「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 136 137 138 139 140 141 142 143 144 .... 366 367 次へ＞- The deposition of snow and water drop is made less by changing the conventional four-frame to the three-frame to solve a defect of the prior art.
従来の四枠を三枠にした事により、雪、水滴の附着が少なくなり、従来の欠点を解決した。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a medium to be recorded capable of suppressing coating defect and exhibiting good ink absorptivity.
塗工欠陥が抑制され、且つ良好なインク吸収性を示す被記録媒体の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To reduce axial leakage by eliminating a gap at a root of a thin plate which is a defect of a leaf seal in a plate structure.
板状構造のリーフシールの欠点である薄板の根元部の空隙をなくし、軸方向の漏れを減少させる。 - 特許庁 - To conduct motor suspension control without giving an impression of the occurrence of a defect and trouble to a user.
不具合や故障が発生したとの印象をユーザに与えることなくモータ休止制御を行えるようにすること。 - 特許庁 - If any defective part is found out, a defect correction processing section 22 corrects the defective part to have a background color of the document.
もし欠損箇所があれば、その欠損箇所は欠損補正処理部２２によって帳票の地色に補正される。 - 特許庁 - To provide a fiber treating agent effective for imparting a fiber material with softness, smoothness, bulkiness, etc., without causing yellowing defect.
繊維素材に対して、柔軟性、平滑性、ふくらみ感を付与し、黄変を発生させない繊維処理剤を提供する。 - 特許庁 - A first mask including a plurality of first features is inspected for defects in the features, and defect data are stored (step 20).
複数の第１のフィーチャを含む第１のマスクが、フィーチャの欠陥に関して検査され欠陥データが記憶される２０。 - 特許庁 - The low-magnification inspecting image is image-processed so as to confirm and store the position of the crystal defect in a position confirming step S3.
位置確認ステップＳ３は、低倍率検査画像を画像処理して結晶欠陥の位置を確認及び記憶する。 - 特許庁 - Thus, unsuitable exposure (fogging) on the sensitive substrate due to the defect out of the pattern area CP can be prevented.
これにより、パターン領域ＣＰ外の欠陥に起因する感応基板上への不適正露光（かぶり）を防ぐことができる。 - 特許庁 - To provide a method for inspecting a defect of a display panel, that facilitate repairing and reworking after an inspection step.
検査ステップ後に修理または再生をより容易に行うことのできるディスプレイパネルの欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - The existence of a defect on both the front and back surfaces can be inspected during one-time conveyance of the paper sheet printed matter 153.
枚葉印刷物１５３を一回搬送する間に表裏両面の欠陥の有無について検査することができる。 - 特許庁 - When some conductor pattern 31 has a short circuit defect, a current flows through the conductor pattern 31 to generate heat.
導電体パターン３１に短絡欠陥がある場合は、その導電体パターン３１に電流が流れて発熱する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a multilayer electronic part in which occurrence of an internal structural defect can be suppressed.
内部構造欠陥の発生を抑制した積層電子部品を製造することができる製造方法を提供すること。 - 特許庁 - A defect correcting circuit 76 of the digital camera corrects a dot flaw, a longitudinal line flaw, and a lateral line flaw of the photographed image simultaneously.
デジタルカメラの欠陥補正回路７６は、撮影画像の点キズや縦線キズ、横線キズを同時並行して補正する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device wherein a metallic bump is separated from an inner lead wire in an ILB process resulting in causing an open defect.
ＩＬＢ工程において、金属突起とインナーリード配線が引き離されて、オープン不良が発生することを防止する。 - 特許庁 - To provide a method for accurately and easily measuring the depth of a crack-like defect, even if the width of a crack tip is narrow.
亀裂先端の幅が狭くても、亀裂状欠陥の深さを精度良く、簡便に測定する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a hot-dip galvanized steel sheet, which reduces a 'ripple' defect and has superior surface smoothness.
