「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(151ページ目)

「Defect」を含む例文一覧(18306)

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To propose a fixing device reducing a risk of a defect due to a crack of a structural part in the case of fixing the vicinity of an edge part.
縁部付近を固定した場合に、構造部分の亀裂による欠陥のリスクを減少させる固定装置を提案する。 - 特許庁
To provide a semiconductor light emitting device with a crystal defect density decreased and a reliability improved, and to provide a method of manufacturing the same.
結晶欠陥密度が低減され、信頼性が改善された半導体発光素子及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for casting a magnesium alloy ingot, which has no defect and can be surely obtained, and further to provide a casting mold used for the method.
欠陥がなく且つ確実に得られるマグネシウム合金鋳塊の鋳造方法およびこれに用いる鋳型を提供する。 - 特許庁
To correct open circuit defect of a narrow width wiring pattern conveniently and precisely without damaging a wiring board.
狭小幅配線パターンの断線欠陥の修正を配線基板にダメージを与えることなく、簡便で精度よく行うこと。 - 特許庁
To provide a video camera capable of recognizing the position of the defective pixel of a solid-state image pickup element and correcting a defect by an inexpensive circuit.
固体撮像素子の欠陥画素の位置を認識し、安価な回路で補正を行なうことが可能なビデオカメラを提供する。 - 特許庁
To provide technology capable of carrying out photographing and processing for correcting a pixel defect by having only to change the position of a moving member.
可動部材の位置を変えるだけで、撮影を行ったり、画素欠陥を補正する処理を行ったりすることができる。 - 特許庁
To provide a quick method of controlling a defect of high sensitivity at a low cost to solve various problems of a conventional technology.
従来の技術による諸問題を解決するため、低コスト、迅速かつ高感度の欠陥制御方法を提供する。 - 特許庁
To grow a crystal at a nanometer level while suppressing a crystal defect and to keep flatness after growing a crystal.
結晶欠陥を抑制しつつ、ナノレベルの結晶成長を行わせるとともに、結晶成長後の平坦性を確保する。 - 特許庁
The defect management information 10 includes state information which shows whether the defective area is substituted by the substitute area or not.
欠陥管理情報１０は、欠陥領域が交替領域に交替されているか否かを示す状態情報を含む。 - 特許庁
As a flat part is formed of the thin-walled member 2A of a separated body, there exists no possibility of generating defect of molding on the flat part 2.
平面部は別体である薄肉部材２Ａにより形成されるので平面部２の成形不良等が生じない。 - 特許庁
To simplify the configuration of a surface defect-inspecting apparatus for inspecting by an interference phase measuring system and a scattered light detection system.
干渉位相測定系及び散乱光検出系による検査を行う表面欠陥検査装置の構成を簡略化する。 - 特許庁
Where the petition or an enclosure is defective, the petitioner shall be called upon to remedy the defect within a specified period.
請求書又は付属書類に欠陥があったときは，請求人に，指定した期間内に修正をするよう求めるものとする。 - 特許庁
Recording or reproducing operation is carried out by moving the beam spot of an optical pickup so as to avoid the specified position of the defect part.
記録または再生動作は、該特定した欠陥部位置を回避するように光ピックアップのビームスポットを移動させて行う。 - 特許庁
To provide a semiconductor device capable of easily discriminating the operation defect of a built-in power ON detection circuit at the time of a die sort test.
内蔵したパワーオン検知回路の動作不良をダイソートテストに際して容易に判別し得る半導体装置を提供する。 - 特許庁
To provide a pattern inspecting apparatus for precisely and efficiently detecting a defect, and inspecting a pattern of a semiconductor device.
精度よく効率的に欠陥を検出することができる、半導体デバイスのパターンを検査するパターン検査装置を提供する。 - 特許庁
The defect existing in the vicinity of the surface of the specimen 2 is detected thereby based on the difference wave form data.
このため、かかる差分波形データに基づいて、被検査体２の表面近傍に存在する欠陥を検出することができる。 - 特許庁
To inspect existence of an internal defect in a deep spot inside a workpiece W with high accuracy, while reducing a noise echo.
