「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 145 146 147 148 149 150 151 152 153 .... 366 367 次へ＞- To provide a cover of nylon cutter for protecting scattering of foreign materials, protecting the body from scattering of the foreign materials that is a defect of the nylon cutter.
ナイロンカッターの欠点である異物の飛散から身体を防護する、ナイロンカッター用異物飛散防護カバーを提供する。 - 特許庁 - To provide an image display medium wherein lowering of responsiveness of particles can be prevented and generation of a pixel defect can be prevented.
粒子の応答性が悪化するのを防ぎ画素欠陥が発生するのを防ぐことができる画像表示媒体を提供する。 - 特許庁 - To decide a defect with high precision by eliminating a misdecision on a defective pixel of an imaging device without increasing a circuit scale.
回路規模を増大させることなく、撮像素子の欠陥画素の誤判定を無くして、精度の高い欠陥判定を行うこと。 - 特許庁 - To confirm defects of a liquid crystal panel in real time, to clear up the cause of the defect of the liquid crystal panel.
液晶パネルの欠陥をリアルタイムに確認することができ、液晶パネルの欠陥原因を究明することが容易に行える。 - 特許庁 - To provide an electrodeposition coating method which inhibits a defect of a coating film called "gas pinhole" by using a pulse-voltage-superimposed electric power.
パルス電圧を重畳することによって、「ガスピン」と呼ばれる塗膜欠陥を抑制できる電着塗装方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a nitrogen-doped wafer which is substantially non-defect from a surface layer up to 10 μm and to provide its manufacturing method.
表層から１０μｍまで実質的に無欠陥である窒素をドープしたシリコンウェーハおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To suppress a shape defect in a gate electrode, in a different conductivity type transistor having a different laminated structure.
異なる積層構造を有する異なる導電型のトランジスタにおいて、ゲート電極における形状不良の抑制を図る。 - 特許庁 - To provide a semiconductor inspection device capable of electrostatically charging a wafer without generating a defect, etc., in a substrate such as a wafer.
ウェハ等の基板に欠陥などを生じさせることなく、ウェハを帯電させることのできる半導体検査装置を提供する。 - 特許庁 - To properly correct defective pixel data caused by a pixel defect of an imaging device without being affected by the image pickup object.
撮像対象に影響されることなく撮像素子の画素欠陥に起因する不良画素データを適切に訂正可能にする。 - 特許庁 - To provide a visual inspection device capable of displaying an image of a defect imaged under a condition near to a visual observation.
目視観察状態に近い状態で撮像された欠陥の画像を表示することができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a coil body capable of preventing the disconnection of a lead wire and the appearance defect of a rubber grommet when forming the coil body.
成形時のリード線の断線やゴムグロメットの外観不良などを防止することができるコイル体を提供すること。 - 特許庁 - To improve discharging accuracy of a workpiece to be discharged from a conveyance path, such as a workpiece with a defective portion and a workpiece with immediate defect.
不良部を有するワークやその直前のワーク等といった搬送路から排出すべきワークの排出確度を高める。 - 特許庁 - Further, a method of classifying fuel cell materials which uses the defect detection method for a fuel cell material is provided.
また、当該燃料電池材料欠陥検出方法を用いた当該燃料電池材料の分別方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an integrated circuit device enabling a memory to be stacked while reducing occurrence of a wiring defect etc., and to provide electronic equipment and the like.
配線不良の発生等を低減しながらメモリーのスタックを可能にする集積回路装置及び電子機器等の提供。 - 特許庁 - By altering the position of the defect on the design data, the defective fraction can be reduced and the yield can be improved.
また、欠陥の位置を設計データ上で変更させることにより、不良率を下げて歩留まりの向上を図ることができる。 - 特許庁 - To provide a surface-emitting semiconductor element which is capable of sufficiently restricting the transmissions of a defect from a current constriction layer.
電流狭窄層からの欠陥の転移を十分に抑制することができる面発光型半導体素子を提供すること。 - 特許庁 - To provide a device for manufacturing a recessed member capable of restraining a defective from being generated, by preventing an uneven thickness defect.
