-disk 2 exists, analysis of the defect is performed by using this mini-disk 2.
不良解析時は、ユニークＩＤからエラー発生時に使用されていたミニディスク２を特定し、該当するミニディスク２が有ればこのミニディスク２を用いて不良解析を行う。 - 特許庁 - To evaluate a crystal defect highly accurately without cleaning a semiconductor substrate surface, in evaluation of the crystal defect in the semiconductor substrate using cathode luminescence.
カソードルミネッセンスを用いた半導体基板中の結晶欠陥の評価において、半導体基板表面のクリーニングをせずに高精度に結晶欠陥を評価することを可能にする。 - 特許庁 - After a defect map data read step 11 and a failure rate distribution data read step 12 are executed, non-fatal defects are removed in a defect map data filtering step 13 by using these data.
欠陥マップデータ読込みステップ１１，不良発生率分布データ読込みステップ１２を行い，これらデータを用いて欠陥マップデータのフィルタリングステップ１３で，非致命欠陥を除外する。 - 特許庁 - Thus, it is possible to seek again a target position by avoiding a servo data defect area, and to avoid the repeated occurrence of the seek error caused by the servo data defect area.
これにより、サーボ・データ欠陥領域を避けてターゲット位置に再シークすることができ、サーボ・データ欠陥領域によりシーク・エラーが繰り返し発生することを避けることができる。 - 特許庁 - The leakage current 30 is concentrated to a crystal defect 32, and a thick oxidation product 34 is formed on the surface 2a of the metal film 2 corresponding to the site where the crystal defect 32 exists.
リーク電流３０は結晶欠陥３２に集中し、結晶欠陥３２の存在箇所に対応する金属膜２の表面２ａに厚い酸化物３４が形成される。 - 特許庁 - To detect a defect at the optimal sensitivity for each pattern region by dividing the pattern regions precisely and dynamically and changing the defect inspection method and sensitivity for each region.
パターン領域を精密かつ動的に分けて、領域毎に欠陥検査方式や感度を切り替えることによって、パターン領域毎に最適な感度での欠陥検出を可能とする。 - 特許庁 - To inexpensively provide a skin body which is almost free from a pinhole defect, a stripe-like defect, etc., and good in appearance quality while required physical property standards of moldability, physical strength, etc.
成形性、物理強度等の要求物性基準を満たしつつ、ピンホール欠陥やスジ状欠陥等がほとんど無い、外観品質の良好な表皮体を安価に製造する。 - 特許庁
