「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 146 147 148 149 150 151 152 153 154 .... 366 367 次へ＞- To provide an information processor and a program updating method, capable of reducing defect caused when updating a program.
プログラム更新時に発生する不具合を少なくすることが可能な情報処理装置およびプログラム更新方法を提供する。 - 特許庁 - This CMP method is applied usefully in order to emphasize the crystal defect on the Ga side of the Al_xGa_yIn_zN wafer.
このＣＭＰ方法はＡｌ_xＧａ_yＩｎ_zＮウェーハのＧａ側における結晶欠陥を強調するために有用に適用される。 - 特許庁 - To provide an inspecting method for inspecting an illumination optical system having a local defect simply and in a short period of time.
局所的な欠陥を有する照明光学系を簡便、且つ短時間に行なうことができる検査方法を提供する。 - 特許庁 - To accurately and quickly discriminate and detect a defect such as a flaw and a foreign matter, in inspection for an inspection object such as a semiconductor wafer.
半導体ウェハ等被検査物の検査において、傷等の欠陥と異物とを正確かつ迅速に区別して検出する。 - 特許庁 - Therefore, without using a redundancy memory cell which has a defect, a defective normal memory cell array can be replaced.
そのため、不良が発生している冗長メモリセルを使用せずに、欠陥を生じている正規メモリセルアレイを置換することができる。 - 特許庁 - To manufacture an optical disk which has a bubble defect or uneven adhesion suppressed by preventing blocking at the time of sticking a substrate and a sheet to each other.
基板とシートとの貼り合わせ時のブロッキングを防ぎ、気泡欠陥や接着ムラが抑制された光ディスクを製造する。 - 特許庁 - To provide ceramic electronic parts which can suppress the appearance defect as that silver is precipitated onto the surface of a low-temperature baked ceramic.
低温焼成セラミックス表面へ銀が析出するという外観不良を抑制したセラミック電子部品を提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display whose display defect is suppressed by preventing generation of a bubble due to touch of an inspection probe.
検査プローブの接触による気泡の発生を防止して、表示不良を抑制した液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an apparatus for removing a resist film from the end edge part of a substrate without causing any defect of pixel.
画素不良を生じさせることなく基板端縁部のレジスト膜を除去することのできるレジスト膜除去装置を提供する。 - 特許庁 - To enable quantitative evaluation independent of intuition of a worker, great cost reduction required for inspection, and the inspection of a deep defect.
作業者の勘に頼らない定量的な評価、検査に要するコストの大幅な削減、深い欠陥の検査を可能にする。 - 特許庁 - Then, the maximum coincidence degree between images of each domain is specified, and presence/absence of a defect is determined by the specified coincidence degree.
そして、領域毎に画像間の最大の一致度を特定して、特定された一致度により不良の有無を判定する。 - 特許庁 - To enable the skip process in a short time along with reducing the regions holding a list for the defect information.
欠陥情報用リストを保持する領域を大幅に削減するとともに、スキップ処理を短時間で行なえるようにする。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device having an element isolation insulating film which is fine and has less defect, and to provide a method of manufacturing the same.
微細であり、かつ欠陥の少ない素子分離絶縁膜を有する半導体装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - Then, a peer device can detect a defect in other network-enabled device when an expected ping is not received.
このようにしてピア装置は、期待されたピングが受信されない場合に、他のネットワーク使用可能な装置の故障を検出し得る。 - 特許庁 - ELECTROLUMINESCENT ELEMENT, ELECTROSCOPE USING ELECTROLUMINESCENT ELEMENT, CONDUCTION DISPLAY POWER LINE, AND CIRCUIT BOARD DEFECT INSPECTION DEVICE
電界発光素子及び電界発光素子を用いた検電器及び通電表示電力線及び回路基板欠陥検査装置 - 特許庁 - Thus, voltage stress is generated between the bit line BL1 and the peripheral circuit or the like, and a defect is made conspicuous.
これにより、ビット線ＢＬ１と周辺回路等との間に電圧ストレスを生じさせ不良を顕在化させることができる。 - 特許庁 - To provide a display panel measuring a fine leak current in a pixel, and a leak defect detecting method for the display panel.
画素内の微小なリーク電流の計測が可能な表示パネル、および表示パネルのリーク欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁 - To prevent such a defect that a substrate contact plug of a peripheral circuit disposed adjacently to a memory cell region becomes high in resistance.
