「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 140 141 142 143 144 145 146 147 148 .... 366 367 次へ＞- To provide a polyester film having good optical performances and, when used as an element of LCD, PDP, organic EL, projection displays and the like, causing neither unevenness nor defect, realizing high luminance and giving high quality images having no defect.
ＬＣＤ、ＰＤＰ、有機ＥＬ、プロジェクションディスプレイなどの部材として使用した際に、ムラや欠陥がなく、高度な輝度を実現し、欠点のない高品質な画像を与えることができる、光学的性能の良好なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁 - The estimation of the phase difference and transmittance at the exposure wavelength is made possible by calculating the phase difference and transmittance at the inspection wavelength of the detected phase defect and the improvement in the evaluation accuracy is made possible by calculating the defect transfer characteristic using the same.
検出された位相欠陥の検査波長での位相差、透過率を算出したことで、露光波長での位相差、透過率を見積もることができ、これを用いて欠陥転写特性を計算することにより評価精度の向上が可能となる。 - 特許庁 - To provide a new method for surface defect detection and its device which can quantitatively measure a defect in atom size generated on the surface and interface of a sample in a manufacturing process for semiconductor devices or the like in real time with high precision.
半導体デバイスの製造プロセス等において試料の表面および界面に発生する原子サイズの欠陥を実時間で、且つ高精度で定量測定することのできる、新しい表面欠陥検出方法およびその装置を提供する。 - 特許庁 - Defective pixels in the display panel are mapped, defect information obtained by this mapping is associated with the panel, the defect information is utilized in a panel operation, luminance of neighboring pixels is altered and the defective pixels are made inconspicuous to an observer.
パネルにおける画素欠陥をマッピングし、このマッピングにより得られた欠陥の情報をパネルと関連付け、パネル操作でこの欠陥の情報を利用して、隣接する画素の輝度を変化させて、欠陥画素を観察者に対して目立たなくさせる。 - 特許庁 - To provide a cement composition which is obtained by using waste glass powder of which the effective utilization is not found out and prevents the conversion that is the defect of a calcium aluminate-based compound and also prevents the alkali silica reaction that is the defect of the waste glass.
有効利用法が見出されていない廃ガラス粉末を利用し、カルシウムアルミネート系化合物の欠点であるコンバージョンを防止すると共に、廃ガラスの欠点であるアルカリシリカ反応の防止をもなし得るセメント組成物を提供する。 - 特許庁 - In the defect simulation method using the discharge tester, a test voltage 32 is applied from a high voltage generator 30 to a continuous cable via an electrode, a detector 44 recognizes and displays dielectric breakdown, and a defect counter 48 sums them.
放電試験器を用いた欠陥シミュレーション方法において、高電圧発生器３０から電極を介して試験電圧３２を連続ケーブルに印加し、検出器４４により絶縁破壊を認識して表示し、欠陥カウンタ４８により合算する。 - 特許庁 - To provide an inspection method for shape defect or the like by which the defect of a printed wiring board or the like, especially a light transmission type electronic substrate, can be detected accurately, quickly and automatically through optical processing without paying attention to the deviation of a substrate, and to provide an inspection device.
プリント配線基板等、特に光透過型電子基板の欠陥を、基板のずれを気にせずに光学的処理により高精度、迅速、かつ、自動的に検出することができる形状欠陥等の検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁 - At the time of medium defect detection, the correcting ability by maximum likelihood detection is reduced by switching the connection of a Vitervi detector 28 and making it a mere threshold judging circuit, and encoding is performed to detect easily a minute medium defect as an error.
媒体欠陥検出時に、ビタビディテクタ２８の接続を切換え、単なる閾値判定回路とすることにより最尤検出による訂正能力を低減させて符号化を行ない、微小な媒体欠陥を容易にエラーとして検出できるようにする。 - 特許庁 - An alternate area is determined in consideration of the location of an area where the defect occurs, whether the defect occurs at the beginning of the area, whether the recording medium is rewritable or not, and so that data is arranged in the order of reading.
ディフェクトが発生した領域の位置、その領域内でディフェクトが発生した箇所が先頭であるか否か、記録媒体が再書き込み可能であるか否かなどを考慮し、かつ、データが読み出される順で配置されるように、交替先が決定される。 - 特許庁 - And each of the set positional relationships is used to position the defect output by the inspection equipment 1 and the design data, and a local pattern of the site at which the defect is positioned is extracted from the design data for every positional relationship (step S6).
