「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 101 102 103 104 105 106 107 108 109 .... 366 367 次へ＞- A space 17 is provided in the prescribed area of the SiO_2 substrate layer 12 while being made to face the dotted defect 16.
点状欠陥１６に面してSiO_2基板層１２の所定の範囲に空間１７を設ける。 - 特許庁 - FRONT MILLING TOOL DISPLAYING EXCELLENT DEFECT RESISTANCE OF THROWAWAY TIP IN HIGH FEEDING AND SPEED CUTTING
高送り高速切削でスローアウエイチップがすぐれた耐欠損性を発揮する正面フライス工具 - 特許庁 - METHOD OF DETERMINING SPECIFIC DEFECT BY INSPECTION MACHINE, AND METHOD OF DETERMINING ROLLER BACK FACE SOIL BY INSPECTION MACHINE
検査機による特定欠陥判定方法及び検査機によるコロ裏面汚れ判定方法 - 特許庁 - This defect breakdown display part 522 is also classified to the categories of the total number and the right latest 100.
この欠陥内訳表示部５２２においても、全数と直近１００に区分されている。 - 特許庁 - To provide a lens module which suppresses a resolution defect while attaining improvement in manufacture workability.
製造作業性の向上を図りつつ、解像度不良を抑止するレンズモジュールを提供する。 - 特許庁 - To provide a surface inspection device capable of detecting easily a large-scale defect of a wafer.
ウェハにおける大規模な欠陥を容易に検出可能な表面検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display that can repair pixel defect failures, without impairing reliability.
信頼性を損なうことなく画素欠陥不良を修復できる液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - To improve utilization efficiency of an inspection apparatus capable of executing a plurality of defect inspecting algorithms.
複数の欠陥検査アルゴリズムを実行可能な検査装置の利用効率を向上させる。 - 特許庁 - DUST-PROOFING DEVICE, STENCIL MASK WITH DUST-PROOFING DEVICE, EXPOSURE METHOD, INSPECTION METHOD AND DEFECT CORRECTING METHOD
防塵装置、防塵装置付きステンシルマスクおよび露光方法、検査方法と欠陥修正方法 - 特許庁 - To provide an inspection device making correct defect inspection even when the inspection surface is tilted greatly.
被検面の傾きが大きくても正しい欠陥検査を行える検査装置を提供する。 - 特許庁 - RECORDED DEFECT REPLACING METHOD FOR DISK SHAPED RECORDING MEDIUM AND DISK SHAPED RECORDING MEDIUM RECORDING DEVICE
円盤状記録媒体の記録欠陥代替方法及び円盤状記録媒体記録装置 - 特許庁 - The defect in layer structure as in the tire faithfully appears as the relative change in a surface temperature.
タイヤのような層構造の欠陥は、忠実に表面温度の相対的変化になって現れる。 - 特許庁 - To provide a medicine, beverage and foods for preventing or treating Alzheimer type defect of memory.
アルツハイマー型記憶障害を予防あるいは治療する薬剤及び飲食品を提供する。 - 特許庁 - TEST METHOD FOR DETECTING DEFECT ON MAGNETIC DISK, AND MANUFACTURING METHOD OF MAGNETIC DISK DRIVE DEVICE
磁気ディスク上の欠陥検出のためのテスト方法及び磁気ディスク・ドライブ装置の製造方法 - 特許庁 - To provide a fissure repair method capable of suppressing the occurrence of a defect, such as a keyhole.
キーホール等の欠陥の発生を抑制することのできる亀裂補修方法を提供する。 - 特許庁 - DEFECT REPAIR METHOD OF THIN FILM PHOTOELECTRIC CONVERSION MODULE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
薄膜光電変換モジュールの欠陥修復方法及び薄膜光電変換モジュールの製造方法 - 特許庁 - To prevent paper dust from entering an image forming part to prevent occurrence of image defect.
画像形成部に紙紛が入り込むのを防止して、画像ディフェクトの発生を防ぐことができる。 - 特許庁 - To convey a flat inspection object, while keeping flat state, and to accurately detect defect.
平坦な被検査物をフラットな状態を維持しながら搬送して、精度よく欠陥を検出する。 - 特許庁 - By this structure, the occurrence of a defect by the thermal expansion of the second sealing resin 7 is prevented.
これにより、第２封止樹脂７の熱膨張による欠陥の発生を防止している。 - 特許庁 - To shorten the time for formatting and to enable the utilization and defect management of a general file system.
フォーマット化の時間を短縮し、一般的なファイルシステムの利用と欠陥管理を可能とする。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing optical film capable of quickly manufacturing a liquid crystal compound layer of hybrid alignment which hardly causes schlieren defect.
シュリーレン欠陥の少ないハイブリッド配向の液晶化合物層を、迅速に製造する。 - 特許庁 - Through the configuration above, a defect of the composited panoramic image can be prevented.
このように構成することによって、合成されたパノラマ画像の不具合を防止することができる。 - 特許庁 - WIDE FLANGE SHAPE EXCELLENT IN TOUGHNESS OF FILLET PART AND UT DEFECT RESISTING CHARACTERISTIC AND ITS PRODUCTION
フィレット部靭性および耐ＵＴ欠陥特性の優れたＨ形鋼およびその製造方法 - 特許庁 - To provide an inspection apparatus capable of quickly, surely, and automatically carrying out defect inspection.
