「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 143 144 145 146 147 148 149 150 151 .... 366 367 次へ＞- A parameter for detecting a blot defect is calculated by image-processing the image data by an image processing means in an image processing process.
画像処理工程では、撮像データを画像処理手段で画像処理してシミ欠陥を検出するパラメータを算出する。 - 特許庁 - To provide a method of straightening defect in the shape of a metallic sheet and reducing residual stress with a roller leveler.
本発明は、ローラーレベラーによる、金属板の形状不良の矯正や残留応力を低減する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a technology which can detect and distinguish the defect or the foreign matter formed on the principal surface of a semiconductor wafer.
半導体ウェーハの主面上に形成された欠陥または異物を検出および判別できる技術を提供する。 - 特許庁 - MASTER INFORMATION CARRIER DEFECT INSPECTION METHOD MAGNETIC FILM PATTERN TRANSFER METHOD USING MASTER INFORMATION CARRIER, AND MAGNETIC RECORDING/REPRODUCING DEVICE
マスタ情報担体の欠陥検査方法、マスタ情報担体利用の磁性膜パターン磁気転写方法および磁気記録再生装置 - 特許庁 - To provide a method for cutting and packaging a sheet recording material in a manner as to obviate the occurrence of an image defect in use.
使用時に画像欠陥を生じないようにシート状記録材料を裁断して包装する方法を提供すること。 - 特許庁 - If it exceeds the prescribed value, it is deemed that the circumferential weld part is detected rather than a defect, a shift is made to a step S13.
もし、所定値以上であれば、それは欠陥でなく円周溶接部を検出しているものとして、ステップＳ１３に移る。 - 特許庁 - To provide a nonaqueous electrolyte cell that has few voltage defect problems due to shock or the like, and has superior low temperature discharge characteristics.
衝撃などによる電圧不良の発生が少なく、かつ低温放電特性が優れた非水電解液電池を提供する。 - 特許庁 - THIN FILM TRANSISTOR, DISPLAY UNIT BOARD EQUIPPED THEREWITH, LIQUID CRYSTAL DISPLAY UNIT USING THIS BOARD AND DEFECT CORRECTING METHOD
薄膜トランジスタ及びそれを備えた表示装置用基板及びそれを用いた液晶表示装置並びに欠陥修正方法 - 特許庁 - To realize a land wherein defect is further reduced in a substrate having a plurality of lands whereto a bonding wire and a fine component are connected.
ボンディングワイヤや微細部品が接続される複数のランドを備える基板において、欠損をより低減したランドを実現する。 - 特許庁 - To prevent a defect in conveyance of a photosensitive material due to strain of a guide member provided between a couple of rack side plates of a process rack.
処理ラックの一対のラック側板の間に設けられるガイド部材の歪みによる感光材料の搬送不良を防止する。 - 特許庁 - To improve transistor characteristics by suppressing the generation of a defect near a boundary between a source/drain region and a channel region.
ソース・ドレイン領域とチャネル領域との境界付近における欠陥発生を抑制して、トランジスタ特性を向上させること。 - 特許庁 - To provide an earthing electrode for electrophotoreceptor capable of preventing the occurrence of noises in the case of operation without causing any image defect.
画像不良を起こすことなく動作時の異音を防止することのできる電子写真感光体用アース電極を提供する。 - 特許庁 - To provide a continuous film forming apparatus by which a film can be formed on a base material, without giving a defect caused by contact with a roll.
基材にロールとの接触による欠陥を与えることなく成膜することができる連続成膜装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical disk having no visually conspicuous defect on an image recording surface and having high productivity, and to provide a method for manufacturing optical disks.
画像記録面に視覚的に目立つ欠陥がなく生産性の高い光ディスクおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a coating solution circulating device and a coating solution circulating method which can suppress the occurrence of a coating defect.
塗工欠陥の発生を抑制することが可能な塗工液循環装置及び塗工液循環方法を提供する。 - 特許庁 - To quickly determine the presence of a defect in a product while eliminating labors and times for precision re-inspection.
再度精密検査行うという手間を省いて、製造物の欠陥の有無を高速に判別することができるようにすること。 - 特許庁 - To obtain an optical fiber terminal which causes neither a blow hole defect during soldering nor breakage of an optical fiber due to thermal shock.