メモリセル領域に隣接して配置された周辺回路の基板コンタクトプラグが高抵抗になるという不良を防止する。 - 特許庁 - The recognition operation includes identification of one or more causes of the defect as a function of the states recognized in the recognition operation.
認識の動作は、認識の動作で認識された状態の関数として、１又はそれ以上の原因の特定を含む。 - 特許庁 - A semiconductor device includes a low defect, strained second semiconductor crystalline material over the surface of the first crystalline material.
半導体デバイスは、第１の結晶材料の表面上に低欠陥の歪んだ第２の半導体結晶材料を含む。 - 特許庁 - To provide a method for efficiently and safely performing chemical reaction treatment for eliminating the defect of wood in a short time.
木材の欠点を解消するための化学反応処理を短時間で効率的にしかも安全に行う方法を提供する。 - 特許庁 - Further, even when there is the void defect on the wafer surface, the epitaxial film having high surface flatness is obtained by fusing.
しかも、仮にウェーハ表面にボイド欠陥が存在しても、溶融により、表面の平坦度が高いエピタキシャル膜が得られる。 - 特許庁 - To provide a welding repair method for a turbine rotor capable of reducing time spent for defect inspection of a repair welded part.
補修溶接部の欠陥検査に費やされる時間を軽減することのできるタービンロータの溶接補修方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a device for occluding an anatomical aperture, such as atrial septal defect (ASD) or patent foramen oval (PFO).
心房中隔欠損（ＡＳＤ）または卵円孔開存（ＰＦＯ）など解剖学的開口を閉鎖するためのデバイスを提供する。 - 特許庁 - To prevent an image defect such as transfer scattering or a void from occurring in an image forming device using plural photosensitive drums.
複数の感光ドラムを使用する画像形成装置において、転写飛び散りや中抜けなどの画像不良を防止する。 - 特許庁 - CUTTING TOOL MADE OF SURFACE-COATED WC-BASED CEMENTED CARBIDE EXHIBITING EXCELLENT DEFECT RESISTANCE IN HIGH-SPEED INTERMITTENT CUTTING OF STEEL
鋼の高速断続切削において優れた耐欠損性を発揮する表面被覆ＷＣ基超硬合金製切削工具 - 特許庁 - To detect the defect of a prism by taking in an image at a time without performing focus scanning every take-in of the image of the prism.
プリズムの画像を取り込む毎のフォーカススキャンを行うことなく、一度で画像を取り込んでプリズムの不良を検出する。 - 特許庁 - The display quality specifying information (W1) and the defect address information (W2) are stored in the second memory (60).
第２メモリ（６０）には、上記の表示品位特定情報（Ｗ１）と上記の不良アドレス情報（Ｗ２）とが記録されている。 - 特許庁 - To provide a method for growing zinc oxide having little crystal defect and being excellent in single crystallinity and flatness on a substrate.
基板上に結晶欠陥の少ない、単結晶性及び平坦性に優れた酸化亜鉛を成長する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a yarn quality measuring instrument capable of evaluating the correct yarn defect length and detecting any irregular period, and a yarn winder.
正確な糸欠点長さ評価及び周期ムラの検出が可能な糸品質測定器及び糸巻取機を提供する。 - 特許庁 - APPARATUS FOR TESTING DEFECT OF SHEET-SHAPED PRODUCT HAVING OPTICAL FILM, APPARATUS FOR PROCESSING TEST DATA THEREOF, APPARATUS FOR CUTTING SAME, AND PRODUCTION SYSTEM THEREOF
光学フィルムを有するシート状製品の欠点検査装置、その検査データ処理装置、その切断装置及びその製造システム - 特許庁 - To provide an apparatus which reconstructing a frame considered to have a defect by a method irrelevant to a decoder.
本発明は、デコーダとは無関係の方法で欠陥があるとされるフレームを再構成する装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To maintain high quality by effectively performing, inspecting and monitoring repair in the case where repairing is performed in relation to a defect such as wearing and cracking.
摩耗や割れ等の欠陥に対し、補修施工する場合、補修を効果的に施工、検査、監視し、高い品質を維持させる。 - 特許庁 - To provide an optical film having high heat resistance, transparency, optical isotropy, toughness, zero-defect property and less thickness unevenness.