不良品の検査を、自動で、迅速且つ確実に行うことができる検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus capable of preventing an image defect from occurring when printing a monochrome image.
モノカラー画像印刷時の画像不良の発生を防止し得る画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To eliminate problems such as color change or skin defect due to over spray to perform inexpensive coating.
オーバスプレーによる色変化や肌不良の問題を解消しつつ、安価に塗装できるようにする。 - 特許庁 - To provide a crown cap having a little defect generation rate such as bias capping at capping a glass bottle.
ガラス瓶へ打栓するときに、斜め打栓などの不良発生率が少ない王冠を提供する。 - 特許庁 - SURFACE COATED CEMENTED CARBIDE CUTTING TOOL HAVING HARD COATED LAYER OF GOOD DEFECT RESISTANCE
硬質被覆層がすぐれた耐欠損性を発揮する表面被覆超硬合金製切削工具 - 特許庁 - The existence of a painting defect is determined, based on the derived temperature difference of the substrate 1 surface.
この導出された基材１表面の温度差に基づいて塗装不良の有無を判定する。 - 特許庁 - equipment failure attributable to some defect in a circuit (loose connection or insulation failure or short circuit etc.)
回路の若干の欠陥に起因している器材故障（接続不良、絶縁不良または短など） - 日本語WordNet - To provide a method of fabricating a low-defect strained epitaxial germanium film on a silicon substrate.
シリコン基板上に欠陥の少ない歪みゲルマニウム膜を製造する方法を提供すること。 - 特許庁 - INSPECTION METHOD OF DEFECT IN PHOTORESIST, MENDING METHOD OF PHOTORESIST, AND MANUFACTURING PROCESS OF PRINTED CIRCUIT BOARD
フォトレジストの欠陥を検査および修復する方法、並びにプリント回路基板の製造プロセス - 特許庁 - METHOD FOR FABRICATING SEMICONDUCTOR ON INSULATOR SUBSTRATE WITH REDUCED SECCO DEFECT DENSITY
低減されたＳＥＣＣＯ欠陥密度を有するセミコンダクタ・オン・インシュレータ基板を製造する方法。 - 特許庁 - To provide a substrate processing method capable of performing exposure processing with few defect and high resolution.
欠陥が少なく、解像性能の高い露光処理を可能とする基板処理方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a group III nitride semiconductor substrate having low defect density and small warpage.
欠陥密度が低く、かつ反りの少ないＩＩＩ族窒化物半導体基板を提供すること。 - 特許庁 - To definitely judge a nozzle which causes a defect in a drop discharge treated substrate for a short time.
液滴吐出処理基板の不良の原因となったノズルを短時間で確実に判別する。 - 特許庁 - SYSTEM, METHOD, AND PROGRAM FOR DEFECT ANALYSIS, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
不良解析システム、不良解析方法、不良解析プログラム、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁 - To accurately adjust the defect inspection sensitivity of a circuit pattern formed on a semiconductor wafer.
半導体ウェーハ上に形成された回路パターンの欠陥検査感度を正確に調整する。 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR FINDING OPERATION/TOOL CAUSING INTEGRATION DEFECT IN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING FACILITIES
半導体製造施設で集積欠陥を引き起こす動作／ツールを見つけるシステム及び方法 - 特許庁 - To more effectively and inexpensively correct a pixel defect of a solid-state imaging device.
固体撮像素子の画素欠陥の補正をより効果的に且つローコストに行なえるようにする。 - 特許庁 - The defect of the electronic component is judged by comparing the initial resistance with the post-decompression resistance.
初期抵抗値と減圧後抵抗値とを比較することにより電子部品の不良を判断する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR SELECTING DEFECT OCCURRING ON OR NEAR SURFACE OF FLAT AND SMOOTH SUBSTRATE
平滑な基板の表面またはその近傍に生じる欠陥を選定する方法および装置 - 特許庁 - To provide a method of forming a low-defect germanium film on an insulator or a silicon substrate.
絶縁体またはシリコン基板上に低欠陥のゲルマニウム膜を製造する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide the automatic defect checking method having sub-ground rule features for the photomask and its checking device.
サブ・グラウンドルールのフィーチャを有したフォトマスクの自動欠陥検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - Therefore, it becomes easier to analyze the cause of a systematic defect caused by position relation with other layers.
従って、他のレイヤとの位置関係で発生するシステマティック欠陥の要因解析が容易になる。 - 特許庁 - To provide a cermet tool and a method of its manufacture excellent in defect resistance and wear resistance.
耐欠損性及び耐摩耗性に優れたサーメット工具及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To form the high dielectric film of a metal oxide having no oxygen defect and superior in withstanding pressure characteristic.
酸素欠損がなく耐圧特性に優れた金属酸化物の高誘電体膜を形成する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor element by which bunker defect is prevented and a method for manufacturing it.
バンカーディフェクトを防止することができる半導体素子及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - Then, the bonding defect is detected on the basis of detection signals outputted from the test circuit.
そして、テスト回路から出力される検出信号に基づいてボンディング不良を検出する。 - 特許庁 - METHOD OF DISCRIMINATING CRYSTAL DEFECT REGION IN MONOCRYSTALLINE SILICON USING METAL CONTAMINATION AND HEAT TREATMENT
金属汚染と熱処理を利用した単結晶シリコンの結晶欠陥領域の区分方法 - 特許庁