「さざなみ」欠陥を低減し、表面の平滑性に優れる溶融亜鉛めっき鋼板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic welder which obviates the occurrence of a defect in a welded portion irrespective of gripping ways of a lever.
レバーの握り方によらずに、溶着部分に不良が発生することのない超音波溶着装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR PREDICTING DANGEROUS PORTION CAUSING SURFACE DEFECT IN CONTINUOUSLY CAST SLAB, AND METHOD FOR MANUFACTURING CONTINUOUSLY CAST SLAB
連続鋳造鋳片における表層欠陥発生危険部位の予測方法および連続鋳造鋳片の製造方法 - 特許庁 - To eliminate the vertical-strip defect of a display image by improving the horizontal scanning circuit of an active matrix type liquid crystal display device.
アクティブマトリクス型液晶表示装置の水平走査回路を改善して表示画像の縦筋欠陥を除去する。 - 特許庁 - DIAGNOSIS OR DETERMINATION FOR PARAMETER OF INSTALLATION DEVICE FOR DETECTING SURFACE DEFECT ON SURFACE OF COMPONENT BY LEACHING
浸出によって部品の表面の表面欠陥を検出する据付装置のパラメータを診断または判定すること - 特許庁 - A density binarization operation part 60 extracts a defect candidate pixel by binarizing each pixel in the picked up image.
濃淡２値化演算部６０は、撮像画像の各画素に対して２値化を行って欠陥候補画素を抽出する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DIRECTION OF SHEET MATERIAL, METHOD FOR CUTTING SHEET MATERIAL, METHOD FOR INSPECTING DEFECT, AND PRINTING METHOD
シート材の方向検出方法及び装置、並びにシート材の切断方法、欠陥検査方法及びプリント方法 - 特許庁 - The parameter is optimized on the actual operation terminal voltage condition to reduce design defect caused by the parameter extraction error.
実際の動作端子電圧条件でパラメータを最適化し、パラメータ抽出誤差に起因する設計不良を低減できる。 - 特許庁 - The processing device is automatically controlled based on the defect prevention measures to improve the factors prior to production.
不良発生未然防止策に基づいて加工装置を自動的に制御して要因を改善してから生産をする。 - 特許庁 - Thus, hardening defect can be prevented in a boundary between the core part and the clad part, and also a low viscosity is made possible in the core part.
これにより、コア部とクラッド部との界面の硬化不良を防止し、また、コア部を低粘度化することができる。 - 特許庁 - Preferably, a layer having no defect can be formed by manufacturing a filmy MgO layer 14 by a CVD method.
また好ましくは、ＭｇＯ層１４をＣＶＤ法で製膜することにより欠陥のない層を形成することができる。 - 特許庁 - The nitride semiconductor substrate, that is obtained by the selective growth, is a low-defect substrate utilizing lateral growth.
この選択成長により得られる窒化物半導体基板は横方向成長を利用した低欠陥基板である。 - 特許庁 - An operation receiving part 102 receives the input code as defect information and delivers the code to a correcting part 104.
操作受付部１０２は、入力された符号を不良情報として受け付け、その符号を補正部１０４に渡す。 - 特許庁 - To provide a pixel defect correction device which is capable of reducing the amount of position information on pixel defects recorded in a nonvolatile memory.
不揮発性メモリに記録する画素欠陥位置情報量を削減できる画素欠陥補正装置を提供する。 - 特許庁 - The defect in connection between the upper and lower layers is suppressed by the second taper angle N which is different from the first taper angle M.
第１のテーパ角度Ｍと異なる第２のテーパ角度Ｎにより、上層と下層との接続不良を抑制できる。 - 特許庁 - To obtain an ingot having no point defect agglomerates and exhibiting intrinsic gettering(IG) effect when formed into a wafer.
点欠陥の凝集体が存在しないことに加えて、シリコンウェーハにした場合にＩＧ効果を有するインゴットを得る。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a semiconductor which can achieve defect control and diffusion control at the same time with high reliability.