そして、設定された位置関係の夫々を用いて検査装置１が出力した欠陥位置と設計データとを位置合わせし、設計データから欠陥位置が位置合わせされた部位の局所パターンを位置関係毎に抽出する（ステップＳ６）。 - 特許庁 - To provide an actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition which is excellent in development defect performance, liquid immersion defect performance and limit resolution and enables to form a pattern having a good shape, and a pattern forming method using the same.
現像欠陥性能、液浸欠陥性能、及び限界解像力に優れ、且つ良好な形状を有したパターンを形成可能とする感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物、並びに、それを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a substrate repairing method and a repairing device that can sufficiently repair a defect part even when the circumference of the defect part of a substrate to be repaired is hydrophilic, and the substrate repaired by using the same.
基板の欠陥部のリペアを行う場合に、欠陥部の周囲が溶液に対して親液性の場合でも、十分に欠陥部を修正することが可能な基板リペア方法並びにリペア装置及びこれを用いてリペアされた基板を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method for an active matrix type liquid crystal display which has a high yield and can have a higher aperture rate by preventing a display defect due to a defect in contact between a drain electrode and a pixel electrode due to a crack of an indium-tin oxide alloy (ITO).
インジウム−錫酸化物合金(ITO)クラックによるドレイン電極と画素電極のコンタクト不良による表示欠陥を防ぎ、歩留まりが高く、更に高開口率化の可能なアクティブマトリクス型液晶表示装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect detecting method which enables the easy distinguishment of stains from defects by solving the problem that it has been difficult to distinguish stains from defects by conventional defect detecting methods using light transmitted through a plate-like body and light reflected its surface.
板状体を透過する光と表面で反射する光とを用いる従来の欠陥の検出方法では、欠陥と汚れの区別が困難であり、汚れと欠陥とを容易に区別することができる欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a correcting method for a color filter, which corrects a white defect in a colored layer of the color filter, applying a correction liquid without being pressed out of a white defect part, so that the occurrence of new color mixture and projection can be prevented.
カラーフィルタの着色層における白欠陥を修正する方法において、修正液を白欠陥部の外へはみ出すことなく塗ることができ、従って新たな混色や突起を発生させることの無い修正方法を提供する。 - 特許庁 - To obtain a large glass substrate without a melting defect by properly testing the melting defect over the entire surface of the glass substrate when the substrate size is 1,100 mm×1,250 mm or more, particularly 2,000 mm×2,000 mm or more.
基板寸法が１１００ｍｍ×１２５０ｍｍ以上、特に２０００ｍｍ×２０００ｍｍ以上である場合に、ガラス基板の全面に亘って、溶融欠陥検査を適正に行うことにより、溶融欠陥がない大型のガラス基板を得ること。 - 特許庁 - When tutor data used for the learning are generated, a defect image is displayed on the display of the host computer according to the size of a defect and an imaging position on the object to be inspected and an identification representation showing a category which is already imparted is added.
学習に用いられる教師データの作成に際して、ホストコンピュータのディスプレイに欠陥の大きさや検査対象上の撮像位置に基づいて欠陥画像が配列表示され、既に付与されているカテゴリを示す識別表示が付加される。 - 特許庁 - To provide a casting method by which the casting defect, such as misrun, cold shut, in a thin and small product, etc., is not developed and a large feeder head is unnecessary even in the case of casting a material having extremely large solidified shrinkage amount and easily developing the casting defect.
薄肉小物製品等で不廻りや湯境い等の鋳造欠陥を生じることなく、凝固収縮量が極めて大きく鋳造欠陥が発生し易い材質でも、大きな押湯を必要としない鋳造方法を提供する - 特許庁 - To provide a photographic printer interfaced with a defect detection or scanning system, which inspects a photo paper sheet during consumption of the photo paper sheet by a printer to find a defect, and to provide a printing method.
写真用プリンタおよび印刷方法であって、プリンタによって写真用紙を消費している間に写真用紙を検査して欠陥を発見する欠陥検出または走査システムにインターフェイスされた写真用プリンタおよび方法を提供する。 - 特許庁 - To actualize an electronic display inspecting device which can accurately detect an inspection area, easily detect a linear defect, and easily correct the tilt of an electronic display display surface even if the electronic display has the linear defect.
電子ディスプレイにライン状欠陥があった場合でも、正確に検査領域を検出し、ライン状欠陥を容易に検出し、電子ディスプレイ表示面の傾きも容易に補正することのできる電子ディスプレイ検査装置の実現を目的とする。 - 特許庁 - Next, a defect introduced in the single crystal silicon layer 33 or the polycrystalline silicon layer 34 or a defect between the polysilicon layer 34, the single crystal silicon layer 33, and the starting substrate 31 is repaired by thermal treatment or laser anneal treatment.
