Presence or absence of a foreign matter (dust etc.) or a defect (a flaw etc.) on a surface of a memory medium before transfer of a servo pattern is inspected (step S1). サーボパターン転写前の記憶媒体の表面に、異物(ゴミ等)又は欠陥(キズ等)があるか否かを検査する(ステップS1)。 - 特許庁
To make it possible to recover the defect caused by a short-circuit failure of a control gate and a source or a drain over aging in a nonvolatile semiconductor memory. 不揮発性メモリにおけるコントロールゲートとソース又はドレインとの経時的なショート不良による救済を可能にする。 - 特許庁
To simplify the constitution of a surface defect inspection device for inspection by an interference phase measuring system and a scattered light detection system. 干渉位相測定系及び散乱光検出系による検査を行う表面欠陥検査装置の構成を簡略化する。 - 特許庁
To provide an inspection method, in which the defect of a through hole plating conductor can be easily inspected without destroying a plastic package. プラスチックパッケージを破壊することなく容易にスルーホールめっき導体の欠陥を検出できる検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a system that reduces a wrong determination or reception defect in an apparatus operating section such as a bathroom television system. 浴室テレビシステムなどの機器操作システムにおいて、操作部の誤判定や受付不良の少ないシステムを提供することにある。 - 特許庁
To prevent the cleaning defect of a belt running body with lapse of time in an image forming device at a low cost with the reduced space. 画像形成装置における経時的なベルト走行体のクリーニング不良を低コストかつ省スペースで防止できるようにする。 - 特許庁
To provide the display device which prevent its display panel from deteriorating owing to the heat from a light source part to cause a defect in display. 光源部からの熱によって表示パネルが劣化して表示不良を起こすことを防止した表示装置を提供する。 - 特許庁
To surely maintain operation of an on-vehicle terminal, even at the occurrence of a voltage drop due to fault or defect of a main battery or at engine start. メインバッテリーの故障、事故、エンジン始動時などの電圧降下時においても、車載端末装置の動作を確実に維持する。 - 特許庁
Depending on the determination by the data defect determining part 115a, an error reporting part 115b sends the data read failure back to the host 20. エラー通知部115bは、データ欠損判定部115aによる判定結果に応じて、データ読み出し失敗をホスト20に返す。 - 特許庁
To provide a write-once type information recording medium capable of easily retrieving the latest DDS and the latest defect list. 最新のDDSおよび最新の欠陥リストを容易に探索することができる追記型情報記録媒体が提供される。 - 特許庁
To detect with high sensitivity foreign matters adhering to the microscopic patterns formed on the surface of a semiconductor device and the location of the defect, such as an abnormality in the patterns. 半導体装置の微小パターンに付着した異物やパターンの異常等の欠陥箇所を高感度で検出する。 - 特許庁
To suppress the increase in line defect even in the case that a liquid crystal display device receives a peeling electrification before completion of an array part of a thin film transistor. 薄膜トランジスタのアレー部分の完成までに剥離帯電を受けた場合にも、線欠陥不良の増加を抑える。 - 特許庁
To detect a longitudinal linear defect caused by charge leakage at the time of transfer from a vertical transfer section to a horizontal transfer section. 垂直転送部から水平転送部への転送時の電荷漏れによって発生した縦線状欠陥を検出する。 - 特許庁
To provide a coated building plate made easy to repair the defect place of a pattern, which is printed by ink jet printing, in an inconspicuous state. インクジェット印刷した柄模様の欠損箇所を目立つことなく補修することが容易になる塗装建築板を提供する. - 特許庁
To provide an apparatus for manufacturing a metallic mold with which cast defect can be reduced by filling up molten metal into a mold by straightening the molten metal. 溶湯を整流して鋳型内に充填して鋳造欠陥を低減することができる金型鋳造装置を供する。 - 特許庁
To provide a compensation system for hedging a risk of paying compensation money accompanying defect occurring in an information processing system. 情報処理システムに発生した障害に伴う補償金支払のリスクをヘッジすることができる保証システムを提供する。 - 特許庁