ノイズエコーの低減を図りつつ、被検査物Ｗの内部の深い箇所に在る内部欠陥の有無を高精度に検査すること。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit device capable of preventing a functional circuit from malfunctioning, analyzing defect, and optimizing a consumption power.
機能回路の誤動作の防止、不良解析、消費電力の最適化が可能となる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory in which the defect of a bit adjacent to a rational bit to be relieved can be made possible after assembling.
組み立て後での合理的な被救済ビットの隣接ビットの不良を可能にした半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
Each of the blind boards is driven by drive mechanism 41, 43 so that shadow of each edge settled in pin hole defect-free region PFA.
各ブラインド板は、各エッジの影がピンホール欠陥フリー領域ＰＦＡに収まるように、駆動機構４１、４３で駆動される。 - 特許庁
To provide a matching method of a charged particle beam device capable of accurately measuring and inspecting line width, defect and the like of a sample.
試料の線幅、欠陥などを精密に測定、検査することができる、荷電粒子ビーム装置のマッチング方法の提供。 - 特許庁
To provide a duplex controller capable of checking an address defect by the equalization of a redundant control part.
冗長化制御部のイコライズによるアドレス不良のチェックが行える二重化制御装置を実現することを目的にする。 - 特許庁
Pattern matching by a 'shaking method' is operated to a master pattern M and an object pattern P being multivalue images having gradation in this pattern defect detecting method.
階調を備えた多値画像であるマスターパターンＭとオブジェクトパターンＰに対して「揺すらせ法」によるパターンマッチングを行う。 - 特許庁
To provide a substrate inspection device allowing accurate defect part observation and facilitating observation work.
正確な欠陥部観察を行うことができるとともに、観察作業の軽減化を実現できる基板検査装置を提供する。 - 特許庁
To form a multi-layer wiring without adhesion defect, along with a small capacity among wirings while preventing the fringe effect among wirings.
配線間のフリンジ効果を防止し、配線間容量を減少せしめ、かつ密着不良無しで多層配線を形成する。 - 特許庁
The soft film or evaporation coating of an aluminum foil is used for correcting the surface defect of the MOV surface by covering the MOV surface.
ＭＯＶ表面を覆って表面欠陥を矯正するためにアルミニウム箔の軟質膜又は蒸着被膜が使用される。 - 特許庁
To obtain an inkjet recording sheet which prevents any coating defect from being caused when a coating is applied by using a slide-coater technology.
スライドコーター技術によってコートする場合において何れのコーティング欠陥もみられない、インクジェット記録シートを得ること。 - 特許庁
To provide an equipment and method for a base support which do not cause an error in defect detection or loss of inspection sensitivity.
誤った欠陥検知または、検査感度の損失を引き起こすことのない基材支持の装置及び方法を提供する。 - 特許庁
Based on this synthesized data, crown data which supplements a defect portion and the occlusion data of a crown which crown data show are formed.
この合成データに基づいて、欠損部分を補綴する歯冠データ、及び歯冠データが示す歯冠の咬合データを生成する。 - 特許庁
To avoid failure of CPU start by a defect block even when using a NAND type flash memory for the purpose of driving a CPU.
ＣＰＵ駆動用としてＮＡＮＤ型フラッシュメモリを用いた場合でも不良ブロックによるＣＰＵ起動の不具合を回避する。 - 特許庁
(1) Matters concerning the liability in the case the Goods (excluding rights to use a facility or to receive offer of services) have a hidden defect
一　商品（施設を利用し及び役務の提供を受ける権利を除く。）に隠れた瑕疵がある場合の責任に関する事項 - 日本法令外国語訳データベースシステム
At the time, since the number of constituting mirrors of each mirror group is small, the mirror which is the cause of accuracy defect is easily searched.
この際、各ミラー群の構成ミラー数は少ないため、精度不良の原因となっているミラーの探索は容易である。 - 特許庁
To achieve the weight reduction of a foamed resin molded product or the enhancement of dimensional precision and to prevent the occurrence of a defect in appearance or burr.
発泡樹脂成形品の軽量化や寸法精度の向上を図るとともに、外観不良やバリの発生を防ぐ。 - 特許庁
To provide a proxy device capable of reducing a load on a network and not causing an operational defect even if connected in multiple stages.