次いで、単結晶シリコン層３３中または多結晶シリコン層３４中に導入された欠陥や、多結晶シリコン層３４、単結晶シリコン層３３および出発基板３１の間の欠陥を、熱処理やレーザーアニール処理によって回復させる。 - 特許庁 - The first silicon substrate 14 is formed by slicing an ingot wherein there exists no aggregate of a hole type point defect and a silicon type point defect between lattices that are grown by CZ method in an inactive atmosphere containing hydrogen.
第１シリコン基板１４は、水素を含む不活性雰囲気中でＣＺ法により育成された空孔型点欠陥の凝集体及び格子間シリコン型点欠陥の凝集体がそれぞれ存在しないインゴットをスライスして形成される。 - 特許庁 - When the second electrode is formed, a voltage is applied through the respective extraction electrode part between the first electrode 103 and the second electrode 105, and the defect generated in deposition (initial short circuit defect 108) is opened and destructed.
第二の電極を形成する際に、第一の電極１０３と第二の電極１０５との間に、それぞれの取出電極部を介して電圧を印加しながら行い、成膜時に発生する欠陥（初期のショート欠陥１０８）をオープン破壊する。 - 特許庁 - The wiring defect and the COG mounting connection defect latent in the liquid crystal module are surely detected by introducing power ON/OFF in the conduction aging image inspection while suitable electric stress is given to the liquid crystal module.
液晶モジュールに適切な電気的ストレスを与え、液晶モジュールに潜在する配線不具合や、ＣＯＧ実装接続不具合を通電エージング画像検査において電源ＯＮ／ＯＦＦを導入することで確実に不具合を検出する事を目的とする。 - 特許庁 - By the detected result, the pixel defect of the present signals is corrected in a pixel defect correction device 13.
レベル判定器１４ではデジタル信号の信号レベルを判定し、フレーム差分判定器１７の出力とにより、画素欠陥検出器１８で画素欠陥を検出する、この検出結果によって、画素欠陥補正器１３において現信号の画素欠陥を補正する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal medium having no conventional defect or the defect only at a much lower level and simultaneously having a short response time and excellent steepness especially at low temperatures and especially for TN and STN displays.
従来の欠点を有しないかまたは一層低い程度に有するのみであり、同時に、特に低い温度において短い応答時間および極めて良好な急峻度を有する、特にＴＮおよびＳＴＮディスプレイ用の液晶媒体を提供する。 - 特許庁 - The catalyst for the cathode electrode, since it is amorphous, provides more defect sites than crystalline catalyst and the defect sites act as catalyst active sites, so that activity of the catalyst is very excellent.
本発明のカソード電極用触媒は、非晶質触媒であって、結晶質触媒より多くの欠陥サイト（ｄｅｆｅｃｔ ｓｉｔｅ）を提供し、この欠陥サイトが触媒活性サイトとして作用するので、触媒の活性が非常に優れている。 - 特許庁 - Thereafter, absolute values of each value of each variation image are integrated, and an integrated variation image is generated (integrated variation image generation process S6), and a stain defect is detected based on the integrated variation image (stain defect detection process S7-S11).
そして、各変化量画像の値の絶対値を積算して積算変化量画像を作成し（積算変化量画像作成工程Ｓ６）、この積算変化量画像に基づいてシミ欠陥を検出する（シミ欠陥検出工程Ｓ７〜Ｓ１１）。 - 特許庁 - Characteristic information including defect information relating to the thickness and width and/or dirt of the finer aggregate is detected on the basis of the clamped video signal, and defect information is extracted from detected characteristic information to discriminate whether the fiber aggregate is adequate or not.
クランプド映像信号に基づいて、繊維集合体の厚み、幅及び／又は汚れに関する欠陥情報を含む特性情報を検出し、検出した特性情報から欠陥情報を抽出し、繊維集合体の適否を判別する。 - 特許庁 - To provide a foreign matter inspecting method and a foreign matter inspection device, for a wafer peripheral edge, which can accurately and quantitatively detect at which part of a wafer a defect is present and how large the defect is, and how large the foreign matter is and on which part the foreign matter sticks.
ウェハのどの部分にどの程度の大きさの欠陥があるのか、又どの程度の異物がどの部分に付着しているのかを、正確、かつ定量的に検出可能なウェハ周縁端異物検査方法、及び異物検査装置を提供する。 - 特許庁 - If defect ECC blocks are arranged at equal distances in the DVD-RW disk, defect ECC blocks of 18420 pieces which corresponds to 7% of all numbers of ECC blocks in a list of 18420 bytes and is more than conventional one.