Then a defect rate of residual degenerartion FBM is collated with a defective shape discrimination rule, and a defective shape is specified. そして、残りの縮退FBMについての不良率を不良形状判定ルールと照合して不良形状を特定する。 - 特許庁
To provide a liquid crystal display panel inspection illuminator preventing a part hard to see a display defect of a liquid crystal panel from occurring by making incident a uniform illumination beam on a reflection type liquid crystal panel surface. 反射型液晶ディスプレイパネルの検査において、検査時の視認性を向上できる照明器を設けること。 - 特許庁
To obtain a high quality insulating film in which a defect is hard to occur, and to reduce leakage current. 欠陥が生成されにくい高品質な絶縁膜を得ることを可能にするとともにリーク電流を低減することを可能にする。 - 特許庁
Next, positions of the foreign matter or the defect on the surface of the memory medium and the servo pattern on the transfer master relative to each other are calculated (step S2). 続いて、記憶媒体表面の異物又は欠陥と、転写マスタのサーボパターンとの相対位置を計算する(ステップS2)。 - 特許庁
To solve the problem that the unexpected high frequency open defect of a capacitor due to breaking of the capacitor or wiring connected thereto can not be detected through a DC test. 直流試験ではキャパシタやそれに接続される配線の切断によるキャパシタの予期しないオープンを検出できない。 - 特許庁
To perform surface treatment free from defect having both corrosion resistance and conductivity, and to eliminate the treatment of unnecessary portions in surface treatment. 耐食性と導電性を兼ね備えた、欠陥のない表面処理を行い、また、表面処理の不要な箇所の処理を省く。 - 特許庁
To automate adjustment of the sensitivity of a comparative check, namely, work for performing the adjustment so as to detect the defect in the desired size. 比較検査の感度の調整、つまり所望の大きさの欠陥を検出するように調整する作業を自動化すること。 - 特許庁
To provide a structure reforming method which surely prevents the surface of a casting and a casting defect from being communicated with each other. 鋳造物の表面と鋳造欠陥とが連通することをより確実に防ぐ組織改質方法を提供する。 - 特許庁
To solve the problem of the conventional autoanalyzer in which a dispensation defect may occur if idle suction or clogging occurs during the suction of a sample or a reagent in a dispensation probe. 分注プローブで試料や試薬の吸引時に空吸いや詰まりが発生した場合分注不良が発生する。 - 特許庁
To provide a standard substrate which enables exact inspection of a defect existing in a thin film formed on a substrate. 基板上に形成された薄膜に存在する欠陥の正確な検出を可能とする標準基板を提供すること。 - 特許庁
To provide a defect inspecting device of a liquid crystal panel capable of automatically and surely detecting a defective dot on a liquid crystal panel. 液晶パネルにあるドット落ちを自動的且つ確実に見つけることができる液晶パネルの欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
Here, as the transparent resin body 40 is composed of a transparent resin molding, a conventional problem caused by cutting defect does not occur. ここで透明樹脂製ボディ40は、透明な樹脂の成形品であるから、従来の切削傷による問題は発生しない。 - 特許庁
To provide a machine tool, restraining a defect of a workpiece due to machining chips. 加工屑に起因して生じる被加工物の不具合を抑制することが可能な構成を備えた工作機械を提供すること。 - 特許庁
To provide a method and a device for detecting a minute circuit pattern with high resolution to detect a defect. 本発明は、微細な回路パターンを高い分解能で検出し、欠陥を検出する方法及び装置を提供することにある。 - 特許庁
To provide an apparatus for inspecting a solar battery, which can discriminate an area free from defect in a solar battery cell. 太陽電池セルの中で欠陥が存在しない領域を特定することが可能な太陽電池の検査装置を提供する。 - 特許庁
To suppress an increase of the unevenness defect of the peripheral part of a substrate arising from the draft of the atmosphere air in drying and spinning after spin coating. スピンコートした後の乾燥スピン時に大気の気流により発生する基板周辺部のムラ不良の増加を抑える。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a semiconductor device, for reducing a defect occurrence rate in chip division and improving an yield. チップ分割時の不良発生率が低減され、歩留まりの向上が図られた半導体デバイスの製造方法を提供する - 特許庁