ネットワークの負荷を軽減でき、多段接続されていても動作の不具合が引き起こされないプロキシ装置を提供すること。 - 特許庁
Consequently, a defect of the wiring pattern 22b can be found and the wiring pattern is eliminated, so that the end point of polishing can be confirmed.
配線パタ−ン２２ｂの欠陥を見つけることができ配線パタ−ンが無くなることで研磨終点が確認できる。 - 特許庁
To suppress reduction in the initial yield prior to repairing while taking a countermeasure against a brightness defect caused by intrusion of foreign matter.
異物混入に起因する輝度欠陥に対する対策を施しつつ、リペア前の初期歩留まりの低下を抑えるようにする。 - 特許庁
To provide a method of repairing a display panel for repairing a defect generated on the display panel during a manufacturing step.
発明は、製造工程の際に、ディスプレーパネル上に発生される不良をリペアするためのディスプレーパネルのリペア方法に関する。 - 特許庁
To provide a transfer belt which suppresses occurrence of a discharge defect and gap transfer when transferring, and has high degree of freedom in usage.
転写時の放電欠陥及びギャップ転写の発生が抑制されるとともに、使用自由度の高い転写ベルトを提供する。 - 特許庁
To provide a print server capable of preventing the generation of the defect of an image at the time of forming an image by a plurality of image forming devices.
複数の画像形成装置で画像を形成するときに、画像の欠損が生じることのないプリントサーバを提供する。 - 特許庁
The defect removing device 1 controls a Z-directional positioning mechanism 17 and adjusts an interval between a nozzle 9 and the defective region 55.
欠陥除去装置１は、Ｚ方向位置決め機構１７を制御し、ノズル９と欠陥領域５５との間隔を調整する。 - 特許庁
To provide an audio system that can instructs recording where no defect is caused by one operation.
本発明の目的は、１回の操作で不具合の発生しない録音動作を指示できるオーディオシステムを提供することにある。 - 特許庁
To provide a write-once information recording medium capable of easily searching for the latest DDS and the latest defect list.
最新のＤＤＳおよび最新の欠陥リストを容易に探索することができる追記型情報記録媒体が提供される。 - 特許庁
To provide a high quality continuously casting cast slab having little blow hole and inclusion-based defect.
本発明は、気泡ならびに介在物系欠陥の少ない高品質の連続鋳造鋳片を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide an appearance inspection device of an inspection device capable of determining presence/absence of a defect of an opening of a PET bottle with high accuracy.
ペットボトルの開口部の欠陥の有無を高精度に判定することができる検査装置の外観検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a rolling bearing capable of preventing damage (separation) from being caused even if a defect in a ceramic material exists.
セラミック材料に欠陥があった場合でも、損傷(剥離)を招かないようにすることができる転がり軸受を提供する。 - 特許庁
To provide a thermosensitive transfer image receiving sheet, which can form a high grade image developing no image defect and being excellent in thermal discoloring resistance.
画像欠陥がなく、耐熱変色性に優れた、高品位画像を形成できる感熱転写受像シートを提供する。 - 特許庁
To provide a defect evaluation method for a structure capable of obtaining a residual stress inside the structure relating to the growth of a crack.
亀裂の進展に関する構造物内部の残留応力を求め得る構造物の欠陥評価方法を提供すること。 - 特許庁
A distinguishing size for distinguishing a defect caused by a process trouble from other pseudo defects is stored in a distinguishing size storage area (21).
プロセスに起因する欠陥と、他の疑似欠陥とを切り分けるための切り分けサイズが、切り分けサイズ記憶部(21)に記憶される。 - 特許庁
To provide an automatic defect inspection device that uses a conveying device with a self-propelled conveyor for reducing inspection cost.
検査費用のコストダウンを可能とする自走コンベア搬送方式の搬送装置を用いた自動欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a mask inspection device capable of detecting phase defect at the stage of mask blank that is a stage before depositing a absorber pattern.
吸収体パターンを被着させる前のマスクブランクの段階で位相欠陥を検出することが可能な装置を提供する。 - 特許庁

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例文データの著作権について

※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。