偏肉不具合を防止することにより、不良品の発生を抑制することができる凹状部材の製造装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a technology for eliminating a molding defect and producing a stick-like cosmetic with an appearance better than before.
成型不良をなくし、しかも従来より優れた外観のスティック状化粧料を製造するための技術を提供すること。 - 特許庁 - To improve a projection exposure apparatus so that an imaging defect is reduced due to uneven refractive index in an immersion liquid.
液浸液内部の屈折率の不均一から生じる結像欠陥が低減されるように、投影露光装置を改良すること。 - 特許庁 - The inspection device has a first inspection mode in which a defect other than a step bunching is detected and a second inspection mode in which the step bunching is detected.
ステップバンチング以外の欠陥を検出する第１検査モードとステップバンチングを検出する第２の検査モードを有する。 - 特許庁 - Scattered light 3b scatted by a defect unit 19 is received by the photomultipliers 21a-21h to generate a light reception signal.
欠陥部１９で散乱した散乱光３ｂは、光電子増倍管２１ａ〜２１ｈで受光され、受光信号が生成される。 - 特許庁 - The program corrects defect size and calculates inferiority probability for each mask (step 5-10).
次に検査結果データの各欠陥に対して、欠陥サイズの補正と各マスクに対する不良確率の算出を行う（ステップ５〜１０）。 - 特許庁 - Thus, the black point defect at the edge part of the liquid crystal pixel can be detected accurately, without being affected by the black matrix 12.
そのため、ブラックマトリックス１２による影響を受けることなく、エッジ部分における黒点欠陥を的確に検出できる。 - 特許庁 - The arithmetic operation part 18 corrects the picked-up image by the imaging device 8 based on the pixel defect information stored in the memory 12.
そして、演算部１８は、メモリ１２に記憶された画素欠陥情報に基づいて撮像素子８の撮像画像を補正する。 - 特許庁 - To provide an apparatus for analyzing a defect and a method for the same which enable easy specification of a defective spot of a semiconductor device.
半導体装置の不良箇所を容易に特定することができる不良解析装置およびその方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a photosensitive material processing apparatus that does not cause a coating defect and is used while the developability is stable for a long time.
塗布欠陥が無く、長期間現像性が安定して使用可能な感光材料処理装置を提供することにある。 - 特許庁 - To provide magnetic toner exhibiting excellent durable developing property and high cleaning property, and at the same time, improving a start-up stripe defect.
耐久現像性に優れ、高いクリーニング性を示し、同時に起動スジも改善された磁性トナーを提供することにある。 - 特許庁 - The wire surface defect detector radiates light to the surface of the wire 1 and searches for a flaw K in the wire surface 1a with a camera 2.
線材１の表面に光りを照射してカメラ２で線材表面１ａの傷Ｋを探す線材表面探傷装置。 - 特許庁 - To provide a toner that prevents a start-up stripe defect and exhibits superior initial fog characteristics and development stability in long-term use.
起動スジを防止し、初期カブリ特性及び長期使用における現像安定性に優れるトナーを提供することである。 - 特許庁 - When defects exist in the inspection ranges 14, 22 and 23, a CCD line sensor camera 15 receives the scattered light from each defect.
ＣＣＤラインセンサカメラ１５は、検査範囲１４，２２，２３に欠陥が存在する場合、各欠陥からの散乱光を受光する。 - 特許庁 - To improve the quality of data to be back-up, and also quickly inform a user of the generation of any defect of the data quality.
バックアップするデータの品質を高めるとともに、データ品質に欠陥があった場合、ユーザーに対して速やかに通知する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing an aluminum printing plate having excellent reproducibility of thin lines and causing no spot defect in a silver image.
細線再現性に優れ、かつ銀画像のスポット状の欠陥の発生のないアルミニウム印刷版の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a thick electromagnetic soft-iron superior in the inside property having little defect associated with voids, and provide a manufacturing method therefor.
