「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • To prevent an image defect caused by potential irregularity by extending the control range of the surface potential of a photoreceptor drum by a scorotron electrifier.
    スコロトロン帯電器による感光ドラムの表面電位の制御範囲を広げて、電位ムラに起因する画像不良を防止する。 - 特許庁
  • To enable an emulsion mask to be amended by removing a light shielding defective part without generating a new defect due to heat.
    熱による新たな欠陥を生じさせることなく、遮光性の欠陥部を除去し、エマルジョンマスクを修正できるようにする。 - 特許庁
  • A multi-circuit board on which defect mark FM is posted in advance at a defective device area and a semiconductor chip 4 are prepared.
    不良のデバイス領域に不良マークFMが予め貼り付けられた多数個取り基板と半導体チップ4とを準備する。 - 特許庁
  • To provide a colored photosensitive resin composition capable of forming a post-dried coating film with reduced occurrence of a crater-shaped defect.
    噴火口状の欠陥の発生が少ない乾燥後塗膜を作製可能な着色感光性樹脂組成物を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus for detecting a defect of tube seal by which no poor seal is generated.
    本発明は、シール不良が生じないようにしたチューブシール不良の検出方法及びチューブシール装置の提供を目的とする。 - 特許庁
  • To provide a liquid crystal display device in which occurrence of a short circuit defect at a connection terminal with no connection partner is prevented.
    接続相手の存在しない接続端子の部分でショート不良の発生を防止できる液晶表示装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a fluorescence spectroscopic analyzer capable of acquiring a correlation curve having no defect, while executing a switching SCCS method.
    スイッチングFCCS法を実施しつつも欠損のない相関曲線を取得し得る蛍光分光分析装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device such that a defect detection test can be conducted even in a product state after a packaging process.
    パッケージング工程後の製品状態においても欠陥検出試験を行うことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an aqueous polishing pad with uniform density and porosity as well as reduced polishing defect rate and improved polishing performance.
    密度、気孔率が均一であって、研磨の欠陥率を減少し研磨性能能を改善した水性研磨パッドを提供する。 - 特許庁
  • Thus, the defect of engagement between the output shaft 5 and the control rod 72 caused by the effect of deformation of the fitting hole 510 hardly occurs.
    よって嵌合穴510が変形する影響による出力軸5とコントロールロッド72との係合不良が生じ難い。 - 特許庁
  • To provide a laminated LC composite component improving the reliability by suppressing occurrence of a short-circuit defect.
    ショート不良の発生を抑制して、信頼性を向上させることが可能な積層型LC複合部品を提供すること。 - 特許庁
  • The length of monomer may be controlled using a defect formed on the film as an end point of the chain.
    更に、前記薄膜上に形成した欠陥を前記重合分子鎖の終点として前記モノマーの長さを制御してもよい。 - 特許庁
  • To suppress the spot defect caused by accumulated capacitance and display unevenness in a liquid crystal panel in which capacitive coupling drive is performed.
    容量結合駆動を行う液晶パネルにおいて、蓄積容量に由来する点欠陥及び表示むらを抑制すること。 - 特許庁
  • To quickly inspect presence or absence of a defect in an optical disk in order to ensure that it can be reproduced on various optical disk devices.
    多様な光ディスク装置において再生できることを保証すべく、光ディスクの欠陥の有無を迅速に検査する。 - 特許庁
  • To provide an injection molding method and device which prevent a metering defect and shorten molding time.
    計量不良を防止し、且つ成形時間を短縮化する射出成形方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a method and device for inspecting an insulator for a spark plug capable of surely inspecting presence of a defect.
    欠陥の有無をより確実に検出することができるスパークプラグ用絶縁碍子の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁
  • When the execution of the defect relief of the memory 11 is instructed, a relief program 15 is loaded to the secondary cache 2b of the CPU 2.
    メモリ11の不良救済の実行が指示されると、救済プログラム15がCPU2の二次キャッシュ2bにロードされる。 - 特許庁
  • To provide an image forming apparatus capable of avoiding such failure that an image defect is caused by the occurrence of reverse electrification when starting driving.
    駆動開始時に逆帯電が発生して画像欠陥が生じる不具合が回避された画像形成装置を提供する。 - 特許庁
  • Output of the clip circuit and integration for each 1RUB using the large defect compensation pulse as an object are performed by a 1RUB integration circuit.
