「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 97 98 99 100 101 102 103 104 105 .... 366 367 次へ＞- METHOD FOR CONFIRMING DEFECT MANAGEMENT AREA INFORMATION OF OPTICAL DISK AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME
光ディスクの欠陥管理領域情報の確認方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁 - Consequently, the ball is prevented from falling to greatly lower the occurrence rate of a mounting defect.
これによりボール落ちを防止できるので、実装不良の発生率を大幅に低減できる。 - 特許庁 - To reliably detect a defect or foreign matter in a halftone phase shifting mask.
ハーフトーン型位相シフトマスクにおける欠陥或いは異物をより確実に検出できるようにする。 - 特許庁 - To provide a device for analyzing a defect to easily acquire standard data, and a method therefor.
標準データの取得が容易な欠陥解析装置，および欠陥解析方法を提供する。 - 特許庁 - To make poor ejection inconspicuous even if a partial liquid ejection part causes a defect such as nonejection.
一部の液体吐出部に不吐出等の欠陥が生じても吐出不良を目立たなくする。 - 特許庁 - To reduce a marking defect by discharging the burnt soot generated in laser beam marking.
レーザマーキング時に発生する燃焼煤を速やかに排出して、マーキング不良を低減させる。 - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD OF DISC SUBSTRATE, APPARATUS FOR THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING SUBSTRATE FOR OPTICAL DISC
円盤状基板の欠陥検出方法、その装置及び光ディスク用基板の製造方法 - 特許庁 - As a result of sorting, the image of the defect is outputted with sorting based on the user category.
そして、分類の結果としては、欠陥の画像をユーザカテゴリに基づいた分類で出力する。 - 特許庁 - To positively solve a defect generated, e.g. around internal conductors in a multilayer ceramic substrate.
多層セラミックス基板において、例えば内部導体周囲に生ずる欠陥を確実に解消する。 - 特許庁 - INSPECTING METHOD OF SURFACE DEFECT IN METAL COMPONENT, AND INSPECTING DEVICE FOR ELECTRON GUN OF CATHODE-RAY TUBE
金属部品の表面欠陥検査方法および陰極線管用電子銃の検査装置 - 特許庁 - To provide a technique which corrects a defect in a glass substrate for constituting a display panel.
表示パネルを構成するためのガラス基板において、欠陥を修正する技術を提供する。 - 特許庁 - TAPE-CARRIER DEFECT INSPECTION APPARATUS AND ALIGNMENT METHOD FOR IMAGING MEANS THEREIN
テープキャリア欠陥検査装置及びテープキャリア欠陥検査装置における撮像手段の位置合わせ方法 - 特許庁 - Accordingly, the narrow and thick correction layer 12A can be easily formed in the disconnection defect part 8b.
したがって、断線欠陥部８ｂに幅が狭くて厚い修正層１２Ａを容易に形成できる。 - 特許庁 - To inexpensively provide a sound casting having no casting defect without conducting complex control.
複雑な制御を行うことなく鋳造欠陥のない健全な鋳物を安価に提供する。 - 特許庁 - To improve the resistance to voltage of a piezoelectric body by detecting a defect of the piezoelectric body by a simple method.
簡易な手法によって圧電体の欠陥を検知し、圧電体の耐電圧性を向上させる。 - 特許庁 - To provide a method for efficiently cleaning crystal substrates which require a low defect density.
低欠陥密度を必要とする水晶基板を効率よくクリーニングするための方法を提供する。 - 特許庁 - A monitor 14 displays the image of the substrate on which highlight operation is performed by the defect display device 4.
モニタ１４は、欠陥表示装置４で強調処理された基板の画像を表示する。 - 特許庁 - WIRING AND ELECTRODE FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE EXCELLENT IN ADHESION WITHOUT CAUSING THERMAL DEFECT
熱欠陥発生がなくかつ密着性に優れた液晶表示装置用配線および電極 - 特許庁 - To detect a breakage produced on an outer periphery of a chip which will be a factor of a prospective defect.
将来的な不良の要因となる、チップ外周部に発生した破損を検出する。 - 特許庁 - DISK ARRAY CONTROL DEVICE, PROCESSING METHOD APPLIED TO THIS DEVICE UPON DETECTION OF DATA DEFECT, AND PROGRAM
ディスクアレイ制御装置、同装置に適用されるデータ欠損検出時の処理方法及びプログラム - 特許庁 - Thereby the defect density and the striae width in the doped quartz glass are further reduced.
それにより、ドープした石英ガラスにおける脈理幅および欠陥密度はさらに減少する。 - 特許庁 - To provide an epitaxial structure having low defect density, and to provide a production method for the structure.
低欠陥密度を有するエピタキシャル基材構造およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing/inspecting a photomask by which the defect detection sensitivity can be enhanced.
欠陥検出感度を向上させ得るフォトマスクの製造・検査方法を提供すること。 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF TEMPLATE, METHOD FOR MAKING TEMPLATE, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
テンプレートの欠陥修正方法、テンプレートの作成方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁 - Since the resist film 12 on a part having a crystal defect 11 is not exposed, an opening is formed.
結晶欠陥１１のある部分は、レジスト膜１２は露光されないため、開口が形成される。 - 特許庁 - IMAGE PROCESSING METHOD FOR COVERING DEFECT OF LIQUID CRYSTAL PANEL AND IMAGE DISPLAYING DEVICE WITH THE SAME
液晶パネルの欠点を目立たなくする画像処理方法、及びこれを用いた画像表示装置 - 特許庁 - PLASTIC UNDERWATER CUTTING DEVICE, AND CUTTING DEFECT DETECTING METHOD THEREIN
プラスチック水中カッティング装置におけるカッティング不良検出方法およびプラスチック水中カッティング装置 - 特許庁 - To obtain a cleaning device capable of restraining the defect of image quality caused by the scraped pieces of scraped toner.