本発明は、空隙性欠陥が少なく内部性状に優れた厚肉電磁軟鉄およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To improve the production yield and the quality by suppressing the occurrence of the liquid shortage defect in the coating of a large sized substrate.
大型基板の塗布に際して液切れ欠陥の発生を抑制し、製造歩留まりの向上と品質の向上を図る。 - 特許庁 - This means that the defect of the data line is judged by the logical value of output of the logical circuit, that is, a binary state.
これはデータ線の欠陥は、論理回路の出力である論理値、つまり２値の状態によって判定できることを意味する。 - 特許庁 - To provide a defect correcting method where using efficiency of correcting ink is high, and a period required for application of the correcting ink is short.
修正インクの使用効率が高く、修正インクの塗布に要する時間が短い欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a technique capable of improving a deforming in a water tank, and reducing the defect in the operation of a pump while minimizing a water supply amount.
水槽内での泡切れを良くし、給水量を最小にしつつポンプの動作不良を低減できる技術の実現。 - 特許庁 - The cultured bone 5 is provided with an osteogenic operation by employing β-TCP molding prosthetic to the osseous defect 3 as a base material.
培養骨５は、骨欠損部３に補填可能なβ−ＴＣＰの成形体が基材とされて骨形成作用を備えている。 - 特許庁 - To provide a defect inspection device capable of precise inspection of defects independent of pitch of repeated pattern on a substrate.
基板に形成された繰り返しパターンのピッチによらず高精度な欠陥検査が行える欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical path switching device and an optical path switching method by which a detection error such as a pseudo defect is prevented from occurring.
疑似欠陥等の検出誤差の発生を防止することができる光路切換装置及び光路切換方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a grinding composition capable of obtaining a high quality ground surface while maintaining a high grinding speed and also having no surface defect.
高い研磨速度を維持しつつ、しかも表面欠陥のない高品質な研磨面が得られる研磨用組成物を提供する。 - 特許庁 - A shallow flaw is thereby precluded from forming a shadow, because of the illumination from various directions, so as to be prevented from being recognized as the defect.
これにより、様々な方向から照明されることで、浅い傷については影とはならず、欠陥と認識されない。 - 特許庁 - A directional coupler is constructed with two line defect optical waveguides 1 and 2 and a saturable absorption region 6.
２本の線欠陥光導波路１および２と可飽和吸収領域６とによって方向性結合器が構成される。 - 特許庁 - The covering properties of the protective film 15 and semiconductor layer 16 which are the upper layers of the level difference portions are improved and the defect can be prevented.
それにより、該段差部分の上層の保護膜１５や半導体層１６の被覆性が向上し欠陥を防止できる。 - 特許庁 - To provide a pattern formation method that can form fine patterns simply and effectively and is reduced in the occurrence of a defect.
微細パターンを簡易で、効率よく形成することができ、かつ、欠陥の発生が少ないパターン形成方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an image pickup device capable of correcting a pixel defect of an image pickup element in accordance with a driving mode of the image pickup element.
撮像素子の駆動モードに応じて撮像素子の画素欠陥の補正を行うことができる撮像装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection method with high sensitivity while suppressing influences by fluctuation in an optical system.
露光マスクなどのパターン欠陥の検査において、光学系の変動による影響を抑え、高感度の欠陥検査方法を実現する。 - 特許庁 - On the contrary, when off-track is not continued in the same point, it is determined as non-defect, off-track conditions are not relaxed.
逆に、同一箇所でオフトラックが連続しない場合には、欠陥でないと判断し、オフトラック検出条件は緩和しない。 - 特許庁 - To provide a nondestructive inspection apparatus whose structure is simple and by which the existence of a crack-shaped defect in a plate can be judged with high accuracy.
構造が簡単で、かつ高精度に板の割れ状欠陥の有無が判定できる非破壊検査装置を提供する。 - 特許庁 - To providing a semiconductor device that controls the occurrence of a crystal defect caused by a stress, thus having good device characteristics.
応力によって生ずる結晶欠陥の発生を抑制し、良好な素子特性を備える半導体素子を提供する。 - 特許庁
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