Thereby, defect classification can be performed by such very simple retest as reading out contents of the memory cell region 6. これにより、メモリーセル領域6の内容を読み出すという非常に簡易な再検査で不良分類を行うことができる。 - 特許庁
Such a recessed defect is corrected before the stage of forming a mask pattern-forming thin film on the translucent substrate. また、このような凹欠陥の修正を、透光性基板上にマスクパターン形成用の薄膜を形成する前の段階で行う。 - 特許庁
To provide a process for fabricating a semiconductor device in which crystal defect to occur from an isolation region is reduced. 素子分離領域から発生する結晶欠陥等の発生を低減するための半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a liquid crystal pixel inspection method capable of accurately detecting the black point defect at the edge parts of a liquid crystal pixel. 液晶画素のエッジ部分における黒点欠陥を的確に検出できる液晶画素検査方法を提供すること。 - 特許庁
To prevent the occurrence of an image defect when forming an image by a plurality of image forming devices. 複数の画像形成装置で画像を形成するときに画像欠損が生じることを防止できるプリントプログラムを提供する。 - 特許庁
Image data obtained by imaging the reproduced model defect by an imaging means of the inspection device are acquired in an image processing process. 撮像工程において、再現されたモデル欠陥を検査装置の撮像手段によって撮像した撮像データを取得する。 - 特許庁
To reduce the quantity of original data such as data required for expressing a digital picture by preventing a defect in the coding (occurrence of not to be optimized coding). 符号化における不具合を防止し、デジタル画像を表すために必要なデータなどの原データのデータ量を低減する。 - 特許庁
As a result, the defect detecting sensitivity is improved, without increasing the inspecting period, as compared to the case of applying a single ECC. よって単一のECCを適用する場合に比べて、検査時間を増大させないで欠陥の検出感度を増大する。 - 特許庁
To provide a wafer pressing structure of a wafer transfer container which hardly causes breakage or a storage defect even if an external force is applied. 外力が加わっても、破損や収納不良が発生しにくいウエハ搬送容器のウエハ押さえ構造を提供する。 - 特許庁
To highly accurately detect a defect in a sample without destructing a metal structure even if the surface of the sample has recessions and protrusions. サンプル表面が凹凸である場合でも、金属構造物を破壊することなく高精度でサンプル内の欠陥を検出する。 - 特許庁
This is a method for making a maintenance plan by operating the risk assessment of equipment with the matrix of the scale and defect probability of a damage. 被害の大きさと損傷確率のマトリックスで設備機器のリスク評価をなしメンテナンス計画を立案する方法である。 - 特許庁
To stabilize separation of a recording material from an image carrier and to evade an image defect due to discharge right after the separation of the recording material. 像担持体からの記録材の分離を安定させ、かつ、記録材の分離直後の放電による画像不良を回避すること。 - 特許庁
To provide a CCD image sensor capable of improving efficiency of transfer of charges by reducing generation of crystal defect. 結晶欠陥の発生を少なくし、かつ電荷の転送効率を向上できるようにしたCCDイメージセンサを提供する。 - 特許庁
To feed a spray deposit which attains stable thermal spraying and is free from a defect by feeding electric power constantly from a power feeding brush. 電力供給ブラシから常時給電されているので、安定した溶射が出来欠陥の無い溶射皮膜を供給する。 - 特許庁
To provide a lost pattern for casting with which cast defect caused by defective gas vent is reduced in a lost pattern casting method. 消失模型鋳造法において、ガス抜き不良による鋳造欠陥を低減できる鋳造用消失模型を提供する。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing the coil of a rotary electric machine, which can prevent the occurrence of a junction defect of an electrical conductor. 電気導体の接合不良の発生を防止することができる回転電機の巻線の製造方法を提供すること。 - 特許庁
To produce a hot-rolled wide flange shape while suppressing the occurrence of product scratches and dimensional defect without using many rolls. 多数のロールを使用することなく製品疵や寸法不良の発生を抑制しながら熱間圧延H形鋼を製造する。 - 特許庁