掻き取られたトナーの掻取片による画質ディフェクトを抑制できるクリーニング装置を得る。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING CIRCUIT PATTERN, METHOD AND SYSTEM FOR DISPLAYING DEFECT CANDIDATE
回路パターンの検査方法及びその装置並びに欠陥候補の表示方法及びそのシステム - 特許庁 - To obtain a high filling density by filling a bone prosthetic material into a proper position in an osseous defect site.
骨欠損部に対して骨補填材を適切な位置に充填して高い充填密度を得る。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit, which has a thin insulating film with low defect density.
欠陥密度が少ない薄い絶縁膜を有する半導体集積回路用キャパシタを提供する。 - 特許庁 - To achieve a semiconductor memory device in which leak defect in a standby state can be suppressed.
スタンドバイ状態でのリーク不良を抑制することができる半導体記憶装置を実現する。 - 特許庁 - LASER BEAM MACHINING APPARATUS, LASER BEAM MACHINING METHOD, TFT (THIN FILM TRANSISTOR) SUBSTRATE AND DEFECT CORRECTION METHOD OF TFT SUBSTRATE
レーザ加工装置、レーザ加工方法、ＴＦＴ基板、及び、ＴＦＴ基板の欠陥修正方法 - 特許庁 - FIXING METHOD OF COATING NEEDLE, COATING MECHANISM OF LIQUID MATERIAL USING IT AND REPAIRING APPARATUS OF DEFECT
塗布針固定方法と、それを用いた液状材料塗布機構および欠陥修正装置 - 特許庁 - To obtain a nonvolatile semiconductor storage device which can suppress the generation of a disturbing defect during erasure.
消去時のディスターブ不良の発生を抑制し得る不揮発性半導体記憶装置を得る。 - 特許庁 - THREE DIMENSIONAL CAM PROFILE MEASURING DEVICE AND ACCURACY DEFECT DIAGNOSING METHOD FOR THREE DIMENSIONAL CAM PROFILE PROBE
３次元カムプロフィール測定装置および３次元カムプロフィール測子の精度不良診断方法 - 特許庁 - METHOD FOR REDUCING NUMBER OF DEFECT OF PATTERN COLLAPSE IN MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND RINSING PROCESS SOLUTION
半導体デバイス製造の際のパターンつぶれ欠陥数の低減方法及びリンス処理溶液 - 特許庁 - To provide a semiconductor device having a contact hole excellent in accuracy of a shape, wherein aperture defect is eliminated.
開口不良や形状の精度に優れたコンタクトホールを有する半導体素子の提供。 - 特許庁 - At this time, the MWCNT is thermally damaged to cause a defect, and its combustion temperature lowers.
このときＭＷＣＮＴは熱的ダメージを受け欠陥が生じ燃焼温度が低下する。 - 特許庁 - To improve protection ability against electrostatic discharge by reducing defect in a semiconductor device.
半導体装置において、欠陥を減少させ、静電気放電に対する保護能力を高める。 - 特許庁 - Then, laser beams are applied to a foreign matter of the defective pixel before sealing to recover the defect.
そして、封止前に前記欠陥画素の異物にレーザ光を照射して欠陥を修復する。 - 特許庁 - To correct material defect that influences the appearance quality after forming when it is on a forming raw material.
成形後の外観品質に影響する材料欠陥を成形素材の時点で修正する。 - 特許庁 - ELECTRON BEAM SYSTEM, METHOD FOR INSPECTING DEFECT, AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE USING THE SYSTEM AND THE METHOD
電子線装置、欠陥検査方法及び該装置及び方法を用いたデバイス製造方法 - 特許庁 - EL ELEMENT COVERING FORMING DEFECT OF EL LAYER BY INSULATING MATERIAL AND METHOD OF MANUFACTURE
絶縁材料によってＥＬ層の成膜欠陥が被覆されたＥＬ素子とその製造方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE PROVIDED WITH FUNCTION OF INSTANTLY DETECTING SELF-ALIGNMENT CONTACT HOLE DEFECT AND PROCESSING METHOD THEREFOR
自己整合コンタクトホール欠陥即時検出機能付き半導体装置及びその製造方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR CORRECTING DEFECT IN PATTERN SUBSTRATE AND MANUFACTURING METHOD OF PATTERN SUBSTRATE
パターン基板の欠陥修正方法及び欠陥修正装置並びにパターン基板製造方法 - 特許庁 - In a step (b), image information as the image of a component 7 related to the product defect is acquired.
（ｂ）ステップは、製品の不具合に関わる部品７の画像としての画像情報を取得する。 - 特許庁 - Accordingly, it is possible to improve bonding strength and to prevent a bonding defect.
これによってボンディング強度を向上させるとともにボンディング不良を防止することができる。 - 特許庁 - METHOD FOR PRODUCING ORIGINAL PLATE FOR GALVANIZING, SUPPRESSING STRIPE DEFECT AFTER GALVANIZING
電気亜鉛めっき後の筋状欠陥が抑制された電気亜鉛めっき用原板の製造方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR DETECTING MICRO-DEFECT HAVING LIGHT CONVERGING ACTION FOR TRANSPARENT PLATE
透明板状体の集光作用を有する微小欠点を検出する装置および方法 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
