「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(106ページ目)

「Defect」を含む例文一覧(18306)

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To easily detect a defect occurring in wiring for inspecting defects formed on a semiconductor wafer.
半導体ウェハに形成された欠陥検査用配線に生じる欠陥を容易に検出する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit in which defect can be detected surely in a wafer state.
ウェハ状態で、確実に欠陥を検出することができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
After obtained ruggedness information of the recording medium plane is Fourier-converted, defect is detected.
得られた記録媒体面の凹凸情報をフーリエ変換により処理した後、欠陥を検出する。 - 特許庁
Measurable properties include presence of an internal defect, sphericity of a ball, diameter of a ball, and the like.
測定できる性状としては、内部欠陥の有無、球体の真球度、球体の径等がある。 - 特許庁
A smooth layer 32d without a surface defect but superior in flatness is made on the product forming area A2.
製品形成エリアＡ２に、表面欠陥がなく平滑性に優れた平滑層３２ｄとする。 - 特許庁
If a irregularity defect 7 exists, brightness inversion parts 8, 9 are generated when the border 6 passes.
凹凸欠陥７が存在すると、境界６が通過する際に明暗反転部８，９が生じる。 - 特許庁
The doped silicate glass formed in this way has a low defect density and a small striae width.
このようにして形成されたドープケイ酸塩ガラスは、欠陥密度が低く脈理幅が小さい。 - 特許庁
To prevent the occurrence of cleaning defect by secondary transfer residual toner on an intermediate transfer belt or a negative ghost.
中間転写ベルト上の二次転写残トナーのクリーニング不良やネガゴーストの発生を防ぐ。 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD OF PHOTOMASK, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK
フォトマスクの欠陥検査方法、半導体装置の製造方法、およびフォトマスクの製造方法 - 特許庁
The wafer irradiated with illumination having the optimum illuminance is imaged, to thereby inspect a defect of the wafer (S6).
最適照度の照明が照らされたウェハを撮像し、ウェハの欠陥を検査する（ステップＳ６）。 - 特許庁
Consequently, the corrosion defect due to the moisture flowing in from the outside can be ameliorated.
その結果、外部から流入する湿気による腐蝕不良などを改善することができる。 - 特許庁
To sell goods with minor defect and surplus products at a price lower than that of regular products.
わずかに瑕疵がある品や余剰生産品などを、正規品よりも安い値段で売ること。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
defect in an optical system in which light rays from a single point fail to converge in a single focal point
1点から発した光線を1つの焦点に集めることのできない、光学システムの欠陥 - 日本語WordNet
autosomal recessive defect in tyrosine metabolism resulting in liver and kidney disturbances and mental retardation
肝臓、腎臓障害および精神遅滞をもたらすチロシン代謝の常染色体劣性欠陥 - 日本語WordNet
You found the cause of the defect and were you able to take measures to prevent its recurrence?
あなたはその不良の原因を見つけて、再発防止のための対策を取ることができましたか？ - Weblio Email例文集
To automatically detect such defect as the thickness irregularity, dotted projection, or the like of a film with high probability.
フィルムの厚みむらや点状突起等の欠陥を、自動的に高い確度で検出する。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory in which productivity is improved, and a method for analyzing defect of the same.
生産性の向上を図った半導体メモリとその不良解析方法を提供する。 - 特許庁
To accurately detect a defect of a pattern in a unit region repeatedly disposed on a substrate.
基板上に繰り返し設けられる単位領域のパターンの欠陥を精度よく検出する。 - 特許庁
To prevent film deposition defect due to plating by controlling the surface potential of a seed film.
シード膜の表面電位を高精度に制御してメッキ処理による成膜不良を防止する。 - 特許庁
To provide a method and system for overcoming an alignment defect of a double patterning system.
ダブルパターニングシステムにおけるアライメント欠陥を克服するための方法およびシステムを提供する。 - 特許庁
To accurately detect a defect by matching a bright spot or the like of a panel easily and accurately.
パネルの輝点等を容易に且つ正確に一致させて高精度の欠陥検出を可能にする。 - 特許庁
To eliminate an effect on a surface defect meter by improving a method for applying oil to a trimmer knife.
トリマナイフへの塗油方法を改善することによって表面欠陥計への影響をなくす。 - 特許庁
An inspector can utilize the return light quantity distribution image as defect portion determination support information.
検査員は、この戻り光量分布画像を欠陥部位判定支援情報として活用できる。 - 特許庁
SPECTROSCOPIC DETECTION METHOD, APPARATUS THEREOF, DEFECT INSPECTION METHOD USING SAME, AND APPARATUS THEREOF
分光検出方法及びその装置並びにそれを用いた欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁
To prevent data destruction from occurring when defect on a magnetic disk exceeds predicted registration and is expanded.
磁気ディスク上の欠陥が予想登録を超えて拡大し、データ破壊を起こすことを防止する。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING DEFECT IN PATTERN SUBSTRATE, AND METHOD FOR MANUFACTURING PATTERN SUBSTRATE
パターン基板の欠陥修正方法及び欠陥修正装置並びにパターン基板製造方法 - 特許庁
To provide a method of manufacturing an Sb-low content glass, which can decrease foams and ash defect at the same time.
泡とアッシュ欠点とを同時に低減できるＳｂ低含有ガラスの製造方法の提供。 - 特許庁
To provide an inspection method for extracting a target defect among defects acquired from an image.
画像から取得される欠陥から目的欠陥を抽出するための検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide an image forming apparatus, forming a good image without defect and unevenness.
傷、画像ムラ等のない良好な画像を形成することのできる画像形成装置を提供する。 - 特許庁
To execute defect detection of different images with time and accuracy of a substantially same level.
実質的に同程度の時間及び正確さで、異なる画像の欠陥検出を実行する。 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR SIMULTANEOUS OR CONTINUOUS, MULTIPLE, SLANT-VIEWED SPECIMEN DEFECT INSPECTION
同時のまたは連続的な多重の斜視的な試料欠陥検査のためのシステムおよび方法 - 特許庁
To speedily detect a defect in a surface of an inspected object with simple and compact constitution.
簡単でコンパクトな構成で、被検査対象の表面の欠陥の高速検出を可能にする。 - 特許庁
To grasp contents of defect later when a SRAM is defective as a consequence of a test.
テストの結果、ＳＲＡＭが不良であった場合に、不良内容を後に把握できるようにする。 - 特許庁
To rapidly, easily and appropriately change control information of an image defect elimination control function.
迅速、容易且つ適切に画像不良解消制御機能の制御情報を変更可能にする。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a micromechanic structural member having no defect of a conventional technology.
従来の技術の欠点を有しないマイクロメカニック構造部材の製造方法を提供する。 - 特許庁
To visualize a shape defect (existence of disconnection part, for example) in the contact part of a semiconductor device.
半導体装置のコンタクト部における形状不良（例えば、断線箇所の存在）を可視化する。 - 特許庁
To provide a highly reliable imaging apparatus in which a defect-free image can be formed.
欠陥のない画像を得ることを可能とした信頼性の高い画像形成装置を提供する。 - 特許庁
To make a stable fixing work performed by a small driving force and to prevent a fixing defect from occurring.
小さな駆動力で安定した定着動作を行い、定着不良も生じ難くする。 - 特許庁
To quickly search a medium defect list at the time of converting a logical address into a physical address.
論理アドレスから物理アドレスへ変換するときの媒体欠陥リストのサーチを高速化する。 - 特許庁
A defect of the optical card is detected by a CPU based on signals binarized.
次に二値化処理された信号に基づいてＣＰＵにより光カードの欠陥検出が行なわれる。 - 特許庁
TAPE CARRIER DEFECT INSPECTION DEVICE, AND TAPE CARRIER CONVEYING METHOD IN THE SAME DEVICE
テープキャリア欠陥検査装置及びテープキャリア欠陥検査装置におけるテープキャリアの搬送方法 - 特許庁
To provide a method for smoothing the optical surface having a concave defect of an optical component for EUVL.
ＥＵＶＬ用光学部材の凹欠点を有する光学面を平滑化する方法の提供。 - 特許庁
Thereby, a charge defect portion of corona discharge is formed on the surface of a photosensitive drum 24.
これにより感光ドラム２４の表面上にコロナ放電の帯電不良部分が形成される。 - 特許庁
To obtain a template inspecting method capable of easily performing a precise defect inspection of a template.
テンプレートの高精度な欠陥検査を容易に行うことができるテンプレート検査方法を得ること。 - 特許庁
TOOL, DEVICE AND METHOD FOR REPAIRING DEFECT OF THIN FILM SOLAR CELL
薄膜太陽電池用の欠陥修復用ツール、欠陥修復用装置及び欠陥修復方法 - 特許庁
Thus, a display defect due to alignment transient from bend to splay does not occur.
これにより、ベンドからスプレイへの配向転移による表示欠陥が発生するようなことはない。 - 特許庁
To provide the method of compensating the defect of profile in a semiconductor device manufacturing process.
半導体デバイス製造工程における形状の欠陥を補償する方法を提供する。 - 特許庁
To highly precisely perform defect inspection of a subject (work-piece) in a compact device structure.
小型の装置構成で、高精度に、被検体（ワーク）の欠陥検査を行うことを可能にする。 - 特許庁
To provide a technique capable of making a V line defect inconspicuous, irrespective of temperature conditions.
温度条件に拘わらずＶライン傷を目立たなくすることができる技術を提供する。 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT OF GLASS SUBSTRATE, AND METHOD OF MANUFACTURING GLASS SUBSTRATE
ガラス基板の欠陥検査方法、ガラス基板の欠陥検査装置、及びガラス基板の製造方法 - 特許庁

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