欠陥制御と拡散制御を同時に実現し、信頼性の高い半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a semiconductor device capable of forming a defect-free, strained SOI layer having an even strain.
無欠陥で歪みが均一な歪ＳＯＩ層を形成できるようにした半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To identify and separate unacceptable products from acceptable products or shut down a device by a computer system upon detection of a defect.
欠陥の検出により、コンピュータシステムは、拒絶製品を識別して、良製品から分離し、もしくは、装置を止める。 - 特許庁 - To provide a data recording and reproducing device which records data continuously by skipping a defect on a disk without re-encoding.
再エンコードしないで光ディスク上の欠陥をスキップして連続的に記録可能なデータ記録再生装置を提供する。 - 特許庁 - Thereby a crystal defect, transition and distortion in current blocking layers 7 and 8 and a contact layer 9 are prevented.
したがって、電流ブロック層７,８およびコンタクト層９内での結晶欠陥、転移、歪の発生を防止できる。 - 特許庁 - The high frequency flaw detection method detects the welding defect of a weldment 1 welded by using a high frequency current.
高周波電流を用いて溶接した溶接物１の溶接欠陥を検出する高周波探傷方法である。 - 特許庁 - To provide a device and method for manufacturing a liquid crystal panel having satisfactory quality without any image defect and image unevenness.
画像不良及び画像ムラのない品質良好な液晶表示パネルの製造装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for correcting non-uniform banding print quality defect in an image forming or printing process.
画像形成又は印刷プロセスにおいて、不均一なバンディング印刷品質欠陥を修正する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a cut paper feeding device and a cut paper feeding system capable of preventing alignment defect.
アライン不良の発生を抑えることができるカット紙送給装置及びカット紙送給システムの提供を目的とする。 - 特許庁 - To provide a full mold casting method, with which a carbon defect is not generated and the fall-down of coating is prevented.
本発明は、炭素欠陥を生じさせず、かつ塗型の崩落を防止したフルモールド鋳造法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a signal analyzing device capable of making an influence of the occurrence of a defect smaller than a conventional system.
欠損が発生した場合の影響を、従来方式よりも低減することができる信号分析装置を得る。 - 特許庁 - To remarkably reduce a defect occurring by inclusion of a foreign matter upon the sticking treatment of an optical film to a display panel.
表示用パネルへの光学フィルムの貼り付け処理時に、異物が混入して生じる不良を大幅に削減する。 - 特許庁 - To provide a camera capable of preventing a defect caused during cleaning in advance.
クリーニング中に発生する事故を未然に防止することが可能なカメラを提供することができるカメラを提供すること。 - 特許庁 - On the basis of the said analysis, the monitoring device identifies a cycle unit that is not correctly operated, displays the conceivable causes of the defect or abnormality of the faulty cycle unit and provides an analysis report and the correction advice.
そのコンピュータは、各個別サイクルユニットの各サイクルが開始したか、完結したかの情報を記録する。 - 特許庁 - To provide a sensor for reducing the possibility of resulting in a defect of a metal terminal member and suppressing the reduction of the detection accuracy.
金属端子部材の欠陥に至る可能性を低減し、かつ、検出精度の低下を抑制するセンサを提供する。 - 特許庁 - To provide a solid state image pickup device, preventing image defect due to dust and not impairing reduction in size in simple constitution.
簡単な構成で、ゴミによる画像不良を防止しつつ、小型化を損なわない固体撮像装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR PRODUCING HIGH MAGNETIC FLUX DENSITY GRAIN ORIENTED SILICON STEEL SHEET EXTREMELY SMALL IN SURFACE DEFECT AND ALSO EXCELLENT IN MAGNETIC PROPERTY
表面欠陥が極めて少なくかつ磁気特性に優れる高磁束密度方向性電磁鋼板の製造方法 - 特許庁 - To prevent a fixing device with which an image forming apparatus is equipped, from causing a defect in fixation and to save electric power.
画像形成装置が備える定着装置において、定着不良の発生を防止するとともに、省電力を図る。 - 特許庁
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