半田中に気孔欠陥がなくしかも熱衝撃に対しても光ファイバの破断が生じない光ファイバ端末を得る。 - 特許庁 - Thus, even if a defect occurs to the instrument, the behavior of the vehicle can be approached to the target behavior.
これにより、機器に異常が生じた場合であっても、車両の挙動を目標とする挙動に近づけることが可能となる。 - 特許庁 - To obtain an image reader that is miniaturized and simplified and can correct a defect such as dust on an original and a flaw in the original.
装置を小型化，簡略化すると共に、原稿のごみ，傷等の欠陥を補正できる画像読取り装置を提供する。 - 特許庁 - To restrain the occurrence of a pseudodefect as to an optical card intermediate, and also precisely carry out defect detection.
光カード中間製品に関し疑似欠陥の発生を抑えることができるとともに、欠陥検出を精度良く行うこと。 - 特許庁 - To suppress the occurrence of a forming defect such as remaining of air without losing advantages such as weight saving or improvement in bead durability.
軽量化やビード耐久性の向上等の利点を損ねることなく、空気残りなどの成形不良の発生を抑制する。 - 特許庁 - To provide a horizontal hook for a sewing machine which prevents a sewing defect by reducing resistance applied on an upper thread in the case of thread passing.
糸渡りの際に上糸が受ける抵抗を低減して縫い不良を防ぐことができるミシンの水平釜を提供する。 - 特許庁 - Therefore, no ESD current flows to the surface layer S23 with reduced surge resistance due to a surface defect.
よって、表面欠陥の影響によってサージ耐量が低くなっている表層部Ｓ２３には、ＥＳＤ電流が流れ込まない。 - 特許庁 - The control part 112 repeats the determination while narrowing the external form of the defect based on the determined position and the range.
制御部１１２は、決定した位置と上記範囲とに基づいて欠陥の外形を狭めながら、上記の決定を繰り返す。 - 特許庁 - To provide new MOL metallurgy for avoiding a defect by using the MOL metallurgy of a prior art and its manufacturing method.
従来技術のＭＯＬメタラジを用いてその欠点を回避する新しいＭＯＬメタラジとその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method of measuring defect density capable of discriminating types of defects in single crystals mechanically and efficiently.
単結晶の欠陥の種類の判別を機械的に高い効率で行なうことができる欠陥密度測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a cutting tool having high defect resistance and high abrasion resistance even under a cutting condition where a cutting blade becomes high temperature.
切刃が高温となるような切削条件においても、高い耐欠損性と耐摩耗性を有する切削工具を提供する。 - 特許庁 - SILICON SINGLE CRYSTAL WAFER HAVING LAYER FREE FROM VOID DEFECT AT SURFACE LAYER PART AND DIAMETER OF NOT LESS THAN 300 MM, AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME
表層部にボイド無欠陥層を有する直径３００ｍｍ以上のシリコン単結晶ウエーハおよびその製造方法 - 特許庁 - A search domain including the defect part is set in the infrared image by an infrared image search domain setting means 14.
赤外画画像検索領域設定手段１４は、赤外画像において、前記欠陥部位を含む検索領域を設定する。 - 特許庁 - The photoreceptor 1a, 1b has high sensitivity and superior durability and forms a defect-free image.
したがって、感光体１ａ，１ｂにおいて高感度と優れた耐久性が得られ、また欠陥のない画像を形成することができる。 - 特許庁 - Since the polycrystalline SiGe film 3 has many p-type defect levels, it exhibits p-type conduction when doped with a small quantity of phosphorus.
多結晶ＳｉＧｅ膜３はｐ型の欠陥準位を多く持っているので、少量のリンドープではｐ型伝導を示す。 - 特許庁 - To obtain an IC (Integrated circuit) memory and a semiconductor device in which an injection defect can be eliminated and chip costs can be reduced.
インジェクション不良をなくすことができると共に、チップコストを削減することができるＩＣメモリ及び半導体装置を得る。 - 特許庁 - To provide a substrate plating device which uniformly executes a plating treatment on a substrate and prevents the wiring defect between layers.
基板へのメッキ処理を均一に行い、層間の配線不良を防止する基板メッキ装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a method of stably manufacturing a ferroelectric capacitance element in which a coverage defect is not generated when a contact hole is formed.