欠陥ＥＣＣブロックがＤＶＤ−ＲＷディスク内に均等な間隔で配置しているとすると、１８４２０バイトのリストで全ＥＣＣブロック数の７％にあたる、従来よりも多くの１８４２０個の欠陥ＥＣＣブロックを登録できる。 - 特許庁 - TEMPLATE ADJUSTMENT METHOD AND DEVICE, DEFECT DISTRIBUTION CLASSIFICATION METHOD AND DEVICE, PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE TEMPLATE ADJUSTMENT METHOD OR DEFECT DISTRIBUTION CLASSIFICATION METHOD AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH THE SAME PROGRAM RECORDED
テンプレート調整方法および装置、欠陥分布分類方法および装置、上記テンプレート調整方法または欠陥分布分類方法をコンピュータに実行させるためのプログラム、並びに上記プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - In the inspection method, when a defect where the measured width is larger than the size of a pixel is not detected, the blightness level of the circuit pattern or the spatial component is analyzed, more in detail, to detect a defect corresponding to an open circuit, a short circuit or a remaining copper foil.
本発明の検査方法は、画素単位で映像データを獲得し、回路パターン又は空間成分の幅を測定する方向と垂直方向に測定して、測定された幅が基準幅より大きな場合の不良であると、ショートと検出する。 - 特許庁 - A bearing washer is used in which roughness of a surface as an ultrasonically inspected surface is 0.4 μmRa or less, and every defect existing in an inspected volume X, total cross section of the bearing washer 1, is 0.2 mm or smaller in square root length of defect area.
超音波被検査面となる面の表面粗さが０．４μｍＲａ以下であり、その軌道輪１の全断面全てである被検体積Ｘ内に存在する欠陥が、全て欠陥面積の平方根長さで０．２mm以下である軌道輪を使用する。 - 特許庁 - To provide a method and a system for detecting a medium defect by which detection is made for a minute medium defect that does not generate a data error in a partial response signal processing system and an information recording and reproducing device which utilizes the method and the system.
パーシャルレスポンス信号処理方式でデータエラーが発生しない微小な媒体欠陥を検出する媒体欠陥検出方法、媒体欠陥検出システムおよびこれを用いた情報記録再生装置を提供するものである。 - 特許庁 - For this surface defect checking (S5), defect points on the magnetic disk are checked and registered by determing whether the thermal asperity phenomenon occurs or not based on a sense current applied to a magnetoresistive element included in the magnetic head.
この表面欠陥検査（Ｓ５）では、ヘッドに含まれる磁気抵抗効果素子に印加されたセンス電流に基づいて、サーマルアスペリティ現象が生じたか否かを判断することで、磁気ディスクに生じている欠陥箇所を検査して登録する。 - 特許庁 - To allow satisfactory image display with such a defect undisplayed as a flaw or a pinhole in image projection on a screen in spite of the presence of the defect on a polarizing plate when using the polarizing plate made of an inorganic material as an output side polarizing plate.
出射側偏光板として無機材料の偏光板を用いる場合、偏光板に傷やピンホールが存在してもスクリーン上にその欠陥部が投影表示されることがなく、良好な映像表示が行えるようにすること。 - 特許庁 - Based on the gas pressure value and the max. value of the gas pressure calculated, defect generating positions to be generated in the injection-molded article are predicted in a defect predicting part 24 and quality of the filling behavior of the molten material is evaluated in a filling behavior evaluating part 25.
算出されたガス圧力値及びガス圧力最大値に基づいて、欠陥予測部２４で、射出成形品に発生する欠陥発生位置を予測し、充填挙動評価部２５で、溶融材料の充填挙動の良否を評価する。 - 特許庁 - A controller 20 of the defect correction device 1 has a recipe database, wherein the data of a pattern of the next process is stored, and determines the defect which will become a problem later, in accordance with an actual image taken in by the CCD camera 6 and the pattern of the next process.
欠陥修正装置１の制御装置２０には、次工程のパターンのデータが格納されたレシピデータベースを有し、ＣＣＤカメラ６で取り込んだ実際の画像と、次工程のパターンとから後に問題となる欠陥を判定する。 - 特許庁 - To provide a correction color for a defect part of a color filter pattern, which is used for a color filter correction method that copes with a size increase, is automated, rational, and economical in perfect correction of color filter defect parts during color filter production.
カラーフィルターの製造に際し、カラーフィルターの欠陥部分を完全に補修するに、大型化に対応できる、自動化された合理的、経済的なカラーフィルターの新規な補修方法に使用されるカラーフィルターのパターン欠陥部の補修用カラーの提供。 - 特許庁 - Since a defect is extracted by using the reduced image information wherein a frequency component is maintained, while reducing the image size furthermore than an image corresponding to original image information, high-speed defect inspection can be performed by suppressing cost increase.