    1RUB積分回路にて、クリップ回路の出力とラージ・ディフェクト補償パルスを対象に1RUBごとの積分を行う。 - 特許庁
  • To prevent a molding defect from being generated in a molded article, and to sufficiently shorten a molding cycle.
    成形品に成形不良が発生するのを防止することができ、成形サイクルを十分に短くすることができるようにする。 - 特許庁
  • Thus, an image pickup area is sectioned by the area setting key 21, and the priority of the defect correction is attached by the priority-setting key 22.
    撮像領域を領域設定キー21で区分し、その欠陥補正の優先順位を優先順位設定キー22でつける。 - 特許庁
  • The system then prints the test pattern, scans the pattern and determines an image quality parameter to automatically discriminate an image defect.
    次に、システムはテストパターンを印刷し、パターンをスキャンし、イメージ品質パラメータを決定して自動的にイメージ欠陥を識別する。 - 特許庁
  • To provide a developing device contributing to the suppression of the generation in the defect of a picture, and to provide an image forming apparatus provided with the developing device.
    画質不良の発生の抑制に寄与する現像器、およびこの現像器を備えた画像形成装置を提供する。 - 特許庁
  • CHARGED PARTICLE BEAM CONTROL DEVICE AND CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL DEVICE USING THE SAME, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEFECT CHECKING DEVICE
    荷電粒子ビーム制御装置及びそれを用いた荷電粒子ビーム光学装置、ならびに荷電粒子ビーム欠陥検査装置 - 特許庁
  • To provide a device for monitoring and following the posture of a user and carrying out feedback for correcting the defect of the posture of the user.
    ユーザの姿勢をモニタ及び追跡し、ユーザの姿勢における欠陥を矯正するためにフィードバックを行う装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for manufacturing at high yield a three-layered composite hollow fiber membrane sufficiently exhibiting gas separation function without any defect in an intermediate layer.
    中間層に欠陥が無く、ガス分離機能を良好に発現する三層複合中空糸膜を、歩留り良く製造する。 - 特許庁
  • To reduce cost of a product by performing inspection of the defect in a pixel in the process of manufacture, in a light emission device.
    発光装置において、画素における不良の検査を作製工程の途中で行うことで、製品の低コスト化を図る。 - 特許庁
  • To provide a cardboard core structure capable of reducing or substantially eliminating the center burst defect in a paper-making roll wide and heavy.
    幅広く重い製紙ロールにおけるセンター・バースト欠陥をほぼ削減若しくは除去できる厚紙芯構造を提供する。 - 特許庁
  • a mouse with a genetic defect that prevents them from growing hair and also prevents them from immunologically rejecting human cells and tissues
    彼らが毛を伸びるのを妨害し、また免疫学的にヒト細胞と組織の拒絶を妨害する遺伝的欠陥があるマウス - 日本語WordNet
  • This can prevent the foundation layer 34 beneath the scan line 33 from getting thin, thereby avoiding a line defect such as wire breakage.
    これにより、走査線33の下側の下地層34が細くなることは無く、断線等の線欠陥を回避することができる。 - 特許庁
  • When a defect exists in annual ring data, a file system recognizes a plurality of RUBs in which defects exist and informs it to a file manager.
    ファイルシステムは、年輪データの中にディフェクトがあった場合、ディフェクトがあった複数のRUBを認識して、ファイルマネージャに通知する。 - 特許庁
  • The measured value display section 5 displays the two-dimensional map image and displays a defect area of the panel on the two-dimensional map image.
    測定値表示部5は二次元マップ画像を表示すると共にその二次元マップ画像上にパネルの欠陥部位を表示する。 - 特許庁
  • Consequently, the number of defects in the amorphous carbon can be reduced, and the amorphous carbon with low defect density can be realized.
    これにより、アモルファスカーボン中の欠陥数を減少させることができ、欠陥密度の低いアモルファスカーボンが実現可能となる。 - 特許庁
  • Consequently, the defect present in the semiconductor device on a wafer scale or chip scale can be efficiently detected with high sensitivity.