コンタクト孔形成時にカバレッジ不良の発生のない、強誘電体容量素子の安定な製造方法を提供する。 - 特許庁 - To obtain a woven fabric having excellent weavability, improved stretchability and excellent qualities free from grin-through and a nep defect.
製織性に優れ、良好なストレッチ機能があり、かつ目ムキやネップ欠点のない良好な品質の織物を提供すること。 - 特許庁 - To reduce an image defect due to soiling on an electrifying wire by sufficiently cleaning the electrifying wire disposed in a photoreceptor drum unit.
感光ドラムユニットに配設される帯電ワイヤを十分に清掃して、帯電ワイヤの汚れによる画像不良を低減させる。 - 特許庁 - To provide a device and a method for repairing a liquid crystal display panel that can more effectively repair a defect of an LCD panel.
ＬＣＤパネルの欠陥をより効率的に修理することができる液晶表示パネルリペアー装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for measuring the defect, film thickness, contaminants, and particles in a thin-film disk or a silicon wafer.
薄膜ディスク又はシリコンウエファーの欠陥、膜厚、汚染物質、粒子を計測するための装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To process a liquid crystal display device into thin structure without causing a defect due to entry of an etchant between stuck substrates.
貼り合わせ基板間へのエッチング液侵入による不良を発生させることなく、液晶表示装置の薄型加工を行う。 - 特許庁 - To provide a chain conveyor designed to eliminate a defect such as easy breakage, and in particular, capable of being inexpensively and easily manufactured.
破損されやすい欠点をなくするように設計され、特に、安価で、かつ容易に実現されるチェーンコンベヤを提供すること。 - 特許庁 - To manufacture an optical compensation sheet with high productivity by aligning a liquid crystalline compound in a short time evenly and with no defect.
液晶性化合物を短時間で均一に欠陥なく配向させて、光学補償シートを高い生産性で製造する。 - 特許庁 - To more accurately specify and correct a light emission defect part in an image expressing a radiation image in a radiation image reader.
放射線像読取装置において、放射線像を表す画像中の発光欠陥部位をより正確に特定して補正する。 - 特許庁 - To provide an inkjet recording medium which can achieve high glossiness and high printing density and suppresses the occurrence of a coating defect.
高い光沢度と高い印画濃度とを実現可能で、塗布欠陥の発生が抑制されたインクジェット記録媒体を提供する。 - 特許庁 - To provide an electrifying roll and an electrophotographic device using the same where an image defect is not caused by the fusion of toner.
トナー融着等に起因する画像不良が生じない帯電ロール及びそれを用いた電子写真装置を提供する。 - 特許庁 - To screen a so-called variable retention time (VRT) defect caused by the fact that a data retention time varies like random telegraph noise in DRAM.
DRAMにおいて、データ保持時間がランダム・テレグラフ・ノイズ的に変化してリテンション不良となる、いわゆるVariable Retention Time（VRT）不良をスクリーニングする。 - 特許庁 - The problem is solved by providing a composition for treating a mammal having bone defect.
上記課題は、骨欠損を有する哺乳動物を処置するための本発明の組成物を提供することによって、解決された。 - 特許庁 - To prevent the occurrence of an image defect owing to transfer material soiling, by means of restraining toner on detection patterns from sticking to an attracting roller.
検知パターンのトナーが吸着ローラへ付着するのを防止し、転写材汚れによる画像不良の発生を防止する。 - 特許庁 - To suppress resistance increase of a clad layer due to time-dependent diffusion of hydrogen while preventing introduction of group-V defect into an active layer.
活性層へのＶ族欠陥導入を防止しつつ水素の経時拡散によるクラッド層の抵抗上昇を抑制する。 - 特許庁 - To provide an impact printer which can prevent a printing defect from being caused by a decrease in the local ink concentration of an ink ribbon.
インクリボンの局所的なインク濃度低下による印字不具合の発生を防止することができるインパクトプリンタを提供する。 - 特許庁 - The defect 300 is set so as to exist within the light emission spectrum having a prescribed energy level resulting from defects.
欠陥部３００は、欠陥に起因するエネルギー準位が所定の発光スペクトル内に存在するように設定されている。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