高度な耐熱性、透明性、光学等方性、靭性、無欠点性を有する厚みムラの少ない光学フィルムを提供する。 - 特許庁 - To provide a bankbook validity determination device capable of easily detecting the defect of a bankbook medium itself on the spot.
通帳媒体自体の不具合を、その場で容易に発見できる通帳良否判定装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING INTERNAL DEFECT OF SEMICONDUCTOR WAFER AS WELL AS MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR WAFER
半導体ウェーハの内部欠陥測定方法、半導体ウェーハの製造方法及び半導体ウェーハの内部欠陥測定装置 - 特許庁 - An image composed of pixels whose brightness value is less than the second threshold values Th21, Th22, Th23 is eliminated as blurred images 43, 51, 52 from the defect candidate images 61, 62, 63.
輝度値が第２閾値Ｔｈ２１，Ｔｈ２２，Ｔｈ２３未満の画像をボケ画像４３，５１，５２として欠陥候補画像６１，６２，６３から除去する。 - 特許庁 - This skew ion implantation can suppress a crystal defect caused by damage by ion implantation on the surface of the substrate.
そして、このような斜めイオン注入によれば、基板表面にイオン注入のダメージによる結晶欠陥を抑制できる。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device in which high speed operation can be performed stably, while performing detail defect analysis.
高速動作を安定してできるとともにメモリセルの詳細不良解析が可能である半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁 - It cannot deny that the defect of the Meiji Constitution more promoted national socialization in Japan by the end of the war.
この明治憲法が抱えていた欠陥がより終戦に至るまでの日本の国家社会主義化を助長した点は否めない。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス - For instance, examining a case if Yoshinobu TOKUGAWA wished to defect, Parkes showed intention to accept this and answered "This is based on Bankoku Koho."
たとえばパークスは徳川慶喜が亡命を希望した場合、それを受け入れるのも「万国公法に御座候」と答えている。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス - To provide a method for producing a display substrate which can avoid a problem caused by the bleeding of a printing paste or a defect of a plate making.
印刷ペーストの滲みや製版の欠陥に起因する不具合を抑制し得るディスプレイ基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To form a correction film in a halftone mask so as to correct a white defect generating in a semitransmitting film of the halftone mask.
ハーフトーンマスクにおいて、ハーフトーンマスクの半透過膜に発生した白欠陥を修正するための修正膜を形成する。 - 特許庁 - The radiation image detector has an irradiation suppressing member 30 for suppressing the irradiation of electromagnetic wave for recording above a previously detected pixel defect part.
予め検出された画素欠陥部位に放射線の照射を抑制する放射線照射抑制部材３０を設ける。 - 特許庁 - To provide a write-once information recording medium permitting to easily search for the latest DDS and the latest defect list.
最新のＤＤＳおよび最新の欠陥リストを容易に探索することができる追記型情報記録媒体が提供される。 - 特許庁 - To provide a recording medium whereby an original or a copy can be discriminated without the need for intentional defect insertion so as to contribute to copy prevention.
意図的に欠陥を挿入せずに、オリジナルかコピーかの判別が可能で、コピー防止に寄与できる記録媒体を提供する。 - 特許庁 - To avoid the occurrence of a defect accompanied with a temperature rise of an IC portion by separating an antenna during a reception of an intensive radio wave.
強力な電波の受信においてアンテナを切り離し、ＩＣ部の温度上昇に伴う不具合の発生を回避する。 - 特許庁 - To provide a film inspection device capable of detecting accurately a defect generated on a film during manufacture.
本発明の目的は、製造時にフィルムに生じた欠陥を精度良く検出できるフィルム検査装置を提供することにある。 - 特許庁 - To eliminate the occurrence of a transmitting defect at the time of facsimile transmitting or registration work at the time of facsimile receiving in an image filing device.
画像ファイリング装置のファクシミリ送信時における送信不良やファクシミリ受信時における登録作業の発生をなくす。 - 特許庁 - To provide a picture display medium which has no uneven density and no display defect caused by an adhesive and a method for manufacturing the same.
接着剤に起因する濃度むらや表示欠陥のない画像表示媒体およびその製造方法を提供する。 - 特許庁
- 特許庁
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