    これにより、ウェハスケールやチップスケールの半導体装置内に存在する欠陥を、効率よく、高感度に検出することができる。 - 特許庁
  • To provide a method, a system and a program for compensating printing defect such as defective streaks in an electrostatically formed image.
    静電気的に形成される画像の筋欠陥のような印刷欠陥を補償する方法、システムおよびプログラムを提供する。 - 特許庁
  • To reduce the defect in plating by eliminating the hooking of the object to be plated rolling in a barrel rotating around an axis.
    軸回りに回転するバレル内で転動する被メッキ物のバレル内で引っ掛かりをなくしてメッキ不良を減少させる。 - 特許庁
  • This carrier has no lattice defect and magnesia is not detected even by X-ray diffraction and the lattice constant of the carrier is near to a theoretical value.
    この担体は格子欠陥がなく、X線回折によってもマグネシアが検出されず、格子定数が理論値に近い。 - 特許庁
  • To avoid a defect in sealing a bearing support fastening device of a turbo-machine by a simple, effective, and low-cost process.
    簡単、効果的、かつ低コストのやり方でターボ機械における軸受け支持体の締結装置の封止の欠点を回避する。 - 特許庁
  • To improve a defect of a single-layer carbon nanotube by an arc-discharging method and to improve the purity of the obtained single-layer carbon nanotube.
    アーク放電法による単層カーボンナノチューブの欠点を改良し、得られる単層カーボンナノチューブの純度を向上させる。 - 特許庁
  • Consequently, even when defect management is performed in block units, data can be replaced in an area smaller than a block.
    これにより、欠陥管理がブロック単位で行なわれる場合であっても、ブロックより小さい領域でのデータの交替が可能となる。 - 特許庁
  • To prevent the contact defect of a bump electrode and a lead and to make pitches narrow in a semiconductor device having the bump electrode on a semiconductor chip.
    半導体チップ上にバンプ電極を有する半導体装置において、バンプ電極とリードとの接触不良を防止する。 - 特許庁
  • To remove a defect from a photomask by using an electron beam and to realize a finishing shape having no edge roughness at a high etching rate.
    フォトマスクの欠陥を電子ビームを用いて除去し、かつエッジラフネスのない仕上がり形状を速いエッチングレートで実現する。 - 特許庁
  • To detect in advance the high output impedance defect of an output terminal before a probing test, and to perform speedy countermeasures.
    プロービングテスト前に事前に出力端子の高出力インピーダンス不良を検出し、迅速な対応をとることを可能にする。 - 特許庁
  • To provide technology provided with a method and a system for inspecting a defect in a circuit pattern on semiconductor materials.
    本発明は、半導体材料上の回路パターン中の欠陥を検査する、方法とシステムとを含む技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor memory which can perform easily defect detection of the data line redundancy replacing circuit of a shift system.
    シフト方式のデータ線冗長置換回路の不良検出を容易に行なうことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
  • GRANULAR OSTEOMINERAL PRODUCT AND METHOD OF TREATING COMBINED DEFECT OF CARTILAGE AND BONE USING THIS OSTEOMINERAL PRODUCT
    粒子状の骨ミネラル生成物、ならびにその骨ミネラル生成物を用いて軟骨および骨の複合した欠損を治療する方法 - 特許庁
  • To provide, in a seed sublimation system, a manufacturing method of a high quality silicon carbide bulk single crystal of a low bottom face defect level.
    シード昇華システムにおいて、底面欠陥レベルの低い、高品質のシリコンカーバイドバルク単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To prevent the defect in soldering on circuit board packaging by avoiding the occurrence of discontinuous places in an Ni film on an electrode.
    電極上のNi皮膜に不連続箇所が生じるのを回避して回路基板実装時のはんだ付け不良を防止する。 - 特許庁
  • To prevent the occurrence of an image defect caused by the rubbing of a toner image on a recording sheet, and a sheet guide with a simple constitution.
    記録シート上のトナー画像とシートガイドとの擦れに起因する画像不良の発生を、簡単な構成で防止すること。 - 特許庁
  • Many functional groups such as OH group are present in the internal defect and the noble metal is easily carried in the functional group by the ion exchange.
    内部欠陥にはOH基などの官能基が多く存在するため、貴金属はその官能基にイオン交換担持されやすい。 - 特許庁
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