元の画像情報に対応した画像よりも画像サイズを縮小する一方で、周波数成分を維持した縮小画像情報を用いて欠陥を抽出するので、コストの増大を抑えて高速に欠陥検査を行うことができる。 - 特許庁 - To accurately detect as a picture element corresponding to a defect only a pixel, showing the location where a defect actually exists from image data of a surface to be inspected to which a side arm is rectangular wave-like, or designs, such as, beveling are given.
側辺が矩形波状であったり面取りなどの意匠が施されていたりする検査対象面の画像データから、実際に欠陥が存在する箇所を表す画素だけが、欠陥対応画素として、正確に検出されるようにすること。 - 特許庁 - Thus imaging device 1 is provided with an optic/electric converting element 3 for converting incident light to an electric signal, an A/D converter 5 for digitizing the output of the optic/electric converting element 3, a pixel defect memory 7 for storing the pixel defect information and a selector 9.
撮像素子１は、入射した光を電気信号に変える光電変換素子３と、光電変換素子３の出力をディジタル化するＡ／Ｄ変換器５と、画素欠陥情報を記憶する画素欠陥メモリ７と、セレクタ９とを具備していいる。 - 特許庁 - That is to say, the work RAM 18 is not only utilized as the memory, to develop the data for correcting defect pixels stored in an EEPROM 11 in a compressed state, but is also utilized as a recording memory, when the defect pixel correction is not executed.
つまり、ワークＲＡＭ１８は、ＥＥＰＲＯＭ１１に圧縮した状態で格納されている欠陥画素補正用データを展開するメモリとして活用されるだけでなく、欠陥画素補正を行わない場合には記録用メモリとして活用される。 - 特許庁 - To provide a defect repair method for making a strong repaired part not broken even if a membrane is disposed in a hard operation state of being in continuous contact with sludge or contaminants like a dip-type membrane for sewage treatment among applications for water treatment is, and a defect repair apparatus.
水処理用途の中でも下水処理用浸漬型膜のように汚泥、汚れ物質などに膜が絶えず接する過酷な運転状況下でも、補修部分が崩れない強固な欠点補修方法と欠点補修装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method of inspecting a defect that controls a spatial filtering technology that actualizes a defective image independently of polarization characteristics of defective scattered light and suppresses brightness saturation of a normal pattern to improve a defect capturing rate, and a device using the same.
欠陥散乱光の偏光特性に依存されずに欠陥像を顕在化する空間フィルタリング技術と正常パターンの明るさ飽和を抑制して欠陥捕捉率を向上する欠陥検査方法とその欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - In addition to a function of outputting an inspection result about the quality (normal/abnormal) of an inspection target by using a binarization part 15 for comparing an inspecting signal with a reference value, a defect inspection system 10 includes a diagnostic function (self-diagnosis function) for the quality of the defect inspection system 10 itself.
検査用信号を基準値と比較する２値化部１５を用いて検査対象物の良否（正常／異常）の検査結果を出力する機能に加えて、欠陥検査システム１０自体の良否の診断機能（自己診断機能）を持たせる。 - 特許庁 - Since an image of the object to be inspected S is photographed by a photographic device 7 in a condition of free from the dust 3 and the defect is extracted by an image processor 8, the dust merely adhered on the object to be inspected is not mistaken as a defect such as scratch or burr.
ゴミ３がない状態で被検査物Ｓの映像が撮像装置７により撮像され画像処理装置８により欠陥が抽出されるから、被検査物に付着しているだけのゴミをキズやバリなどの欠陥と誤認することがない。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus capable of preventing an image defect and a conveyability defect of a recording medium due to the moisture absorption of the recording medium while making a contribution to electric power saving while the power source of the image forming apparatus is off and while the energy saving mode thereof is unused.
画像形成装置が電源OFF時や省エネモードなどの未使用時に関して、省電力に貢献しつつ記録媒体が吸湿することによる、画像不良や記録媒体の搬送性不良を防止できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and apparatus for removing a surface defect, with which cutting tools for removing the surface defect caused when the surface of a hot-dipped wire is subjected to ironing with a heat resistant material on a line can be replaced with others during passing of the hot-dipped wire.
めっき線の表面を耐熱材でしごき取った際に発生した表面欠陥をライン上で除去するバイトを、溶融めっき線の通材中に交換することができる、表面欠陥除去装置及び方法を提供する。 - 特許庁
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